JPH1163973A - Range finding module - Google Patents

Range finding module

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JPH1163973A
JPH1163973A JP21755297A JP21755297A JPH1163973A JP H1163973 A JPH1163973 A JP H1163973A JP 21755297 A JP21755297 A JP 21755297A JP 21755297 A JP21755297 A JP 21755297A JP H1163973 A JPH1163973 A JP H1163973A
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JP
Japan
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light
measured
light emitting
emitting element
distance
Prior art date
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Application number
JP21755297A
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Japanese (ja)
Inventor
Izumi Adachi
泉 安達
Yoshitaka Terada
由孝 寺田
Akira Kurahashi
明 倉橋
Toshihiko Tomita
俊彦 富田
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Hamamatsu Photonics KK
Original Assignee
Hamamatsu Photonics KK
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Publication date
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  • Measurement Of Optical Distance (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a small-sized range finding module capable of confirming existenace of an object to be measured in the shortest range wherein distance detection is difficult. SOLUTION: This range finding module is provided with a PSD(position sensitive photodetector) 1 and light emitting elements 2, 3. Projection light from the light emitting element 2 is adjusted to be a spot light of small diameter by a light projection lens 5 arranged in front of the light emitting element 2, and cast on an object to be measured. On the other side, the projection light of the light emitting element 3 is cast, as a diffusion light of wide angle, on a region adjacent to the module. Reflected lights of the projection light from the object to be measured are made to enter the PSD 1 via a light receiving lens 4 and an interference filter 6. Concerning a distant object to be measured, distance is measured by trigometrical survey system using the light emitting element 2. Concerning an object to be measured within a short distance, exsistance of the object can be detected by a reflection light amount detecting system using the light emitting element 3.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体位置検出器
を利用した光による測距モジュールに関する。
The present invention relates to a light-based distance measuring module using a semiconductor position detector.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体位置検出器(Position Sensitive
Photodetector;PSD)は、ホトダイオードを応用し
た入射スポット光の受光位置を検出するセンサである。
その基本的な構造を図6に示す。
2. Description of the Related Art A semiconductor position detector (Position Sensitive)
Photodetector (PSD) is a sensor that detects a light receiving position of incident spot light using a photodiode.
FIG. 6 shows its basic structure.

【0003】このPSD401は、n+型半導体基板4
04上に、n型半導体層403、p型半導体層402を
有し、p型半導体層402上に、所定距離Cだけ離して
電極405、406が設けられている。n型半導体層4
03には、n+型半導体基板404を介して所定のバイ
アス電圧が印加されている。p型半導体層402の受光
面の一方の電極406から所定距離x離れた位置に光h
νが入射すると、発生した光電流は、分岐されて両電極
405、406から電流IA、IBとして取り出される。
取り出された光電流の比は、およそ光の入射位置と電極
405、406それぞれとの距離の逆数の比となる。ま
た、電流IA、IBの和は、入射光hνの光量に比例して
いる。したがって、各電流の比から光の入射位置を算出
することができる。
[0003] The PSD 401 is an n + type semiconductor substrate 4.
An n-type semiconductor layer 403 and a p-type semiconductor layer 402 are provided on the substrate 04, and electrodes 405 and 406 are provided on the p-type semiconductor layer 402 at a predetermined distance C. n-type semiconductor layer 4
03, a predetermined bias voltage is applied via an n + type semiconductor substrate 404. The light h is positioned at a predetermined distance x away from one electrode 406 on the light receiving surface of the p-type semiconductor layer 402.
When ν is incident, the light current generated is branched by the current from the electrodes 405 and 406 I A, it is taken out as I B.
The ratio of the extracted photocurrent is approximately the reciprocal of the distance between the light incident position and each of the electrodes 405 and 406. Further, the sum of the currents I A, I B is proportional to the amount of incident light hv. Therefore, the light incident position can be calculated from the ratio of each current.

【0004】PSDは、この位置検出特性を利用して光
により物体との距離を検出する測距センサーに広く利用
されている。こうした測距センサーの基本的原理を図7
を用いて説明する。
[0004] The PSD is widely used in a distance measuring sensor that detects the distance to an object by light using the position detection characteristics. Fig. 7 shows the basic principle of such a distance measuring sensor.
This will be described with reference to FIG.

【0005】発光素子41aから投射された光は、投光
レンズ43を介して、被測定物体45の表面に到達して
反射され、反射光の一部が受光レンズ44を介してPS
D42の受光面42aの受光位置SPに入射される。こ
のとき、受光レンズ44と受光面42aの距離をf、受
光レンズ44と投光レンズ43の光軸の距離(基線長)
をB、受光位置SPの受光レンズ44の光軸中心からの
距離をx1とすると、物体45表面と受光レンズ44の
距離Lは、以下の式で表される。 L=Bf/x1 前述したように、PSD42の両電極42b、42cか
らの出力IA、IBより、光の入射位置SPを求めること
ができるので、これを基にして被測定物体45との距離
Lを求ることができる。
The light projected from the light emitting element 41a reaches the surface of the measured object 45 via the light projecting lens 43 and is reflected, and a part of the reflected light is transmitted through the light receiving lens 44 to the PS.
The light enters the light receiving position SP of the light receiving surface 42a of D42. At this time, the distance between the light receiving lens 44 and the light receiving surface 42a is f, and the distance between the light receiving lens 44 and the light projecting lens 43 along the optical axis (base line length).
It is B, and the distance from the optical axis center of the light receiving lens 44 of the light receiving position SP and x 1, the distance L between the object 45 surface light-receiving lens 44 is expressed by the following equation. L = Bf / x 1, as described above, the electrodes 42b of PSD42, the output I A from 42c, than I B, it is possible to determine the incident position SP of the light, the object to be measured 45 by this based on Can be obtained.

【0006】しかしながら、この種の装置では、近距離
の測定を行う場合に、限界があった。図7より明らかな
ように、被測定物体45とPSD42の距離が近い、つ
まりLが短い場合は、x1が大きくなり、Lがある距離
C以下になると、反射光は受光面42aの領域からそ
れてしまうので検出できなくなる。このLCは、以下の
式で表される。 LC=Bf/(C−x0) ここで、x0は、受光レンズ44の光軸中心とPSD4
2の発光素子41a側電極42cとの距離である。
[0006] However, this type of apparatus has a limitation in performing short-distance measurements. As apparent from FIG. 7, the distance of the object to be measured 45 and PSD42 are close, that is, when L is short, x 1 is increased, the L is a distance L C or less, it reflected light region of the light receiving surface 42a So it cannot be detected. This L C is represented by the following equation. L C = Bf / (C−x 0 ) where x 0 is the optical axis center of the light receiving lens 44 and the PSD 4
2 is the distance from the light emitting element 41a side electrode 42c.

【0007】この結果、被測定物体が至近距離にある場
合に、電流出力が得られないために、物体が存在しな
い、あるいは無限遠に存在すると、誤判断することがあ
った。
As a result, when the object to be measured is at a close distance, a current output cannot be obtained, so that an erroneous determination may be made that the object does not exist or exists at infinity.

【0008】近距離の測距を可能にする技術として、特
開昭62−235518号、特公平7−38048号な
どに開示された技術がある。
As a technique for enabling a short distance measurement, there are techniques disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 62-235518 and Japanese Patent Publication No. 7-38048.

【0009】前者は、図8に示されるように、前述のL
Cより遠い通常領域の検出を行うPSD1の発光素子の
反対側に前述のLCより近い近接領域の検出を行うPS
D2を並べて配置したものである。
[0009] The former is, as shown in FIG.
On the opposite side of the light emitting element of PSD1 that detects a normal area farther than C , a PS that detects an adjacent area closer than L C described above.
D2 are arranged side by side.

【0010】また、後者は、図9に示されるように、遠
距離用発光素子LED1と近距離用発光素子LED2の
2種類の発光素子を基線長方向の異なる位置に配置し
て、それぞれを選択的に発光させ、PSDの出力をそれ
ぞれに応じて補正することにより、近距離側の測定を可
能としたものである。
In the latter, as shown in FIG. 9, two types of light-emitting elements, a long-distance light-emitting element LED1 and a short-distance light-emitting element LED2, are arranged at different positions in the base line length direction, and each is selected. In this way, the near-distance measurement can be performed by correcting the output of the PSD according to each of them.

【0011】[0011]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前者の
装置では、PSDの設置スペースやコストの面からPS
Dの受光面積長さが制限されるので、近距離側を十分に
測定することは困難である。また、近距離の測定物から
の反射スポット光の光量が強すぎてPSDの出力が飽和
して正確な測距が行えないという問題があった。これを
克服するためにLEDの出力を低下させると、遠距離側
の測距が十分にできなくなってしまう。
However, in the former device, the PS installation space and cost are low.
Since the length of the light receiving area of D is limited, it is difficult to sufficiently measure the short distance side. In addition, there has been a problem that the output of the PSD is saturated due to the intensity of the reflected spot light from the object to be measured at a short distance being too strong, so that accurate distance measurement cannot be performed. If the output of the LED is reduced to overcome this, the distance measurement on the far side cannot be performed sufficiently.

【0012】また、いずれの装置においても、近距離側
の距離制限が短縮するだけであり、約20cm以内の至
近距離からゼロ距離までに被測定物体がある場合は、測
距不能であり、被測定物体の存在自体を確認することが
できなかった。
Further, in any of the apparatuses, only the distance limit on the short distance side is reduced, and when the object to be measured is within a range from the closest distance within about 20 cm to the zero distance, the distance cannot be measured, and the distance cannot be measured. The existence of the measurement object itself could not be confirmed.

【0013】以上の問題点に鑑みて、本発明は、距離検
出が困難な至近距離の被測定物体の存否を確認可能で、
小型の測距モジュールを提供することを課題とする。
In view of the above problems, the present invention makes it possible to confirm the presence or absence of an object to be measured at a very short distance where distance detection is difficult.
It is an object to provide a small distance measuring module.

【0014】[0014]

【課題を解決するための手段】本発明の測距モジュール
は、光を被測定物体に投射して、被測定物体との距離を
測定する測距モジュールであって、(1)被測定物体表面
に向けて小径のスポット光を照射する第1の発光素子
と、(2)近接域の広い角度範囲に対して光を照射する第
2の発光素子と、(3)第1の発光素子の光路上に配置さ
れた投光レンズと、(4)第1の発光素子の光軸と垂直に
配置される受光面を有し、各発光素子の照射光の被測定
物体表面からの反射光を受光し、その光量に応じた電気
信号を発生するとともに、入射光の受光面上での入射位
置に応じた電気信号をあわせて出力する半導体位置検出
素子と、(5)半導体位置検出素子と被測定物体の間に配
置され、被測定物体の反射光を半導体位置検出素子の受
光面に集光する受光レンズと、(6)第1及び第2の発光
素子の発光動作を切り替え制御するとともに、第1の発
光素子の発光時には、半導体位置検出素子の受光面での
入射光の入射位置に応じた出力電気信号に基づいて、三
角測量方式により被測定物体までの距離を算出し、第2
の発光素子の発光時には、半導体位置検出素子の受光面
への受光光量に応じた出力電気信号に基づいて、反射光
量検知方式により所定距離内における被測定物体の存否
を検出する演算回路と、を備えることを特徴とする。
A distance measuring module according to the present invention is a distance measuring module for projecting light onto an object to be measured and measuring a distance from the object to be measured. A first light-emitting element that irradiates a small-diameter spotlight toward the light source; (2) a second light-emitting element that irradiates light over a wide angle range in a proximity area; and (3) a light of the first light-emitting element. A light-emitting lens disposed on the road, and (4) a light-receiving surface disposed perpendicular to the optical axis of the first light-emitting element, which receives reflected light of the light emitted from each light-emitting element from the surface of the object to be measured. A semiconductor position detecting element that generates an electric signal according to the amount of light and outputs an electric signal corresponding to the incident position of the incident light on the light receiving surface; A light-receiving lens disposed between the objects, for condensing reflected light of the measured object on a light-receiving surface of the semiconductor position detecting element; 6) The light emitting operation of the first and second light emitting elements is switched and controlled, and at the time of light emission of the first light emitting element, based on an output electric signal corresponding to the incident position of the incident light on the light receiving surface of the semiconductor position detecting element. The distance to the measured object is calculated by the triangulation method,
When the light-emitting element emits light, an arithmetic circuit that detects the presence or absence of the object to be measured within a predetermined distance by a reflected light amount detection method based on an output electric signal corresponding to the amount of light received on the light-receiving surface of the semiconductor position detection element. It is characterized by having.

【0015】これによれば、第1の発光素子から投射さ
れた光は、投光レンズを経て被測定物体に照射され、そ
の反射光が受光レンズを経て、半導体位置検出素子の受
光面に入射される。第1の発光素子から投射される光は
小径のスポット光であるので、半導体位置検出素子に入
射する光もスポット光となる。したがって、半導体位置
検出素子からは、その受光位置を示す電気信号が出力さ
れる。前述したように、被測定物体の位置に応じて半導
体位置検出素子の対応する受光面位置に反射光が入射す
る。したがって、この電気信号から半導体位置検出素子
の受光面の反射光受光位置を求め、これをもとにして、
三角測量方式により、被測定物体までの距離を算出する
ことができる。
According to this, the light projected from the first light emitting element is applied to the object to be measured via the light projecting lens, and the reflected light is incident on the light receiving surface of the semiconductor position detecting element via the light receiving lens. Is done. Since the light projected from the first light emitting element is a small diameter spot light, the light incident on the semiconductor position detecting element is also a spot light. Therefore, the semiconductor position detecting element outputs an electric signal indicating the light receiving position. As described above, the reflected light enters the corresponding light receiving surface position of the semiconductor position detecting element according to the position of the measured object. Therefore, the reflected light receiving position of the light receiving surface of the semiconductor position detecting element is obtained from this electric signal, and based on this,
The distance to the measured object can be calculated by the triangulation method.

【0016】また、第2の発光素子からは、被測定物体
に広角度で光が照射されている。このため、被測定物体
が近距離にある場合には、被測定物体からの反射光の一
部が受光レンズを経て半導体位置検出器に入射すること
になる。この場合、半導体位置検出器の受光面の広い範
囲に反射光が入射するため、受光位置に応じた電気信号
を利用することは困難だが、受光面への入射光量に応じ
た電気信号が発生する。一方、被測定物体が存在しない
とき、あるいは被測定物体が遠距離にあるときには、第
2の発光素子からの反射光が存在しないか、半導体位置
検出器に到達する反射光量は微弱なものとなるので、入
射光量に応じた電気信号は微弱なものとなる。したがっ
て、この電気信号の強弱により、つまり、被測定物体の
表面での反射光量を検知することにより至近距離域での
被測定物体の存否を判別することができる。
The object to be measured is irradiated with light at a wide angle from the second light emitting element. For this reason, when the measured object is at a short distance, a part of the reflected light from the measured object enters the semiconductor position detector via the light receiving lens. In this case, it is difficult to use an electric signal corresponding to the light receiving position because reflected light is incident on a wide range of the light receiving surface of the semiconductor position detector, but an electric signal corresponding to the amount of light incident on the light receiving surface is generated. . On the other hand, when the object to be measured does not exist, or when the object to be measured is at a long distance, there is no reflected light from the second light emitting element or the amount of reflected light reaching the semiconductor position detector is weak. Therefore, the electric signal corresponding to the amount of incident light is weak. Therefore, the presence or absence of the object to be measured in a close range can be determined based on the strength of the electric signal, that is, by detecting the amount of light reflected on the surface of the object to be measured.

【0017】また、演算回路は、第1及び第2の発光素
子を所定の間隔で交互にパルス点灯させる制御を行うも
のでもよい。
Further, the arithmetic circuit may control the first and second light emitting elements to be alternately pulsed at predetermined intervals.

【0018】これによれば、演算回路による演算処理が
容易である。
According to this, the arithmetic processing by the arithmetic circuit is easy.

【0019】あるいは、第1及び/または第2の発光素
子の近傍に対応する発光素子の発光量を検出するモニタ
ー素子をさらに備え、演算回路は、モニター素子からの
出力が所定以上の場合のみに被測定物体までの距離算出
あるいは被測定物体の存否検出を行うものでもよい。
Alternatively, there is further provided a monitor element for detecting the amount of light emitted from the light-emitting element corresponding to the vicinity of the first and / or second light-emitting element, and the arithmetic circuit is provided only when the output from the monitor element is higher than a predetermined value. The calculation of the distance to the measured object or the detection of the existence of the measured object may be performed.

【0020】これによれば、第1または第2の発光素子
のいずれかあるいは両方が点灯しないかあるいは光量が
著しく劣化した場合には、対応するモニター素子からの
出力が低下する。これらの場合には、被測定物体が存在
していても被測定物体に対する投射光が十分ではなく、
精度の高い測定ができないが、本発明によれば、このよ
うな場合には、発光素子側の不調と判定することによ
り、誤った測定を回避できる。
According to this, when one or both of the first and second light emitting elements do not light or the light quantity is significantly deteriorated, the output from the corresponding monitor element decreases. In these cases, even if the measured object is present, the projected light on the measured object is not sufficient,
Although highly accurate measurement cannot be performed, according to the present invention, in such a case, erroneous measurement can be avoided by determining that the light emitting element is malfunctioning.

【0021】[0021]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態について説明する。なお、説明を簡略化するた
め、各図面において同一の要素に対しては、可能な限
り、同一の参照番号を使用した。なお、図面中の寸法
は、必ずしも実際の寸法とは一致しない。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. To simplify the description, the same reference numerals have been used, where possible, to designate identical elements that are common to the figures. Note that the dimensions in the drawings do not always match the actual dimensions.

【0022】図1は、本発明の第1の実施形態の概略図
であり、同図(a)が正面図、(b)、(c)はそれぞれそのA
−A線断面図、B−B線断面図である。
FIGS. 1A and 1B are schematic views of a first embodiment of the present invention. FIG. 1A is a front view, and FIGS.
FIG. 3 is a cross-sectional view taken along a line A and a line BB.

【0023】本実施形態の装置は、受光位置検出可能な
PSDからなる受光素子1と、被測定物にスポット光を
投光する第1の発光素子2と、被測定物に拡散光を投光
する第2の発光素子3を備える。受光素子1と、第1の
発光素子2は、それぞれホルダー7、8に収容され、こ
れらのホルダー7、8は、上部ケース9Aに所定距離間
隔をおいて固定されている。ここで、第1の発光素子2
の前面には、投射光のスポット径を絞りこむ投光レンズ
5がホルダー8に固定されている。一方、受光素子1の
前面には、外乱光をカットする干渉フィルター6と、さ
らにその前面に被測定物からの反射光を受光素子1の受
光面に集束させる受光レンズ4が配置され、それぞれホ
ルダー7に固定されている。このとき、受光レンズ4と
投光レンズ5の光軸が平行になり、受光素子1と第1の
発光素子2の前面がこれらの光軸と垂直になるよう調整
する必要がある。
The apparatus according to the present embodiment includes a light receiving element 1 composed of a PSD capable of detecting a light receiving position, a first light emitting element 2 for projecting a spotlight on an object to be measured, and a diffused light for projecting an object to be measured. The second light emitting element 3 is provided. The light receiving element 1 and the first light emitting element 2 are accommodated in holders 7 and 8, respectively, and these holders 7 and 8 are fixed to the upper case 9A at a predetermined distance. Here, the first light emitting element 2
A light projecting lens 5 for narrowing the spot diameter of the projected light is fixed to a holder 8 on the front surface of the lens. On the other hand, an interference filter 6 for cutting disturbance light and a light receiving lens 4 for focusing reflected light from an object to be measured on the light receiving surface of the light receiving element 1 are arranged on the front surface of the light receiving element 1 and holders. 7 is fixed. At this time, it is necessary to make adjustment so that the optical axes of the light receiving lens 4 and the light projecting lens 5 become parallel, and the front surfaces of the light receiving element 1 and the first light emitting element 2 become perpendicular to these optical axes.

【0024】また、上部ケース1のレンズ4、5面と反
対の面には、受光素子1、発光素子2、3に電気的に接
続された電子回路が搭載された組立基板10が配置され
ている。この組立基板10には、例えば、信号処理IC
11が搭載され、受光素子1、発光素子2、3の制御及
び出力信号の演算処理を行う。この組立基板10を挟み
こむようにして下部ケース9Bが上部ケース9Aと接着
等により固定されて、ケース9を構成し、内部部品を密
封している。この下部ケース9Bを貫通するケーブル1
2により、組立基板10の電子回路から取り出された出
力信号は、ケーブル12の他端に取り付けられたコネク
タ13を介して、外部の処理装置(図示していない)に
伝送される。
On the surface of the upper case 1 opposite to the lenses 4 and 5, an assembly board 10 on which electronic circuits electrically connected to the light receiving elements 1 and the light emitting elements 2 and 3 are mounted. I have. The assembly board 10 includes, for example, a signal processing IC.
11 for controlling the light receiving element 1 and the light emitting elements 2 and 3 and for calculating output signals. The lower case 9B is fixed to the upper case 9A by bonding or the like so as to sandwich the assembly board 10, thereby forming the case 9 and hermetically sealing internal components. Cable 1 penetrating this lower case 9B
According to 2, the output signal extracted from the electronic circuit of the assembly board 10 is transmitted to an external processing device (not shown) via the connector 13 attached to the other end of the cable 12.

【0025】ここで、第1の発光素子2は、被測定物に
小径のスポット光を、第2の発光素子3は、広角度(例
えば±40°)の拡散光をそれぞれ投影する必要がある
が、それぞれの素子は別種のものでなくてもよく、拡散
光を照射するLEDを共通して用い、第1の発光素子2
として用いる場合は、投光レンズ5の位置や焦点距離を
調整して、投光レンズ5からの出射光をスポット光に調
整すればよい。
Here, it is necessary that the first light emitting element 2 projects a small-diameter spot light on the object to be measured, and the second light emitting element 3 projects a diffused light having a wide angle (for example, ± 40 °). However, each element does not have to be a different kind, and an LED for irradiating diffused light is used in common, and the first light emitting element 2
In the case of using as the light source, the position and the focal length of the light projecting lens 5 may be adjusted, and the light emitted from the light projecting lens 5 may be adjusted to the spot light.

【0026】次に、この実施形態の動作原理を図2を用
いて説明する。
Next, the operation principle of this embodiment will be described with reference to FIG.

【0027】発光素子2、3には、それぞれ投光用のL
ED2A、3Aとこれらの点灯状況を監視するモニター
受光素子2B、3Bが設けられている。これらのLED
2A、3Aは一方のみが点灯するように制御される。
Each of the light emitting elements 2 and 3 has an L for projecting light.
EDs 2A and 3A and monitor light receiving elements 2B and 3B for monitoring the lighting state of the EDs 2A and 3A are provided. These LEDs
2A and 3A are controlled so that only one of them is turned on.

【0028】まず、遠距離側の測定について説明する。
遠距離側の距離測定は、三角測量方式による。つまり、
前述したように、LED2Aから出射した光は、投光レ
ンズ5により小径のスポット光に集光されて、被測定物
15に照射される。このスポット光の径は、投光レンズ
5から70cmの距離で約4cmである。被測定物15
に照射された光は、表面で一般に乱反射され、その一部
が集光レンズ4を経て、干渉フィルター6を経由して、
受光素子1のPSDの受光面1Aに到達し、光電流を発
生させ、受光素子1の両電極1B、1Cからその位置に
応じた電流が出力される。このとき、前述したように、
受光レンズ4と受光面1Aの距離をf、基線長をB、受
光位置の受光レンズ4の光軸中心からの距離をx1とす
ると、物体15表面と受光レンズ4の距離Lは、再掲す
る以下の式で表される。 L=Bf/x1 PSDは、受光面上の入射位置x1を両電極の出力IA
Bから判定できるから、それをもとに被測定物体15
までの距離を求めることができる。
First, the measurement on the long distance side will be described.
The distance measurement on the far side is based on a triangulation method. That is,
As described above, the light emitted from the LED 2 </ b> A is condensed by the light projecting lens 5 into a small-diameter spot light, and is irradiated on the device under test 15. The diameter of the spot light is about 4 cm at a distance of 70 cm from the light projecting lens 5. DUT 15
Is generally irregularly reflected on the surface, and a part of the light passes through the condenser lens 4, passes through the interference filter 6,
The light reaches the light receiving surface 1A of the PSD of the light receiving element 1, generates a photocurrent, and outputs a current corresponding to the position from both electrodes 1B and 1C of the light receiving element 1. At this time, as described above,
Distance f of the light receiving lens 4 receiving surface 1A, the base length B, and the distance from the optical axis center of the light receiving lens 4 in the light receiving position is x 1, the distance L between the object 15 surface light receiving lens 4 is shown again It is represented by the following equation. L = Bf / x 1 PSD indicates the incident position x 1 on the light receiving surface as the output I A of both electrodes,
Since it can be determined from the I B, the measured object 15 based on it
The distance to can be obtained.

【0029】しかし、この三角測量方式では、至近距離
に被測定物体15”が存在するときは、x1が大きくな
り、受光素子1の受光面1Aからはみ出してしまうの
で、距離検出が不能となる。距離測定の限界となる位置
が被測定物体15’の位置、Lcである。本実施形態で
は、このLcは約20cmである。
[0029] However, in this triangulation, when the measured object 15 'is present in close range, x 1 is increased, so sticks out from the light-receiving surface 1A of the light receiving element 1, becomes impossible distance detection . the distance limit a position is the position of the object to be measured 15 'of the measurement, in a L c. in this embodiment, the L c is about 20 cm.

【0030】このLc以内の至近距離に対しては、LE
D3Aと、受光素子1を用いた反射光量方式による検出
が行われる。ここでは、至近距離に被測定物体15”が
存在する場合を例に説明する。LED3Aは、広角度
(例えば±40°)の角度範囲で光を照射している。し
たがって、被測定物体15”の広い範囲に光が照射され
ている。被測定物体15”からのLED3Aからの投射
光の反射光には、前述のLED2Aからの投射光の反射
光に比べて受光レンズ4への入射角(いいかえれば、受
光レンズ4の光軸となす角度)が小さい成分が含まれる
ため、その一部が受光素子1の受光面1Aに入射する。
このとき、受光面1Aの比較的広い位置に光が入射する
ため、受光素子1の両電極1B、1Cから発生する電流
A、IBから一義的に受光位置を求めることは困難にな
るが、その和IA+IBは、受光面に入射した光の光量の
総和に応じたものとなる。被測定物体15が近距離にあ
るほど、その反射特性が同一の場合は、受光面1Aに入
射する光量が多くなるので、出力電流の和も大きくな
る。
The relative short distance within the L c is, LE
D3A and detection by a reflected light amount method using the light receiving element 1 are performed. Here, a case where the measured object 15 ″ is present at a close distance will be described as an example. The LED 3A emits light in a wide angle range (for example, ± 40 °). Is illuminated over a wide area. The reflected light of the projected light from the LED 3A from the measured object 15 ″ is incident on the light receiving lens 4 (in other words, the optical axis of the light receiving lens 4) as compared with the reflected light of the projected light from the LED 2A. Angle), a part of which is incident on the light receiving surface 1A of the light receiving element 1.
At this time, since the light in a relatively wide position of the light receiving surface 1A is incident, the electrodes 1B of the light receiving element 1, the current I A generated from 1C, but becomes difficult to obtain the uniquely light receiving position from the I B , the sum I a + I B becomes one corresponding to the sum of light amount of light incident on the light receiving surface. The closer the measured object 15 is, the greater the amount of light incident on the light receiving surface 1A if the reflection characteristics are the same, so that the sum of the output currents also increases.

【0031】一方、LED3Aは、広角度で光を照射し
ているので、被測定物体が遠距離にある場合には、その
反射光のうち、受光レンズ4を経て、受光面1Aに入射
する光量は微弱なものとなり、出力電流の和も小さくな
る。さらに、被測定物体が所定の距離内に存在しない場
合は、LED3Aの光が被測定物体に到達するまでに拡
散してしまうので、反射光を検出することはできなくな
る。これらの場合には、出力電流の総和IA+IBも発生
しないか、微弱なものとなる。したがって、測定対象と
なる被測定物体の反射特性をもとにして、被測定物体が
距離Lcにある時の反射光によって発生する電流強度以
下の値をしきい値として、それ以上の電流を検出したと
きに物体が存在すると判定するように設定することによ
り、距離Lc以内の至近距離にある物体の存否を確実に
判定することができる。
On the other hand, since the LED 3A emits light at a wide angle, when the object to be measured is at a long distance, the amount of the reflected light that enters the light receiving surface 1A via the light receiving lens 4 out of the reflected light. Becomes weak, and the sum of the output currents becomes small. Further, when the object to be measured does not exist within the predetermined distance, the light of the LED 3A is diffused before reaching the object to be measured, so that the reflected light cannot be detected. In these cases, even if not generated, it becomes weak sum I A + I B of the output current. Therefore, the reflection characteristic of the measured object to be measured based on, as a threshold value of the current intensity below generated by reflected light when the object to be measured is in the distance L c, the more current by setting to determine that an object when it detects the presence of the distance L object existence in close proximity within c it can be determined reliably.

【0032】なお、LED3Aは、被測定物体が受光レ
ンズ4の直前に配置されている場合でも、LED3Aか
らの投射光の被測定物体による反射光が受光素子1の受
光面内に入射するように受光素子1と近接して配置する
ことが好ましい。これにより、ゼロ距離から前述の距離
cまでの物体の存否を確認することができ、三角測量
方式のみを用いた場合に発生する至近距離に存在する物
体を見落とす問題点を克服できる。また、従来例のよう
にPSDを位置検出方向に追加する必要がないので、装
置自体の大きさをコンパクトにすることができる。
The LED 3A is arranged so that, even when the object to be measured is disposed immediately before the light receiving lens 4, the reflected light of the projection light from the LED 3A by the object to be measured enters the light receiving surface of the light receiving element 1. It is preferable to arrange the light receiving element 1 close to the light receiving element 1. This makes it possible to confirm the presence or absence of an object from the zero distance to a distance L c of the foregoing, only the triangulation can overcome the problem of missing objects present in close range to occur when used. Further, unlike the conventional example, there is no need to add a PSD in the position detection direction, so that the size of the device itself can be reduced.

【0033】さらに、発光素子2、3には、モニター受
光素子2B、3Bを備えているので、それぞれ対応する
LED2A、3Aが点灯状況を監視して、点灯している
ときのみに距離検出あるいは存否確認をすれば、LED
2A、3Aの消灯による受光素子1に出力のない状態を
被測定物体が存在しない状態と誤判定することがなくな
り、測定の安定性が向上する。
Further, since the light emitting elements 2 and 3 are provided with the monitor light receiving elements 2B and 3B, the corresponding LEDs 2A and 3A monitor the lighting state, and detect the distance or detect the presence or absence only when the corresponding LEDs 2A and 3A are lit. If you check, LED
A state in which no light is output from the light receiving element 1 due to turning off the lights of 2A and 3A is not erroneously determined as a state in which the object to be measured does not exist, and the stability of measurement is improved.

【0034】続いて、第2の実施形態について、図3を
参照して説明する。図3は、この第2の実施形態の概略
斜視図である。基本的な構成は図1、2に示される第1
の実施形態と同一であり、重複する部分についての説明
は省略する。この実施形態では、第1の発光素子2上
に、2つのLED2A、2Cがモニター受光素子2Bを
挟んで、第1の発光素子2と受光素子1の配列方向と直
交する方向に配列されている。さらに、受光素子1に
は、LED2A、2Cと略対応する位置にそれぞれPS
D1D、1Eが配置されている。この配置により、2チ
ャンネル測定が可能となっている。
Next, a second embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 3 is a schematic perspective view of the second embodiment. The basic configuration is the first shown in FIGS.
This is the same as the above embodiment, and the description of the overlapping parts will be omitted. In this embodiment, two LEDs 2A and 2C are arranged on the first light emitting element 2 with the monitor light receiving element 2B interposed therebetween in a direction orthogonal to the arrangement direction of the first light emitting element 2 and the light receiving element 1. . Further, the light receiving element 1 has a PS at a position substantially corresponding to the LEDs 2A and 2C.
D1D and 1E are arranged. With this arrangement, two-channel measurement is possible.

【0035】ここで、受光レンズ4と投光レンズ6に同
一の焦点距離f値を有するレンズを用いている場合は、
LED2A、2Cの間隔と、PSD1D、1Eの間隔を
同一にする必要がある。それぞれのレンズのf値が異な
る場合は、f値に合わせてLED2A、2Cの間隔と、
PSD1D、1Eの間隔を調整する必要がある。これに
より、LED2Aの投射光の被測定物体からの反射光が
PSD1Dに入射し、LED2Cの投射光の被測定物体
からの反射光がPSD1Eにそれぞれ入射することとな
る。
Here, when lenses having the same focal length f value are used for the light receiving lens 4 and the light projecting lens 6,
The distance between the LEDs 2A and 2C and the distance between the PSDs 1D and 1E need to be the same. When the f-number of each lens is different, the distance between the LEDs 2A and 2C is adjusted according to the f-number,
It is necessary to adjust the intervals between the PSDs 1D and 1E. As a result, the reflected light of the light projected from the LED 2A from the object to be measured enters the PSD 1D, and the reflected light of the light projected from the LED 2C from the object to be measured enters the PSD 1E.

【0036】また、受光素子1、発光素子2、3はそれ
ぞれ信号処理用IC11(図1参照)に接続されてい
る。このうちPSD1D、1Eにそれぞれ2つずつある
出力電極は、対応する側にある双方の電極がそれぞれ並
列接続されている。これにより、第1の実施形態の1チ
ャンネル測定に比べて、高精度で安定した測定が可能と
なる。
The light receiving element 1, the light emitting elements 2 and 3 are connected to a signal processing IC 11 (see FIG. 1). Of these, two output electrodes are provided for each of the PSDs 1D and 1E, and both electrodes on the corresponding sides are connected in parallel. As a result, highly accurate and stable measurement can be performed as compared with the one-channel measurement of the first embodiment.

【0037】次に、この信号処理用IC11の構成、動
作を図4、5を用いて説明する。図4は、このIC11
のブロック図であり、図5は、この装置の動作タイミン
グを示す図である。
Next, the configuration and operation of the signal processing IC 11 will be described with reference to FIGS. FIG. 4 shows this IC 11
FIG. 5 is a diagram showing the operation timing of this device.

【0038】まずタイミング発生回路21は、外部から
供給されるパルスクロック信号CLKを分周することに
より、3つのLED2A、2C、3Aのそれぞれの発光
を制御するドライブパルス信号LED1〜3を生成す
る。本実施形態では、図5に示されるように、CLK信
号パルス16個ごとにLED1、2、3のそれぞれのパ
ルス信号を切り換えて出力している。また、タイミング
発生回路21は、各LED信号のパルスの立ち上がり前
にサンプルホールド制御用のS/H_A信号をパルス出
力し、各LED信号のパルス信号の終了前に同じくサン
プルホールド制御用のS/H_B信号をパルス出力し、
各LED信号終了後の所定時間後にサンプルホールド終
了を示すVALID信号を出力している。また、LED
1に対応したパルス信号をSYNC信号として外部に出
力している。
First, the timing generation circuit 21 generates drive pulse signals LED1 to 3 for controlling light emission of the three LEDs 2A, 2C and 3A by dividing the frequency of the pulse clock signal CLK supplied from the outside. In the present embodiment, as shown in FIG. 5, the pulse signals of the LEDs 1, 2, and 3 are switched and output every 16 CLK signal pulses. Further, the timing generation circuit 21 outputs a S / H_A signal for sample and hold control before the pulse of each LED signal rises, and similarly, the S / H_B for sample and hold control before the end of the pulse signal of each LED signal. Pulse output signal,
A VALID signal indicating the end of the sample hold is output a predetermined time after the end of each LED signal. In addition, LED
The pulse signal corresponding to 1 is output to the outside as a SYNC signal.

【0039】このドライブパルス信号LED1〜3によ
りドライブ回路22は、LED2A、2C、3Aを時分
割的にパルス点灯させる。各LEDから発せられた光
は、被測定物15によって反射されて、それぞれのPS
D1D、1Eに入射して、光電流を生成する。それぞれ
のPSDで発生した光電流は、その2つの電極から分流
されて出力されるが、それぞれのPSDが並列接続され
ているので、対応する電極の出力電流の合成電流が後続
の回路に送られる。これらの合成後の光電流は、外乱光
によるノイズを含むパルス電流である。
In response to the drive pulse signals LED1 to LED3, the drive circuit 22 causes the LEDs 2A, 2C and 3A to pulse light in a time-division manner. The light emitted from each LED is reflected by the device under test 15 and each PS
Light is incident on D1D and 1E to generate a photocurrent. The photocurrent generated by each PSD is divided and output from the two electrodes. Since the respective PSDs are connected in parallel, the combined current of the output currents of the corresponding electrodes is sent to the subsequent circuit. . These combined photocurrents are pulse currents containing noise due to disturbance light.

【0040】このノイズを含むパルス電流は、DCフィ
ードバックや容量結合を用いて(図示していない)外乱
光によるノイズ成分を除去された後、電流−電圧変換器
23、24により電圧信号に変換されて、加算回路2
5、減算回路26にそれぞれ転送される。
The noise-containing pulse current is converted into a voltage signal by current-voltage converters 23 and 24 after a noise component due to disturbance light (not shown) is removed by using DC feedback or capacitive coupling. And the addition circuit 2
5, and are transferred to the subtraction circuit 26, respectively.

【0041】こうして得られた加算出力信号と減算出力
信号は、後続のサンプルホールド回路27〜30に送ら
れる。それぞれのサンプルホールド回路のうち回路2
7、29では、LEDのタイミング回路21から送られ
てきたサンプルホールド制御信号S/H_Aに基づいて
LED発光直前の信号レベルが、回路28、30では、
サンプルホールド制御信号S/H_Bに基づいてLED
発光時の信号レベルがそれぞれ保持される。
The addition output signal and the subtraction output signal thus obtained are sent to the subsequent sample and hold circuits 27 to 30. Circuit 2 of each sample and hold circuit
7 and 29, the signal level immediately before LED emission based on the sample / hold control signal S / H_A sent from the LED timing circuit 21,
LED based on sample / hold control signal S / H_B
Each signal level at the time of light emission is held.

【0042】こうしてサンプルホールドされた信号レベ
ルは、VALID信号がオンになると次段の減算回路3
1、32に送られて、LED発光時とLED発光直前と
の信号レベルの差がとられることにより、ノイズが除去
された加算信号出力Σout(IA+IBに相当)と、減算
信号出力Δout(IA−IBに相当)が得られる。この信
号を基にして距離検出を行うことが可能である。
When the VALID signal is turned on, the signal level sampled and held in this manner is reduced to the next stage of the subtraction circuit 3.
1,32 to be sent, by the difference in signal level between the time of the LED and the LED light emission immediately before is taken, and the addition signal noise is eliminated outputted sigma out (corresponding to I A + I B), the subtraction signal output delta out (corresponding to I a -I B) is obtained. Distance detection can be performed based on this signal.

【0043】一方、モニター素子2B、3Bの出力は、
電流−電圧変換器33で電圧信号に変換された後、サン
プルホールド回路34によりサンプルホールドされた
後、一定値の信号LEDmonとして出力される。Vref信
号はLED非点灯時の基準信号である。両者の差が所定
レベル以下であれば、LEDが点灯していないとみなせ
るので、エラー出力を生成することにより、誤作動を防
止することができる。
On the other hand, the outputs of the monitor elements 2B and 3B are
After being converted into a voltage signal by the current-voltage converter 33, the signal is sampled and held by the sample and hold circuit 34, and then output as a signal LED mon of a constant value. The Vref signal is a reference signal when the LED is not lit. If the difference between the two is equal to or less than the predetermined level, it can be considered that the LED is not lit. Therefore, by generating an error output, malfunction can be prevented.

【0044】上記のようにして得られた出力信号をその
まま処理してもよいし、デジタル信号に変換して処理し
てもよい。また、1周期ごとの出力を直接処理しても複
数周期の出力をもとにして演算処理してもよい。
The output signal obtained as described above may be processed as it is, or may be converted into a digital signal and processed. Further, the output of each cycle may be directly processed or the arithmetic processing may be performed based on the outputs of a plurality of cycles.

【0045】[0045]

【発明の効果】以上、説明したように本発明によれば、
半導体位置検出器を利用した三角測量方式で被測定物体
の位置を検出する測距モジュールにおいて、三角測量方
式では距離検出が不可能な至近距離内の物体の存否を反
射光量検知方式により検知することができるので、至近
距離内に物体があるときに物体が存在しないと判断する
誤動作を防止できる。さらに、三角測量方式と反射光量
検知方式のセンサを同一の半導体位置検出器で兼用して
いるので装置が小型化できる。
As described above, according to the present invention,
In a distance measuring module that detects the position of an object to be measured by a triangulation method using a semiconductor position detector, the presence or absence of an object within a close distance, which cannot be detected by the triangulation method, is detected by a reflected light amount detection method. Therefore, it is possible to prevent a malfunction in which it is determined that the object does not exist when the object is within a close distance. Further, since the same semiconductor position detector is used for the sensors of the triangulation method and the reflected light amount detection method, the size of the apparatus can be reduced.

【0046】さらに、遠距離用の発光素子と、近距離用
の発光素子を交互にパルス点灯させることで、複雑な演
算処理が不要となり、確実な測定が可能となる。
Furthermore, by alternately pulsing the long-distance light emitting element and the short-distance light emitting element in a pulsed manner, complicated arithmetic processing becomes unnecessary and reliable measurement becomes possible.

【0047】また、発光素子の発光量を検出するモニタ
ー素子をさらに備えることで、発光素子が点灯していな
い場合に、従来の装置においては測定不可能であるにも
かかわらず、無限遠あるいは物体の非存在として感知
し、誤動作するおそれがあったが、本装置ではこのよう
な場合に発光素子の不調を検知することができる。
Further, by further providing a monitor element for detecting the light emission amount of the light emitting element, when the light emitting element is not turned on, it is impossible to measure with the conventional apparatus, but the object is at infinity or the object. There was a risk of malfunction as a result of the detection of non-existence, but the present device can detect a malfunction of the light emitting element in such a case.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1の実施形態の概略構成図である。FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a first embodiment of the present invention.

【図2】図1に係る実施形態の測定原理を示す説明図で
ある。
FIG. 2 is an explanatory diagram illustrating a measurement principle of the embodiment according to FIG. 1;

【図3】本発明の第2の実施形態の概略斜視図である。FIG. 3 is a schematic perspective view of a second embodiment of the present invention.

【図4】図3の実施形態の信号処理用ICのブロック図
である。
FIG. 4 is a block diagram of a signal processing IC according to the embodiment of FIG. 3;

【図5】図4に係る信号処理用ICの動作タイミング図
である。
FIG. 5 is an operation timing chart of the signal processing IC according to FIG. 4;

【図6】半導体位置検出器の基本構成を示す図である。FIG. 6 is a diagram showing a basic configuration of a semiconductor position detector.

【図7】半導体位置検出器を利用した測距センサの動作
原理を説明する図である。
FIG. 7 is a diagram illustrating the operation principle of a distance measuring sensor using a semiconductor position detector.

【図8】従来の半導体位置検出器を利用した測距センサ
の一例を示す図である。
FIG. 8 is a diagram illustrating an example of a distance measuring sensor using a conventional semiconductor position detector.

【図9】従来の半導体位置検出器を利用した測距センサ
の別の例を示す図である。
FIG. 9 is a diagram showing another example of a distance measuring sensor using a conventional semiconductor position detector.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…半導体位置検出器、2、3…発光素子、4…受光レ
ンズ、5…投光レンズ、6…干渉フィルター、7、8…
ホルダー、9…ケース、10…組立基板、11…信号処
理用IC、12…ケーブル、13…コネクタ、15…被
測定物。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Semiconductor position detector, 2, 3 ... Light emitting element, 4 ... Light receiving lens, 5 ... Projection lens, 6 ... Interference filter, 7, 8 ...
Holder, 9 case, 10 assembly board, 11 signal processing IC, 12 cable, 13 connector, 15 object to be measured.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 富田 俊彦 静岡県浜松市市野町1126番地の1 浜松ホ トニクス株式会社内 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (72) Inventor Toshihiko Tomita 1126 Nomachi, Hamamatsu City, Shizuoka Prefecture 1 Hamamatsu Photonics Co., Ltd.

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 光を被測定物体に投射して、被測定物体
との距離を測定する測距モジュールにおいて、 被測定物体表面に向けて小径のスポット光を照射する第
1の発光素子と、 近接域の広い角度範囲に対して光を照射する第2の発光
素子と、 前記第1の発光素子の光路上に配置された投光レンズ
と、 前記第1の発光素子の光軸と垂直に配置される受光面を
有し、前記各発光素子の照射光の前記被測定物体表面か
らの反射光を受光し、その光量に応じた電気信号を発生
するとともに、入射光の受光面上での入射位置に応じた
電気信号をあわせて出力する半導体位置検出素子と、 前記半導体位置検出素子と被測定物体の間に配置され、
被測定物体の反射光を前記半導体位置検出素子の受光面
に集光する受光レンズと、 前記第1及び第2の発光素子の発光動作を切り替え制御
するとともに、前記第1の発光素子の発光時には、前記
半導体位置検出素子の受光面での入射光の入射位置に応
じた出力電気信号に基づいて、三角測量方式により被測
定物体までの距離を算出し、前記第2の発光素子の発光
時には、前記半導体位置検出素子の受光面への受光光量
に応じた出力電気信号に基づいて、反射光量検知方式に
より所定距離内における被測定物体の存否を検出する演
算回路と、 を備える測距モジュール。
1. A distance measuring module for projecting light onto an object to be measured and measuring a distance from the object to be measured, comprising: a first light emitting element for irradiating a small-diameter spotlight toward a surface of the object to be measured; A second light emitting element that irradiates light over a wide angle range of the proximity region; a light projecting lens arranged on an optical path of the first light emitting element; and a light emitting element perpendicular to an optical axis of the first light emitting element. Having a light receiving surface disposed thereon, receiving the reflected light of the irradiation light of each of the light emitting elements from the surface of the object to be measured, and generating an electric signal corresponding to the amount of light, on the light receiving surface of the incident light. A semiconductor position detecting element that outputs an electric signal in accordance with the incident position, and is disposed between the semiconductor position detecting element and the measured object;
A light receiving lens for condensing reflected light of the object to be measured on a light receiving surface of the semiconductor position detecting element, and switching control of light emitting operations of the first and second light emitting elements, and at the time of light emission of the first light emitting element Based on an output electric signal corresponding to an incident position of incident light on a light receiving surface of the semiconductor position detecting element, a distance to an object to be measured is calculated by a triangulation method, and when the second light emitting element emits light, An arithmetic circuit for detecting the presence or absence of an object to be measured within a predetermined distance by a reflected light amount detection method based on an output electric signal corresponding to a light amount received on a light receiving surface of the semiconductor position detecting element.
【請求項2】 前記演算回路は、前記第1及び第2の発
光素子を所定の間隔で交互にパルス点灯させる制御を行
うことを特徴とする請求項1記載の測距モジュール。
2. The distance measuring module according to claim 1, wherein the arithmetic circuit controls the first and second light emitting elements to be alternately pulsed at predetermined intervals.
【請求項3】 前記第1及び/または第2の発光素子の
近傍に対応する発光素子の発光量を検出するモニター素
子をさらに備え、前記演算回路は、前記モニター素子か
らの出力が所定以上の場合のみに前記被測定物体までの
距離算出あるいは前記被測定物体の存否検出を行うこと
を特徴とする請求項1記載の測距モジュール。
3. A monitor element for detecting a light emission amount of a light emitting element corresponding to the vicinity of the first and / or second light emitting element, wherein the arithmetic circuit outputs an output from the monitor element of a predetermined value or more. The distance measuring module according to claim 1, wherein the distance calculation to the measured object or the presence or absence of the measured object is performed only in the case.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2007263904A (en) * 2006-03-30 2007-10-11 Anritsu Corp Device and method for measuring three-dimensional shape
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