JPH1164160A - 光学軸検査器具およびそれを用いた光学軸検査方法 - Google Patents
光学軸検査器具およびそれを用いた光学軸検査方法Info
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- JPH1164160A JPH1164160A JP22506597A JP22506597A JPH1164160A JP H1164160 A JPH1164160 A JP H1164160A JP 22506597 A JP22506597 A JP 22506597A JP 22506597 A JP22506597 A JP 22506597A JP H1164160 A JPH1164160 A JP H1164160A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 安価かつ簡便に組み立てられ、しかも精度よ
く位相差板の光学軸を検査し得る器具を提供する提供す
る。 【解決手段】 光透過基板（１）の上に、その光学軸
（４）が基準線（６）に対して平行な第一基準偏光板
（２）、およびその光学軸（５）が基準線（６）に対し
て直交する第二基準偏光板（３）が並列的に配置され、
かつその光学軸（１３）が基準線（６）に対して４５°
の方向である第三基準偏光板（１２）が第一基準偏光板
（２）および第二基準偏光板（３）と重ね合せ可能に設
けられてなることを特徴とする光学軸検査器具。
く位相差板の光学軸を検査し得る器具を提供する提供す
る。 【解決手段】 光透過基板（１）の上に、その光学軸
（４）が基準線（６）に対して平行な第一基準偏光板
（２）、およびその光学軸（５）が基準線（６）に対し
て直交する第二基準偏光板（３）が並列的に配置され、
かつその光学軸（１３）が基準線（６）に対して４５°
の方向である第三基準偏光板（１２）が第一基準偏光板
（２）および第二基準偏光板（３）と重ね合せ可能に設
けられてなることを特徴とする光学軸検査器具。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光学軸検査器具お
よびそれを用いた光学軸検査方法に関する。
よびそれを用いた光学軸検査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】位相差板は光学素子として有用であり、
例えば液晶表示装置などに用いられている。かかる位相
差板の光学軸（進相軸または遅相軸）の方向は重要であ
り、位相差板を液晶表示装置に組込む際には、その光学
軸の方向を確認する必要がある。特に最近の液晶表示装
置に組込まれる位相差板は、その光学軸の精度が要求さ
れており、光学軸がわずかでもずれていては、液晶表示
装置の目的とする性能が確保できないため、精度のよい
光学軸の検査方法が必要である。
例えば液晶表示装置などに用いられている。かかる位相
差板の光学軸（進相軸または遅相軸）の方向は重要であ
り、位相差板を液晶表示装置に組込む際には、その光学
軸の方向を確認する必要がある。特に最近の液晶表示装
置に組込まれる位相差板は、その光学軸の精度が要求さ
れており、光学軸がわずかでもずれていては、液晶表示
装置の目的とする性能が確保できないため、精度のよい
光学軸の検査方法が必要である。
【０００３】従来から、位相差板の光学軸の検査方法と
しては、例えば検査したい位相差板（以下、位相差板試
料と称する。）を、光学軸が互いに直交する２枚の偏光
板の間に透過光量が最大または最小となるように重ね合
せる方法が知られている。しかし、かかる方法によって
わずかな光学軸のずれを検出するには、目視による透過
光量の比較では精度が低い。そこで、通常は光電子増倍
管などを用いて透過光量が比較されるが、光電子増倍管
は高価であり、かつ複雑な操作を必要とするため、安価
かつ簡便に組み立てられ、しかも精度よく位相差板の光
学軸を検査できる器具の開発が望まれていた。
しては、例えば検査したい位相差板（以下、位相差板試
料と称する。）を、光学軸が互いに直交する２枚の偏光
板の間に透過光量が最大または最小となるように重ね合
せる方法が知られている。しかし、かかる方法によって
わずかな光学軸のずれを検出するには、目視による透過
光量の比較では精度が低い。そこで、通常は光電子増倍
管などを用いて透過光量が比較されるが、光電子増倍管
は高価であり、かつ複雑な操作を必要とするため、安価
かつ簡便に組み立てられ、しかも精度よく位相差板の光
学軸を検査できる器具の開発が望まれていた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】そこで、本発明者ら
は、安価かつ簡便に組み立てられ、しかも精度よく光学
軸を検査し得る器具を開発するべく鋭意検討した結果、
二つの偏光板を並列的にその光学軸が特定の方向になる
ように配置し、該二つの偏光板と、特定方向の光学軸を
有する第３の偏光板との間に位相差板試料を載置し得る
ように構成された光学軸検査器具は、目視によっても精
度よく位相差板の光学軸の検査を行い得ることを見出
し、本発明に至った。
は、安価かつ簡便に組み立てられ、しかも精度よく光学
軸を検査し得る器具を開発するべく鋭意検討した結果、
二つの偏光板を並列的にその光学軸が特定の方向になる
ように配置し、該二つの偏光板と、特定方向の光学軸を
有する第３の偏光板との間に位相差板試料を載置し得る
ように構成された光学軸検査器具は、目視によっても精
度よく位相差板の光学軸の検査を行い得ることを見出
し、本発明に至った。
【０００５】
【課題を解決するための手段】すなわち本発明は、光透
過板の上に、基準線に対してその光学軸が平行な第一基
準偏光板および該基準線に対してその光学軸が直交する
第二基準偏光板が配置され、かつ第三基準偏光板が、第
一基準偏光板および第二基準偏光板と重ね合せた際にそ
の光学軸が基準線に対して４５°の方向となるように第
一基準偏光板および第二基準偏光板と重ね合せ可能に設
けられてなることを特徴とする光学軸検査器具を提供す
るものである。
過板の上に、基準線に対してその光学軸が平行な第一基
準偏光板および該基準線に対してその光学軸が直交する
第二基準偏光板が配置され、かつ第三基準偏光板が、第
一基準偏光板および第二基準偏光板と重ね合せた際にそ
の光学軸が基準線に対して４５°の方向となるように第
一基準偏光板および第二基準偏光板と重ね合せ可能に設
けられてなることを特徴とする光学軸検査器具を提供す
るものである。
【０００６】
【発明の実施の形態】以下、本発明をより詳細に説明す
る。本発明の光学軸検査器具の一例を図１に示す。光透
過板（１）は、例えばアクリル板、ポリカーボネート
板、塩化ビニル板などの通常の合成樹脂板であってもよ
いし、ガラス板であってもよい。かかる光透過板の厚み
は、その材質にもよるが、強度および取扱いの容易さの
点で通常は１〜１０ｍｍ程度である。光透過板は透明板
であってもよいが、検査における疲労が少ない点で、光
拡散板であることが好ましい。光拡散板としては、例え
ば酸化ケイ素、酸化アルミニウムなどの無機フィラーが
混合された合成樹脂板や、曇ガラスなどが挙げられる。
また、光透過板は、顔料、染料などによって着色されて
いてもよい。検査に際して光学軸検査器具は通常、その
下からバックライトなどによって照明される。バックラ
イトは、例えば蛍光灯、自然光、白熱電灯など何れであ
ってもよい。
る。本発明の光学軸検査器具の一例を図１に示す。光透
過板（１）は、例えばアクリル板、ポリカーボネート
板、塩化ビニル板などの通常の合成樹脂板であってもよ
いし、ガラス板であってもよい。かかる光透過板の厚み
は、その材質にもよるが、強度および取扱いの容易さの
点で通常は１〜１０ｍｍ程度である。光透過板は透明板
であってもよいが、検査における疲労が少ない点で、光
拡散板であることが好ましい。光拡散板としては、例え
ば酸化ケイ素、酸化アルミニウムなどの無機フィラーが
混合された合成樹脂板や、曇ガラスなどが挙げられる。
また、光透過板は、顔料、染料などによって着色されて
いてもよい。検査に際して光学軸検査器具は通常、その
下からバックライトなどによって照明される。バックラ
イトは、例えば蛍光灯、自然光、白熱電灯など何れであ
ってもよい。
【０００７】かかる光透過板（１）の上には、第一基準
偏光板（２）と第二基準偏光板（３）とが配置されてい
る。第一基準偏光板（２）と第二基準偏光板（３）と
は、光透過板（１）の上で並列的に配置され、実質的に
互いに重なり合うことがないように配置されるが、検査
に支障のない範囲で重なり合う部分があってもよい。第
一基準偏光板の光学軸（４）は基準線（６）と平行であ
り、第二基準偏光板の光学軸（５）は基準線（６）と直
交している。かかる第一基準偏光板（２）および第二基
準偏光板（３）を光透過板（１）上に配置するには、例
えば粘着剤、接着剤などを用いて固定すればよい。第一
基準偏光板（２）と第二基準偏光板（３）とは離れて配
置されてもよいが、隣接して配置されている場合は、大
きな面積の偏光板試料はもちろん、小さな偏光板試料の
検査にも容易に対応できるため、好ましい。
偏光板（２）と第二基準偏光板（３）とが配置されてい
る。第一基準偏光板（２）と第二基準偏光板（３）と
は、光透過板（１）の上で並列的に配置され、実質的に
互いに重なり合うことがないように配置されるが、検査
に支障のない範囲で重なり合う部分があってもよい。第
一基準偏光板の光学軸（４）は基準線（６）と平行であ
り、第二基準偏光板の光学軸（５）は基準線（６）と直
交している。かかる第一基準偏光板（２）および第二基
準偏光板（３）を光透過板（１）上に配置するには、例
えば粘着剤、接着剤などを用いて固定すればよい。第一
基準偏光板（２）と第二基準偏光板（３）とは離れて配
置されてもよいが、隣接して配置されている場合は、大
きな面積の偏光板試料はもちろん、小さな偏光板試料の
検査にも容易に対応できるため、好ましい。
【０００８】基準線（６）の方向は、光透過板（１）上
の任意の方向に設定されるが、実用上は作業者の正面方
向となることが好ましい。かかる基準線は、その方向を
容易に確認できるように光透過板上に明示されているこ
とが好ましい。また、図２に示すように、該基準線
（６）に沿って第一基準偏光板（２）と第二基準偏光板
（３）とが隣接するように配置されている場合には、基
準線（６）を二つの偏光板の境界線（７）として容易に
認識できるため、好ましい。
の任意の方向に設定されるが、実用上は作業者の正面方
向となることが好ましい。かかる基準線は、その方向を
容易に確認できるように光透過板上に明示されているこ
とが好ましい。また、図２に示すように、該基準線
（６）に沿って第一基準偏光板（２）と第二基準偏光板
（３）とが隣接するように配置されている場合には、基
準線（６）を二つの偏光板の境界線（７）として容易に
認識できるため、好ましい。
【０００９】さらに、本発明の光学軸検査器具には、透
明な分度器（９）が設けられていてもよい。かかる分度
器としてはアクリル製分度器などが用いられる。分度器
（９）の角度中心は基準線（６）上にあってもよいし、
基準線から離れていてもよい。かかる分度器を用いるこ
とによって、位相差板試料（８）の光学軸の角度を簡便
に求めることができる。
明な分度器（９）が設けられていてもよい。かかる分度
器としてはアクリル製分度器などが用いられる。分度器
（９）の角度中心は基準線（６）上にあってもよいし、
基準線から離れていてもよい。かかる分度器を用いるこ
とによって、位相差板試料（８）の光学軸の角度を簡便
に求めることができる。
【００１０】第三基準偏光板（１２）は、第一基準偏光
板（２）および第二基準偏光板（３）と重ね合せ可能に
設けられている。第三基準偏光板を重ね合せ可能に設け
るには、例えば蝶番などによって光透過板（１）と連結
しておけばよい。かかる第三基準偏光板を第一基準偏光
板および第二基準偏光板に重ね合せた際に、その光学軸
（１３）は基準線（６）に対して４５°の方向となる。
板（２）および第二基準偏光板（３）と重ね合せ可能に
設けられている。第三基準偏光板を重ね合せ可能に設け
るには、例えば蝶番などによって光透過板（１）と連結
しておけばよい。かかる第三基準偏光板を第一基準偏光
板および第二基準偏光板に重ね合せた際に、その光学軸
（１３）は基準線（６）に対して４５°の方向となる。
【００１１】本発明の光学軸検査器具を用いて位相差板
試料の光学軸を検査するには、例えば第一基準偏光板
（２）および第二基準偏光板（３）と、第三基準偏光板
（１２）との間で位相差板試料（８）を、該位相差板試
料および第三基準偏光板が第一基準偏光板と重なり合う
部分（１０）の色調と、該位相差板試料および第三基準
偏光板が第二基準偏光板と重なり合う部分（１１）の色
調とが無彩色となり、かつ該位相差板試料および第三基
準偏光板が第一基準偏光板と重なり合う部分（１０）の
明度と、該位相差板試料および第三基準偏光板が第二基
準偏光板と重なり合う部分（１１）の明度とが等しくな
るように載置すればよい（図３）。
試料の光学軸を検査するには、例えば第一基準偏光板
（２）および第二基準偏光板（３）と、第三基準偏光板
（１２）との間で位相差板試料（８）を、該位相差板試
料および第三基準偏光板が第一基準偏光板と重なり合う
部分（１０）の色調と、該位相差板試料および第三基準
偏光板が第二基準偏光板と重なり合う部分（１１）の色
調とが無彩色となり、かつ該位相差板試料および第三基
準偏光板が第一基準偏光板と重なり合う部分（１０）の
明度と、該位相差板試料および第三基準偏光板が第二基
準偏光板と重なり合う部分（１１）の明度とが等しくな
るように載置すればよい（図３）。
【００１２】第一基準偏光板（２）と第二基準偏光板
（３）とを基準線（６）に沿って隣接するように配置し
た場合には、位相差板試料および第三基準偏光板が第一
基準偏光板と重なり合う部分（１０）の色調および明度
と、位相差板試料および第三基準偏光板が第二基準偏光
板と重なり合う部分（１１）の色調および明度を容易か
つ精度よく比較できるため、好ましい。
（３）とを基準線（６）に沿って隣接するように配置し
た場合には、位相差板試料および第三基準偏光板が第一
基準偏光板と重なり合う部分（１０）の色調および明度
と、位相差板試料および第三基準偏光板が第二基準偏光
板と重なり合う部分（１１）の色調および明度を容易か
つ精度よく比較できるため、好ましい。
【００１３】両部分（１０、１１）が無彩色となり、か
つ明度が等しくなったとき、位相差板試料（８）の光学
軸は基準線（６）と同一方向または直角方向のいずれか
である。光学軸がいずれの方向であるかは、位相差板試
料（８）をわずかに回転させたときの色調を、予め用意
した位相差板の標準試料と比較することにより容易に判
断することができる。
つ明度が等しくなったとき、位相差板試料（８）の光学
軸は基準線（６）と同一方向または直角方向のいずれか
である。光学軸がいずれの方向であるかは、位相差板試
料（８）をわずかに回転させたときの色調を、予め用意
した位相差板の標準試料と比較することにより容易に判
断することができる。
【００１４】また、偏光板試料（８）の光学軸の角度
は、例えば予め配置しておいた分度器（９）によって求
めることができる。さらに、かかる分度器の角度中心に
ピン（１４）を設けておけば、該ピン（１４）を支点に
して偏光板試料（８）を載置することができ、しかもそ
のまま光学軸の角度を読み取ることもできるため、好ま
しい。
は、例えば予め配置しておいた分度器（９）によって求
めることができる。さらに、かかる分度器の角度中心に
ピン（１４）を設けておけば、該ピン（１４）を支点に
して偏光板試料（８）を載置することができ、しかもそ
のまま光学軸の角度を読み取ることもできるため、好ま
しい。
【００１５】
【発明の効果】本発明の光学軸検査器具は、安価かつ簡
便に組み立てられ、しかも位相差板試料および第三基準
偏光板が第一基準偏光板と重なり合う部分の色調および
明度と、位相差板試料および第三基準偏光板が第二基準
偏光板と重なり合う部分の色調および明度と比較するの
で、目視であっても十分な精度で位相差板の光学軸を検
査することができる。
便に組み立てられ、しかも位相差板試料および第三基準
偏光板が第一基準偏光板と重なり合う部分の色調および
明度と、位相差板試料および第三基準偏光板が第二基準
偏光板と重なり合う部分の色調および明度と比較するの
で、目視であっても十分な精度で位相差板の光学軸を検
査することができる。
【００１６】
【実施例】以下、実施例により本発明をより詳細に説明
するが、本発明はかかる実施例に限定されるものではな
い。
するが、本発明はかかる実施例に限定されるものではな
い。
【００１７】実施例１ 図１に示す光学軸検査器具を写真ネガ観察用のライトボ
ックス上に載置し、裏面から照明した。第一基準偏光板
（２）および第二基準偏光板（３）と、第三基準偏光板
（１２）とを重ね合せ、これら第一基準偏光板および第
二基準偏光板と、第三基準偏光板との間で、位相差板試
料（８）〔４．５ｃｍ×５ｃｍ〕を、該位相差板試料お
よび第三基準偏光板が第一基準偏光板と重なり合う部分
（１０）の色調と、該位相差板試料および第三基準偏光
板が第二基準偏光板と重なり合う部分（１１）の色調と
が無彩色となり、かつ該位相差板試料および第三基準偏
光板が第一基準偏光板と重なり合う部分（１０）の明度
と、該位相差板試料および第三基準偏光板が第二基準偏
光板と重なり合う部分（１１）の明度とが等しくなるよ
う載置した。その時の位相差板試料（８）の一辺〔長辺
（５ｃｍ）〕（１５）と基準線（６）とがなす角度を分
度器を用いて読み取り、この角度を位相差板試料の光学
軸の角度（θ）とした。異なる４枚の位相差板試料
（８）について求めた光学軸の角度（θ）を表１に示
す。
ックス上に載置し、裏面から照明した。第一基準偏光板
（２）および第二基準偏光板（３）と、第三基準偏光板
（１２）とを重ね合せ、これら第一基準偏光板および第
二基準偏光板と、第三基準偏光板との間で、位相差板試
料（８）〔４．５ｃｍ×５ｃｍ〕を、該位相差板試料お
よび第三基準偏光板が第一基準偏光板と重なり合う部分
（１０）の色調と、該位相差板試料および第三基準偏光
板が第二基準偏光板と重なり合う部分（１１）の色調と
が無彩色となり、かつ該位相差板試料および第三基準偏
光板が第一基準偏光板と重なり合う部分（１０）の明度
と、該位相差板試料および第三基準偏光板が第二基準偏
光板と重なり合う部分（１１）の明度とが等しくなるよ
う載置した。その時の位相差板試料（８）の一辺〔長辺
（５ｃｍ）〕（１５）と基準線（６）とがなす角度を分
度器を用いて読み取り、この角度を位相差板試料の光学
軸の角度（θ）とした。異なる４枚の位相差板試料
（８）について求めた光学軸の角度（θ）を表１に示
す。
【００１８】参考例１ 実施例１で用いた各位相差板試料の光学軸の角度を偏光
顕微鏡を用いて測定した結果を表１に示す。
顕微鏡を用いて測定した結果を表１に示す。
【００１９】
【表１】 ──────────────────────────────── 位相差板試料の光学軸の角度（θ） 単位：° ──────────────────────────────── 位相差板試料 １ ２ ３ ４ ──────────────────────────────── 実施例１ ９．２ ４６．２ １０８．８ １６０．６ 参考例１ ９．２ ４６．７ １０８．６ １６０．２ ────────────────────────────────
【図１】本発明の光学軸検査器具の一例を示す模式図で
ある。
ある。
【図２】本発明の光学軸検査器具の一例を示す模式図で
ある。
ある。
【図３】本発明の光学軸検査方法を示す模式図である。
１：光透過板 ２：第一基準偏光板 ３：第二基準偏光板 ４：第一基準偏光板の光学軸 ５：第二基準偏光板の光学軸 ６：基準線 ７：第一基準偏光板と第二基準偏光板との境界線 ８：偏光板試料 ９：分度器 １０：位相差板試料および第三基準偏光板が第一基準偏
光板と重なり合う部分 １１：位相差板試料および第三基準偏光板が第二基準偏
光板と重なり合う部分 １２：第三基準偏光板 １３：第三基準偏光板の光学軸 １４：ピン １５：位相差板試料の一辺（長辺） θ ：位相差板試料の光学軸の角度〔位相差板試料の一
辺（長辺）と基準線とがなす角度〕
光板と重なり合う部分 １１：位相差板試料および第三基準偏光板が第二基準偏
光板と重なり合う部分 １２：第三基準偏光板 １３：第三基準偏光板の光学軸 １４：ピン １５：位相差板試料の一辺（長辺） θ ：位相差板試料の光学軸の角度〔位相差板試料の一
辺（長辺）と基準線とがなす角度〕
Claims (4)
- 【請求項１】光透過板の上に、基準線に対してその光学
軸が平行な第一基準偏光板および該基準線に対してその
光学軸が直交する第二基準偏光板が配置され、かつ第三
基準偏光板が、第一基準偏光板および第二基準偏光板と
重ね合せた際にその光学軸が基準線に対して４５°の方
向となるように第一基準偏光板および第二基準偏光板と
重ね合せ可能に設けられてなることを特徴とする光学軸
検査器具。 - 【請求項２】第一基準偏光板と第二基準偏光板とが基準
線に沿って隣接している請求項１に記載の光学軸検査器
具。 - 【請求項３】基準線に対してその光学軸が平行な第一基
準偏光板および該基準線に対してその光学軸が直交する
第二基準偏光板と、該基準線に対してその光学軸が４５
°の方向である第三基準偏光板との間で、位相差板試料
を、該位相差板試料および第三基準偏光板が第一基準偏
光板と重なり合う部分の色調と、該位相差板試料および
第三基準偏光板が第二基準偏光板と重なり合う部分の色
調とがいずれも無彩色となり、かつ該位相差板試料およ
び第三基準偏光板が第一基準偏光板と重なり合う部分の
明度と、該位相差板試料および第三基準偏光板が第二基
準偏光板と重なり合う部分の明度とが等しくなるように
載置することを特徴とする位相差板の光学軸検査方法。 - 【請求項４】第一基準偏光板と第二基準偏光板とが基準
線に沿って隣接するように配置されている請求項３に記
載の光学軸検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22506597A JP3731306B2 (ja) | 1997-08-21 | 1997-08-21 | 光学軸検査器具およびそれを用いた光学軸検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22506597A JP3731306B2 (ja) | 1997-08-21 | 1997-08-21 | 光学軸検査器具およびそれを用いた光学軸検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1164160A true JPH1164160A (ja) | 1999-03-05 |
| JP3731306B2 JP3731306B2 (ja) | 2006-01-05 |
Family
ID=16823495
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22506597A Expired - Fee Related JP3731306B2 (ja) | 1997-08-21 | 1997-08-21 | 光学軸検査器具およびそれを用いた光学軸検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3731306B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006129523A1 (ja) * | 2005-05-30 | 2006-12-07 | Sharp Kabushiki Kaisha | 液晶表示装置の製造方法および液晶表示装置の製造装置 |
| US7986987B2 (en) | 2001-07-09 | 2011-07-26 | L' Oréal | Device, system and method for observing a typological characteristic of the body |
| US8351041B2 (en) | 2004-11-26 | 2013-01-08 | L'oreal | Method of observing biological tissue, in particular human skin |
-
1997
- 1997-08-21 JP JP22506597A patent/JP3731306B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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