JPH1167718A - 半導体処理液用冷却加熱装置 - Google Patents
半導体処理液用冷却加熱装置Info
- Publication number
- JPH1167718A JPH1167718A JP22250897A JP22250897A JPH1167718A JP H1167718 A JPH1167718 A JP H1167718A JP 22250897 A JP22250897 A JP 22250897A JP 22250897 A JP22250897 A JP 22250897A JP H1167718 A JPH1167718 A JP H1167718A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cooling
- heating
- heat exchange
- semiconductor processing
- processing liquid
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 title claims abstract description 135
- 238000001816 cooling Methods 0.000 title claims abstract description 133
- 238000012545 processing Methods 0.000 title claims description 62
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 60
- 238000007789 sealing Methods 0.000 claims abstract description 18
- 238000005192 partition Methods 0.000 claims abstract description 17
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 64
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 55
- 230000003014 reinforcing effect Effects 0.000 claims description 50
- 229910003481 amorphous carbon Inorganic materials 0.000 claims description 18
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 17
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 16
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 claims description 15
- 239000010439 graphite Substances 0.000 claims description 15
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 claims description 12
- 239000000843 powder Substances 0.000 claims description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 9
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 6
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 239000002194 amorphous carbon material Substances 0.000 claims description 5
- 238000005242 forging Methods 0.000 claims description 5
- 239000002994 raw material Substances 0.000 claims description 5
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 4
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000012546 transfer Methods 0.000 abstract description 8
- 230000008602 contraction Effects 0.000 abstract description 6
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N Fluorine atom Chemical compound [F] YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 3
- 230000008859 change Effects 0.000 abstract description 3
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 abstract description 3
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 abstract description 3
- 230000032683 aging Effects 0.000 abstract 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 11
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 10
- 239000002585 base Substances 0.000 description 9
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 9
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 9
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 7
- 229920001971 elastomer Polymers 0.000 description 7
- 239000000806 elastomer Substances 0.000 description 7
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 6
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 4
- 238000013461 design Methods 0.000 description 4
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 4
- 239000003566 sealing material Substances 0.000 description 4
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical compound F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 3
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 3
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 3
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N Phosphoric acid Chemical compound OP(O)(O)=O NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 2
- 238000005553 drilling Methods 0.000 description 2
- NBVXSUQYWXRMNV-UHFFFAOYSA-N fluoromethane Chemical compound FC NBVXSUQYWXRMNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 2
- 230000002787 reinforcement Effects 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-M Fluoride anion Chemical compound [F-] KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N Nitric acid Chemical compound O[N+]([O-])=O GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 150000007513 acids Chemical class 0.000 description 1
- 229910052783 alkali metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001340 alkali metals Chemical class 0.000 description 1
- 229910000147 aluminium phosphate Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 239000000356 contaminant Substances 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 239000000498 cooling water Substances 0.000 description 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- 238000005336 cracking Methods 0.000 description 1
- 230000002542 deteriorative effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 1
- 229910021397 glassy carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004519 grease Substances 0.000 description 1
- 229910001385 heavy metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000040 hydrogen fluoride Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 229910017604 nitric acid Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012071 phase Substances 0.000 description 1
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 238000000638 solvent extraction Methods 0.000 description 1
- 238000006557 surface reaction Methods 0.000 description 1
- 238000001947 vapour-phase growth Methods 0.000 description 1
- 239000013585 weight reducing agent Substances 0.000 description 1
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Joints With Pressure Members (AREA)
- Weting (AREA)
Abstract
的変化に伴う塑性変形が生じても冷却加熱室の高いシー
ル性を維持し、高伝熱性能及び軽量化を達成し、さらに
冷却加熱性能を容易に倍増する。 【解決手段】フッ素樹脂からなる側部壁体1は一体形成
され、円筒状にくり貫かれ、この側部壁体1を介して対
応配置される熱交換基板2a,2b,12a,12bに
よって2つの円筒状の冷却加熱室10,11を形成す
る。各冷却加熱室10,11は、1以上の仕切板によっ
て複数の冷却加熱小部屋を形成し、隣接する各冷却加熱
小部屋を連通される流通孔を仕切板あるいは側部壁体1
に形成することによって流入孔から流出孔に至るまでの
間に全冷却加熱小部屋を通る直列の流路を蛇行させて形
成する。これにより、1つの冷却加熱室10のみによっ
て冷却加熱する場合に比べて冷却加熱性能が倍増する。
皿バネ6は、その枚数及び配置方向を適宜選択すること
によって押圧力及び伸縮許容を可変とし、シール部9
a,9b,19a,19bのシールを保証する。
Description
導体処理液を冷却または加熱して該半導体処理液を温度
制御する半導体処理液用冷却加熱装置に関し、特に半導
体処理液の冷却加熱を効率的に行う半導体処理液冷却加
熱装置に関する。
は、熱交換基板に半導体処理液を接触させ、この熱交換
基板を介して半導体処理液を冷却または加熱している。
すなわち、耐食性を有するフッ素樹脂からなる側部壁体
とこの側部壁体を介して対向配置される熱交換基板によ
って冷却加熱室を形成し、この冷却加熱室に流入する半
導体処理液が熱交換基板に接触することによって該半導
体処理液が冷却または加熱される。
理液面側をアモルファスカーボン層で被覆したグラファ
イト基材で構成したものがある(特願平8−32059
号)。すなわち、この熱交換基板は、加工性の容易なグ
ラファイト基板を用い、このグラファイト基板表面に熱
処理を施すことにより、アモルファスカーボン層を形成
したもので、これによれば、ピンホールが少なく緻密
で、良好な鏡面を得ることができ、薬液やその蒸気を通
過させないという高信頼性を有し、Oリングを用いた気
密シールを容易にするとともに、極めて耐薬品性が高
く、パーティクルを生じないという利点がある。また、
熱交換基板が金属でないことから、化学薬品等により湿
式洗浄の他、気相洗浄法によって、高純度化処理が可能
であり、装置構成前に極めて高度の不純物除去を行うこ
とができ、冷却加熱時における半導体処理液に与える影
響を少なくしている。
体処理液用冷却加熱装置が熱交換基板として用いるアモ
ルファスカーボンは、別名ガラス状カーボンと呼ばれる
ように、硬いが脆く、この熱交換基板を補強する補強板
を熱交換基板にさらに重ねる必要があり、従来は、熱伝
導率の高いアルミニュームまたはアルミ合金等の金属材
を補強板として用いていた。
カーボンの熱膨張率は、アルミニュームまたはアルミ合
金等の金属材の熱膨張率と著しく異なるため、互いに接
着固定して取扱い時の強度を改善することができず、冷
却加熱時の温度変化で割れや剥がれを生じるおそれがあ
る。このため、熱交換基板と補強板との間には固着を避
けて熱伝導率の良好なグリースを介在させているが、熱
抵抗が小さくないので、これによる伝熱性能の低下は避
けられない。また、アモルファスカーボンやグラファイ
ト基材は、アルミニュームまたはアルミ合金等の金属材
に比べて熱伝導率が低いという難点があるので、伝熱性
能の損失を最小限に抑えるには、熱交換基板をできるだ
け薄くすることが望ましいが、機械的強度が弱くなると
いう問題があった。そのため、熱交換基板の機械的弱点
を補う補強板が必要となるが、従来の補強板は、アルミ
ニュームの展伸材が用いられ、軽量、高熱伝導性を確保
することができるものの、剛性の点で問題があり、補強
の目的として不十分であった。
補強板としての剛性が小さく、シールリングの外周に設
けられた締め付けネジのトルクを高めていくと、シール
リングの内側の板面が外側に向かって凸状に湾曲し、ひ
いては補強されるべき熱交換基板を破損する危険がある
とともに、シール部での接触面圧の低下を招いてシール
性が低下するという問題点があった。
ルを補強板の外側に取り付ける際、補強板が湾曲するこ
とにより、サーモモジュールと補強板との間の接触圧に
むらが生じ、サーモモジュールの機械的破損や熱接触抵
抗の増大を招き、結果として装置全体の性能や信頼性の
低下を招くという問題点もあった。
ラストマーは、成分物質を溶出して半導体処理液を汚染
する恐れがあることから、シール材としてのエラストマ
ーの使用は避け、フッ素樹脂をシール材として用いたい
が、フッ素樹脂そのものは、エラストマーのような弾力
性がなく、また塑性変形もし易い。このため、半導体処
理液との接触部分をフッ素樹脂とすべく断面がコの字型
のフッ素樹脂とこのコの字に包まれる部分をエラストマ
ーとする複合シール材が用いられている。
ッ素樹脂と側部壁体を構成するフッ素樹脂とは、冷却ま
たは加熱の温度サイクルや長期間の使用によりコールド
フローと呼ばれる塑性変形が生じ、この塑性変形による
寸法減少によってシール部での接触面圧が経時的に低下
し、結果的にシール性が低下するという問題点があっ
た。
では、冷却加熱性能の向上の要求があるにもかかわら
ず、1つの冷却加熱室に対して対応配置された熱交換基
板を介して冷却加熱を行うことから、冷却加熱性能に限
界があるという問題点もあった。
し、冷却加熱に伴う温度サイクルの繰り返しや経時的変
化に伴う塑性変形が生じても冷却加熱室の高いシール性
を維持し、高伝熱性能及び軽量化を達成し、さらに冷却
加熱性能を容易に倍増することができる半導体処理液用
冷却加熱装置を提供することを目的とする。
脂からなる側部壁体と該側部壁体を介して対向配置され
る第1及び第2の熱交換基板とで冷却加熱室を形成し、
該冷却加熱室は、シールリングを介して気密にシールさ
れ、前記第1及び第2の熱交換基板を補強する第1及び
第2の補強板を該第1及び第2の熱交換基板の外側に重
ねて取り付け、第1の補強板、第1の熱交換基板、側部
壁体、第2の熱交換基板及び第2の補強板を貫通する複
数の締め付けネジによって前記冷却加熱室のシーリング
を確実にし、入口孔を介して前記冷却加熱室に流入した
半導体処理液を前記熱交換基板に接触させて冷却または
加熱を行い、この冷却または加熱された半導体処理液を
出口孔を介して流出させる半導体処理液用冷却加熱装置
において、前記側部壁体、前記第1及び第2の熱交換基
板、前記第1及び第2の補強板のうち、少なくとも前記
側部壁体は、一体形成によって複数の冷却加熱室を形成
し、前記複数の冷却加熱室毎に、前記締め付けネジ及び
前記シールシングを含むシーリング構成を設け、各冷却
加熱室は、1以上の仕切板によって複数の冷却加熱小部
屋を形成するとともに、各冷却加熱小部屋は、前記側部
壁体及び前記仕切板に設けられた所定の流通孔によって
前記半導体処理液が前記入口孔から前記出口孔に至るま
での間を直列に流通接続されることを特徴とする。
第1及び第2の熱交換基板は、少なくとも半導体処理液
に接触する処理液接触面側をアモルファスカーボン層で
被覆したグラファイト基材であることを特徴とする。
第1及び第2の熱交換基板は、アモルファスカーボン材
であることを特徴とする。
いて、前記第1及び第2の補強板は、急冷凝固アルミ合
金粉末を原料とする粉末鍛造法によって成形焼結された
アルミ合金材であることを特徴とする。
て、前記シールリングは、接液表面がフッ素樹脂で形成
され、各締め付けネジに対して複数枚の皿バネを重ね合
わせて併用し、前記複数枚の皿バネのうち隣接する皿バ
ネの少なくとも1箇所以上を逆向きに重ね合わせたこと
を特徴とする。
施の形態について説明する。
処理液冷却加熱装置の平面図を示し、図2はその正面図
を示し、図3は、その右側面図を示す図である。
装置は、中央部分が円筒状にくり貫かれた2つの冷却加
熱室10,11を形成し、フッ素樹脂で構成された側部
壁体1、この側部壁体1が形成する冷却加熱室10,1
1の両端面を覆うように対向配置され、少なくとも両端
面に接する表面がアモルファスカーボンで被覆されたグ
ラファイト基材からなる熱交換基板2a,2b,12
a,12b、急冷凝固アルミ合金粉末を原料とする粉末
鍛造法によって成形焼結されたアルミ合金材で構成さ
れ、熱交換基板2a,2b,12a,12bの外側に重
畳されて熱交換基板2a,2b,12a,12bを補強
する補強板3a,3b,13a,13bを有する。
体処理液を冷却加熱室10に流入させ、配管7は、冷却
加熱室10からの半導体処理液を図示しない処理容器に
流出させる。また、後述するように、冷却加熱室10,
11は、1以上の仕切板によって複数の冷却加熱小部屋
を形成し、冷却加熱室10は、冷却加熱室11との間を
複数の流通孔を介して半導体処理液を直列に、かつ蛇行
させて流通させている。
加熱室10,11の周囲で側部壁体1と熱交換基板2
a,2b12a,12bとの間には、それぞれ4つの環
状のシール部9a,9b,19a,19bが形成され
る。
9bの外周には、それぞれ補強板3a,13a、熱交換
基板2a,12a、側部壁体1、熱交換基板2b,12
b、補強板3b,13bを順次貫通する24本のネジ4
を有する。各ネジ4は、先端部分、すなわち補強板3
b,13b側にナット5が取り付けられて、ネジの頭と
ナット5との間の厚みを任意に調整することができ、ネ
ジ4の頭と補強板3a,13aとの間に複数の皿バネ6
が貫装され、この皿バネ6の押圧力とともに、補強板3
a,13a、熱交換基板2a,12a、側部壁体1、熱
交換基板2b,12b、及び補強板3b,13bからな
る2つのサンドウィッチ構造を圧接し、シール部9a,
9b,19a,19bのシールを確実にする。
の外側には、図示しない4つのサーモモジュールがそれ
ぞれ取り付けられ、補強板3a,3b,13a,13b
及び熱交換基板2a,2b,12a,12bを介して冷
却加熱室10,11に対する熱の供給あるいは熱の吸収
が行われ、複数の孔s1,s2がサーモモジュールの取
り付けに利用される。また、サーモモジュールのさらに
外側には、図示しない放熱ブロックが取り付けられ、こ
の放熱ブロックには冷却水が供給されることにより、サ
ーモモジュールからの放熱が効率的に行われる。
図5に示す側部壁体1のA−A線断面図を参照して、側
部壁体1の詳細構成について説明する。
仕切板21〜23及び31〜33によって、さらにそれ
ぞれ4つの冷却加熱小部屋30a〜30d及び30e〜
30hに区切られ、合計8つの冷却加熱小部屋30a〜
30hが形成される。側部壁体1の一端面と冷却加熱室
10との間は、円筒状にくり貫かれた流入孔24と流出
孔25とが形成され、流入孔24は、配管8から小部屋
30aへの半導体処理液の流入を許容し、流出孔25
は、冷却加熱小部屋30dから配管7への半導体処理液
の流出を許容する。仕切板22は、側部壁体1の一端面
側に流入孔24及び流出孔25とほぼ同一の流通孔22
aを有し、仕切板31,33は、側部壁体1の一端面に
対向する面側に流入孔24及び流出孔25とほぼ同一の
流通孔31a,33aを有する。さらに、冷却加熱小部
屋30aと30eとの間、冷却加熱小部屋30bと30
fとの間、冷却加熱小部屋30cと30gとの間、及び
冷却加熱小部屋30dと30hとの間は、それぞれ流入
孔24及び流出孔25とほぼ同一の流通孔26〜29が
形成され、半導体処理液が流通できるように連通されて
いる。
流入した半導体処理液は、まず流入孔24を介して冷却
加熱小部屋30aに流入し、流通孔26→冷却加熱小部
屋30e→流通孔31a→冷却加熱小部屋30f→流通
孔27→冷却加熱小部屋30b→流通孔22a→冷却加
熱小部屋30c→流通孔28→冷却加熱小部屋30g→
流通孔33a→冷却加熱小部屋30h→流通孔29→冷
却加熱小部屋30dの順で流入し、最後に流出孔25を
介して配管7から流出される。
30hは、流入孔24から流出孔25までの間に配置さ
れる流通孔22a,31a,33a,26〜29によっ
て直列でかつ蛇行する流路を形成し、半導体処理液は、
この流路にしたがって全ての冷却加熱小部屋30a〜3
0hを直列に蛇行しながら流動する。
hに流入した半導体処理液は、冷却加熱室10,11の
上下端面に接触配置される熱交換基板2a,2b,12
a,12bと効率的に接触し、半導体処理液の冷却ある
いは加熱が効率的になされる。
は、1つの冷却加熱室10のみで半導体処理液の冷却加
熱を行っていたが、本発明の実施の形態では2つの冷却
加熱室10,11を有するため、約2倍の冷却加熱性能
を有することになる。なお、半導体処理液の冷却加熱
は、上述したように熱交換基板との接触伝熱によって行
われるが、この伝熱性能は、半導体処理液の流速によっ
ても著しく左右される。すなわち、半導体処理液の流速
が小さくなると伝熱性能は低下するので、制限される流
速が低下してしまうような設計は避けなければならな
い。例えば、複数の冷却加熱室同士が並列になるような
流路を形成すると、それぞれの冷却加熱室に対しては並
列の流路によって分割された流量の半導体処理液が流入
することになるので、たとえ2つの冷却加熱室を設けた
としても、流速の低下による伝熱性能の低下を免れるこ
とはできない。このため、本発明の実施の形態では、隣
接する冷却加熱小部屋30a〜30h間を側部壁体1内
に設けられた流通孔26〜29で連通させることによっ
て直列の流路を形成しており、各冷却加熱室の流速は1
つの冷却加熱室とした場合の流速と同じ流速となり、全
体の冷却加熱性能は、倍増する。このような冷却加熱室
を、3つ、4つというように、さらに直列接続させるこ
とにより、増加した冷却加熱室分に対応して冷却加熱性
能が増大することは容易に理解することができる。
9は、流入孔24、流出孔25の形成時に同時にドリル
加工によって形成され、流通孔27,28もドリル加工
によって形成されるが、この流通孔27,28の形成と
ともに、不必要な孔35,36が形成される。したがっ
て、孔35,36は、メクラ栓37,38によって半導
体処理液の流出を防いでいる。この場合、単にメクラ栓
37,38によって孔35,36を塞ぐのではなく、こ
のメクラ栓37,38を冷却加熱室10内への温度セン
サ取り付け口として利用することができる。ただし、側
部壁体1の形成方法によっては、孔35,36を生成し
ないで済むので、その場合はこの限りでない。
1の円形端面よりやや大きい環状形状をなし、側部壁体
1における熱交換基板2a,2b,12a,12bの接
触面側に配置される。側部壁体1には、予め環状のシー
ル部9a,9b19a,19bが装着されるように4つ
の環状の溝が形成される。
示し、シール部9bは、その断面がコの字状をなすフッ
素樹脂41と、このコの字状に包まれた断面が角形のエ
ラストマー40とが複合されたものである。コの字状の
フッ素樹脂41は、熱交換基板2b側及び側部壁体1に
形成された溝の低面側に、それぞれ2つの同心円状の突
起42を有し、これによってシールを確実にしている。
また、これらの突起42間を結合するコの字状のフッ素
樹脂部分は、冷却加熱室10の中心部に向けられてお
り、半導体処理液のシールリングとの接触はフッ素樹脂
のみとなり、エラストマーとは接触しないことになる。
したがって、エラストマー40の成分物質が、冷却加熱
室10内の半導体処理液に溶出することもなく、これに
よる汚染もない。
を貫通させる貫通孔39を有し、このネジ4とナット5
との間の厚み調整と皿バネ6の押圧とによってシール部
9a,9b,19a,19bのシールを確実にしてい
る。
よる冷却あるいは加熱による温度サイクルあるいは長期
間の使用によって、シール部9a,9b,19a,19
bを構成するフッ素樹脂及び側部壁体1を構成するフッ
素樹脂は、いわゆるコールドフローを生じ、圧接方向の
寸法減少が生じ、シール部9a,9b,19a,19b
での接触面圧を低下させるが、皿バネ6の伸縮と押圧と
によって寸法減少分を吸収し、これによってシール部9
a,9b,19a,19bでのシール性の低下を防止す
る。
は重ね方を適宜選択することによって簡単に調整するこ
とができる。例えば、皿バネ6全体の押圧力を高めるに
は、皿バネ6の向きを同一に多く配置することにより達
成することができ、皿バネ6の伸縮を増大して寸法減少
分を多く吸収するには、皿バネ6の向きを逆向きに多く
配置すればよい。図7(a)及び(b)には、8個の皿
バネを用いた場合の皿バネ配置例が示され、図7(a)
は、皿バネを1箇所のみ逆向きに配置し、図7(b)
は、皿バネを3箇所逆向きに配置している。皿バネを1
箇所のみ逆向きに配置した場合の方が、皿バネを3箇所
逆向きに配置した場合に比べて大きな押圧力を得ること
ができる。また、皿バネを3箇所逆向きに配置した場合
の方が、皿バネを1箇所のみ逆向きに配置した場合に比
べて、伸縮許容を大きく取ることができる。
に調整することができることは、シール性の安定確保の
他に、板厚寸法の制約や材質状の問題で機械的強度に難
点のある、アモルファスカーボン層で被覆したグラファ
イト基材や、アモルファスカーボン材を用いた熱交換基
板2a,2b,12a,12bを使用するときに、その
機械的強度を損なうことのないように、設計に応じて安
全かつ安定な熱交換基板あるいは補強板の取り付け、圧
接を行うことを可能にする。
ミ合金粉末を原料とする粉末鍛造法によって成形焼結さ
れたアルミ合金材であるが、このアルミ合金材は、一般
に多用されるアルミニュームの展伸材や鋳造材の長所で
ある軽量、高熱伝導性を失わずに、短所である低い縦弾
性率を30〜60%も大幅に高めることができる。これ
により、補強板3a,3bは、板厚を増大しなくても十
分な縦弾性率を有し、シールリングの外周に設けられた
ネジによる押圧力を増大しても熱交換基板2a,2b,
12a,12bを破損することがない。また、補強板3
a,3b,13a,13bの板厚を増大しなくてもよい
ので、補強板3a,3b,13a,13bの熱容量を最
小限にでき、加熱冷却の応答速度を損なうこともなく、
小型軽量化を実現することができる。
2a,12bの形成に際しては、アルカリ金属・重金属
含有率が5ppm以下の高純度のグラファイト基板を所
望の形状に加工したのち、表面を弗化水素ガスと反応さ
せ、金属元素等の不純物(汚染物)を弗化物として気化
させることにより、高純度化し、樹脂等を塗布した後、
所望の温度に加熱した反応装置内に設置し、熱処理によ
り樹脂中のカーボンをアモルファス化し、アモルファス
カーボン層を形成する。このように樹脂膜を形成した状
態で熱処理するようにすれば、基板表面の凹凸に樹脂が
含浸せしめられ平滑となった状態でアモルファス化がな
され、より平滑な表面状態を得ることができる。
a,2b,12a,12bを用いた装置では、熱交換基
板2a,2b,12a,12bと接触して液中に不純物
を混入させるようなことも、パーティクルを生じること
もなく、長期間にわたって良好に半導体処理液の温度制
御を行うことが可能である。なお、この装置では、半導
体処理液として多用される弗酸、硝酸、リン酸、硫酸、
塩酸等の多くの酸に対しても十分な耐性を発揮する。
bは、表面が鏡面に近い状態となっているため、気密性
が極めて良好なシールができ、液漏れが皆無となる。
は、できる限り気孔の少ない高密度なものが望ましく、
特に、表面を緻密化処理したものを用いれば、加工性が
良好で、鏡面加工も容易であり、アモルファスカーボン
層は、5乃至10μm程度の膜厚でかつ、表面反応によ
って形成されるため、この鏡面を良好に維持することが
でき、温度変化等に起因する剥離のおそれもない。
ト基板表面に、樹脂を塗布し、熱処理によるトリートメ
ントを施し、アモルファスカーボン層を形成したが、熱
処理によりグラファイト基板そのものをアモルファス化
し、アモルファスカーボン層を形成してもよいし、気相
成長によりグラファイト基板表面に、アモルファスカー
ボン層を形成してもよい。
ァスカーボン層を形成することに換えて、基材をアモル
ファスカーボンで形成してもよい。例えば、熱交換基板
2a,2b,12a,12bを板厚1mm乃至3mmの
アモルファスカーボンで構成してもよい。
ット5との間の厚みをネジ4の回転によって任意に調整
することができるが、ナット5自体を補強板3bに固着
するようにしてもよいし、ロッドと止めピン等によって
皿バネ6の装着スペースを考慮した厚みに最初から固定
されるようにしてもよい。要は、皿バネ6の押圧力が適
切に加わり、かつ皿バネ6の伸縮許容が適切であればよ
い。
3つ設け、各冷却加熱室を4つの冷却加熱小部屋に区分
けしたが、これに限らず、さらに多くの仕切板を設けて
さらに多い冷却加熱小部屋を形成してもよいし、逆に少
ない仕切板として少ない冷却加熱小部屋を形成してもよ
い。ただし、各冷却加熱小部屋間を連通させる流通孔は
形成された各冷却加熱小部屋に対応して形成する必要が
ある。
される冷却加熱小部屋の形成は、できる限り、蛇行させ
る必要があるが、各冷却加熱小部屋の形状及びこれによ
って形成される流路は任意に設定することができる。た
だし、各冷却小部屋間の流通する半導体処理液は、直列
に流入するようにしなければならない。
1のみを一体形成とし、熱交換基板2a,2b及び補強
板3a,3bを冷却加熱室10に、熱交換基板12a,
12b及び補強板13a,13bを冷却加熱室11にそ
れぞれ対応させたものとしたが、これに限らず、熱交換
基板2aと12a及び熱交換基板2bと12bをもそれ
ぞれ一体形成してもよいし、補強板3a,13a及び補
強板3bと13bをもそれぞれ一体形成してもよい。こ
こで、熱交換基板2aと12a、熱交換基板2bと12
b、補強板3aと13a、補強板3bと13bをそれぞ
れ一体形成しない場合には、単一の冷却加熱室の構成に
用いる熱交換基板及び補強板との部品の共通化を図るこ
とができる。
では、側部壁体、第1及び第2の熱交換基板、第1及び
第2の補強板のうち、少なくとも前記側部壁体は、一体
形成によって複数の冷却加熱室を形成し、複数の冷却加
熱室毎に、締め付けネジ及びシールリングを含むシーリ
ング構成を設け、各冷却加熱室は、1以上の仕切板によ
って複数の冷却加熱小部屋を形成するとともに、各冷却
加熱小部屋は、前記側部壁体及び前記仕切板に設けられ
た所定の流通孔によって前記半導体処理液が前記入口孔
から前記出口孔に至るまでの間を直列に流通接続される
ようにしているので、簡単な構成により小型軽量を維持
したまま、冷却加熱性能を増大することができるという
利点を有する。
おいて、第1及び第2の熱交換基板を、少なくとも半導
体処理液に接触する処理液接触面側をアモルファスカー
ボン層で被覆したグラファイト基材とし、または、アモ
ルファスカーボン材としているので、加工性が良好で製
造が極めて良好であり、また研磨加工も容易にであるた
め、平滑な平面を容易に得ることができとともに、精緻
な表面を得ることができるため、気体の通過がなく極め
て耐薬品性が高いので、気密性の高いシーリングを実現
することができる利点を有する。
おいて、第1及び第2の補強板は、急冷凝固アルミ合金
粉末を原料とする粉末鍛造法によって成形焼結されたア
ルミ合金材であるので、一般に多用されるアルミニュー
ムの展伸材や鋳造材の長所である軽量、高熱伝導性を失
わず、短所である低い縦弾性率を30〜60%も大幅に
高めることができ、この結果、板厚を増大させずに補強
板の剛性を高めることができるので、補強板の熱容量を
最小限にでき、冷却加熱の応答速度を損なうことなく、
装置全体の小型・軽量化を図ることができるという利点
を有する。
で、シールリングの外周における締め付けネジの締め付
けによってシールリングの内側の板面が外側に向かって
凸状に湾曲することがなくなり、熱交換基板を破損する
危険性を少なくし、シール部での接触面圧を低下させず
にシール性を保持することができる利点を有する。
外側に取り付けられるサーモモジュールとの接触圧を平
坦にし、接触圧にむらが生じることによる機械的破損や
熱接触抵抗の増大等に起因する装置全体の性能や信頼性
の低下を防止することができるという利点を有する。
いて、前記シールリングは、接液表面がフッ素樹脂で形
成され、各締め付けネジに対して複数枚の皿バネを重ね
合わせて併用し、前記複数枚の皿バネのうち隣接する皿
バネの少なくとも1箇所以上を逆向きに重ね合わせてい
るので、シールリングを構成するフッ素樹脂や側部壁体
を構成するフッ素樹脂が温度サイクルや長期間の使用に
よりコールドフローを生じ、これによる締め付け方向の
寸法減少が生じても、皿バネの伸縮許容により、寸法減
少を吸収し、シール部における接触面の圧力低下を防止
して安定したシールを提供することができるという利点
を有する。
数及び配置方向の適宜選択により調整することができる
ため、機械的強度が強くないアモルファスカーボン層で
被覆されたグラファイト基材やアモルファスカーボン材
を用いた熱交換基板を使用しても、この機械的強度を損
なうことがないよう、設計に応じて安全かつ安定な取り
付けや圧接を行うことができるという利点を有する。
熱装置の平面図を示す図である。
熱装置の正面図を示す図である。
熱装置の右側面図を示す図である。
す図である。
板 3a,3b,13a,13b…補強板 4…ネジ 5…
ナット 6…皿バネ 7,8…配管 9a,9b,19a,19b…シール部 10,11…冷却加熱室 21〜23,31〜33…仕
切板 22a,26〜29,31a,33a…流通孔 30a〜30h…冷却加熱小部屋 24…流入孔 25
…流出孔 39…貫通孔
Claims (5)
- 【請求項1】 フッ素樹脂からなる側部壁体と該側部壁
体を介して対向配置される第1及び第2の熱交換基板と
で冷却加熱室を形成し、該冷却加熱室は、シールリング
を介して気密にシールされ、前記第1及び第2の熱交換
基板を補強する第1及び第2の補強板を該第1及び第2
の熱交換基板の外側に重ねて取り付け、第1の補強板、
第1の熱交換基板、側部壁体、第2の熱交換基板及び第
2の補強板を貫通する複数の締め付けネジによって前記
冷却加熱室のシーリングを確実にし、入口孔を介して前
記冷却加熱室に流入した半導体処理液を前記熱交換基板
に接触させて冷却または加熱を行い、この冷却または加
熱された半導体処理液を出口孔を介して流出させる半導
体処理液用冷却加熱装置において、 前記側部壁体、前記第1及び第2の熱交換基板、前記第
1及び第2の補強板のうち、少なくとも前記側部壁体
は、一体形成によって複数の冷却加熱室を形成し、 前記複数の冷却加熱室毎に、前記締め付けネジ及び前記
シールリングを含むシーリング構成を設け、 各冷却加熱室は、1以上の仕切板によって複数の冷却加
熱小部屋を形成するとともに、各冷却加熱小部屋は、前
記側部壁体及び前記仕切板に設けられた所定の流通孔に
よって前記半導体処理液が前記入口孔から前記出口孔に
至るまでの間を直列に流通接続されることを特徴とする
半導体処理液用冷却加熱装置。 - 【請求項2】 前記第1及び第2の熱交換基板は、少な
くとも半導体処理液に接触する処理液接触面側をアモル
ファスカーボン層で被覆したグラファイト基材であるこ
とを特徴とする請求項1記載の半導体処理液用冷却加熱
装置。 - 【請求項3】 前記第1及び第2の熱交換基板は、アモ
ルファスカーボン材であることを特徴とする請求項1記
載の半導体処理液用冷却加熱装置。 - 【請求項4】 前記第1及び第2の補強板は、急冷凝固
アルミ合金粉末を原料とする粉末鍛造法によって成形焼
結されたアルミ合金材であることを特徴とする請求項2
または3記載の半導体処理液用冷却加熱装置。 - 【請求項5】 前記シールリングは、接液表面がフッ素
樹脂で形成され、 前記各締め付けネジに対して複数枚の皿バネを重ね合わ
せて併用し、前記複数枚の皿バネのうち隣接する皿バネ
の少なくとも1箇所以上を逆向きに重ね合わせたことを
特徴とする請求項1〜4のうちのいずれか1項記載の半
導体処理液用冷却加熱装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22250897A JP3724763B2 (ja) | 1997-08-19 | 1997-08-19 | 半導体処理液用冷却加熱装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22250897A JP3724763B2 (ja) | 1997-08-19 | 1997-08-19 | 半導体処理液用冷却加熱装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1167718A true JPH1167718A (ja) | 1999-03-09 |
| JP3724763B2 JP3724763B2 (ja) | 2005-12-07 |
Family
ID=16783538
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22250897A Expired - Lifetime JP3724763B2 (ja) | 1997-08-19 | 1997-08-19 | 半導体処理液用冷却加熱装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3724763B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008186913A (ja) * | 2007-01-29 | 2008-08-14 | Komatsu Electronics Inc | 流体温調装置 |
| JP2008251843A (ja) * | 2007-03-30 | 2008-10-16 | Smc Corp | 薬液用熱交換器及びそれを用いた薬液用温度調節装置 |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR102367230B1 (ko) | 2020-07-20 | 2022-02-24 | 글로벌라이트 주식회사 | 반도체 처리액 온도 유지 장치 |
| KR102413795B1 (ko) | 2020-07-20 | 2022-06-28 | 글로벌라이트 주식회사 | 반도체 처리액 온도 유지 장치 |
| KR102477211B1 (ko) | 2020-09-13 | 2022-12-13 | 글로벌라이트 주식회사 | 반도체 처리액 온도 유지 장치 |
-
1997
- 1997-08-19 JP JP22250897A patent/JP3724763B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008186913A (ja) * | 2007-01-29 | 2008-08-14 | Komatsu Electronics Inc | 流体温調装置 |
| JP2008251843A (ja) * | 2007-03-30 | 2008-10-16 | Smc Corp | 薬液用熱交換器及びそれを用いた薬液用温度調節装置 |
| TWI395266B (zh) * | 2007-03-30 | 2013-05-01 | Smc股份有限公司 | 藥液用溫度調整裝置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3724763B2 (ja) | 2005-12-07 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR100928893B1 (ko) | 약액용 온도 조절 장치 | |
| CN101809717B (zh) | 用于等离子处理设备的喷头电极总成的温度控制模块 | |
| US20150159958A1 (en) | High-efficiency heat exchanger and high-efficiency heat exchange method | |
| US20170328651A1 (en) | Point of dispense heat exchanger for fluids | |
| US20150366004A1 (en) | Multi zone heating and cooling esc for plasma process chamber | |
| KR20200055632A (ko) | 웨이퍼 스테이지, 반도체 제조 장치, 웨이퍼 스테이지의 제조 방법 | |
| US6666031B2 (en) | Fluid temperature control apparatus | |
| US20100098121A1 (en) | Liquid cooled laser bar arrays incorporating diamond/copper expansion matched materials | |
| CN102870503A (zh) | 具有区域依赖性热效率的温度受控等离子体处理腔室部件 | |
| JP2001183025A (ja) | 熱交換器 | |
| KR20060129210A (ko) | 표면 장착 히터 | |
| US6347661B2 (en) | Cooling/heating apparatus for semiconductor processing liquid | |
| JP3863116B2 (ja) | 流体温度調節装置 | |
| JPH1167717A (ja) | 半導体処理液用冷却加熱装置 | |
| JPH1167718A (ja) | 半導体処理液用冷却加熱装置 | |
| US20180138835A1 (en) | Stage and substrate processing apparatus | |
| TWI900766B (zh) | 具快速排熱能力之高溫基座 | |
| KR20060094912A (ko) | 정전 척 및 이를 구비한 진공처리장치 | |
| JP2009115345A (ja) | 薬液用熱交換装置 | |
| KR20220055262A (ko) | 열교환 유닛 및 기판 처리 시스템 | |
| CN114275196A (zh) | 一种基于热电效应的星载控温安装一体化板 | |
| KR102916285B1 (ko) | 캐니스터 쿨링 장치 | |
| US12259162B2 (en) | Processing liquid temperature control apparatus | |
| KR102834697B1 (ko) | 마이크로대류와 마이크로 채널을 융합한 하이브리드형 고성능 ai 반도체용 수냉식 냉각장치 | |
| JP3041102U (ja) | 熱交換システム |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A625 | Written request for application examination (by other person) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A625 Effective date: 20040611 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20050518 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20050524 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20050823 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20050916 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080930 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090930 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090930 Year of fee payment: 4 |
|
| S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090930 Year of fee payment: 4 |
|
| R360 | Written notification for declining of transfer of rights |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R360 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090930 Year of fee payment: 4 |
|
| R370 | Written measure of declining of transfer procedure |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R370 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090930 Year of fee payment: 4 |
|
| S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090930 Year of fee payment: 4 |
|
| R360 | Written notification for declining of transfer of rights |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R360 |
|
| R370 | Written measure of declining of transfer procedure |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R370 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090930 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100930 Year of fee payment: 5 |
|
| S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100930 Year of fee payment: 5 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100930 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110930 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110930 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120930 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120930 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130930 Year of fee payment: 8 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |