JPH1167796A - 半導体装置製造用の塗布装置および塗布方法 - Google Patents

半導体装置製造用の塗布装置および塗布方法

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JPH1167796A
JPH1167796A JP9226760A JP22676097A JPH1167796A JP H1167796 A JPH1167796 A JP H1167796A JP 9226760 A JP9226760 A JP 9226760A JP 22676097 A JP22676097 A JP 22676097A JP H1167796 A JPH1167796 A JP H1167796A
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JP
Japan
Prior art keywords
island
nozzle
silver paste
coating
semiconductor device
Prior art date
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Pending
Application number
JP9226760A
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English (en)
Inventor
Takashi Itagaki
隆史 板垣
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NEC Yamagata Ltd
Original Assignee
NEC Yamagata Ltd
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/01Manufacture or treatment
    • H10W72/011Apparatus therefor
    • H10W72/0113Apparatus for manufacturing die-attach connectors

Landscapes

  • Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)
  • Coating Apparatus (AREA)
  • Die Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】傾斜または変形があるアイランドに銀ペースト
を塗布する場合、アイランドの場所による塗布量のバラ
ツキを抑制する。 【解決手段】銀ペーストノズル2の周囲に、アイランド
5をマウントステージ4に押さえつけ平坦に矯正するた
めの押さえピン1を設置する。これにより、大アイラン
ドやスリット入りアイランドのような傾斜や変形が発生
し易いアイランドでも、銀ペース塗布量のバラツキを抑
制し、定量塗布を実現させる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体装置製造用
の塗布装置および塗布方法に係わり、特に半導体ペレッ
トとリードフレームとをエポキシ樹脂に銀微粉末を混合
させた加熱硬化型導電性ペースト(以下、銀ペースト、
と称する)を用いて固着させるペレットマウント装置お
よびこの装置における導電性ペーストの塗布方法に関す
るものである。
【0002】
【従来の技術】図5を参照して、半導体装置製造時の一
般的な銀ペースト塗布工程を説明する。
【0003】まず図5(A)に示すように、マウントス
テージ4の上にリードフレームのアイランド5が設置さ
れ、先端まで銀ペースト3が充填された状態の複数の銀
ペーストノズル2を支持した塗布装置のノズル支持部材
20がその上に載置され、矢印21に示すように降下を
始める。
【0004】次に図5(B)に示すように、アイランド
5に向かって降下した銀ペーストノズル2が、マウント
ステージ4から一定の距離の地点で停止する。
【0005】次に図5(C)に示すように、更にエア等
の圧力によりノズル2の先端から銀ペースト3が吐出さ
れ、アイランド5の上面に銀ペースト3が塗布される。
そして矢印22に示すように、銀ペーストノズル2が上
昇を始める。
【0006】そして図5(D)に示すように、銀ペース
トノズル2がアイランドから上方に離れた場所に位置す
る。
【0007】上記方法はアイランド5が水平の場合は問
題が無いが、図6(A)に示すようにアイランド5の面
がマウントステージ4の面に対して傾斜を持つ場合に次
に示すような問題を生じる。
【0008】すなわち図6(B)に示すように、銀ペー
ストノズル2が降下し一定の地点で停止した時、A、B
の様にアイランド5の上面とノズル2の先端との距離が
場所により違いが生じる。
【0009】ここで図6(C)に示すように、この状態
で銀ペースト3を吐出し、上昇22する。
【0010】このような場合、図6(D)に示すよう
に、ノズル2との距離が大きいノズル下のアイランドの
箇所には銀ペースト3の塗布量3Eが多くそのノズルに
付着している銀ペースト3の付着量3Gは少ないが、ノ
ズル2との距離が小さいノズル下のアイランドの箇所に
は銀ペースト3の塗布量3Fが少なくそのノズルに付着
している銀ペースト3の付着量3Hが多くなる。
【0011】このように図の右側では、多くの銀ペース
トが付着したままノズルが上昇してアイランドへの銀ペ
ースト塗布量に不足が生じる。
【0012】また多くの銀ペーストが付着したまま次に
アイランドに塗布すると、前に残した銀ペーストがある
ため銀ペースト量が多くなり、従って同一アイランド内
で銀ペースト量にバラツキが生じる(図示省略)。この
ような銀ペースト量のバラツキは後のチップマウント工
程において、チップ濡れバラツキの原因となることがあ
る。
【0013】そこでこのような問題点を解決するために
特開昭62−273741号公報では図7に示す技術を
開示している。すなわち図7において、マウントステー
ジ4に電磁石6を設け、この磁力によりアイランド5を
固定するから、アイランドの傾きを修正した状態で上方
から銀ペーストスタンプ7上の銀ペースト3を塗布する
ことができる。
【0014】また実開平4−121760号には、銀ペ
ーストを一定量塗布する技術として図8で示すような技
術が開示されている。すなわち図8は、銀ペーストノズ
ル2を下降21して銀ペーストをアイランド5の面に塗
布する際に、アイランド5の面と銀ペーストノズル2の
距離を一定に保持するために、銀ペーストノズル2の外
径をφC、内径をφDとした場合、アイランドの面に寸
法φF>φC>φE>φDとなるようなすり針状の凹部
を設ける方法である。
【0015】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら図7のよ
うな従来技術では、適用できるリードフレームは鉄−コ
バルト合金のような電磁石に吸着する材質に限られ、非
磁性体材料の銅合金のような電磁石に吸着しない材質は
適用できない問題があった。
【0016】また図8のような従来技術では、小アイラ
ンドに対する一点のみの銀ペースト塗布には適している
が、傾斜および変形の生じやすい大アイランドに対する
多点の銀ペースト塗布には十分には対応出来ない問題が
あった。またアイランド上部に凹部を設けるため、リー
ドフレームの加工コストが余計にかかる問題があった。
【0017】したがって本発明の目的は、上記した従来
技術のようなリードフレームの材質の制限の問題や、傾
斜や変形の生じやすいアイランドに対する銀ペースト塗
布の問題を解決した塗布装置および塗布方法を提供する
ことである。
【0018】
【課題を解決するための手段】本発明の特徴は、導電性
ペーストを吐出するノズルと、前記ノズルを支持する支
持部材と、前記支持部材に支持されて前記ノズルの周囲
に設けられ、その先端が前記ノズルの先端より所定の距
離だけ突出している押さえピンとを有し、前記支持部
材、ノズルおよび押さえピンが一体となって上下動する
塗布部を具備した半導体装置製造用の塗布装置にある。
ここで、複数個の前記ノズルが設けられ、その周りを少
なくとも4本の前記押さえピンが取りまいており、全て
の前記押さえピンの先端と全ての前記ノズルの先端とは
前記所定の距離を維持していることが好ましい。この場
合、複数個の前記ノズルがマトリックス状に配列され、
その周りを少なくとも4本の前記押さえピンが互いに等
間隔で取りまいていることができる。また、前記ノズル
は銀ペーストを塗布するノズルであることができる。
【0019】本発明の他の特徴は、上記塗布装置を用い
て、リードフレームの半導体ペレットを搭載するアイラ
ンドの傾斜または変形を前記押さえピンからの圧力で矯
正して該アイランドを平坦化しかつ前記アイランドの面
と前記ノズルの先端とを前記所定の距離に保った状態
で、前記導電性ペーストを前記ノズルから吐出して前記
アイランドの面に塗布するた塗布方法にある。ここで、
前記アイランドにはスリットが設けられていることがで
きる。また、前記リードフレームは銅合金のように非磁
性体材料により構成されていることができる。
【0020】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態につい
て図面を用いて説明する。
【0021】図1に本発明の実施の形態を示す。銀ペー
ストノズル2の周囲には、リードフレームのアイランド
5の傾斜または変形を矯正させマウントステージ4に押
さえ付けるための押さえピン1が配置されている。
【0022】銀ペーストノズル2の内部には銀ペースト
3が充填されていて、空気等の圧力によりノズル先端か
ら吐出される。上記内容については、リードフレームの
材質には関係なく実施される。すなわち、この実施の形
態のアイランドを含むリードフレームは非磁性材料の銅
合金であるが、鉄−コバルト合金のように磁性材料の場
合でもよい。
【0023】支持部材10により支持固定された押さえ
ピン1およびノズル2は一体となって降下11および上
昇を行い、また押さえピン1の先端はノズル2の先端よ
り所定の距離Gだけ突出している。
【0024】図2は図1のノズル部分を下から見た図で
ある。
【0025】同図に示すように、3×3=9本のノズル
2がマトリックス状の配列されて支持部材10により支
持され、その周りに4本の押さえピン1が配置されて支
持部材により支持されている。
【0026】図3を参照して、リードフレームの半導体
ペレットを搭載するアイランドが傾斜のある場合におけ
る、本発明の実施の形態の塗布装置の動作を示す。
【0027】まず図3(A)に示すように、銀ペースト
ノズル2に対して傾斜のあるアイランド5がマウントス
テージ4上に設置され、支持部材10とともにノズル2
および押さえピン1が降下11動作を始める。
【0028】次に図3(B)に示すように、次に銀ペー
ストノズル2およびノズルと一緒に上下動する押さえピ
ン1が、アイランド5に向かって降下していき、マウン
トステージ4にアイランド5を押さえ付ける。
【0029】この際に、アイランド5と銀ペーストノズ
ル2の先端は、銀ペースト3の銀ペーストノズル2への
付着が起こらない一定の適正な距離Gが保持されるよう
になる。
【0030】次に図3(C)に示すように、更に押さえ
ピン1でアイランド5を押さえ付けたままの状態で、エ
ア等の圧力により銀ペーストノズル2の先端から銀ペー
スト3が吐出して、アイランド5上に銀ペースト3を塗
布する。そして、支持部材10とともにノズル2および
押さえ上昇12動作を始める。
【0031】次に図3(D)に示すように、銀ペースト
ノズル2および押さえピン1はアイランド5から離れる
ようにして上昇する。この時銀ペースト3の銀ペースト
ノズル2の先端への付着がなく、またアイランド5への
定量塗布が実現される。
【0032】図4はスリットが入ったアイランドに対す
る、本発明の実施の形態の動作を示す。
【0033】アイランド5にスリット8を入れた形状の
リードフレームは、リードフレームの加工の精度上の問
題により、しばしばはアイランドの平坦度確保が難しい
場合がある。現状のアイランドの平坦度の精度は、50
μm程度である。
【0034】図4において図3の同一もしくは類似の箇
所は同じ符号を付してあり、また動作の内容については
図3の場合とほぼ同じである。
【0035】すなわち、図4(A)に示すように、銀ペ
ーストノズル2に対して平坦度が確保されていないスリ
ット8を有するアイランド5が、マウントステージ4上
に設置される。
【0036】次に図4(B)に示すように、銀ペースト
ノズル2およびノズルと一緒に上下動する押さえピン1
が、アイランド5に向かって降下していき、マウントス
テージ4にアイランド5を押さえ付け、アイランドを平
坦に矯正する。
【0037】この際、アイランド5の中央部はスリット
8により囲まれているが、スリットを横断して中央部を
吊っている支持片(図示省略)を通して中央部を含む全
体が平坦化される。
【0038】このときアイランド5と銀ペーストノズル
2の先端は、一定の適正な距離Gが保持されるようにな
る。
【0039】次に図4(C)に示すように、更に押さえ
ピン1でアイランド5を押さえ付けたままの状態で、銀
ペーストノズル2の先端から銀ペースト3を吐出して、
銀ペースト3をアイランド5上に塗布する。そして、支
持部材10と押さえピン1と銀ペーストノズル2とが一
体となって上昇12を開始する。
【0040】最後に図4(D)に示すように、銀ペース
トノズル2および押さえピン1は、アイランド5から離
れるようにして上昇し、アイランド5への定量塗布が実
現される。
【0041】
【発明の効果】本発明による第1の効果は、リードフレ
ームのアイランドの傾斜や変形に関係なく、銀ペースト
の定量塗布が可能になったことである。これにより大ア
イランドやスリット入りアイランドのように、傾斜や平
坦度不足が生じ易いアイランドへの定量塗布が可能とな
る。
【0042】その理由は、銀ペーストノズルの周囲に配
置された押さえピンにより、アイランド上面と銀ペース
トノズルの先端との距離が一定の適正な距離に保持され
るためである。
【0043】第2の効果は、リードフレームの材質によ
るアイランド固定方法の制限がなくなったことである。
その理由は、アイランドを磁力により固定するのではな
く、上部から直接押さえピンにより固定するためであ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態を示す断面図である。
【図2】図1の押さえピンおよび銀ペーストノズルを下
方から見た図である。
【図3】本発明の実施の形態の動作を示す断面図であ
る。
【図4】本発明の他の実施の形態の動作を示す断面図で
ある。
【図5】従来技術の動作を示す断面図である。
【図6】従来技術においてアイランドに傾斜がある場合
の動作を示す断面図である。
【図7】他の従来技術を示す断面図である。
【図8】更に他の従来技術を示す断面図である。
【符号の説明】
1 押さえピン 2 銀ペーストノズル 3 銀ペースト 3G,3H 銀ペーストの付着量 3E,3F 銀ペーストの塗布量 4 マウントステージ 5 アイランド 8 スリット 10,20 支持部材 11,21 降下 12,22 上昇

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 導電性ペーストを吐出するノズルと、前
    記ノズルを支持する支持部材と、前記支持部材に支持さ
    れて前記ノズルの周囲に設けられ、その先端が前記ノズ
    ルの先端より所定の距離だけ突出している押さえピンと
    を有し、前記支持部材、ノズルおよび押さえピンが一体
    となって上下動する塗布部を具備したことを特徴とする
    半導体装置製造用の塗布装置
  2. 【請求項2】 複数個の前記ノズルが設けられ、その周
    りを少なくとも4本の前記押さえピンが取りまいてお
    り、全ての前記押さえピンの先端と全ての前記ノズルの
    先端とは前記所定の距離を維持していることを特徴とす
    る請求項1記載の半導体装置製造用の塗布装置。
  3. 【請求項3】 複数個の前記ノズルがマトリックス状に
    配列され、その周りを少なくとも4本の前記押さえピン
    が互いに等間隔で取りまいていることを特徴とする請求
    項2記載の半導体装置製造用の塗布装置。
  4. 【請求項4】 前記ノズルはエポキシ樹脂に銀微粉末を
    混合させた加熱硬化型導電性ペーストを塗布するノズル
    であることを特徴とする請求項1記載の半導体装置製造
    用の塗布装置。
  5. 【請求項5】 リードフレームの半導体ペレットを搭載
    するアイランドの傾斜または変形を前記押さえピンから
    の圧力で矯正して該アイランドを平坦化しかつ前記アイ
    ランドの面と前記ノズルの先端とを前記所定の距離に保
    った状態で、前記導電性ペーストを前記ノズルから吐出
    して前記アイランドの面に塗布することを特徴とする請
    求項1乃至請求項4のいずれかに記載の塗布装置を用い
    た塗布方法。
  6. 【請求項6】 前記アイランドにスリットが設けられて
    いることを特徴とする請求項5記載の塗布方法。
  7. 【請求項7】 前記リードフレームは非磁性体材料によ
    り構成されていることを特徴とする請求項5記載の塗布
    方法。
JP9226760A 1997-08-22 1997-08-22 半導体装置製造用の塗布装置および塗布方法 Pending JPH1167796A (ja)

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008296194A (ja) * 2007-06-04 2008-12-11 Yuka Denshi Co Ltd ノズル
KR101043514B1 (ko) 2007-12-18 2011-06-23 삼성전기주식회사 인젝션 방식의 페이스트 충진 장치
US8807068B2 (en) 2011-04-28 2014-08-19 Kabushiki Kaisha Toshiba Equipment and method for manufacturing semiconductor device
JP2015056575A (ja) * 2013-09-13 2015-03-23 パナソニックIpマネジメント株式会社 粘性体塗布方法及び粘性体塗布装置
WO2026033962A1 (ja) * 2024-08-05 2026-02-12 三菱電機株式会社 ディスペンサー用ノズル、ディスペンサーおよび半導体装置の製造方法

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Effective date: 20000314