JPH1172527A - 基板検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 被検査基板が検査位置に装着されていないま
ま通電検査を行ってしまう危険を未然に防止する。 【解決手段】 被検査基板７を保持する治具天板４に対
し検査位置と待機位置の間で近接離間するピンボード６
に、検査位置において被検査基板７に押動されて作動す
るコンタクトプローブ１２を設け、このコンタクトプロ
ーブ１２により駆動されて閉成するマイクロスイッチ１
３が、プローブピン５を電源９に接続することにより、
通電検査の安全化と自動化を果たすことができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、家電製品や産業機
器等に使用する基板単体の機能検査或いは動作確認に用
いる基板検査装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】家電製品や産業機器等に使用される基板
単体は、製品に組み込む前に機能検査や動作確認を行う
必要がある。こうした場合、一般には、検査対象となる
被検査基板のリフロー面の各テストポイントに通電検査
用のプローブピンを押し当て、プローブピンから通電し
て検査する方法が用いられる。こうした通電検査には、
従来、例えば図３に示す基板検査装置１が用いられてき
た。

【０００３】基板検査装置１は、側面に昇降レバー２が
付いた装置本体３を有しており、この装置本体３の上面
に治具天板４が備わっている。治具天板４の下方には、
所定の配列パターンに従って複数のプローブピン５が植
設されたピンボード６が離間対向しており、昇降レバー
２の操作を受けて待機位置と検査位置の間で昇降するよ
うになっている。すなわち、昇降レバー２を操作して待
機位置にあるピンボード６を検査位置まで上昇させる
と、プローブピン５の先端が治具天板４により保持され
た被検査基板７のテストポイントに当接する。そこで、
検査員が装置本体３の適所に配設された電源スイッチ８
を押動投入すると、電源９から各プローブピン５に対し
て通電がなされ、通電検査が行われるようになってい
た。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】上記従来の通電検査装
置１は、昇降レバー２を押し下げたときのレバー先端に
近い場所に電源スイッチ８が配設されており、昇降レバ
ー２を押し下げた状態に保ったまま電源スイッチ８を押
動投入することで通電検査を行う構成であり、通電操作
はすべて検査員の判断に委ねられていた。このため、被
検査基板７が治具天板４に保持されていないにも拘わら
ず、検査員が誤って電源スイッチ８を投入してしまった
場合、本来であれば被検査基板７に供給すべき電源電流
が治具天板４に直接流れ込んでしまい、ショート事故を
招く等の危険があった。一方また、こうした危険を排除
するため、被検査基板７が装着されていない状態でのピ
ンボード６の過度の上昇変位を検出して作動するリミッ
トスイッチ（図示せず）を治具天板４側に配設し、この
リミットスイッチの作動を受けて電源９とプローブピン
５との間を遮断するなどの対策も考えられたが、検査対
象である被検査基板７の種別変更に合わせピンボード６
も異種のものに変更したときに、それまでのリミットス
イッチが全く役に立たなくなってしまうことがあり、甚
だ汎用性を欠く等の課題を抱えるものであった。

【０００５】本発明は、上記課題を解決したものであ
り、通電治具に組み込まれているピンボード部に被検査
基板認識用のスイッチを取り付け、検査対象である被検
査基板が検査位置に装着されていないまま通電検査を行
ってしまう危険を未然に防止するようにすることを目的
とするものである。

【０００６】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明は、被検査基板を保持する通電治具と、前記
被検査基板のテストポイントに当接する複数のプローブ
ピンが植設され、前記通電治具に対し検査位置と待機位
置の間で近接離間するピンボードと、該ピンボードに前
記近接離間方向に保持され、前記検査位置において該被
検査基板に押動されて作動するコンタクトプローブと、
該コンタクトプローブにより駆動されて閉成し、前記プ
ローブピンを電源に接続するスイッチとを具備すること
を特徴とするものである。

【０００７】また、前記スイッチは、前記ピンボード内
に前記近接離間方向の取り付け位置が調整可能に取り付
けてあることを特徴とするものである。

【０００８】また、前記コンタクトプローブは、前記ピ
ンボードに固着したガイドスリーブと、該ガイドスリー
ブに摺動自在に保持され、前記被検査基板により押動さ
れるニードルと、該ニードルを前記近接方向の限界位置
に付勢するばねとを具備することを特徴とするものであ
る。

【０００９】

【発明の実施の形態】以下に、本発明の実施形態を図
１，２を参照して説明する。図１は、本発明の基板検査
装置の一実施形態を示す要部正面図、図２は、図１に示
した基板検査装置の動作を説明するための一部拡大正面
図である。

【００１０】図１に示す基板検査装置１１は、従来と同
様、被検査基板７を保持する通電治具としての治具天板
４と、被検査基板７のテストポイントに当接する複数の
プローブピン５が植設されたピンボード６を備えてお
り、ピンボード６は治具天板４に対し検査位置と待機位
置の間で近接離間する。従来と異なるのは、ピンボード
６にコンタクトプローブ１２とマイクロスイッチ１３を
組み付けた点である。コンタクトプローブ１２は、検査
位置において被検査基板７に押動されて作動し、一方ま
たマイクロスイッチ１３はコンタクトプローブ１２によ
り駆動されて閉成し、プローブピン５を電源９に接続す
る働きをする。

【００１１】図２（Ａ），（Ｂ）に示したように、本実
施形態のコンタクトプローブ１２は、ピンボード６に固
着したガイドスリーブ２０と、ガイドスリーブ２０に摺
動自在に保持され、被検査基板７により押動されるニー
ドル２１と、ニードル２１を治具天板４に対する近接方
向限界位置（ここでは、上動限界位置）に付勢するばね
２２とで構成してある。ニードル２１は、被検査基板７
を痛めないよう先端を樹脂材で成形してあり、この先端
部分が被検査基板７の非回路部分に当接するようガイド
スリーブ２０は適所に固着してある。また、本実施形態
に示したマイクロスイッチ１３は、ニードル２１に押動
されて揺動するアクチュエータ３０とアクチュエータ３
０により押動されて下動して接点を閉じる接点部材３１
とをスイッチ本体３２に組み付けて構成したものであ
り、接点部材３１は電源９と電源スイッチ８との間に直
列に接続されている。また、スイッチ本体３２のピンボ
ード６への取り付け位置には、螺子挿通孔１４として前
記近接離間方向に縦長の長孔が穿孔してあり、スイッチ
本体３２の螺子挿通孔３３を貫通して螺子挿通孔１４を
挿通する止め螺子１５の挿通位置をずらすことで、ピン
ボード６内でマイクロスイッチ１３を前記近接離間方向
に位置調整できるようになっている。

【００１２】ここで、電源スイッチ８を投入し、治具天
板４に被検査基板７をセットして昇降レバー２を操作す
ると、図２（Ａ）に示したように、昇降レバー２の操作
に合わせピンボード６が上昇して被検査基板７に接近す
る。ピンボード６が上昇限界位置すなわち検査位置に接
近すると、まずコンタクトプローブ１２のニードル２１
が被検査基板７に当接し、ピンボード６に保持されたガ
イドスリーブ２０に対し相対的に下動し始める。ピンボ
ード６が検査位置に到達するまで上昇すると、図２
（Ｂ）に示したように、ニードル２１がマイクロスイッ
チ１３のアクチュエータ３０を揺動限界まで揺動し、ア
クチュエータ３０が接点部材３１に当接することでマイ
クロスイッチ１３は閉成する。すなわち、被検査基板７
が治具天板４にセットされていることがマイクロスイッ
チ１３によって認識され、同時にプローブピン５と電源
９の間がマイクロスイッチ１３と電源スイッチ８を介し
て導通し、電源９から被検査基板７に対して通電がなさ
れる。

【００１３】これに対し、治具天板４に被検査基板７を
セットしないまま昇降レバー２を操作したとする。この
場合、レバー操作に合わせてピンボード６が上昇して被
検査基板７に接近し、本来であればコンタクトプローブ
１２のニードル２１が被検査基板７に当接する位置まで
上昇しても、被検査基板７がセットされていないため、
ニードル２１はピンボード６に保持されたガイドスリー
ブ２０に対し相対的に下動しようとしない。その結果、
ピンボード６が検査位置に到達するまで上昇しても、ニ
ードル２１がマイクロスイッチ１３のアクチュエータ３
０を揺動限界まで揺動することはなく、アクチュエータ
３０が接点部材３１に当接しないためマイクロスイッチ
１３は開成したままである。すなわち、被検査基板７が
治具天板４にセットされていないことがマイクロスイッ
チ１３によって認識され、電源スイッチ８は投入された
ままとは言え、プローブピン５と電源９の間がマイクロ
スイッチ１３を介して導通しないため、被検査基板７に
対する通電がなされることはない。このため、従来のよ
う、被検査基板７が治具天板４にセットされていないに
も拘わらず、検査員が誤って電源スイッチ８を閉成して
しまい、そのことでプローブピン５から直接治具天板４
に通電してしまう危険を排除することができる。

【００１４】このように、上記通電検査装置１１によれ
ば、被検査基板７を保持する治具天板４に対し検査位置
と待機位置の間で近接離間するピンボード６に、検査位
置において被検査基板７に押動されて作動するコンタク
トプローブ１２を設け、このコンタクトプローブ１２に
より駆動されて閉成するマイクロスイッチ１３が、プロ
ーブピン５を電源９に接続するよう構成したから、被検
査基板７が治具天板４にセットされていない場合は、仮
に誤って治具天板４に対しピンボード６を近接駆動して
しまっても、コンタクトプローブ１２がマイクロスイッ
チ１３を閉成することはないため、プローブピン５に対
して電源９が供給される恐れはなく、通電検査の安全性
を確保することができ、一方また治具天板４に被検査基
板７がセットされている場合は、治具天板４に対しピン
ボード６を検査位置まで近接駆動したときにコンタクト
プローブ１２がマイクロスイッチ１３を閉成すること
で、手動によるスイッチ操作なしで自動的に通電検査を
実行することができ、これにより通電検査の安全化と自
動化を果たすことができる。

【００１５】また、マイクロスイッチ１３をピンボード
６に組み付けたことで、電源９やマイクロスイッチ１３
といった電気系統をピンボード６に全て収容することが
でき、これにより被検査基板７の種別を変えたときに、
電気系統を配線変更することなくピンポード６の交換だ
けで対応でき、従ってピンボード交換タイプの治具天板
４に好適であり、しかもマイクロスイッチ１３はピンボ
ード６とともに保守点検できるため、一定の稼働期間が
経過した時点で新品と交換する等して高い動作信頼性を
維持することができる。

【００１６】また、マイクロスイッチ１３は、ピンボー
ド６内に前記近接離間方向の取り付け位置を調整可能に
取り付けたから、被検査基板７の肉厚等に応じてピンボ
ード６内にスイッチ取り付け位置を調整することで、被
検査基板７に対するプローブピン５の押圧姿勢或いは押
圧力が最適となる位置でマイクロスイッチ１３を閉成さ
せることができ、被検査基板７に応じた調整を施すこと
で、被検査基板７を痛めることなく安全かつ確実な通電
検査が可能である。

【００１７】さらにまた、コンタクトプローブ１２は、
ピンボード６に植設したプローブピン５よりも作動スト
ローク分だけ突出する位置に頂部が位置するよう、ガイ
ドスリーブ２０に対してばね付勢した状態でニードル２
１を保持させるだけでよく、ピンボード６を検査位置ま
で近接駆動したときにプローブピン５が被検査基板７に
当接する少し前に被検査基板７によりニードル２１をば
ね２２に抗して変位させ、ピンボード６が検査位置に達
したときにニードル２１がマイクロスイッチ１３を動作
させることで、被検査基板７に過大な押圧力を及ぼすこ
となく、確実な通電検査が可能である。

【００１８】なお、上記実施形態では、治具天板４にセ
ットした被検査基板７に対してピンボード６を近接離間
させる構成としたが、ピンボード６を固定し、治具天板
４の方をピンボード６に対して近接離間駆動する構成と
することもできる。

【００１９】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
被検査基板を保持する通電治具に対し検査位置と待機位
置の間で近接離間するピンボードに、検査位置において
被検査基板に押動されて作動するコンタクトプローブを
設け、このコンタクトプローブにより駆動されて閉成す
るスイッチが、プローブピンを電源に接続するよう構成
したから、被検査基板が通電治具にセットされていない
場合は、仮に誤って通電治具に対しピンボードを近接駆
動してしまっても、コンタクトプローブがスイッチを閉
成することはないため、プローブピンに対して電源が供
給される恐れはなく、通電検査の安全性を確保すること
ができ、一方また通電治具に被検査基板がセットされて
いる場合は、通電治具に対しピンボードを検査位置まで
近接駆動したときにコンタクトプローブがスイッチを閉
成することで、手動によるスイッチ操作なしで自動的に
通電検査を実行することができ、これにより通電検査の
安全化と自動化を果たすことができ、またスイッチをピ
ンボードに組み付けることで、電源やスイッチといった
電気系統をピンボードに全て収容することができ、これ
により被検査基板の種別を変えたときに、電気系統を配
線変更することなくピンポードの交換だけで対応でき、
従ってピンボード交換タイプの通電治具に好適であり、
しかもスイッチはピンボードとともに保守点検できるた
め、一定の稼働期間が経過した時点で新品と交換する等
して高い動作信頼性を維持することができる等の優れた
効果を奏する。

【００２０】また、スイッチを、ピンボード内に前記近
接離間方向の取り付け位置が調整可能に取り付けたか
ら、被検査基板の肉厚等に応じてピンボード内にスイッ
チ取り付け位置を調整することで、被検査基板に対する
プローブピンの押圧姿勢或いは押圧力が最適となる位置
でスイッチを閉成させることができ、被検査基板に応じ
た調整を施すことで、被検査基板を痛めることなく安全
かつ確実な通電検査が可能である等の効果を奏する。

【００２１】さらにまた、コンタクトプローブは、ピン
ボードに固着したガイドスリーブと、ガイドスリーブに
摺動自在に保持され、被検査基板により押動されるニー
ドルと、ニードルを近接方向の限界位置に付勢するばね
とを具備するため、ピンボードに植設したプローブピン
よりも作動ストローク分だけ突出する位置に頂部が位置
するよう、ガイドスリーブに対してばね付勢した状態で
ニードルを保持させるだけでよく、ピンボードを検査位
置まで近接駆動したときにプローブピンが被検査基板に
当接する少し前に被検査基板によりニードルをばねに抗
して変位させ、ピンボードが検査位置に達したときにニ
ードルがスイッチを動作させることで、被検査基板に過
大な押圧力を及ぼすことなく、確実な通電検査が可能で
ある等の効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の基板検査装置の一実施形態を示す要部
正面図である。

【図２】図１に示した基板検査装置の動作を説明するた
めの一部拡大正面図である。

【図３】従来の基板検査装置の一例を示す要部正面図で
ある。

【符号の説明】

２ 昇降レバー ３ 装置本体 ４ 通電治具（治具天板） ５ プローブピン ６ ピンボード ７ 被検査基板 ８ 電源スイッチ ９ 電源 １１ 基板検査装置 １２ コンタクトプローブ １３ マイクロスイッチ １４ 螺子挿通孔 １５ 止め螺子 ２０ ガイドスリーブ ２１ ニードル ２２ ばね ３０ アクチュエータ ３１ 接点部材 ３２ スイッチ本体 ３３ 螺子挿通孔

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 被検査基板を保持する通電治具と、前記
   被検査基板のテストポイントに当接する複数のプローブ
   ピンが植設され、前記通電治具に対し検査位置と待機位
   置の間で近接離間するピンボードと、該ピンボードに前
   記近接離間方向に保持され、前記検査位置において該被
   検査基板に押動されて作動するコンタクトプローブと、
   該コンタクトプローブにより駆動されて閉成し、前記プ
   ローブピンを電源に接続するスイッチとを具備すること
   を特徴とする基板検査装置。
2. 【請求項２】 前記スイッチは、前記ピンボード内に前
   記近接離間方向の取り付け位置が調整可能に取り付けて
   あることを特徴とする請求項１記載の基板検査装置。
3. 【請求項３】 前記コンタクトプローブは、前記ピンボ
   ードに固着したガイドスリーブと、該ガイドスリーブに
   摺動自在に保持され、前記被検査基板により押動される
   ニードルと、該ニードルを前記近接方向の限界位置に付
   勢するばねとを具備することを特徴とする請求項１記載
   の基板検査装置。