JPH118196A5 - - Google Patents

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JPH118196A5
JPH118196A5 JP1997173151A JP17315197A JPH118196A5 JP H118196 A5 JPH118196 A5 JP H118196A5 JP 1997173151 A JP1997173151 A JP 1997173151A JP 17315197 A JP17315197 A JP 17315197A JP H118196 A5 JPH118196 A5 JP H118196A5
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Claims (8)

  1. 珪素を主成分とし、ニッケル、コバルト、鉄、パラジウム、白金、銅又は金の元素を含む、複数の棒状または偏平棒状結晶の集合体からなる半導体薄膜であって、面方位は{ 111 }配向であり、且つ、膜中に存在する炭素、窒素及び硫黄の濃度は 5 × 10 18 atoms/cm 3 未満または 0.01atomic% 未満であり、且つ、膜中に存在する酸素の濃度は 1.5 × 10 19 atoms/cm 3 未満または 0.03atomic% 未満であることを特徴とする半導体薄膜。
  2. 珪素を主成分とし、ニッケル、コバルト、鉄、パラジウム、白金、銅又は金の元素を含む、複数の棒状または偏平棒状結晶の集合体からなる半導体薄膜であって、{ 111 }配向比率が 0.9 以上であり、且つ、膜中に存在する炭素、窒素及び硫黄の濃度は 5 × 10 18 atoms/cm 3 未満または 0.01atomic% 未満であり、且つ、膜中に存在する酸素の濃度は 1.5 × 10 19 atoms/cm 3 未満または 0.03atomic% 未満であることを特徴とする半導体薄膜。
  3. 請求項1又は2において、前記半導体薄膜にはハロゲン元素が 1 × 10 15 1 × 10 20 atoms/cm 3 の濃度で含まれていることを特徴とする半導体薄膜。
  4. 前記複数の棒状または偏平棒状結晶は互いに平行に特定の方向性をもって並んでいることを特徴とする請求項 1 乃至3のいずれか一に記載の半導体薄膜。
  5. 珪素を主成分とし、ニッケル、コバルト、鉄、パラジウム、白金、銅又は金の元素を含む、複数の棒状または偏平棒状結晶の集合体からなる半導体薄膜で構成される半導体装置であって、前記半導体薄膜の面方位は{ 111 }配向であり、且つ、膜中に存在する炭素、窒素及び硫黄の濃度は 5 × 10 18 atoms/cm 3 未満または 0.01atomic% 未満であり、且つ、膜中に存在する酸素の濃度は 1.5 × 10 19 atoms/cm 3 未満または 0.03atomic% 未満であることを特徴とする半導体装置。
  6. 珪素を主成分とし、ニッケル、コバルト、鉄、パラジウム、白金、銅又は金の元素を含む、複数の棒状または偏平棒状結晶の集合体からなる半導体薄膜で構成される半導体装置であって、前記半導体薄膜の{ 111 }配向比率が 0.9 以上であり、且つ、膜中に存在する炭素、窒素及び硫黄の濃度は 5 × 10 18 atoms/cm 3 未満または 0.01atomic% 未満であり、且つ、膜中に存在する酸素の濃度は 1.5 × 10 19 atoms/cm 3 未満または 0.03atomic% 未満であることを特徴とする半導体装置。
  7. 請求項5又は6において、前記半導体薄膜にはハロゲン元素が 1 × 10 15 1 × 10 20 atoms/cm 3 の濃度で含まれていることを特徴とする半導体装置。
  8. 前記複数の棒状または偏平棒状結晶は互いに平行に特定の方向性をもって並んでいることを特徴とする請求項5乃至7のいずれか一に記載の半導体装置。
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