JPH1183632A - 高温帯状体の測温方法 - Google Patents
高温帯状体の測温方法Info
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- JPH1183632A JPH1183632A JP9267906A JP26790697A JPH1183632A JP H1183632 A JPH1183632 A JP H1183632A JP 9267906 A JP9267906 A JP 9267906A JP 26790697 A JP26790697 A JP 26790697A JP H1183632 A JPH1183632 A JP H1183632A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 圧延ラインのような連続して走行中の高温帯
状体の幅方向温度を連続的に測定できる測温方法を提供
する。 【構成】 帯状体の幅方向の複数個所における測定点で
測定される輝度温度ＴSiと、そのうち特定の測定基準点
ＰS1で測定される輝度温度ＴS1と、前記輝度温度ＴS1か
ら帯状体の走行方向に沿う同一直線上で且つ該測定基準
点ＰS1に近傍する補正基準点ＰM1において測定された材
料温度ＴM1とに基づいて、補正式、ＴCi＝ＴM1・ＴS1・
ＴSi／（ＴS1・ＴSi−ＴM1・ＴSi＋ＴM1・ＴS1）によ
り、前記複数測定点の輝度温度ＴSiから算出される幅方
向各測定点の材料温度ＴCiを得る構成である。
状体の幅方向温度を連続的に測定できる測温方法を提供
する。 【構成】 帯状体の幅方向の複数個所における測定点で
測定される輝度温度ＴSiと、そのうち特定の測定基準点
ＰS1で測定される輝度温度ＴS1と、前記輝度温度ＴS1か
ら帯状体の走行方向に沿う同一直線上で且つ該測定基準
点ＰS1に近傍する補正基準点ＰM1において測定された材
料温度ＴM1とに基づいて、補正式、ＴCi＝ＴM1・ＴS1・
ＴSi／（ＴS1・ＴSi−ＴM1・ＴSi＋ＴM1・ＴS1）によ
り、前記複数測定点の輝度温度ＴSiから算出される幅方
向各測定点の材料温度ＴCiを得る構成である。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、圧延ラインや焼鈍
ラインにおける鋼板等のような高温帯状体の測温方法に
係り、特に、帯状体の幅方向の温度分布を測定する方法
に関する。
ラインにおける鋼板等のような高温帯状体の測温方法に
係り、特に、帯状体の幅方向の温度分布を測定する方法
に関する。
【０００２】
【従来の技術】圧延鋼板の幅方向の温度分布を測定する
に際し、走査型放射温度計から得られる幅方向温度分布
信号と、鋼板の幅値信号により、鋼板の幅方向の温度分
布を測定する技術が提案されている（特開平５−２６７
３３号、以下第１従来例）。
に際し、走査型放射温度計から得られる幅方向温度分布
信号と、鋼板の幅値信号により、鋼板の幅方向の温度分
布を測定する技術が提案されている（特開平５−２６７
３３号、以下第１従来例）。
【０００３】また、金属材料の製造プロセスにおいて材
料表面温度のパラメーターを得るために、光学フィルタ
ーによる２色温度計と単色温度計を用い、予めオフライ
ンで材料表面の放射率累乗比及び放射率又は放射率比を
実測し、そのデータ群のうち頻度の高い部分について回
帰して放射率又は放射率比の中心値の回帰関数を定め、
回帰関数による放射率又は放射率比の中心値から所定の
誤差範囲にデータ群がある場合、誤差範囲の上限・下限
を上限値・下限値の回帰関数として放射率累乗比と材料
表面の放射率との相関を決定しておき、２色温度計の検
出信号を演算処理する方法が提案されている（特開平５
−２７３０４３、以下第２従来例）。
料表面温度のパラメーターを得るために、光学フィルタ
ーによる２色温度計と単色温度計を用い、予めオフライ
ンで材料表面の放射率累乗比及び放射率又は放射率比を
実測し、そのデータ群のうち頻度の高い部分について回
帰して放射率又は放射率比の中心値の回帰関数を定め、
回帰関数による放射率又は放射率比の中心値から所定の
誤差範囲にデータ群がある場合、誤差範囲の上限・下限
を上限値・下限値の回帰関数として放射率累乗比と材料
表面の放射率との相関を決定しておき、２色温度計の検
出信号を演算処理する方法が提案されている（特開平５
−２７３０４３、以下第２従来例）。
【０００４】更に、ガラスの温度分布を測定するに際
し、１点型赤外線輻射温度計により、ガラス表面のうち
比較的温度変化の小さい部分をガラス移動方向に２６個
所の測定点で温度測定し、これをガラスの絶対温度の補
正用の値として用い、走査型放射温度計により測定され
たガラス幅方向の５０〜６０個所の測定値を一律に前記
補正用の値により補正する方法が提案されている（特公
昭６１−１６９２４号、以下第３従来例）。
し、１点型赤外線輻射温度計により、ガラス表面のうち
比較的温度変化の小さい部分をガラス移動方向に２６個
所の測定点で温度測定し、これをガラスの絶対温度の補
正用の値として用い、走査型放射温度計により測定され
たガラス幅方向の５０〜６０個所の測定値を一律に前記
補正用の値により補正する方法が提案されている（特公
昭６１−１６９２４号、以下第３従来例）。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】前記第１従来例の場
合、鋼板からの放射エネルギーは、走査のみでキャッチ
するので、放射率を別途人為的に求めなければならない
課題があり、求められた測定値の精度に保証がない。
合、鋼板からの放射エネルギーは、走査のみでキャッチ
するので、放射率を別途人為的に求めなければならない
課題があり、求められた測定値の精度に保証がない。
【０００６】また、前記第２従来例においては、波長の
異なる二つの放射温度計を使用するので、実際に測定し
ようとする材料ごとに予め回帰関数を定めておく必要が
あり、汎用性、即利用性に乏しい。
異なる二つの放射温度計を使用するので、実際に測定し
ようとする材料ごとに予め回帰関数を定めておく必要が
あり、汎用性、即利用性に乏しい。
【０００７】更に、前記第３従来例は、１点型赤外線輻
射温度計により測温した補正用の値と、走査型放射温度
計により測温した多数点の測定値との間に対応関係がな
いため、温度分布を絶対温度に近付けるように補正する
ことはできても、ガラス幅方向の測定点の各々について
真温度を測定することはできない。特に、走査型放射温
度計により異なる放射角度で測定したガラス幅方向の測
定値は、別途用意された放射率の補正式により温度補正
を行うものであり、ダイレクトに測定値を得ることがで
きない。
射温度計により測温した補正用の値と、走査型放射温度
計により測温した多数点の測定値との間に対応関係がな
いため、温度分布を絶対温度に近付けるように補正する
ことはできても、ガラス幅方向の測定点の各々について
真温度を測定することはできない。特に、走査型放射温
度計により異なる放射角度で測定したガラス幅方向の測
定値は、別途用意された放射率の補正式により温度補正
を行うものであり、ダイレクトに測定値を得ることがで
きない。
【０００８】即ち、何れの従来例においても予め放射率
の補正式や回帰関数あるいは補正値を一度与え、その一
度与えた式、関数或いは値だけに基づいて、少なくとも
一つのラインの終わりまで継続的に材料表面の複数個所
の温度を算出していくため、特に測定中に放射率の変動
があった場合においても、この変動に対応する補正は行
われないため正確な値を得ることができていない。
の補正式や回帰関数あるいは補正値を一度与え、その一
度与えた式、関数或いは値だけに基づいて、少なくとも
一つのラインの終わりまで継続的に材料表面の複数個所
の温度を算出していくため、特に測定中に放射率の変動
があった場合においても、この変動に対応する補正は行
われないため正確な値を得ることができていない。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明は、走査型放射温
度計やＣＣＤカメラ等により高温帯状体の幅方向の複数
個所における測定点の材料温度を測定するに際し、各測
定点で測定された輝度温度を補正基準点で連続的に測定
した材料温度により、前記各測定点の輝度温度を連続的
に補正しなが各測定点における材料温度を算出するよう
にした高温帯状体の測温方法を提供するものである。
度計やＣＣＤカメラ等により高温帯状体の幅方向の複数
個所における測定点の材料温度を測定するに際し、各測
定点で測定された輝度温度を補正基準点で連続的に測定
した材料温度により、前記各測定点の輝度温度を連続的
に補正しなが各測定点における材料温度を算出するよう
にした高温帯状体の測温方法を提供するものである。
【００１０】そこで、本発明が手段として構成したとこ
ろは、連続して走行中の高温帯状体の幅方向の複数個所
における測定点の輝度温度により、前記高温帯状体の幅
方向の温度を測定する方法において、前記測定点のうち
特定の測定点から帯状体の走行方向に沿う同一直線上で
且つ特定の測定点に近接する補正基準点における材料温
度を測定する工程と、前記特定の測定点の輝度温度を前
記補正基準点の材料温度により補正する補正式に基づい
て、前記幅方向複数個所における測定点の輝度温度によ
り各測定点の材料温度を算出する工程とから成る点にあ
る。
ろは、連続して走行中の高温帯状体の幅方向の複数個所
における測定点の輝度温度により、前記高温帯状体の幅
方向の温度を測定する方法において、前記測定点のうち
特定の測定点から帯状体の走行方向に沿う同一直線上で
且つ特定の測定点に近接する補正基準点における材料温
度を測定する工程と、前記特定の測定点の輝度温度を前
記補正基準点の材料温度により補正する補正式に基づい
て、前記幅方向複数個所における測定点の輝度温度によ
り各測定点の材料温度を算出する工程とから成る点にあ
る。
【００１１】本発明において用いられる補正式は、従来
一般的に用いられているウイーンの式に見られるような
放射率及び波長を完全に消去した関数式、即ち、式、Ｔ
Ci＝ＴM1・ＴS1・ＴSi／（ＴS1・ＴSi−ＴM1・ＴSi＋Ｔ
M1・ＴS1）（但し、ＴCiは幅方向の各測定点における材
料温度、ＴM1は補正基準点における材料温度、ＴS1は特
定の測定点における輝度温度、ＴSiは幅方向の各測定点
における輝度温度を表す）により表される点に特徴があ
り、前記輝度温度ＴS1と材料温度ＴM1の値から、帯状体
幅方向の複数測定点における材料温度ＴCiを算出するこ
とができる。
一般的に用いられているウイーンの式に見られるような
放射率及び波長を完全に消去した関数式、即ち、式、Ｔ
Ci＝ＴM1・ＴS1・ＴSi／（ＴS1・ＴSi−ＴM1・ＴSi＋Ｔ
M1・ＴS1）（但し、ＴCiは幅方向の各測定点における材
料温度、ＴM1は補正基準点における材料温度、ＴS1は特
定の測定点における輝度温度、ＴSiは幅方向の各測定点
における輝度温度を表す）により表される点に特徴があ
り、前記輝度温度ＴS1と材料温度ＴM1の値から、帯状体
幅方向の複数測定点における材料温度ＴCiを算出するこ
とができる。
【００１２】
【発明の実施の形態】以下本発明の実施の形態について
図に従って説明する。
図に従って説明する。
【００１３】図１は、本発明の測温方法を鋼板の焼鈍ラ
イン上で実施した場合を例示している。即ち、高温帯状
体１としての鋼板は、長手方向に連続して走行し、この
走行中に該帯状体１の幅方向の温度を測温手段２により
測定される。
イン上で実施した場合を例示している。即ち、高温帯状
体１としての鋼板は、長手方向に連続して走行し、この
走行中に該帯状体１の幅方向の温度を測温手段２により
測定される。
【００１４】測温手段２は、帯状体１の幅方向の複数個
所における測定点の輝度温度ＴSiを測定する輝度温度測
定手段３と、該輝度温度ＴSiのうちから選ばれた特定の
輝度温度ＴS1が測定される特定の測定点（以下、測定基
準点という）ＰS1から帯状体の走行方向に沿う同一直線
上で且つ該測定基準点ＰS1に近接する補正基準点ＰM1に
おける材料温度ＴM1を測定する材料温度測定手段４とか
ら成る。
所における測定点の輝度温度ＴSiを測定する輝度温度測
定手段３と、該輝度温度ＴSiのうちから選ばれた特定の
輝度温度ＴS1が測定される特定の測定点（以下、測定基
準点という）ＰS1から帯状体の走行方向に沿う同一直線
上で且つ該測定基準点ＰS1に近接する補正基準点ＰM1に
おける材料温度ＴM1を測定する材料温度測定手段４とか
ら成る。
【００１５】輝度温度測定手段３と材料温度測定手段４
の１組から成る測温手段２の具体的構成は、例えば次の
３種類の組合わせ態様から任意に選択することができ
る。
の１組から成る測温手段２の具体的構成は、例えば次の
３種類の組合わせ態様から任意に選択することができ
る。
【００１６】第１例としての測温手段２ａは、走査型放
射温度計から成る輝度温度測定手段３ａと、多重反射型
放射温度計から成る材料温度測定手段４ａの組合わせに
より構成されている。走査型放射温度計３ａは、本出願
人の共同出願人が先に特開平８−３２７４５９号（特願
平７−１６００１５号）において提案した構成と同様の
もの、または市販の走査型放射温度計を使用することが
できる。また、多重反射型放射温度計４ａは、本出願の
共同出願人が先に特開昭６０−８６４３１号（特願昭５
８−１９４９６７号）において提案した構成と同様のも
のであり、対向する鋼板の間を多数回反射した後、一定
角度で入射する放射エネルギーを鏡により放射温度計に
入力せしめる構成であり、鋼板の放射率を考慮する必要
がなく、直ちに材料温度ＴM1を測定する。
射温度計から成る輝度温度測定手段３ａと、多重反射型
放射温度計から成る材料温度測定手段４ａの組合わせに
より構成されている。走査型放射温度計３ａは、本出願
人の共同出願人が先に特開平８−３２７４５９号（特願
平７−１６００１５号）において提案した構成と同様の
もの、または市販の走査型放射温度計を使用することが
できる。また、多重反射型放射温度計４ａは、本出願の
共同出願人が先に特開昭６０−８６４３１号（特願昭５
８−１９４９６７号）において提案した構成と同様のも
のであり、対向する鋼板の間を多数回反射した後、一定
角度で入射する放射エネルギーを鏡により放射温度計に
入力せしめる構成であり、鋼板の放射率を考慮する必要
がなく、直ちに材料温度ＴM1を測定する。
【００１７】第２例としての測温手段２ｂは、ＣＣＤカ
メラから成る輝度温度測定手段３ｂと、金碗型ファイバ
ー式放射温度計から成る材料温度測定手段４ｂの組合わ
せにより構成されている。ＣＣＤカメラ３ｂは、市販の
ものを使用することができる。また、金碗型ファイバー
式放射温度計４ｂは、本出願の共同出願人が先に実公平
７−５２５９７号（実願平４−６０２７６号）において
提案した構成と同様のものであり、鋼板の表面に転動輪
を介して接支された装置内部の半球面鏡体と鋼板の間で
放射エネルギーを多数回反射せしめた後、光学レンズヘ
ッドに入射せしめ、光ファイバーを介して検出器に入力
する構成であり、鋼板の放射率を考慮する必要がなく、
直ちに材料温度ＴM1を測定する。
メラから成る輝度温度測定手段３ｂと、金碗型ファイバ
ー式放射温度計から成る材料温度測定手段４ｂの組合わ
せにより構成されている。ＣＣＤカメラ３ｂは、市販の
ものを使用することができる。また、金碗型ファイバー
式放射温度計４ｂは、本出願の共同出願人が先に実公平
７−５２５９７号（実願平４−６０２７６号）において
提案した構成と同様のものであり、鋼板の表面に転動輪
を介して接支された装置内部の半球面鏡体と鋼板の間で
放射エネルギーを多数回反射せしめた後、光学レンズヘ
ッドに入射せしめ、光ファイバーを介して検出器に入力
する構成であり、鋼板の放射率を考慮する必要がなく、
直ちに材料温度ＴM1を測定する。
【００１８】第３例としての測温手段２ｃは、走査型放
射温度計から成る輝度温度測定手段３ａと、金碗型ファ
イバー式放射温度計から成る材料温度測定手段４ｂの組
合わせにより構成されている。走査型放射温度計３ａ
は、第１例について説明したものと同様であり、金碗型
ファイバー式放射温度計４ｂは、第２例について説明し
たものと同様である。
射温度計から成る輝度温度測定手段３ａと、金碗型ファ
イバー式放射温度計から成る材料温度測定手段４ｂの組
合わせにより構成されている。走査型放射温度計３ａ
は、第１例について説明したものと同様であり、金碗型
ファイバー式放射温度計４ｂは、第２例について説明し
たものと同様である。
【００１９】また、第３図に示すように、前記何れの例
においても走査型放射温度計３ａまたはＣＣＤカメラ３
ｂの代わりとして、同一測定波長の放射温度計３Ｃを、
走査型放射温度計３ａまたはＣＣＤカメラ３ｂで得よう
とする測定点と同じ測定点にそれぞれ並べ、輝度温度Ｔ
S1を各々の放射温度計により測定してもよい。
においても走査型放射温度計３ａまたはＣＣＤカメラ３
ｂの代わりとして、同一測定波長の放射温度計３Ｃを、
走査型放射温度計３ａまたはＣＣＤカメラ３ｂで得よう
とする測定点と同じ測定点にそれぞれ並べ、輝度温度Ｔ
S1を各々の放射温度計により測定してもよい。
【００２０】図２に示すように、測温手段２は、走査型
放射温度計３ａまたはＣＣＤカメラ３ｂ等から成る輝度
温度測定手段３により、帯状体１の幅方向の複数個所に
おける測定点の輝度温度ＴSi、即ち、ＴS1、ＴS2、
ＴS3、ＴS4、ＴS5、ＴS6、ＴS7を測定すると共に、多重
反射型放射温度計４ａまたは金碗型ファイバー式放射温
度計４ｂ等の材料温度測定手段４によりこれらの輝度温
度ＴSiのうちから選ばれた特定の輝度温度ＴS1が測定さ
れる測定基準点ＰS1から帯状体１の走行方向に沿う同一
直線Ｌ上で且つ該測定基準点ＰS1に近接する補正基準点
ＰM1における材料温度ＴM1を測定する。
放射温度計３ａまたはＣＣＤカメラ３ｂ等から成る輝度
温度測定手段３により、帯状体１の幅方向の複数個所に
おける測定点の輝度温度ＴSi、即ち、ＴS1、ＴS2、
ＴS3、ＴS4、ＴS5、ＴS6、ＴS7を測定すると共に、多重
反射型放射温度計４ａまたは金碗型ファイバー式放射温
度計４ｂ等の材料温度測定手段４によりこれらの輝度温
度ＴSiのうちから選ばれた特定の輝度温度ＴS1が測定さ
れる測定基準点ＰS1から帯状体１の走行方向に沿う同一
直線Ｌ上で且つ該測定基準点ＰS1に近接する補正基準点
ＰM1における材料温度ＴM1を測定する。
【００２１】そこで、輝度温度ＴS1を材料温度ＴM1によ
り補正する補正式に基づいて、前記複数測定点の輝度温
度ＴSiにより各測定点の材料温度ＴCiが算出される。こ
の際、本発明の補正式は、式、ＴCi＝ＴM1・ＴS1・ＴSi
／（ＴS1・ＴSi−ＴM1・ＴSi＋ＴM1・ＴS1）により表さ
れ、放射率ε及び波長λを消去した形で直ちに幅方向の
各測定点の材料温度ＴCiが算出される。即ち、輝度温度
測定手段３により測定される各測定点の輝度温度ＴS1、
ＴS2、ＴS3、ＴS4、ＴS5、ＴS6、ＴS7は、それぞれ材料
温度ＴC1、ＴC2、ＴC3、ＴC4、ＴC5、ＴC6、ＴC7として
算出される。
り補正する補正式に基づいて、前記複数測定点の輝度温
度ＴSiにより各測定点の材料温度ＴCiが算出される。こ
の際、本発明の補正式は、式、ＴCi＝ＴM1・ＴS1・ＴSi
／（ＴS1・ＴSi−ＴM1・ＴSi＋ＴM1・ＴS1）により表さ
れ、放射率ε及び波長λを消去した形で直ちに幅方向の
各測定点の材料温度ＴCiが算出される。即ち、輝度温度
測定手段３により測定される各測定点の輝度温度ＴS1、
ＴS2、ＴS3、ＴS4、ＴS5、ＴS6、ＴS7は、それぞれ材料
温度ＴC1、ＴC2、ＴC3、ＴC4、ＴC5、ＴC6、ＴC7として
算出される。
【００２２】以下、前記補正式の根拠について説明す
る。先ず、前記測定基準点ＰS1で測定された輝度温度Ｔ
S1と、補正基準点ＰM1で測定された材料温度ＴM1を、従
来より一般に放射温度計の出力の式として表されている
ウィーンの式にあてはめると、次の式１の通りになる。 Ｌ（Ｓ１）＝ε２Ｃ1 ／λ5 ・exp(−Ｃ2 ／λＴM1） ＝ ２Ｃ1 ／λ5 ・exp(−Ｃ2 ／λＴS1）・・・・式１ （但し、波長λは輝度温度測定手段３の波長をいう。）
る。先ず、前記測定基準点ＰS1で測定された輝度温度Ｔ
S1と、補正基準点ＰM1で測定された材料温度ＴM1を、従
来より一般に放射温度計の出力の式として表されている
ウィーンの式にあてはめると、次の式１の通りになる。 Ｌ（Ｓ１）＝ε２Ｃ1 ／λ5 ・exp(−Ｃ2 ／λＴM1） ＝ ２Ｃ1 ／λ5 ・exp(−Ｃ2 ／λＴS1）・・・・式１ （但し、波長λは輝度温度測定手段３の波長をいう。）
【００２３】前記式１においてεを整理すると、次の式
２の通りになる。 ε＝｛２Ｃ1 ／λ5 ・exp(−Ｃ2 ／λＴS1）｝／｛２Ｃ1 ／λ5 ・exp(−Ｃ2 ／ λＴM1）｝ ＝ exp｛（２Ｃ2 ／λ）（１／ＴS1−１／ＴM1）｝・・・・式２
２の通りになる。 ε＝｛２Ｃ1 ／λ5 ・exp(−Ｃ2 ／λＴS1）｝／｛２Ｃ1 ／λ5 ・exp(−Ｃ2 ／ λＴM1）｝ ＝ exp｛（２Ｃ2 ／λ）（１／ＴS1−１／ＴM1）｝・・・・式２
【００２４】一方、輝度温度測定手段３により、帯状体
１の幅方向の複数個所におけるｎ個の測定点から前記測
定基準点ＰS1を除いた（ｎ−１）個の測定点のうち、ｉ
番目のエネルギーは、ウィーンの式によれば、次の式３
により表される。 Ｌ（Ｓｉ）＝ ２Ｃ1 ／λ5 ・exp(−Ｃ2 ／λＴSi） ＝ε２Ｃ1 ／λ5 ・exp(−Ｃ2 ／λＴMi）・・・・式３
１の幅方向の複数個所におけるｎ個の測定点から前記測
定基準点ＰS1を除いた（ｎ−１）個の測定点のうち、ｉ
番目のエネルギーは、ウィーンの式によれば、次の式３
により表される。 Ｌ（Ｓｉ）＝ ２Ｃ1 ／λ5 ・exp(−Ｃ2 ／λＴSi） ＝ε２Ｃ1 ／λ5 ・exp(−Ｃ2 ／λＴMi）・・・・式３
【００２５】そこで、式３の両辺を整理して対数をとる
と、次の式４の通りになる。 −Ｃ2 ／λＴSi＝１ｎε＋（−Ｃ2 ／λＴMi）・・・・式４
と、次の式４の通りになる。 −Ｃ2 ／λＴSi＝１ｎε＋（−Ｃ2 ／λＴMi）・・・・式４
【００２６】ところが、前記式２により放射率εは、ε
＝ exp｛（２Ｃ2 ／λ）（１／ＴS1−１／ＴM1）｝であ
るから、その対数をとると、次の式５が得られる。 １ｎε＝−Ｃ2 ／λ（１／ＴS1−１／ＴM1）・・・・式５
＝ exp｛（２Ｃ2 ／λ）（１／ＴS1−１／ＴM1）｝であ
るから、その対数をとると、次の式５が得られる。 １ｎε＝−Ｃ2 ／λ（１／ＴS1−１／ＴM1）・・・・式５
【００２７】前記式５を前記式４に代入すると、次の式
６の通りになる。 （−Ｃ2 ／λ）ＴSi＝（−Ｃ2 ／λ）（１／ＴS1−１／ＴM1）＋（−Ｃ2 ／λ） ＴMi・・・・式６
６の通りになる。 （−Ｃ2 ／λ）ＴSi＝（−Ｃ2 ／λ）（１／ＴS1−１／ＴM1）＋（−Ｃ2 ／λ） ＴMi・・・・式６
【００２８】最後に、式６の両辺を整理して幅方向の測
定点における材料温度ＴCiを求めると、前述した通りの
補正式が次の式７の通り与えられる。 ＴCi＝ＴM1・ＴS1・ＴSi／（ＴS1・ＴSi−ＴM1・ＴSi＋ＴM1・ＴS1）・・・・式 ７
定点における材料温度ＴCiを求めると、前述した通りの
補正式が次の式７の通り与えられる。 ＴCi＝ＴM1・ＴS1・ＴSi／（ＴS1・ＴSi−ＴM1・ＴSi＋ＴM1・ＴS1）・・・・式 ７
【００２９】以上の結果、本発明の補正式（前記式７）
によれば、放射率ε及び波長λが消去された関数式によ
り表されるため、帯状体１の幅方向の複数個所における
ｎ個の測定点から前記測定基準点ＰS1を除いた（ｎ−
１）個の測定点のうち、ｉ番目の輝度温度ＴSiが材料温
度ＴCiとして算出されることになる。
によれば、放射率ε及び波長λが消去された関数式によ
り表されるため、帯状体１の幅方向の複数個所における
ｎ個の測定点から前記測定基準点ＰS1を除いた（ｎ−
１）個の測定点のうち、ｉ番目の輝度温度ＴSiが材料温
度ＴCiとして算出されることになる。
【００３０】
【発明の効果】本発明によれば、連続して走行中の高温
帯状体の幅方向複数個所における測定点の輝度温度によ
り、前記高温帯状体の幅方向温度を測定する方法におい
て、前記測定点のうち特定の測定点から帯状体の走行方
向に沿う同一直線上で且つ該特定の測定点に近接する補
正基準点における材料温度を測定する工程と、前記特定
の測定点の輝度温度を前記補正基準点の材料温度により
補正する補正式に基づいて、前記幅方向複数個所におけ
る測定点の輝度温度により各測定点の材料温度を算出す
る工程とから成る構成であるから、精度の高い幅方向の
各測定点の材料温度ＴCiの測定が可能になる。即ち、走
査型放射温度計３ａやＣＣＤカメラ３ｂ等の輝度温度測
定手段３により測定されるｎ個の輝度温度ＴSiのうち、
特定の測定点ＰS1で測定される輝度温度ＴS1と、多重反
射型放射温度計４ａや金碗型ファイバー式放射温度計４
ｂ等の材料温度測定手段４により補正基準点ＰM1で測定
される材料温度ＴM1とが、帯状体の走行方向に沿う同一
直線Ｌ上で且つ相互に近接した位置で得られるものであ
るから、補正式により得られる幅方向の各測定点におけ
る材料温度ＴCiは極めて精度の高いものとなる。
帯状体の幅方向複数個所における測定点の輝度温度によ
り、前記高温帯状体の幅方向温度を測定する方法におい
て、前記測定点のうち特定の測定点から帯状体の走行方
向に沿う同一直線上で且つ該特定の測定点に近接する補
正基準点における材料温度を測定する工程と、前記特定
の測定点の輝度温度を前記補正基準点の材料温度により
補正する補正式に基づいて、前記幅方向複数個所におけ
る測定点の輝度温度により各測定点の材料温度を算出す
る工程とから成る構成であるから、精度の高い幅方向の
各測定点の材料温度ＴCiの測定が可能になる。即ち、走
査型放射温度計３ａやＣＣＤカメラ３ｂ等の輝度温度測
定手段３により測定されるｎ個の輝度温度ＴSiのうち、
特定の測定点ＰS1で測定される輝度温度ＴS1と、多重反
射型放射温度計４ａや金碗型ファイバー式放射温度計４
ｂ等の材料温度測定手段４により補正基準点ＰM1で測定
される材料温度ＴM1とが、帯状体の走行方向に沿う同一
直線Ｌ上で且つ相互に近接した位置で得られるものであ
るから、補正式により得られる幅方向の各測定点におけ
る材料温度ＴCiは極めて精度の高いものとなる。
【００３１】特に、本発明によれば、前記補正式が、
式、ＴCi＝ＴM1・ＴS1・ＴS1／（ＴS1・ＴSi−ＴM1・Ｔ
Si＋ＴM1・ＴS1）により表され、放射率ε及び波長λを
消去した関数式として表され、この式により連続的に補
正されながら、測定が継続されるので、測定中帯状体１
の放射率変動があった場合でも、リアルタイムに補正で
き、帯状体１の幅方向の任意の測定点における材料温度
ＴCiを迅速且つ高精度に測定することができる。従っ
て、従来のようなオフラインでのアルゴリズム等の作成
等、実測に至るまでの手間や、測定中の帯状体１の放射
率変動による対応ができず精度が悪化するということが
なく、極めて能率良く且つ高精度に測定できる。更に、
装置の汎用性や、炉の形状、測定位置等に限定を受ける
こともなく実用性が高い。
式、ＴCi＝ＴM1・ＴS1・ＴS1／（ＴS1・ＴSi−ＴM1・Ｔ
Si＋ＴM1・ＴS1）により表され、放射率ε及び波長λを
消去した関数式として表され、この式により連続的に補
正されながら、測定が継続されるので、測定中帯状体１
の放射率変動があった場合でも、リアルタイムに補正で
き、帯状体１の幅方向の任意の測定点における材料温度
ＴCiを迅速且つ高精度に測定することができる。従っ
て、従来のようなオフラインでのアルゴリズム等の作成
等、実測に至るまでの手間や、測定中の帯状体１の放射
率変動による対応ができず精度が悪化するということが
なく、極めて能率良く且つ高精度に測定できる。更に、
装置の汎用性や、炉の形状、測定位置等に限定を受ける
こともなく実用性が高い。
【図１】本発明の方法を実施した鋼板圧延ラインを示す
概略図である。
概略図である。
【図２】本発明の１実施形態を示す斜視図である。
【図３】本発明の別の実施形態を示す斜視図である。
１ 高温帯状体 ２ 測定手段 ３ 輝度温度測定手段 ３ａ 走査型放射温度計 ３ｂ ＣＣＤカメラ ３ｃ 放射温度計 ４ 材料温度測定手段 ４ａ 多重反射型放射温度計 ４ｂ 金碗型ファイバー式放射温度計
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 造田 章夫 大阪府大阪市西区京町堀２丁目４番７号中 外炉工業株式会社内
Claims (2)
- 【請求項１】 連続して走行中の高温帯状体の幅方向の
複数個所における測定点の輝度温度により、前記高温帯
状体の幅方向の温度を測定する方法において、前記測定
点のうち特定の測定点から帯状体の走行方向に沿う同一
直線上で且つ該測定点に近接する補正基準点における材
料温度を測定する工程と、前記特定の測定点の輝度温度
を前記補正基準点の材料温度により補正する補正式に基
づいて、前記幅方向の複数個所における測定点の輝度温
度により各測定点の材料温度を算出する工程とから成る
ことを特徴とする高温帯状体の測温方法。 - 【請求項２】 前記補正式が、式、ＴCi＝ＴM1・ＴS1・
ＴSi／（ＴS1・ＴSi−ＴM1・ＴSi＋ＴM1・ＴS1）により
表されることを特徴とする請求項１に記載の高温帯状体
の測温方法（但し、ＴCiは幅方向の各測定点における材
料温度、ＴM1は補正基準点における材料温度、ＴS1は特
定の測定点における輝度温度、ＴSiは幅方向の各測定点
における輝度温度を表す）。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9267906A JPH1183632A (ja) | 1997-09-11 | 1997-09-11 | 高温帯状体の測温方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9267906A JPH1183632A (ja) | 1997-09-11 | 1997-09-11 | 高温帯状体の測温方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1183632A true JPH1183632A (ja) | 1999-03-26 |
Family
ID=17451269
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9267906A Pending JPH1183632A (ja) | 1997-09-11 | 1997-09-11 | 高温帯状体の測温方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1183632A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007218591A (ja) * | 2006-02-14 | 2007-08-30 | Toyo Univ | ハイブリッド型表面温度計、温度分布測定装置及び測定方法 |
| JP2012189394A (ja) * | 2011-03-09 | 2012-10-04 | Jfe Steel Corp | 鋼板の品質管理温度設定装置、およびこれを用いる品質管理温度設定方法 |
-
1997
- 1997-09-11 JP JP9267906A patent/JPH1183632A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007218591A (ja) * | 2006-02-14 | 2007-08-30 | Toyo Univ | ハイブリッド型表面温度計、温度分布測定装置及び測定方法 |
| JP2012189394A (ja) * | 2011-03-09 | 2012-10-04 | Jfe Steel Corp | 鋼板の品質管理温度設定装置、およびこれを用いる品質管理温度設定方法 |
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