JPH1183767A - 流体中の特定元素の濃度測定装置 - Google Patents
流体中の特定元素の濃度測定装置Info
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- JPH1183767A JPH1183767A JP9260994A JP26099497A JPH1183767A JP H1183767 A JPH1183767 A JP H1183767A JP 9260994 A JP9260994 A JP 9260994A JP 26099497 A JP26099497 A JP 26099497A JP H1183767 A JPH1183767 A JP H1183767A
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- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Monitoring And Testing Of Nuclear Reactors (AREA)
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Abstract
中の微量のFe、Cuの濃度を、手間と時間を要すこと
なく、高精度に連続測定していくことができる装置の提
供。 【解決手段】 フローセル11のフィルター13にて2
次系給水中の微量のFe、Cuを捕集し、これを蛍光X
線分析によって検出する形式としている。のみならず、
複数のフローセル11,12が備えられ、一方のフロー
セル11においてFe、Cuの粒子状成分を捕集するフ
ィルター13が、また、もう一方のフローセル12にお
いてFe、Cuのイオン成分を捕集するフィルター14
が備えられ、これらフローセル11,12のそれぞれに
蛍光X線検出器21、22が配備されている。
Description
電所の加圧水型軽水炉の2次系給水中の鉄、銅等の微量
金属成分の濃度の連続測定などに用いられる濃度測定装
置に関する。
R)では、蒸気発生器の健全性維持の観点から、2次系
給水中の鉄濃度の低減について種々の対策が検討され実
施されているが、この対策の実施及び実施による効果の
確認には、2次系給水中に含まれる微量の鉄濃度を精度
高く測定しうる高度な測定技術が必要となる。従来、こ
の濃度測定は、濃縮操作等を必要とする手分析法によっ
ていた。
2次系給水中の鉄がごく微量であることも相俟って、濃
縮等の前処理が非常に厄介であり、一回の測定に多くの
時間と手間を要するものであった。従って、濃度の連続
測定には対応がなかなか困難であった。
濃度を、これがごく微量であっても、手間と時間を要す
ることなく高精度に測定していくことができる濃度測定
装置を提供し、それによって、上記のような問題をも解
決していくことを課題とする。
する特定元素を含む流体の流通路に、少なくとも第1、
第2の2つのフローセルが設けられ、第1のフローセル
に、流体中に第1の形態で存在する前記元素成分を捕集
する第1フィルターが備えられると共に、第2のフロー
セルに、流体中に前記第1の形態とは形態を異にする第
2の形態で存在する前記元素成分を捕集する第2フィル
ターが備えられ、かつ、前記各フローセルのそれぞれ
に、放射線の照射により捕集物から発せられる蛍光X線
を検出する蛍光X線検出器が配備されてなることを特徴
とする流体中の特定元素の濃度測定装置によって解決さ
れる。
量の特定元素を測定の対象とする。即ち、「流体」は、
液体であってもよいし、気体でもあってもよい。液体と
しては、例えば、水、海水、薬品、油などであってよ
い。また、気体としては、空気、蒸気、有機ガス、エア
ロゾルなどであってよい。「特定元素」としては、鉄、
銅、亜鉛、クロム、ニッケル、鉛などの金属元素や、そ
の他、イオウ、塩素など、流体中に存在する各種の元素
であってよい。また、流体中における特定元素の「形
態」としては、例えば、粒子状、イオンというようなか
たちで分類される形態のほか、粒子サイズの大小という
のようなサイズ的に分類される形態、また、金属元素の
酸化状態で分類されるような形態、あるいはまた、これ
らの形態を組合わせたものなどであってよい。
にて流体中の特定元素成分を捕集し、これを蛍光X線分
析によって検出する形式の測定装置に構成されているも
のであるから、この特定元素成分の量がごく微量であっ
ても、その濃度を精度良く測定していくことができる。
しかも、測定に手間と時間を要さず、測定頻度を増加さ
せ、連続測定を実現することも可能である。
分のみを捕集するのではなく、2以上の複数の形態の特
定元素成分を捕集し、それらをその特定元素成分の濃度
測定の基礎とするものであるから、流体中に含まれる特
定元素成分がごくごく微量の場合であっても、その濃度
をきわめて高精度に測定できる。
うことも可能となり、特定元素のうちのどの形態の濃度
に変動がみられるかを把握していくことを通じて、濃度
変動の原因を詳細に把握特定していくことも可能とな
る。例えば、原子力発電所の2次系給水中における微量
の特定元素を複数の形態において測定していくことによ
り、2次系内で進行している腐食の種類まで詳しく把握
特定していくというようなことも可能となる。
粒子状形態の成分とイオン形態の成分とを捕集の対象と
することにより、これら両方の形態の特定元素成分を基
礎とした濃度測定が可能となり、微量特定元素成分の濃
度を高精度に測定できる。なお、第2フローセルを第1
フローセルよりも下流側に介設させることにより、粒子
状形態の特定元素成分とイオン形態の特定元素成分とを
適正に分別捕集することができる。
ルよりも上方高所に位置して備えられることにより、自
重作用の働く粒子状などの形態の特定元素成分を、流体
導入口から第1フローセルへと、流通路内に付着、堆積
させることなくスムーズに送り込んでいくことができ、
特定元素成分の精度高い濃度測定に役立つ。
りも下方低所に位置して備えられることにより、第1フ
ローセルから第2フローセルへと送られる流体の圧力損
失を低くでき、流体をスムーズに第2フローセルへと送
り込むことができる。特に、流体が液体の場合には効果
的である。
出器からの検出信号によって得られるスペクトルに基づ
いて特定元素の濃度を解析により求める処理手段が備え
られることにより、測定を能率的に遂行しえて、連続モ
ニタリングも実現される。即ち、被捕集物にX線、γ線
等の放射線を照射し、それによって被捕集物から発生す
る蛍光X線は、例えば比例計数管にてスペクトル計数す
ることができ、こうして得られるスペクトルに基づいて
スペクトル解析を行っていくのである。
し、蛍光X線検出器からの検出信号によって得られるス
ペクトルに基づいてそれぞれの種類の元素の濃度を解析
により求める処理手段が備えられることにより、複数の
特定元素成分の濃度測定を同時にしかも連続的に遂行し
ていくことができる。従って、例えば、原子力発電所の
2次系給水中における複数の特定元素を測定していくこ
とにより、2次系のどの箇所、どの機器において腐食が
進んでいるかまで詳しく把握特定していくというような
ことも可能となる。より具体的には、例えば、鉄濃度の
測定により2次系配管やタービン等の腐食進行状況を予
測でき、銅濃度の測定により復水器等の腐食状況を予測
できる。
基づいて説明する。
所の加圧水型軽水炉の2次系給水中に含まれる鉄(F
e)と銅(Cu)との2種類の元素を、測定しようとす
る特定元素とする。図3に示すように、濃度測定装置1
への2次系給水の供給は、復水器2にて復水され蒸気発
生器3へと向かう2次系冷却材をサンプリング管4を通
じてサンプリングすることにより行う。なお、5は原子
炉圧力容器、6は加圧器、7は冷却材ポンプ、8はター
ビン、9は給水ポンプである。
うに、第1、第2の2つのフローセル11,12を備え
ている。第1フローセル11は、2次系給水中に粒子状
の形態で存在するFe成分とCu成分を捕集するもの
で、ポアサイズが例えば0.45μmのマイクロメンブ
レンフィルター13を備えている。第2フローセル12
はイオンの形態で存在するこれら元素成分を捕集するも
ので、イオン交換メンブレンフィルター14を備えてい
る。
イン、17はドレンラインであり、本発明にいう流通路
は、これらのラインによって構成されている。サンプリ
ング管4からのサンプリング水は、まず、装置1のサン
プリングライン15を通じて第1フローセル11に送り
込まれ、マイクロメンブレンフィルター13を通過す
る。この通過により、サンプリング水中の粒子状の形態
のFe成分とCu成分とがマイクロメンブレンフィルタ
ー13に捕集される。しかる後、サンプリング水は、中
間ライン16を通じて第2フローセル12に送り込ま
れ、イオン交換メンブレンフィルター14を通過する。
この通過により、サンプリング水中のイオンの形態のF
e成分とCu成分とがイオン交換メンブレンフィルター
14に捕集される。そして、サンプリング水は、ドレン
ライン17を通じて装置1から排出される。サンプリン
グライン15にはサンプリング水の流量を計測する流量
計18が介設されている。
は、本測定装置1において、第1フローセル11よりも
上方高所に位置して備えられており、サンプリングライ
ン15は導入口19から第1フローセル11に向けて下
降していくように配管されている。これにより、サンプ
リングライン15を構成する管ないしはホース内に、F
e、Cu元素成分のうち、粒子状物質が付着、堆積する
のを防いで、粒子状物質を滞留させることなくスムーズ
に第1フローセル11へと送り込ませることが可能とな
り、Fe、Cu元素成分の精度高い濃度測定を実現する
ことができる。
セル11よりも下方低所に位置して備えられている。こ
れにより、第1フローセル11から第2フローセル12
へと中間ライン16を通じて送られるサンプリング水の
圧力損失を低くすることができ、サンプリング水を勢い
を失わせることなくスムーズに第2フローセル12へと
送り込ませることができる。
2のそれぞれには、フィルター13,14の上方におい
て、蛍光X線検出器21,22が配備されている。蛍光
X線検出器21,22は、よく知られているように、試
料にX線やγ線などの放射線を照射することにより発生
する蛍光X線を検出するもので、これを通じて試料の定
性、定量を行うことができる。各蛍光X線検出器21,
22には、これに組み合わされて、照射用の線源が備え
られている。線源には例えば 244CmなどによるRI、
あるいはX線管球などが用いられる。
検出器21,22からの信号を用い、次のような処理手
段によって求められるものとなされている。即ち、図2
に示すように、蛍光X線検出器21,22からの電気パ
ルスは、増幅器23を経て、マルチチャンネルアナライ
ザー24に送られる。そして、マルチチャンネルアナラ
イザー24によって所定時間単位で得られる蛍光X線ス
ペクトルデータが、コンピューター25の記憶部26に
次々と連続的に蓄積、記憶されていく。このスペクトル
データに基づいてCPU27がプログラム制御を行い、
スペクトル解析によってFe、Cuの各元素の重量が算
出され、この重量と流量計18によるサンプリング流量
とからFe、Cuの各元素の濃度が求められる。
中のごく微量のFe、Cuを測定対象としているため、
移動平均処理を行う。即ち、記憶部26に次々と蓄積、
記憶されていくスペクトルデータのうち、現時点から時
間的に最も近いスペクトルデータから所定数データをさ
かのぼってこれらスペクトルを積算し、この積算スペク
トルをスペクトル解析の基礎として、Fe、Cuの各元
素の濃度を求めるものとしている。
は、不純物の含有率が低く低バックグラウンドの材料か
らなるのがよい。蛍光X線検出器21,22は、フィル
ター13,14に捕集された物質からの放射線のほか、
フローセル11,12そのそものからのバックグラウン
ド放射線をも検出してしまい、これが、スペクトル解析
上不利に作用し、特定元素の検出下限値を高いものにし
てしまう。そこで、このバックグラウンド放射線の検出
を低減するのが好ましい。殊に、エネルギーレベルが互
いに近接しているFeとCuのような複数の特定元素成
分を測定対象とするような場合は、バックグラウンドの
低減により、それぞれの元素成分についてのスペクトル
解析を容易なものにすることができる。上記フローセル
11,12のうち、特に、フィルター13,14を保持
するホルダー28は、フィルター13,14と検出器2
1,22との間に面して存在するため、蛍光X線検出器
21,22は、ホルダー28からのバックグラウンド放
射線を多く検出してしまいやすく、上記のような材料に
て製作することが推奨される。上記の材料としては、例
えば、ポリエチレン、ポリカーボネイトなどのC元素、
H元素が主体の合成樹脂、その他、セラミックなどが好
適に用いられる。
炉の2次系給水中に含まれるFeとCuの2種類の元素
について測定を行った試験結果を図4ないし図8に示
す。図4は、スペクトルの例である。Fe、Cuが微量
であっても、それぞれについての重量をこのスペクトル
に基づいて解析により精度良く算出しうることがわか
る。また、図5及び図6は、サンプリング流量を400
ml/分とし、測定時間を、起動時5分サンプリング、
定格出力時10分サンプリングとして、移動平均処理を
実施しながら、Fe濃度、Cu濃度を連続測定した結果
を示す。この結果より、本測定装置を用いることによっ
て、起動時、定格出力時の連続測定においてFe濃度、
Cu濃度を0.数ppb〜数百ppbのオーダーで測定
を行っていけること、出力上昇運転操作において応答性
が非常に良好であること、2次給水中のFe、Cuの濃
度の挙動を連続監視可能であることを確認し得た。ま
た、図7はFe濃度を粒子の濃度とイオンの濃度にわけ
て示したものであり、図8はCu濃度を粒子濃度とイオ
ンの濃度にわけて示したものである。この結果より、特
にCuについては、粒子とイオンの両方の形態を基礎と
して濃度測定を実施していくことにより、精度の高い濃
度測定が実現されることを確認し得た。なお、Feにつ
いては、イオンの形態の濃度が低かったが、これは、サ
ンプリング水中のFeイオン濃度がたまたま低かっただ
けにすぎない。
発明は、これに限定されるものではなく、発明思想を逸
脱しない範囲で各種の変更を行い得るものであることは
いうまでもない。例えば、上記実施形態では、原子力発
電所の加圧水型軽水炉の2次系給水中の特定元素を対象
としているが、本発明装置は、沸騰水型軽水炉(BW
R)の給水中の特定元素を対象として用いたり、火力発
電所の給水中の特定元素を対象として用いたり、半導体
洗浄装置に用いられる純水の水質管理の一助として用い
たり、あるいはまた、気体中に含まれる特定元素の濃度
の測定、監視、検査などにも有効的に用いることがで
き、用途に制限はなく、各種の用途に有効的、効果的に
用いることができる。また、Fe、Cuのほか、各種の
元素を測定対象とし得ることはいうまでもない。更に、
上記実施形態ではFeとCuの2種類の元素を対象とし
ているが、1種類の元素のみを対象としたり、あるいは
逆に、3種類以上の元素を対象した構成としてもよい。
また、形態の変更に応じて、各種フィルターが用いられ
てよい。また、フローセルは、捕集しようとする特定元
素の形態に応じて3つ以上備えられていてもよい。ま
た、フローセルは、流体がフィルターを適正に通過して
いけるようにフィルターを保持しうるものであればよ
く、流体の種類などに応じて各種構造形式のものが採用
されてよい。
素の濃度測定装置は、フローセルのフィルターにて流体
中の特定元素成分を捕集し、これを蛍光X線分析によっ
て検出する形式の測定装置に構成したものであるから、
この特定元素成分の量がごく微量であっても、その濃度
を精度良く測定していくことができ、しかも、測定に手
間と時間を要さず、測定頻度を増加させて連続測定を実
現することができる。のみならず、複数のフローセルが
備えられ、それぞれのフローセルにおいて、特定元素成
分を形態を異にして捕集するフィルターが備えられ、こ
れらフローセルのそれぞれに蛍光X線検出器が配備され
たものであるから、2以上の複数の形態の特定元素成分
をその特定元素の濃度測定の基礎とすることができ、流
体中に含まれる特定元素成分がごくごく微量の場合であ
っても、その濃度をきわめて高精度に測定していくこと
ができる。この場合、第1フィルターを粒子状の形態の
成分を捕集するマイクロメンブレンフィルターとし、第
2フィルターをイオンの形態の成分を捕集するイオン交
換メンブレンフィルターとすることにより、粒子状形態
の成分とイオン形態の成分とを基礎とした精度高い濃度
測定が可能となる。
ルよりも上方高所に位置して備えさせることにより、粒
子状等の形態の特定元素成分を、流体導入口から第1フ
ローセルへと、流通路内に付着、堆積させることなくス
ムーズに送り込んでいくことができる。また、第2フロ
ーセルを第1フローセルよりも下方低所に位置して備え
させることにより、第1フローセルから第2フローセル
へと送られる流体の圧力損失を低くでき、流体をスムー
ズに第2フローセルへと送り込むことができる。
特定の複数種類の元素とし、前記蛍光X線検出器からの
検出信号によって得られるスペクトルに基づいてそれぞ
れの種類の元素の濃度を解析により求める処理手段を備
えさせることにより、複数の特定元素成分の濃度測定を
同時遂行していくことができる。
ある。
る。
る。
ル図である。
る。
る。
示したグラフ図である。
示したグラフ図である。
ー) 14…イオン交換メンブレンフィルター(第2フィルタ
ー) 15,16,17…流通路 21,22…蛍光X線検出器
Claims (6)
- 【請求項1】 測定対象とする特定元素を含む流体の流
通路に、少なくとも第1、第2の2つのフローセルが設
けられ、 第1のフローセルに、流体中に第1の形態で存在する前
記元素成分を捕集する第1フィルターが備えられると共
に、 第2のフローセルに、流体中に前記第1の形態とは形態
を異にする第2の形態で存在する前記元素成分を捕集す
る第2フィルターが備えられ、かつ、 前記各フローセルのそれぞれに、放射線の照射により捕
集物から発せられる蛍光X線を検出する蛍光X線検出器
が配備されてなることを特徴とする流体中の特定元素の
濃度測定装置。 - 【請求項2】 前記第1フィルターが、粒子状の形態の
成分を捕集するマイクロメンブレンフィルターからなる
と共に、第2フィルターが、イオンの形態の成分を捕集
するイオン交換メンブレンフィルターからなり、第2フ
ローセルが第1フローセルよりも下流側において前記流
通路に設けられている請求項1に記載の流体中の特定元
素の濃度測定装置。 - 【請求項3】 前記流通路の流体導入口が第1フローセ
ルよりも上方高所に位置して備えられている請求項1又
は2に記載の流体中の特定元素の濃度測定装置。 - 【請求項4】 前記第2フローセルが第1フローセルよ
りも下方低所に位置して備えられている請求項1ないし
3のいずれか一に記載の特定元素の濃度測定装置。 - 【請求項5】 前記蛍光X線検出器からの検出信号によ
って得られるスペクトルに基づいて特定元素の濃度を解
析により求める処理手段が備えられている請求項1ない
し4のいずれか一に記載の流体中の特定元素の濃度測定
装置。 - 【請求項6】 測定対象を特定の複数種類の元素とし、
前記蛍光X線検出器からの検出信号によって得られるス
ペクトルに基づいてそれぞれの特定元素の濃度を解析に
より求める処理手段が備えられている請求項1ないし5
のいずれか一に記載の流体中の特定元素の濃度測定装
置。
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| JP26099497A JP3761688B2 (ja) | 1997-09-09 | 1997-09-09 | 流体中の特定元素の濃度測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26099497A JP3761688B2 (ja) | 1997-09-09 | 1997-09-09 | 流体中の特定元素の濃度測定装置 |
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| Publication Number | Publication Date |
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| JPH1183767A true JPH1183767A (ja) | 1999-03-26 |
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ID=17355597
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|---|---|---|---|
| JP26099497A Expired - Fee Related JP3761688B2 (ja) | 1997-09-09 | 1997-09-09 | 流体中の特定元素の濃度測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3761688B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8744042B2 (en) | 2010-01-14 | 2014-06-03 | Japan Atomic Energy Agency | Method for detecting fine particles in fluid with X-ray |
| JP2016511428A (ja) * | 2013-03-15 | 2016-04-14 | エックス−レイ オプティカル システムズ インコーポレーテッド | 不均質サンプル処理装置およびそれのx線アナライザーアプリケーション |
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-
1997
- 1997-09-09 JP JP26099497A patent/JP3761688B2/ja not_active Expired - Fee Related
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