JPH1184283A - マルチビーム走査装置及び光源装置 - Google Patents
マルチビーム走査装置及び光源装置Info
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- JPH1184283A JPH1184283A JP9244903A JP24490397A JPH1184283A JP H1184283 A JPH1184283 A JP H1184283A JP 9244903 A JP9244903 A JP 9244903A JP 24490397 A JP24490397 A JP 24490397A JP H1184283 A JPH1184283 A JP H1184283A
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- light emitting
- laser array
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- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B26/00—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
- G02B26/08—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light
- G02B26/10—Scanning systems
- G02B26/12—Scanning systems using multifaceted mirrors
- G02B26/123—Multibeam scanners, e.g. using multiple light sources or beam splitters
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
- Laser Beam Printer (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 光源装置や偏向手段、結像光学系等をそれ程
大型化せずに比較的安価にして4ビーム以上のマルチビ
ーム化を図る。 【解決手段】 各々n(n≧2)個の発光点を有するm
(m≧2)個の半導体レーザアレイ21 〜2m を有する
光源装置1を用いることで、従来のビーム合成方式に比
して、光源装置1を大型化せずにn倍のマルチビーム化
を図ることができ、従来の半導体レーザアレイ方式に比
してm倍のマルチビーム化を図ることができ、マルチビ
ーム化をより有利な条件で実現できる。
大型化せずに比較的安価にして4ビーム以上のマルチビ
ーム化を図る。 【解決手段】 各々n(n≧2)個の発光点を有するm
(m≧2)個の半導体レーザアレイ21 〜2m を有する
光源装置1を用いることで、従来のビーム合成方式に比
して、光源装置1を大型化せずにn倍のマルチビーム化
を図ることができ、従来の半導体レーザアレイ方式に比
してm倍のマルチビーム化を図ることができ、マルチビ
ーム化をより有利な条件で実現できる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、レーザプリンタ、
デジタル複写機、レーザファクシミリ等における高速光
書込系に利用されるマルチビーム走査装置及び光源装置
に関する。
デジタル複写機、レーザファクシミリ等における高速光
書込系に利用されるマルチビーム走査装置及び光源装置
に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、高速記録を行なうため、複数
本の光ビームを感光体上に同時に走査させて画像記録を
行なうマルチビーム走査装置が知られている。この場合
のマルチビーム走査装置としては、光源として複数個の
半導体レーザを用い、偏光ビームスプリッタ等により各
半導体レーザからの光ビームを合成するビーム合成方式
と、光源として複数の発光点を有する半導体レーザアレ
イを用いるアレイ方式とが、一般によく知られている。
本の光ビームを感光体上に同時に走査させて画像記録を
行なうマルチビーム走査装置が知られている。この場合
のマルチビーム走査装置としては、光源として複数個の
半導体レーザを用い、偏光ビームスプリッタ等により各
半導体レーザからの光ビームを合成するビーム合成方式
と、光源として複数の発光点を有する半導体レーザアレ
イを用いるアレイ方式とが、一般によく知られている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】アレイ方式の場合、半
導体レーザアレイ自体の入手が困難で、また、入手でき
たとしても非常に高価である。特に、発光点の数、即
ち、射出し得る光ビーム数が増えるに従ってこの傾向が
増す。また、感光体上で副走査方向に所望のビームピッ
チ(副走査間隔)を得るためには、通常、半導体レーザ
アレイは発光点配列方向を主走査方向に対して所定角度
傾けて設定されるが、このとき、図16に示すように、
光ビーム数が増えるに従って主走査方向のビームの拡が
りが大きくなる。図中、100は半導体レーザアレイ、
101はコリメートレンズ、102は回転多面鏡、10
3はfθレンズ等の光学素子、104は感光体である。
よって、回転多面鏡102や光学素子103が大型化し
てしまう等の欠点がある。
導体レーザアレイ自体の入手が困難で、また、入手でき
たとしても非常に高価である。特に、発光点の数、即
ち、射出し得る光ビーム数が増えるに従ってこの傾向が
増す。また、感光体上で副走査方向に所望のビームピッ
チ(副走査間隔)を得るためには、通常、半導体レーザ
アレイは発光点配列方向を主走査方向に対して所定角度
傾けて設定されるが、このとき、図16に示すように、
光ビーム数が増えるに従って主走査方向のビームの拡が
りが大きくなる。図中、100は半導体レーザアレイ、
101はコリメートレンズ、102は回転多面鏡、10
3はfθレンズ等の光学素子、104は感光体である。
よって、回転多面鏡102や光学素子103が大型化し
てしまう等の欠点がある。
【0004】一方、ビーム合成方式によれば、通常の汎
用されている半導体レーザを用い得るものの、感光体上
において所定の走査線間隔とするための調整精度が厳し
く、かつ、温度変動や振動などによる半導体レーザ間の
相対位置の微小な変動に対しても感光体上における光ビ
ームの相対位置が光テコの作用により大きく変動してし
まうため所定の走査線間隔を安定して保持することが困
難である。
用されている半導体レーザを用い得るものの、感光体上
において所定の走査線間隔とするための調整精度が厳し
く、かつ、温度変動や振動などによる半導体レーザ間の
相対位置の微小な変動に対しても感光体上における光ビ
ームの相対位置が光テコの作用により大きく変動してし
まうため所定の走査線間隔を安定して保持することが困
難である。
【0005】この点、ビーム合成方式をベースとして、
複数の半導体レーザを複数のコリメートレンズ、ビーム
合成手段とともに光学装置として一体化させて設けるこ
とで、経時的なビームピッチの変動を低減させるととも
に、このような光源装置を光軸回りに回転させることで
所定の走査線間隔が得られるようにした提案例が知られ
ている。これによれば、簡易で高精度な走査線間隔の設
定、調整が可能となる。ところが、現実問題として、3
ビーム以上のマルチビーム化を図ろうとする場合には、
そのビーム数と同数の半導体レーザを用いる必要があ
り、光源装置が大型化してしまう。
複数の半導体レーザを複数のコリメートレンズ、ビーム
合成手段とともに光学装置として一体化させて設けるこ
とで、経時的なビームピッチの変動を低減させるととも
に、このような光源装置を光軸回りに回転させることで
所定の走査線間隔が得られるようにした提案例が知られ
ている。これによれば、簡易で高精度な走査線間隔の設
定、調整が可能となる。ところが、現実問題として、3
ビーム以上のマルチビーム化を図ろうとする場合には、
そのビーム数と同数の半導体レーザを用いる必要があ
り、光源装置が大型化してしまう。
【0006】そこで、本発明は、光源装置や偏向手段、
結像光学系等をそれ程大型化せずに比較的安価にして4
ビーム以上のマルチビーム化を図ることができるマルチ
ビーム走査装置を提供することを目的とする。
結像光学系等をそれ程大型化せずに比較的安価にして4
ビーム以上のマルチビーム化を図ることができるマルチ
ビーム走査装置を提供することを目的とする。
【0007】また、本発明は、4ビーム以上のマルチビ
ーム化を図った場合の、走査線間隔の高精度な調整、設
定を行なえるマルチビーム走査装置を提供することを目
的とする。
ーム化を図った場合の、走査線間隔の高精度な調整、設
定を行なえるマルチビーム走査装置を提供することを目
的とする。
【0008】さらには、本発明は、4ビーム以上のマル
チビーム化に伴う主走査方向の光ビームの拡がりを抑制
し得るマルチビーム走査装置を提供することを目的とす
る。
チビーム化に伴う主走査方向の光ビームの拡がりを抑制
し得るマルチビーム走査装置を提供することを目的とす
る。
【0009】また、本発明は、それ程大型化せずに比較
的安価にして4ビーム以上のマルチビーム化を図ること
ができる光源装置を提供することを目的とする。
的安価にして4ビーム以上のマルチビーム化を図ること
ができる光源装置を提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明は、
各々n(n≧2)個の発光点を有するm(m≧2)個の
半導体レーザアレイと、各半導体レーザアレイから発せ
られるn本の光ビームを各々実質的な平行光束とするm
個のコリメートレンズと、平行光束化されたmn本の光
ビームを合成するビーム合成手段とを有する光源装置
と、この光源装置から射出されたmn本の光ビームを偏
向走査させる偏向手段と、前記光源装置から射出された
mn本の光ビームを前記偏向手段を介して被走査面上に
光スポットとして結像させる結像光学系とを備える。
各々n(n≧2)個の発光点を有するm(m≧2)個の
半導体レーザアレイと、各半導体レーザアレイから発せ
られるn本の光ビームを各々実質的な平行光束とするm
個のコリメートレンズと、平行光束化されたmn本の光
ビームを合成するビーム合成手段とを有する光源装置
と、この光源装置から射出されたmn本の光ビームを偏
向走査させる偏向手段と、前記光源装置から射出された
mn本の光ビームを前記偏向手段を介して被走査面上に
光スポットとして結像させる結像光学系とを備える。
【0011】従って、n個の発光点を有するm個の半導
体レーザアレイを用いているので、従来のビーム合成方
式に比して、光源装置を大型化せずにn倍のマルチビー
ム化を図ることができ、従来の半導体レーザアレイ方式
に比してm倍のマルチビーム化を図ることができ、マル
チビーム化をより有利な条件で実現できる。
体レーザアレイを用いているので、従来のビーム合成方
式に比して、光源装置を大型化せずにn倍のマルチビー
ム化を図ることができ、従来の半導体レーザアレイ方式
に比してm倍のマルチビーム化を図ることができ、マル
チビーム化をより有利な条件で実現できる。
【0012】請求項2記載の発明は、請求項1記載のマ
ルチビーム走査装置における光源装置が、発光点配列方
向が互いに平行となるようにm個の半導体レーザアレイ
を配設させるとともに、ビーム合成手段から射出される
mn本の全ての光ビーム間が何れも発光点配列方向にお
いては所定のビーム間角度θB となり発光点配列方向に
直交する方向にはビーム間角度がほぼ0となるように設
定して半導体レーザとコリメートレンズとビーム合成手
段とを実質的に一体化させてなり、発光点配列方向を主
走査方向に対して所定角度θR 傾けるように一体化され
た光源装置を可動調整する傾き調整手段を備える。
ルチビーム走査装置における光源装置が、発光点配列方
向が互いに平行となるようにm個の半導体レーザアレイ
を配設させるとともに、ビーム合成手段から射出される
mn本の全ての光ビーム間が何れも発光点配列方向にお
いては所定のビーム間角度θB となり発光点配列方向に
直交する方向にはビーム間角度がほぼ0となるように設
定して半導体レーザとコリメートレンズとビーム合成手
段とを実質的に一体化させてなり、発光点配列方向を主
走査方向に対して所定角度θR 傾けるように一体化され
た光源装置を可動調整する傾き調整手段を備える。
【0013】従って、実質的にmn個の発光点を有する
1個の半導体レーザアレイを用いる場合と等価的な光学
装置構成としたので、光源装置全体を主走査方向に対し
て所定角度だけ傾けて配設させるだけで、mn本の光ビ
ームを被走査面上で所望の走査線間隔となるようにする
ことができる。従って、半導体レーザアレイ毎の回転調
整などが不要となり、調整を簡素化し得る上に、光学装
置が実質的に一体化されて構成されているので経時的に
みても走査線間隔の変動を抑制できる。
1個の半導体レーザアレイを用いる場合と等価的な光学
装置構成としたので、光源装置全体を主走査方向に対し
て所定角度だけ傾けて配設させるだけで、mn本の光ビ
ームを被走査面上で所望の走査線間隔となるようにする
ことができる。従って、半導体レーザアレイ毎の回転調
整などが不要となり、調整を簡素化し得る上に、光学装
置が実質的に一体化されて構成されているので経時的に
みても走査線間隔の変動を抑制できる。
【0014】請求項3記載の発明は、請求項2記載のマ
ルチビーム走査装置において、半導体レーザアレイの発
光点の間隔をp、コリメートレンズの焦点距離を
fcol 、結像光学系の副走査方向の焦点距離をfs 、被
走査面上での所望の走査線間隔をP s としたとき、 θB ・sinθR =tan~1(Ps /fs ) θB =tan~1(p/fcol ) を満足するように角度θB ,θR を設定する。
ルチビーム走査装置において、半導体レーザアレイの発
光点の間隔をp、コリメートレンズの焦点距離を
fcol 、結像光学系の副走査方向の焦点距離をfs 、被
走査面上での所望の走査線間隔をP s としたとき、 θB ・sinθR =tan~1(Ps /fs ) θB =tan~1(p/fcol ) を満足するように角度θB ,θR を設定する。
【0015】従って、各半導体レーザアレイが各々連続
したn本の走査線を形成し、m個の半導体レーザアレイ
で合計mn本の走査線を形成するように設定されている
ので、半導体レーザアレイ間或いはコリメートレンズ間
で相対位置変動が生じて、連続したn本の走査線間隔に
ついては変動しくにい特性を有するものとなる。
したn本の走査線を形成し、m個の半導体レーザアレイ
で合計mn本の走査線を形成するように設定されている
ので、半導体レーザアレイ間或いはコリメートレンズ間
で相対位置変動が生じて、連続したn本の走査線間隔に
ついては変動しくにい特性を有するものとなる。
【0016】請求項4記載の発明は、請求項2記載のマ
ルチビーム走査装置において、半導体レーザアレイの発
光点の間隔をp、コリメートレンズの焦点距離を
fcol 、結像光学系の副走査方向の焦点距離をfs 、被
走査面上での所望の走査線間隔をPs としたとき、 θB ・sinθR =tan~1(Ps /fs ) θB =tan~1(p/m/fcol ) を満足するように角度θB ,θR を設定する。
ルチビーム走査装置において、半導体レーザアレイの発
光点の間隔をp、コリメートレンズの焦点距離を
fcol 、結像光学系の副走査方向の焦点距離をfs 、被
走査面上での所望の走査線間隔をPs としたとき、 θB ・sinθR =tan~1(Ps /fs ) θB =tan~1(p/m/fcol ) を満足するように角度θB ,θR を設定する。
【0017】従って、各半導体レーザアレイからの光ビ
ームは各々(m−1)本置きに走査線を形成し、その走
査線隙間を他の半導体レーザアレイからの光ビームが互
いに埋め合うように走査線を形成するように設定されて
いるので、主走査方向の光ビームの全体の拡がりを約1
/m、即ち、1個の半導体レーザアレイ分に低減させる
ことができ、用いる光学素子を極力小型し得る。
ームは各々(m−1)本置きに走査線を形成し、その走
査線隙間を他の半導体レーザアレイからの光ビームが互
いに埋め合うように走査線を形成するように設定されて
いるので、主走査方向の光ビームの全体の拡がりを約1
/m、即ち、1個の半導体レーザアレイ分に低減させる
ことができ、用いる光学素子を極力小型し得る。
【0018】請求項5記載の発明は、請求項2記載のマ
ルチビーム走査装置において、m個のコリメートレンズ
が互いの光軸を平行にして同一の光学装置基体内に近接
配設され、m個の半導体レーザアレイは各々の支持体を
介して前記光学装置基体に取り付けられ、各半導体レー
ザアレイの発光点位置と対応するコリメートレンズの光
軸との位置関係により、mn本全ての各光ビーム間に所
定ビーム間角度θB を設定する。
ルチビーム走査装置において、m個のコリメートレンズ
が互いの光軸を平行にして同一の光学装置基体内に近接
配設され、m個の半導体レーザアレイは各々の支持体を
介して前記光学装置基体に取り付けられ、各半導体レー
ザアレイの発光点位置と対応するコリメートレンズの光
軸との位置関係により、mn本全ての各光ビーム間に所
定ビーム間角度θB を設定する。
【0019】従って、コリメートレンズ間、及び、半導
体レーザアレイ間の経時的な相対位置ずれが起こりにく
く、走査線間隔を安定して維持できる。
体レーザアレイ間の経時的な相対位置ずれが起こりにく
く、走査線間隔を安定して維持できる。
【0020】請求項6記載の発明は、請求項2記載のマ
ルチビーム走査装置における傾き調整手段は、光源装置
から射出される光ビームの基準光軸を回転軸として、一
体化された前記光源装置を回動させることにより発光点
配列方向が主走査方向に対して所定の傾き角度θR とな
るように調整する。
ルチビーム走査装置における傾き調整手段は、光源装置
から射出される光ビームの基準光軸を回転軸として、一
体化された前記光源装置を回動させることにより発光点
配列方向が主走査方向に対して所定の傾き角度θR とな
るように調整する。
【0021】従って、走査線間隔がほぼ連続的に可変と
なり、また、回転角度と走査線間隔とがほぼリニアな関
係を保つので、正確で安定した走査線間隔の調整が可能
となる。同時に、走査線間隔が経時的に変化したとして
もその場合の補正が容易となる。さらには、アクチュエ
ータ等を利用して光学装置の回転駆動を行なわせること
で、調整や補正の自動化が可能になる上に、アクチュエ
ータ等により意図的に光学装置を所定量回動させること
で走査線密度を切り替えることも可能となる。
なり、また、回転角度と走査線間隔とがほぼリニアな関
係を保つので、正確で安定した走査線間隔の調整が可能
となる。同時に、走査線間隔が経時的に変化したとして
もその場合の補正が容易となる。さらには、アクチュエ
ータ等を利用して光学装置の回転駆動を行なわせること
で、調整や補正の自動化が可能になる上に、アクチュエ
ータ等により意図的に光学装置を所定量回動させること
で走査線密度を切り替えることも可能となる。
【0022】請求項7記載の発明は、請求項1,2,
3,4又は5記載のマルチビーム走査装置においてm=
2である。即ち、用いる半導体レーザアレイを2個とし
た。従って、小型の光源装置にして4ビーム以上のマル
チ化を図れるとともに、半導体レーザアレイから出射さ
れる光ビームの偏光特性を利用して光損失の少ない状態
で合成させることも可能となる。
3,4又は5記載のマルチビーム走査装置においてm=
2である。即ち、用いる半導体レーザアレイを2個とし
た。従って、小型の光源装置にして4ビーム以上のマル
チ化を図れるとともに、半導体レーザアレイから出射さ
れる光ビームの偏光特性を利用して光損失の少ない状態
で合成させることも可能となる。
【0023】請求項8記載の発明は、各々n(n≧2)
個の発光点を有するm(m≧2)個の半導体レーザアレ
イと、各半導体レーザアレイから発せられるn本の光ビ
ームを各々実質的な平行光束とするm個のコリメートレ
ンズと、平行光束化されたmn本の光ビームを合成する
ビーム合成手段とを有し、発光点配列方向が互いに平行
となるようにm個の前記半導体レーザアレイを配設させ
るとともに、前記ビーム合成手段から射出されるmn本
の全ての光ビーム間が何れも発光点配列方向においては
所定のビーム間角度θB となり発光点配列方向に直交す
る方向にはビーム間角度がほぼ0となるように設定して
これらの半導体レーザとコリメートレンズとビーム合成
手段とを実質的に一体化させてなる。
個の発光点を有するm(m≧2)個の半導体レーザアレ
イと、各半導体レーザアレイから発せられるn本の光ビ
ームを各々実質的な平行光束とするm個のコリメートレ
ンズと、平行光束化されたmn本の光ビームを合成する
ビーム合成手段とを有し、発光点配列方向が互いに平行
となるようにm個の前記半導体レーザアレイを配設させ
るとともに、前記ビーム合成手段から射出されるmn本
の全ての光ビーム間が何れも発光点配列方向においては
所定のビーム間角度θB となり発光点配列方向に直交す
る方向にはビーム間角度がほぼ0となるように設定して
これらの半導体レーザとコリメートレンズとビーム合成
手段とを実質的に一体化させてなる。
【0024】従って、実質的にmn個の発光点を有する
1個の半導体レーザアレイを用いる場合と等価的な構成
としたので、全体を主走査方向に対して所定角度だけ傾
けて配設させるだけで、マルチビーム走査装置に利用し
た場合にmn本の光ビームを被走査面上で所望の走査線
間隔となるようにすることができる。従って、半導体レ
ーザアレイ毎の回転調整などが不要となり、調整を簡素
化し得る上に、実質的に一体化されて構成されているの
で経時的にみても走査線間隔の変動を抑制することがで
きる。
1個の半導体レーザアレイを用いる場合と等価的な構成
としたので、全体を主走査方向に対して所定角度だけ傾
けて配設させるだけで、マルチビーム走査装置に利用し
た場合にmn本の光ビームを被走査面上で所望の走査線
間隔となるようにすることができる。従って、半導体レ
ーザアレイ毎の回転調整などが不要となり、調整を簡素
化し得る上に、実質的に一体化されて構成されているの
で経時的にみても走査線間隔の変動を抑制することがで
きる。
【0025】
【発明の実施の形態】本発明の第一の実施の形態を図1
ないし図9に基づいて説明する。レーザプリンタに適用
された本実施の形態のマルチビーム走査装置の基本的構
成を図1を参照して説明する。まず、mn本のマルチビ
ームを同時に射出し得る光源装置1が設けられている。
この光源装置1は各々n(n≧2)個の発光点を有する
m(m≧2)個の半導体レーザアレイ21 〜2m と、各
半導体レーザアレイ21 〜2mから発せられるn本の光
ビームを各々実質的な平行光束とするm個のコリメート
レンズ31 〜3m と、平行光束化されたmn本の光ビー
ムを合成するビーム合成手段としてのビーム合成プリズ
ム4とにより構成されている。即ち、複数の半導体レー
ザアレイ21 〜2m からの光ビームを各々コリメート
し、副走査対応方向(光源から被走査面…ここでは感光
体面…に至る光路を、光軸xに沿って直線的に展開した
仮想的な光路上で副走査方向zに平行的に対応する方向
をいう。ちなみに、前記仮想的な方向で、主走査方向y
に平行的に対応する方向を主走査対応方向という。もっ
とも、特に断わらない限り、副走査対応方向も副走査方
向z、主走査対応方向も主走査方向yというものとす
る)に互いに微小角度を持たせて合成して出力させるも
のである。
ないし図9に基づいて説明する。レーザプリンタに適用
された本実施の形態のマルチビーム走査装置の基本的構
成を図1を参照して説明する。まず、mn本のマルチビ
ームを同時に射出し得る光源装置1が設けられている。
この光源装置1は各々n(n≧2)個の発光点を有する
m(m≧2)個の半導体レーザアレイ21 〜2m と、各
半導体レーザアレイ21 〜2mから発せられるn本の光
ビームを各々実質的な平行光束とするm個のコリメート
レンズ31 〜3m と、平行光束化されたmn本の光ビー
ムを合成するビーム合成手段としてのビーム合成プリズ
ム4とにより構成されている。即ち、複数の半導体レー
ザアレイ21 〜2m からの光ビームを各々コリメート
し、副走査対応方向(光源から被走査面…ここでは感光
体面…に至る光路を、光軸xに沿って直線的に展開した
仮想的な光路上で副走査方向zに平行的に対応する方向
をいう。ちなみに、前記仮想的な方向で、主走査方向y
に平行的に対応する方向を主走査対応方向という。もっ
とも、特に断わらない限り、副走査対応方向も副走査方
向z、主走査対応方向も主走査方向yというものとす
る)に互いに微小角度を持たせて合成して出力させるも
のである。
【0026】複数のビームスプリッタの組合せによるビ
ーム合成プリズム4に入射したmn本のビームは、この
ビーム合成プリズム4の反射面5m と(m−1)個のビ
ームスプリッタ面51 〜5m-1 により合成されて光源装
置1から射出される。本実施例では、ビームスプリッタ
面5m-1 は偏光ビームスプリッタ面であり、半導体レー
ザアレイ2m-1 からの光ビームは、1/2波長板6によ
りその直線偏光の方向を90°回転させてからビーム合
成プリズム4に入射させることにより、ビームスプリッ
タ面5m-1 で半導体レーザアレイ2m からの光ビームと
光量損失が最小となる状態でビーム合成されるように構
成されている。従って、偏光ビームスプリッタ面を使用
しない場合には、1/2波長板6は不要である。また、
1/4板7は必要に応じてビーム合成プリズム4の前方
に設けられ、mn本の光ビームを各々円偏光に揃えるこ
とにより、感光体8に至る光利用効率をビーム間で概ね
均一化させる。
ーム合成プリズム4に入射したmn本のビームは、この
ビーム合成プリズム4の反射面5m と(m−1)個のビ
ームスプリッタ面51 〜5m-1 により合成されて光源装
置1から射出される。本実施例では、ビームスプリッタ
面5m-1 は偏光ビームスプリッタ面であり、半導体レー
ザアレイ2m-1 からの光ビームは、1/2波長板6によ
りその直線偏光の方向を90°回転させてからビーム合
成プリズム4に入射させることにより、ビームスプリッ
タ面5m-1 で半導体レーザアレイ2m からの光ビームと
光量損失が最小となる状態でビーム合成されるように構
成されている。従って、偏光ビームスプリッタ面を使用
しない場合には、1/2波長板6は不要である。また、
1/4板7は必要に応じてビーム合成プリズム4の前方
に設けられ、mn本の光ビームを各々円偏光に揃えるこ
とにより、感光体8に至る光利用効率をビーム間で概ね
均一化させる。
【0027】光源装置1より射出したmn本の光ビーム
は、アフォーカル光学系9を介して、副走査方向zにパ
ワーを持つシリンダレンズ10に入射し、副走査方向z
に集光光束とされ、偏向手段としての回転多面鏡11の
同一反射面に入射する。一対のプリズムや複数のレンズ
などにより構成されるアフォーカル光学系9は必要に応
じて設けられ、主走査方向yのビーム径を拡げたり、副
走査方向zのビーム径を狭めたりする、所謂、ビーム整
形を行なう。回転多面鏡11は複数の偏向反射面を有
し、入射した光ビームをその回転により各偏向反射面で
順次偏向走査する。
は、アフォーカル光学系9を介して、副走査方向zにパ
ワーを持つシリンダレンズ10に入射し、副走査方向z
に集光光束とされ、偏向手段としての回転多面鏡11の
同一反射面に入射する。一対のプリズムや複数のレンズ
などにより構成されるアフォーカル光学系9は必要に応
じて設けられ、主走査方向yのビーム径を拡げたり、副
走査方向zのビーム径を狭めたりする、所謂、ビーム整
形を行なう。回転多面鏡11は複数の偏向反射面を有
し、入射した光ビームをその回転により各偏向反射面で
順次偏向走査する。
【0028】回転多面鏡11の偏向反射面で反射された
mn本の光ビームは走査光学系12に入射し、感光体8
面上に光スポットとして結像されながら、一括して露光
走査される。ここに、走査光学系12はfθレンズ13
とトロイダルレンズ14とにより構成されており、入射
した光ビームを感光体8上に結像させるとともに、感光
体8上を略等速走査させる。なお、走査光学系12とし
てはこのような構成に限らず、例えば、fθレンズ13
に代えてfθミラーを用いるような構成であってもよ
い。アフォーカル光学系9、シリンダレンズ10及び走
査光学系12により結像光学系15が構成され、光源装
置1から射出されたmn本の光ビームを各々感光体8上
に所定の光スポットとなるように結像させる。
mn本の光ビームは走査光学系12に入射し、感光体8
面上に光スポットとして結像されながら、一括して露光
走査される。ここに、走査光学系12はfθレンズ13
とトロイダルレンズ14とにより構成されており、入射
した光ビームを感光体8上に結像させるとともに、感光
体8上を略等速走査させる。なお、走査光学系12とし
てはこのような構成に限らず、例えば、fθレンズ13
に代えてfθミラーを用いるような構成であってもよ
い。アフォーカル光学系9、シリンダレンズ10及び走
査光学系12により結像光学系15が構成され、光源装
置1から射出されたmn本の光ビームを各々感光体8上
に所定の光スポットとなるように結像させる。
【0029】従って、図1に示すような基本的構成にお
いて、回転多面鏡11が等速回転すると、mn本の光ビ
ームは等角速度的に偏向され、感光体8上にはmn本の
光ビームによりmn本の走査線が一括して等速走査され
ることになる。
いて、回転多面鏡11が等速回転すると、mn本の光ビ
ームは等角速度的に偏向され、感光体8上にはmn本の
光ビームによりmn本の走査線が一括して等速走査され
ることになる。
【0030】ここで、mn本の光ビームが感光体8上に
mn本の走査線を形成する際に、所定の走査線間隔に設
定する方法について考察する。一般に、マルチビーム光
学系において、感光体8上における光ビームの相対位置
はコリメートレンズ射出後のビーム間の角度(より正確
には、ビーム合成後のビーム間の角度)とコリメートレ
ンズ以降の結像光学系の主、副走査両方向の焦点距離f
m ,fs とにより決まる。即ち、或る2つの光ビーム間
の角度が主走査方向yにおいてφy 、副走査方向zにお
いてφz であった場合、これらの光ビーム間の感光体8
上での相対距離は、主走査方向yにおいては概略fm ・
φy 、副走査方向においては概略fs ・φz となる。
mn本の走査線を形成する際に、所定の走査線間隔に設
定する方法について考察する。一般に、マルチビーム光
学系において、感光体8上における光ビームの相対位置
はコリメートレンズ射出後のビーム間の角度(より正確
には、ビーム合成後のビーム間の角度)とコリメートレ
ンズ以降の結像光学系の主、副走査両方向の焦点距離f
m ,fs とにより決まる。即ち、或る2つの光ビーム間
の角度が主走査方向yにおいてφy 、副走査方向zにお
いてφz であった場合、これらの光ビーム間の感光体8
上での相対距離は、主走査方向yにおいては概略fm ・
φy 、副走査方向においては概略fs ・φz となる。
【0031】半導体レーザアレイ2の場合で考えると、
半導体レーザアレイ2の発光点間隔をp、コリメートレ
ンズ3の焦点距離をfcol とし、半導体レーザアレイ2
をその発光点配列方向aが主走査方向yから角度θだけ
傾くように角度設定したとき、コリメートレンズ3射出
後の隣接する半導体レーザアレイ2の隣接する光ビーム
間の角度の主走査方向成分をφm 、副走査方向成分をφ
s とすると、 fcol ・tanφm =p・cosθ fcol ・tanφs =p・sinθ となる。よって、半導体レーザアレイ2からのn本の光
ビームは、感光体8上において、主走査方向のビーム間
隔p′m 、副走査方向のビーム間隔p′s は、 p′m =p・cosθ・fm /fcol p′s =p・sinθ・fs /fcol となる。従って、所望の走査線間隔をPs としたと
き、 sinθ=Ps ・fcol /(p・fs ) を満足するような角度θだけ、発光点配列方向aを主走
査方向yから傾けて設定すればよいといえる。例えば、
p=0.1mm、fs =200mm、fcol =15m
m、Ps =63.5μmとすると、θ=2.7°とな
る。また、このときのφm =22.9′,φs =64.
8″である。
半導体レーザアレイ2の発光点間隔をp、コリメートレ
ンズ3の焦点距離をfcol とし、半導体レーザアレイ2
をその発光点配列方向aが主走査方向yから角度θだけ
傾くように角度設定したとき、コリメートレンズ3射出
後の隣接する半導体レーザアレイ2の隣接する光ビーム
間の角度の主走査方向成分をφm 、副走査方向成分をφ
s とすると、 fcol ・tanφm =p・cosθ fcol ・tanφs =p・sinθ となる。よって、半導体レーザアレイ2からのn本の光
ビームは、感光体8上において、主走査方向のビーム間
隔p′m 、副走査方向のビーム間隔p′s は、 p′m =p・cosθ・fm /fcol p′s =p・sinθ・fs /fcol となる。従って、所望の走査線間隔をPs としたと
き、 sinθ=Ps ・fcol /(p・fs ) を満足するような角度θだけ、発光点配列方向aを主走
査方向yから傾けて設定すればよいといえる。例えば、
p=0.1mm、fs =200mm、fcol =15m
m、Ps =63.5μmとすると、θ=2.7°とな
る。また、このときのφm =22.9′,φs =64.
8″である。
【0032】ところが、本実施の形態のように、複数個
(m個)の半導体レーザアレイ21〜2m を用いた場
合、各半導体レーザアレイ21 〜2m 間における光ビー
ム間角度の調整を併せて行なう必要がある。例えば、n
=2の例で、図17を参照して説明すると、各々の半導
体レーザアレイ21 〜2m と対応するコリメートレンズ
31 〜3m とで通常の光軸調整を行ない、かつ、角度θ
だけ各半導体レーザアレイ21 〜2m を回転させた場
合、各々のn本(2本)の光ビーム11,12,21,22,
〜,m1,m2は対応するコリメートレンズ31 〜3m 射出
後に同一の角度(光軸x1,x2,〜,xmに対する角
度が同一)、即ち、光ビーム11,21,〜,m1は(φm /
2,φs /2)となり、光ビーム12,22,〜,m2は(−
φm /2,−φs /2)となり、感光体8上で重なって
しまう。
(m個)の半導体レーザアレイ21〜2m を用いた場
合、各半導体レーザアレイ21 〜2m 間における光ビー
ム間角度の調整を併せて行なう必要がある。例えば、n
=2の例で、図17を参照して説明すると、各々の半導
体レーザアレイ21 〜2m と対応するコリメートレンズ
31 〜3m とで通常の光軸調整を行ない、かつ、角度θ
だけ各半導体レーザアレイ21 〜2m を回転させた場
合、各々のn本(2本)の光ビーム11,12,21,22,
〜,m1,m2は対応するコリメートレンズ31 〜3m 射出
後に同一の角度(光軸x1,x2,〜,xmに対する角
度が同一)、即ち、光ビーム11,21,〜,m1は(φm /
2,φs /2)となり、光ビーム12,22,〜,m2は(−
φm /2,−φs /2)となり、感光体8上で重なって
しまう。
【0033】従って、半導体レーザアレイ21 〜2m 間
のビーム角度の調整が必要となる。ところが、そのため
の方法として、図18に示すように(m=3の場合を示
す)、コリメートレンズ31 〜33 とビーム合成プリズ
ム4との間に配設したミラー16a,16bを副走査方
向に傾けることにより、半導体レーザアレイ21 〜23
間のビーム角度を直接的に調整しようとすると、前述し
た副走査方向zのビーム間角度φs を考慮すると、ミラ
ー16a,16bの設定角度には秒オーダの精度が要求
されてしまう。
のビーム角度の調整が必要となる。ところが、そのため
の方法として、図18に示すように(m=3の場合を示
す)、コリメートレンズ31 〜33 とビーム合成プリズ
ム4との間に配設したミラー16a,16bを副走査方
向に傾けることにより、半導体レーザアレイ21 〜23
間のビーム角度を直接的に調整しようとすると、前述し
た副走査方向zのビーム間角度φs を考慮すると、ミラ
ー16a,16bの設定角度には秒オーダの精度が要求
されてしまう。
【0034】かといって、例えば、個々の半導体レーザ
アレイ21 〜2m の回転で各半導体レーザアレイ21 〜
2m 内のビーム角度を調整した後に、半導体レーザアレ
イ21 〜2m 間のビーム角度の調整を光源装置全体を回
転させて行なおうとすると、各半導体レーザアレイ21
〜2m も同時に回転してしまい、各半導体レーザアレイ
21 〜2m 内のビーム角度が設定値からずれてしまう。
また、逆に、光源装置全体を回転させて半導体レーザア
レイ21 〜2m 間のビーム角度を設定してから、個々の
半導体レーザアレイ21 〜2m の回転により半導体レー
ザアレイ21 〜2m 内のビーム角度を調整しようとする
と、個々の半導体レーザアレイ21 〜2m の回転時の回
転軸の微小なずれによっても半導体レーザアレイ21 〜
2m 間のビーム角度がずれてしまう。結局、半導体レー
ザアレイ21 〜2m 内のビーム角度調整と、半導体レー
ザアレイ21 〜2m 間のビーム角度調整との独立性を保
つのが難しい。
アレイ21 〜2m の回転で各半導体レーザアレイ21 〜
2m 内のビーム角度を調整した後に、半導体レーザアレ
イ21 〜2m 間のビーム角度の調整を光源装置全体を回
転させて行なおうとすると、各半導体レーザアレイ21
〜2m も同時に回転してしまい、各半導体レーザアレイ
21 〜2m 内のビーム角度が設定値からずれてしまう。
また、逆に、光源装置全体を回転させて半導体レーザア
レイ21 〜2m 間のビーム角度を設定してから、個々の
半導体レーザアレイ21 〜2m の回転により半導体レー
ザアレイ21 〜2m 内のビーム角度を調整しようとする
と、個々の半導体レーザアレイ21 〜2m の回転時の回
転軸の微小なずれによっても半導体レーザアレイ21 〜
2m 間のビーム角度がずれてしまう。結局、半導体レー
ザアレイ21 〜2m 内のビーム角度調整と、半導体レー
ザアレイ21 〜2m 間のビーム角度調整との独立性を保
つのが難しい。
【0035】この点、本実施の形態では、各々n本の光
ビームを射出するm個の半導体レーザアレイ21 〜2m
を用いた場合のビーム角度調整を、以下の手法によって
容易に実現している。即ち、本実施の形態の光源装置1
では、発光点配列方向y′が互いに平行となるようにm
個の半導体レーザアレイ21 〜2m を配設させるととも
に、ビーム合成プリズム4から射出されるmn本の全て
の光ビーム間が何れも発光点配列方向y′においては所
定のビーム間角度θB となり発光点配列方向y′に直交
する方向にはビーム間角度がほぼ0となるように設定し
て半導体レーザアレイ21 〜2m とコリメートレンズ3
1 〜3m とビーム合成プリズム4とが実質的に一体化さ
れており、このように一体化構成された光源装置1を全
体として傾き調整手段によって発光点配列方向y′を主
走査方向yに対して所定角度θR傾け得るように構成さ
れている。即ち、光源装置1から射出されるmn本の光
ビームはその相対角度が発光点配列方向y′にのみ同一
の角度θB を持つように構成したので、実質的に、mn
個の発光点を持つ1個の半導体レーザアレイと1個のコ
リメートレンズとにより光源装置を構成したものと光学
的に等価となる。従って、後は、光源装置1を発光点配
列方向y′と主走査方向yとが所定の角度θR をなすよ
うに角度設定すればよく、例えば、光源装置1全体を射
出ビームの光軸を中心として回転させることにより容易
に行なえ、かつ、その調整精度もそれ程厳しくない。
ビームを射出するm個の半導体レーザアレイ21 〜2m
を用いた場合のビーム角度調整を、以下の手法によって
容易に実現している。即ち、本実施の形態の光源装置1
では、発光点配列方向y′が互いに平行となるようにm
個の半導体レーザアレイ21 〜2m を配設させるととも
に、ビーム合成プリズム4から射出されるmn本の全て
の光ビーム間が何れも発光点配列方向y′においては所
定のビーム間角度θB となり発光点配列方向y′に直交
する方向にはビーム間角度がほぼ0となるように設定し
て半導体レーザアレイ21 〜2m とコリメートレンズ3
1 〜3m とビーム合成プリズム4とが実質的に一体化さ
れており、このように一体化構成された光源装置1を全
体として傾き調整手段によって発光点配列方向y′を主
走査方向yに対して所定角度θR傾け得るように構成さ
れている。即ち、光源装置1から射出されるmn本の光
ビームはその相対角度が発光点配列方向y′にのみ同一
の角度θB を持つように構成したので、実質的に、mn
個の発光点を持つ1個の半導体レーザアレイと1個のコ
リメートレンズとにより光源装置を構成したものと光学
的に等価となる。従って、後は、光源装置1を発光点配
列方向y′と主走査方向yとが所定の角度θR をなすよ
うに角度設定すればよく、例えば、光源装置1全体を射
出ビームの光軸を中心として回転させることにより容易
に行なえ、かつ、その調整精度もそれ程厳しくない。
【0036】本実施の形態による調整の原理を図2に示
す模式図を参照して説明する。ここでは、ビーム合成プ
リズム4によるビーム合成後のmn本の光ビームが光軸
xに対してなす角度を発光点配列方向y′の成分φy ′
とそれに直交する方向の成分φz ′とで示す。実際に
は、光源装置1の前方にレンズを配設し、その結像面に
おける各発光点の結像点を見ることにより検知可能であ
り、調整時には後述するように、レンズの結像面にCC
DエリアセンサやPSD(ポジションセンサ)等のセン
サを配設して行なう。
す模式図を参照して説明する。ここでは、ビーム合成プ
リズム4によるビーム合成後のmn本の光ビームが光軸
xに対してなす角度を発光点配列方向y′の成分φy ′
とそれに直交する方向の成分φz ′とで示す。実際に
は、光源装置1の前方にレンズを配設し、その結像面に
おける各発光点の結像点を見ることにより検知可能であ
り、調整時には後述するように、レンズの結像面にCC
DエリアセンサやPSD(ポジションセンサ)等のセン
サを配設して行なう。
【0037】まず、各半導体レーザアレイ21 〜2m に
関して、各々の発光点配列方向y′を同一方向に設定す
る(設定方法及び構造については後述する)。従って、
コリメートレンズ31 〜3m 間の光軸ずれやビーム合成
プリズム4の加工誤差がなければ、半導体レーザアレイ
21 のn本(ここでは、n=4とする)の光ビーム(図
中、黒丸点で示す)、半導体レーザアレイ22 のn本の
光ビーム(白丸点で示す)、〜、半導体レーザアレイ2
m のn本の光ビームは、各々、図2(a)のように、発
光点配列方向には略平行な方向に等間隔で並んだn個の
点で示される。
関して、各々の発光点配列方向y′を同一方向に設定す
る(設定方法及び構造については後述する)。従って、
コリメートレンズ31 〜3m 間の光軸ずれやビーム合成
プリズム4の加工誤差がなければ、半導体レーザアレイ
21 のn本(ここでは、n=4とする)の光ビーム(図
中、黒丸点で示す)、半導体レーザアレイ22 のn本の
光ビーム(白丸点で示す)、〜、半導体レーザアレイ2
m のn本の光ビームは、各々、図2(a)のように、発
光点配列方向には略平行な方向に等間隔で並んだn個の
点で示される。
【0038】このとき、もし、発光点配列方向に互いに
傾きがあれば、対応する半導体レーザアレイ2を光軸回
りに回転させて調整する。即ち、各半導体レーザアレイ
21〜2m を光軸に垂直な面内で微小量シフトさせるこ
とにより、図2(b)又は図(c)に示すように、mn
本の光ビームが同一直線上に等間隔(間隔θB )で並ぶ
ように調整する。このように調整された光源装置1を、
例えば、光軸回りに回転させることにより発光点配列方
向y′と主走査方向yとが所定の角度θR となるように
設定する。ちなみに、発光点の中心とコリメートレンズ
31 〜3m の光軸とを一致させるように通常の光軸調整
を行なうと、図2(d)に示すように、各半導体レーザ
アレイの光ビームが互いに重なってしまい、発光点配列
方向y′と主走査方向yとの角度θR に依らず、感光体
8上で同一位置を走査してしまう(走査線の数がn本だ
けとなってしまう)ことになる。
傾きがあれば、対応する半導体レーザアレイ2を光軸回
りに回転させて調整する。即ち、各半導体レーザアレイ
21〜2m を光軸に垂直な面内で微小量シフトさせるこ
とにより、図2(b)又は図(c)に示すように、mn
本の光ビームが同一直線上に等間隔(間隔θB )で並ぶ
ように調整する。このように調整された光源装置1を、
例えば、光軸回りに回転させることにより発光点配列方
向y′と主走査方向yとが所定の角度θR となるように
設定する。ちなみに、発光点の中心とコリメートレンズ
31 〜3m の光軸とを一致させるように通常の光軸調整
を行なうと、図2(d)に示すように、各半導体レーザ
アレイの光ビームが互いに重なってしまい、発光点配列
方向y′と主走査方向yとの角度θR に依らず、感光体
8上で同一位置を走査してしまう(走査線の数がn本だ
けとなってしまう)ことになる。
【0039】次に、図2(b)に示すように設定する場
合について説明する。この図2(b)に示す設定例は、
請求項3記載の発明に相当し、半導体レーザアレイ21
からの光ビームにより連続したn本の走査線を形成し、
半導体レーザアレイ22 からの光ビームにより連続した
n本の走査線を形成し、〜、半導体レーザアレイ2mか
らの光ビームにより連続したn本の走査線を形成するこ
とで、mn本の走査線が形成される(図3(a)参
照)。
合について説明する。この図2(b)に示す設定例は、
請求項3記載の発明に相当し、半導体レーザアレイ21
からの光ビームにより連続したn本の走査線を形成し、
半導体レーザアレイ22 からの光ビームにより連続した
n本の走査線を形成し、〜、半導体レーザアレイ2mか
らの光ビームにより連続したn本の走査線を形成するこ
とで、mn本の走査線が形成される(図3(a)参
照)。
【0040】即ち、発光点間隔をp、コリメートレンズ
31 〜3m の焦点距離をfcol としたとき、各半導体レ
ーザアレイ21 〜2m 内のn本のビーム間はθB =tan~
1(p/fcol )なるビーム間角度となるが、i=1,
2,〜,m−1としたとき、i番目の半導体レーザアレ
イ2i のn番目の光ビームと(i+1)番目の半導体レ
ーザアレイ2i+1 の1番目の光ビームとのビーム間角度
もθB =tan~1(p/fcol )なるビーム間角度に調整
することにより、発光点間隔がpでmn個の発光点を持
つ1個の半導体レーザアレイと光学的に等価な構成とさ
れている。そして、結像光学系15の副走査方向zの焦
点距離をfs 、感光体8上の所望の走査線間隔をPs と
したときにθB ・sinθR =tan~1(Ps /fs )を満た
すようなθR なる角度だけ、発光点配列方向y′と主走
査方向yを傾けるように設定することで、感光体8上に
おいて、ps ′=fs ・tan(θB ・sinθR )=Ps 、
即ち、所望の走査線間隔が得られるように設定されてい
る。
31 〜3m の焦点距離をfcol としたとき、各半導体レ
ーザアレイ21 〜2m 内のn本のビーム間はθB =tan~
1(p/fcol )なるビーム間角度となるが、i=1,
2,〜,m−1としたとき、i番目の半導体レーザアレ
イ2i のn番目の光ビームと(i+1)番目の半導体レ
ーザアレイ2i+1 の1番目の光ビームとのビーム間角度
もθB =tan~1(p/fcol )なるビーム間角度に調整
することにより、発光点間隔がpでmn個の発光点を持
つ1個の半導体レーザアレイと光学的に等価な構成とさ
れている。そして、結像光学系15の副走査方向zの焦
点距離をfs 、感光体8上の所望の走査線間隔をPs と
したときにθB ・sinθR =tan~1(Ps /fs )を満た
すようなθR なる角度だけ、発光点配列方向y′と主走
査方向yを傾けるように設定することで、感光体8上に
おいて、ps ′=fs ・tan(θB ・sinθR )=Ps 、
即ち、所望の走査線間隔が得られるように設定されてい
る。
【0041】具体例として、p=0.1mm、fs =2
00mm、fcol =15mmとした場合の数値例を示す
と、θB =22.9′であり、 θR =2.73°(400dpi;Ps =63.5μm
の場合) θR =1.82°(600dpi;Ps =42.3μm
の場合) θR =1.37°(800dpi;Ps =31.8μm
の場合) θR =0.91°(1200dpi;Ps =21.2μ
mの場合) となる。ここに、θR と所望の走査線間隔Ps とはほぼ
リニアな関係にあることが判る。また、感光体8上にお
ける主走査方向yのビーム間隔は、pm ′=fm・θ
B ・cosθRで表され、角度θR が小さいときには
pm ′≒fm ・θB =fm・tan~1(p/fcol ) と近
似できる。
00mm、fcol =15mmとした場合の数値例を示す
と、θB =22.9′であり、 θR =2.73°(400dpi;Ps =63.5μm
の場合) θR =1.82°(600dpi;Ps =42.3μm
の場合) θR =1.37°(800dpi;Ps =31.8μm
の場合) θR =0.91°(1200dpi;Ps =21.2μ
mの場合) となる。ここに、θR と所望の走査線間隔Ps とはほぼ
リニアな関係にあることが判る。また、感光体8上にお
ける主走査方向yのビーム間隔は、pm ′=fm・θ
B ・cosθRで表され、角度θR が小さいときには
pm ′≒fm ・θB =fm・tan~1(p/fcol ) と近
似できる。
【0042】また、図2(c)に示すように設定する場
合について説明する。この図2(c)に示す設定例は、
請求項4記載の発明に相当し、各半導体レーザアレイ2
1 〜2m からの光ビームで、m本毎、つまり、(m−
1)本置きに走査線を形成し、その走査線隙間を他の半
導体レーザアレイ21 〜2m からの他の光ビームが互い
に埋め合うように走査線を形成し、結果として、連続し
たmn本の走査線が同時に形成されるように設定されて
いる(図3(b)参照)。
合について説明する。この図2(c)に示す設定例は、
請求項4記載の発明に相当し、各半導体レーザアレイ2
1 〜2m からの光ビームで、m本毎、つまり、(m−
1)本置きに走査線を形成し、その走査線隙間を他の半
導体レーザアレイ21 〜2m からの他の光ビームが互い
に埋め合うように走査線を形成し、結果として、連続し
たmn本の走査線が同時に形成されるように設定されて
いる(図3(b)参照)。
【0043】即ち、発光点間隔をp、コリメートレンズ
31 〜3m の焦点距離をfcol としたとき、隣接するビ
ーム間にはθB =tan~1(p/m/fcol ) なるビーム
間角度が設定される。これにより、発光点間隔がp/m
でmn個の発光点を持つ1個の半導体レーザアレイと光
学的に等価な構成とされている。そして、結像光学系1
5の副走査方向zの焦点距離をfs 、感光体8上の所望
の走査線間隔をPs としたときにθB ・sinθR =tan~1
(Ps /fs )を満たすようなθR なる角度だけ、発光
点配列方向y′と主走査方向yを傾けるように設定する
ことで、感光体8上において、ps ′=fs ・tan(θ
B ・sinθR )=Ps 、即ち、所望の走査線間隔が得ら
れるように設定されている。
31 〜3m の焦点距離をfcol としたとき、隣接するビ
ーム間にはθB =tan~1(p/m/fcol ) なるビーム
間角度が設定される。これにより、発光点間隔がp/m
でmn個の発光点を持つ1個の半導体レーザアレイと光
学的に等価な構成とされている。そして、結像光学系1
5の副走査方向zの焦点距離をfs 、感光体8上の所望
の走査線間隔をPs としたときにθB ・sinθR =tan~1
(Ps /fs )を満たすようなθR なる角度だけ、発光
点配列方向y′と主走査方向yを傾けるように設定する
ことで、感光体8上において、ps ′=fs ・tan(θ
B ・sinθR )=Ps 、即ち、所望の走査線間隔が得ら
れるように設定されている。
【0044】具体例として、p=0.1mm、fs =2
00mm、fcol =15mmとした場合の数値例を示す
と、θB =22.9′であり、 θR =2.73°(400dpi;Ps =63.5μm
の場合) θR =1.82°(600dpi;Ps =42.3μm
の場合) θR =1.37°(800dpi;Ps =31.8μm
の場合) θR =0.91°(1200dpi;Ps =21.2μ
mの場合) となる。ここに、θR と所望の走査線間隔Ps とはほぼ
リニアな関係にあることが判る。また、感光体8上にお
ける主走査方向yのビーム間隔は、pm ′=fm・θB
・cosθRで表され、角度θR が小さいときにはpm ′≒
fm ・θB =fm・tan~1(p/m/fcol ) と近似でき
る。
00mm、fcol =15mmとした場合の数値例を示す
と、θB =22.9′であり、 θR =2.73°(400dpi;Ps =63.5μm
の場合) θR =1.82°(600dpi;Ps =42.3μm
の場合) θR =1.37°(800dpi;Ps =31.8μm
の場合) θR =0.91°(1200dpi;Ps =21.2μ
mの場合) となる。ここに、θR と所望の走査線間隔Ps とはほぼ
リニアな関係にあることが判る。また、感光体8上にお
ける主走査方向yのビーム間隔は、pm ′=fm・θB
・cosθRで表され、角度θR が小さいときにはpm ′≒
fm ・θB =fm・tan~1(p/m/fcol ) と近似でき
る。
【0045】なお、これらの図2(b)(c)及び図3
(a)(b)に関する計算式や数値例は、コリメートレ
ンズ31 〜3m から射出する光ビームはコリメートレン
ズ31 〜3m により平行光束化される場合について説明
したが、走査光学系12によってはコリメートレンズ3
1 〜3m からの光ビームを所定の集光光束若しくは発散
光束となして使用する方式の走査光学系も存在する。こ
のような光学系に対しても、前述した計算式や数値例は
多少の修正は要するものの、ほぼ同様に適用可能であ
る。
(a)(b)に関する計算式や数値例は、コリメートレ
ンズ31 〜3m から射出する光ビームはコリメートレン
ズ31 〜3m により平行光束化される場合について説明
したが、走査光学系12によってはコリメートレンズ3
1 〜3m からの光ビームを所定の集光光束若しくは発散
光束となして使用する方式の走査光学系も存在する。こ
のような光学系に対しても、前述した計算式や数値例は
多少の修正は要するものの、ほぼ同様に適用可能であ
る。
【0046】ところで、本実施の形態における各半導体
レーザアレイ21 〜2m の発光点配列方向y′を同一方
向に揃える構造及び方法、並びに、ビーム間角度θB の
調整方法等について図4ないし図8を参照して説明す
る。まず、用いる半導体レーザアレイ21 〜2m に関し
ては、図5や図6に示すように、接合面21(発光点配
列方向y′に一致する)と垂直(又は、平行)な方向に
切欠部22が設けられているため、発光点配列方向y′
は切欠部22の位置によって知ることができる。そこ
で、半導体レーザアレイ21 〜2m は切欠部22の位置
を基準として発光点配列方向y′が同一方向となるよう
に各々の支持体231 〜23m に圧入固定される。この
際、本実施の形態では、最上位の半導体レーザアレイ2
1 が調整の基準とされ(もっとも、他の半導体レーザア
レイ2i を基準としてもよく、或いは、特に基準用を設
定しなくてもよい)、支持体231 〜23m を介して基
体24にねじ止め固定される。基体24には、支持体2
31 〜23m を基体24側からねじ止め固定するための
遊び穴25が形成されており、半導体レーザアレイ21
〜2m は各支持体231 〜23m を介して基体24側か
ら基体24に仮ねじ止め固定される。
レーザアレイ21 〜2m の発光点配列方向y′を同一方
向に揃える構造及び方法、並びに、ビーム間角度θB の
調整方法等について図4ないし図8を参照して説明す
る。まず、用いる半導体レーザアレイ21 〜2m に関し
ては、図5や図6に示すように、接合面21(発光点配
列方向y′に一致する)と垂直(又は、平行)な方向に
切欠部22が設けられているため、発光点配列方向y′
は切欠部22の位置によって知ることができる。そこ
で、半導体レーザアレイ21 〜2m は切欠部22の位置
を基準として発光点配列方向y′が同一方向となるよう
に各々の支持体231 〜23m に圧入固定される。この
際、本実施の形態では、最上位の半導体レーザアレイ2
1 が調整の基準とされ(もっとも、他の半導体レーザア
レイ2i を基準としてもよく、或いは、特に基準用を設
定しなくてもよい)、支持体231 〜23m を介して基
体24にねじ止め固定される。基体24には、支持体2
31 〜23m を基体24側からねじ止め固定するための
遊び穴25が形成されており、半導体レーザアレイ21
〜2m は各支持体231 〜23m を介して基体24側か
ら基体24に仮ねじ止め固定される。
【0047】また、各々鏡筒に納められたコリメートレ
ンズ31 〜3m は、基体24に形成された嵌合穴26に
各半導体レーザアレイ21 〜2m と位置合わせされて係
合・接着される。次に、各半導体レーザアレイ21 〜2
m からの光ビームを整形するアパーチャ271 〜27m
が形成されたアパーチャ部材28、1/2波長板6、ビ
ーム合成プリズム4及び1/4波長板7を収容・支持し
たフランジ部29が基体24に対してねじ止め固定され
る。フランジ部29は前記遊び穴25を逃げるように形
成されている。また、ビーム整形用のアパーチャ部材2
8はビーム合成プリズム4の前方でシリンダレンズ10
の後方の何れかの位置に配設すればよい。もっとも、や
や大きめのm個のアパーチャ271 〜27m が形成され
たアパーチャ部材28をコリメートレンズ31 〜3m と
ビーム合成プリズム4との間に配設することにより、有
害光を除去し得る効果が得られる。また、1/2波長板
6や1/4波長板7は前述した如く必須ではなく、アパ
ーチャ部材28も必ずしも一体的としなくてもよい。
ンズ31 〜3m は、基体24に形成された嵌合穴26に
各半導体レーザアレイ21 〜2m と位置合わせされて係
合・接着される。次に、各半導体レーザアレイ21 〜2
m からの光ビームを整形するアパーチャ271 〜27m
が形成されたアパーチャ部材28、1/2波長板6、ビ
ーム合成プリズム4及び1/4波長板7を収容・支持し
たフランジ部29が基体24に対してねじ止め固定され
る。フランジ部29は前記遊び穴25を逃げるように形
成されている。また、ビーム整形用のアパーチャ部材2
8はビーム合成プリズム4の前方でシリンダレンズ10
の後方の何れかの位置に配設すればよい。もっとも、や
や大きめのm個のアパーチャ271 〜27m が形成され
たアパーチャ部材28をコリメートレンズ31 〜3m と
ビーム合成プリズム4との間に配設することにより、有
害光を除去し得る効果が得られる。また、1/2波長板
6や1/4波長板7は前述した如く必須ではなく、アパ
ーチャ部材28も必ずしも一体的としなくてもよい。
【0048】以上で、光源装置1は、半導体レーザアレ
イ21 〜2m が固定され基体24に仮ねじ止め固定され
た支持体231 〜23m を除いて組み立てられた状態と
なる。ここで、光源装置1自体は治具(図示せず)にて
固定されており、光源装置1の前方に図7に示すように
調整用レンズ31が配設される。この調整用レンズ31
としてはコリメート調整時用のものをそのまま使用でき
る。この調整用レンズ31の結像面32にはCCDエリ
アセンサ、PSD等のセンサ33が配設され、結像面3
2に結像された光ビームの様子を検出可能とされてい
る。支持体231〜23m は、順次、例えば左側から雌
ねじ穴34をピンで押し付けることにより基体24に密
着され、仮ねじ止め固定したねじが外されて、y′−
z′平面内での移動調整が行なわれる。
イ21 〜2m が固定され基体24に仮ねじ止め固定され
た支持体231 〜23m を除いて組み立てられた状態と
なる。ここで、光源装置1自体は治具(図示せず)にて
固定されており、光源装置1の前方に図7に示すように
調整用レンズ31が配設される。この調整用レンズ31
としてはコリメート調整時用のものをそのまま使用でき
る。この調整用レンズ31の結像面32にはCCDエリ
アセンサ、PSD等のセンサ33が配設され、結像面3
2に結像された光ビームの様子を検出可能とされてい
る。支持体231〜23m は、順次、例えば左側から雌
ねじ穴34をピンで押し付けることにより基体24に密
着され、仮ねじ止め固定したねじが外されて、y′−
z′平面内での移動調整が行なわれる。
【0049】前述したコリメート調整が理想的に行なわ
れた場合、結像面32における光ビームは図8(d)に
示すようになる。多少のずれを生じた場合でも、図8
(a)に示すように各半導体レーザアレイ21 〜2m の
光ビームはほぼ平行な状態にある。
れた場合、結像面32における光ビームは図8(d)に
示すようになる。多少のずれを生じた場合でも、図8
(a)に示すように各半導体レーザアレイ21 〜2m の
光ビームはほぼ平行な状態にある。
【0050】ここで、半導体レーザアレイ21 の支持体
231 が固定されているときには、この半導体レーザア
レイ21 の光ビームを基準にして、残りの支持体232
〜23m を順次基体24に密着させながら、y′−z′
平面内で微小量移動させることにより、図8(b)又は
図8(c)に示すように、各光ビームが等間隔で1直線
上となるように調整を行ない、調整が終わった支持体2
3i は順次基体24側からねじ止め固定される。また、
基準の半導体レーザアレイを設定しなかった場合も、最
初に調整した支持体23i の半導体レーザアレイ2i の
光ビームを基準として同様に各光ビームが等間隔で1直
線上になるように順次調整を行なうようにすればよい。
231 が固定されているときには、この半導体レーザア
レイ21 の光ビームを基準にして、残りの支持体232
〜23m を順次基体24に密着させながら、y′−z′
平面内で微小量移動させることにより、図8(b)又は
図8(c)に示すように、各光ビームが等間隔で1直線
上となるように調整を行ない、調整が終わった支持体2
3i は順次基体24側からねじ止め固定される。また、
基準の半導体レーザアレイを設定しなかった場合も、最
初に調整した支持体23i の半導体レーザアレイ2i の
光ビームを基準として同様に各光ビームが等間隔で1直
線上になるように順次調整を行なうようにすればよい。
【0051】より具体的には、例えば、2軸(発光点配
列方向y′及びこれに直交する方向z′)若しくは3軸
(y′,z′及び光軸x回りの回転)の可動ステージに
支持体231 〜23m の雌ねじ穴34に対応した2本の
ピンを取付け、x軸方向(光軸方向)にばね部材を介し
てピンで支持体231 〜23m を基体24に押し付けな
がら可動ステージでピンをy′−z′平面内で移動する
ことにより支持体231 〜23m を移動させればよい。
列方向y′及びこれに直交する方向z′)若しくは3軸
(y′,z′及び光軸x回りの回転)の可動ステージに
支持体231 〜23m の雌ねじ穴34に対応した2本の
ピンを取付け、x軸方向(光軸方向)にばね部材を介し
てピンで支持体231 〜23m を基体24に押し付けな
がら可動ステージでピンをy′−z′平面内で移動する
ことにより支持体231 〜23m を移動させればよい。
【0052】何れにしても、このようにして光源装置1
自体の組付け・調整が終わり、後は、光源装置1全体を
光軸回りに回転し、発光点配列方向y′と主走査方向y
とが角度θR をなすように設定すればよい。
自体の組付け・調整が終わり、後は、光源装置1全体を
光軸回りに回転し、発光点配列方向y′と主走査方向y
とが角度θR をなすように設定すればよい。
【0053】ここで、図4又は図7に戻ると、フランジ
部29の側面にはレバー35が形成されており、また、
フランジ部29の光ビーム射出部には円筒状の凸部36
が形成されている。光源装置1はこの円筒状の凸部36
をガイドとして図1に示したようなマルチビーム走査装
置の本体と接合される。ステッピングモータ37はその
シャフト38に圧入され外周に雄ねじが形成された円筒
部材39をアチュエータ40に形成された雌穴に噛み合
うことで、ステッピングモータ37の回転に応じてアク
チュエータ40が図4中に矢印で示す方向に平行移動す
るように配備されている。これにより、フランジ部29
のレバー35に当接することにより、光源装置1を円筒
状の凸部36の中心軸(基準光軸)を回転軸として回転
される。これらのレバー35、凸部36、ステッピング
モータ37、アクチュエータ40等により傾き調整手段
41が構成されており、所定角度θR となるように光源
装置1の角度が設定される。もっとも、アクチュエータ
40を用いずに、マイクロメータヘッド等でフランジ部
29のレバー35をレバー35に直交する方向に移動さ
せることで光源装置1の回転調整を行なうようにしても
よい。
部29の側面にはレバー35が形成されており、また、
フランジ部29の光ビーム射出部には円筒状の凸部36
が形成されている。光源装置1はこの円筒状の凸部36
をガイドとして図1に示したようなマルチビーム走査装
置の本体と接合される。ステッピングモータ37はその
シャフト38に圧入され外周に雄ねじが形成された円筒
部材39をアチュエータ40に形成された雌穴に噛み合
うことで、ステッピングモータ37の回転に応じてアク
チュエータ40が図4中に矢印で示す方向に平行移動す
るように配備されている。これにより、フランジ部29
のレバー35に当接することにより、光源装置1を円筒
状の凸部36の中心軸(基準光軸)を回転軸として回転
される。これらのレバー35、凸部36、ステッピング
モータ37、アクチュエータ40等により傾き調整手段
41が構成されており、所定角度θR となるように光源
装置1の角度が設定される。もっとも、アクチュエータ
40を用いずに、マイクロメータヘッド等でフランジ部
29のレバー35をレバー35に直交する方向に移動さ
せることで光源装置1の回転調整を行なうようにしても
よい。
【0054】図9は光源装置1における基体42の変形
例を示す。この変形例では、各半導体レーザアレイ21
〜2m は押え板431 〜43m により発光点配列方向が
同一方向に揃うように対応する支持体231 〜23m に
ねじ止め固定される。また、各支持体231 〜23m を
基体42に密着させ、仮位置決めピン44により遊び穴
25と各支持体231 〜23m に形成された雌ねじ穴3
4を貫通させ仮位置決めした後で仮ねじ止め固定され
る。また、コリメートレンズ31 〜3m 用の鏡筒の外周
面には雄ねじ45が形成されており、雌ねじ45が形成
された基体42側の嵌合穴26と各半導体レーザアレイ
21 〜2m と位置合わせされて噛み合わされる。これら
の所謂コリメート調整は、半導体レーザアレイ21 〜2
m とコリメートレンズ31 〜3m との対毎に順次行なわ
れる。
例を示す。この変形例では、各半導体レーザアレイ21
〜2m は押え板431 〜43m により発光点配列方向が
同一方向に揃うように対応する支持体231 〜23m に
ねじ止め固定される。また、各支持体231 〜23m を
基体42に密着させ、仮位置決めピン44により遊び穴
25と各支持体231 〜23m に形成された雌ねじ穴3
4を貫通させ仮位置決めした後で仮ねじ止め固定され
る。また、コリメートレンズ31 〜3m 用の鏡筒の外周
面には雄ねじ45が形成されており、雌ねじ45が形成
された基体42側の嵌合穴26と各半導体レーザアレイ
21 〜2m と位置合わせされて噛み合わされる。これら
の所謂コリメート調整は、半導体レーザアレイ21 〜2
m とコリメートレンズ31 〜3m との対毎に順次行なわ
れる。
【0055】なお、本実施の形態では、m個の半導体レ
ーザアレイ21 〜2m を副走査方向zで近傍に配設させ
たが、半導体レーザアレイ21 〜2m の配列方向は任意
であり、副走査方向近傍に限られるものではない。
ーザアレイ21 〜2m を副走査方向zで近傍に配設させ
たが、半導体レーザアレイ21 〜2m の配列方向は任意
であり、副走査方向近傍に限られるものではない。
【0056】また、発光点の個数n、半導体レーザアレ
イの個数mも任意であり、最低限2以上であればよい。
図10ないし図14はm=2、即ち、2個の半導体レー
ザアレイ21 ,22 を用いて光ビームの本数を2n本と
した場合の構成例等を示す変形例であり、前述した実施
の形態の説明で理解し得るため、説明は省略する。この
変形例によれば、4ビーム以上のマルチビーム化を確保
しつつ光源装置1を小型化し得るとともに、半導体レー
ザアレイ21 からの光ビームの偏光特性(直線偏光)を
利用することで(具体的には、1/2波長板6とビーム
合成プリズム4に偏光ビームスプリッタ面とを用いるこ
とで)、ビーム合成時の光損失を非常に小さくできて光
の利用効率を高める効果がある。また、半導体レーザア
レイの個数が少ない分、走査線間隔の設定・調整もより
簡略化される。
イの個数mも任意であり、最低限2以上であればよい。
図10ないし図14はm=2、即ち、2個の半導体レー
ザアレイ21 ,22 を用いて光ビームの本数を2n本と
した場合の構成例等を示す変形例であり、前述した実施
の形態の説明で理解し得るため、説明は省略する。この
変形例によれば、4ビーム以上のマルチビーム化を確保
しつつ光源装置1を小型化し得るとともに、半導体レー
ザアレイ21 からの光ビームの偏光特性(直線偏光)を
利用することで(具体的には、1/2波長板6とビーム
合成プリズム4に偏光ビームスプリッタ面とを用いるこ
とで)、ビーム合成時の光損失を非常に小さくできて光
の利用効率を高める効果がある。また、半導体レーザア
レイの個数が少ない分、走査線間隔の設定・調整もより
簡略化される。
【0057】本発明の第二の実施の形態を図15に基づ
いて説明する。本実施の形態は、図10ないし図14に
示すm=2とする場合の光源装置51の構造例を示す。
まず、コリメートレンズ31 ,32 は同一の光学装置基
体52に光軸を平行にして紙面の上下方向に1列に設け
られ、各々n個の発光点を有する半導体レーザアレイ2
1 ,22 は各々の発光点配列方向y′が紙面表裏方向
(紙面に垂直な方向)となるように対応する支持体23
1 ,232 を介して光学装置基体52に配設される。一
方の半導体レーザアレイ21 はその発光点が概略コリメ
ートレンズ31 の光軸上に位置するように位置合わせさ
れて光学装置基体52に配設される。これに対し、半導
体レーザアレイ22 はコリメートレンズ32 の光軸に垂
直な面内で微調整が可能で、この微調整により、半導体
レーザアレイ22 の発光点位置とコリメートレンズ32
の光軸のずれとを調整することにより、合成された2n
本全ての光ビーム間に紙面と垂直な方向にθB なる所定
のビーム間角度が与えられている。
いて説明する。本実施の形態は、図10ないし図14に
示すm=2とする場合の光源装置51の構造例を示す。
まず、コリメートレンズ31 ,32 は同一の光学装置基
体52に光軸を平行にして紙面の上下方向に1列に設け
られ、各々n個の発光点を有する半導体レーザアレイ2
1 ,22 は各々の発光点配列方向y′が紙面表裏方向
(紙面に垂直な方向)となるように対応する支持体23
1 ,232 を介して光学装置基体52に配設される。一
方の半導体レーザアレイ21 はその発光点が概略コリメ
ートレンズ31 の光軸上に位置するように位置合わせさ
れて光学装置基体52に配設される。これに対し、半導
体レーザアレイ22 はコリメートレンズ32 の光軸に垂
直な面内で微調整が可能で、この微調整により、半導体
レーザアレイ22 の発光点位置とコリメートレンズ32
の光軸のずれとを調整することにより、合成された2n
本全ての光ビーム間に紙面と垂直な方向にθB なる所定
のビーム間角度が与えられている。
【0058】また、光学装置基体52の右側には保持体
53が設けられている。保持体53はビーム合成プリズ
ム4と1/2波長板6と1/4波長板7とを図示の如く
固定的に保持しており、光学装置基体52の右側に固定
される。従って、半導体レーザアレイ21 から出射され
たn本の光ビームはコリメートレンズ31 によって平行
光束化され、1/2波長板6により偏光方向を90°回
転され、偏光ビームスプリッタ面51 を透過し、1/4
波長板7により円偏光に変換され、平行光束として射出
される。一方、半導体レーザアレイ22 から出射された
n本の光ビームはコリメートレンズ32 により平行光束
化され、反射面52 と偏光ビームスプリッタ面51 とに
順次反射され、1/4波長板7により円偏光に変換さ
れ、平行光束として射出される。
53が設けられている。保持体53はビーム合成プリズ
ム4と1/2波長板6と1/4波長板7とを図示の如く
固定的に保持しており、光学装置基体52の右側に固定
される。従って、半導体レーザアレイ21 から出射され
たn本の光ビームはコリメートレンズ31 によって平行
光束化され、1/2波長板6により偏光方向を90°回
転され、偏光ビームスプリッタ面51 を透過し、1/4
波長板7により円偏光に変換され、平行光束として射出
される。一方、半導体レーザアレイ22 から出射された
n本の光ビームはコリメートレンズ32 により平行光束
化され、反射面52 と偏光ビームスプリッタ面51 とに
順次反射され、1/4波長板7により円偏光に変換さ
れ、平行光束として射出される。
【0059】本実施の形態の光源装置51の構成によれ
ば、m個(図示例は、m=2)の半導体レーザアレイと
コリメートレンズとの対が、同一の光学装置基体52上
に接近して1列に配設されるので、振動等の機械的な外
乱や光学装置基体52の温度変動に伴う伸縮が生じて
も、各光ビームの射出方向の相対的な変動が生じにく
く、経時的に安定して走査線間隔を維持できる。
ば、m個(図示例は、m=2)の半導体レーザアレイと
コリメートレンズとの対が、同一の光学装置基体52上
に接近して1列に配設されるので、振動等の機械的な外
乱や光学装置基体52の温度変動に伴う伸縮が生じて
も、各光ビームの射出方向の相対的な変動が生じにく
く、経時的に安定して走査線間隔を維持できる。
【0060】
【発明の効果】請求項1記載の発明によれば、各々n
(n≧2)個の発光点を有するm(m≧2)個の半導体
レーザアレイと、各半導体レーザアレイから発せられる
n本の光ビームを各々実質的な平行光束とするm個のコ
リメートレンズと、平行光束化されたmn本の光ビーム
を合成するビーム合成手段とを有する光源装置と、この
光源装置から射出されたmn本の光ビームを偏向走査さ
せる偏向手段と、前記光源装置から射出されたmn本の
光ビームを前記偏向手段を介して被走査面上に光スポッ
トとして結像させる結像光学系とを備えることで、n個
の発光点を有するm個の半導体レーザアレイを用いるよ
うにしたので、従来のビーム合成方式に比して、光源装
置を大型化せずにn倍のマルチビーム化を図ることがで
き、従来の半導体レーザアレイ方式に比してm倍のマル
チビーム化を図ることができ、マルチビーム化をより有
利な条件で実現することができる。
(n≧2)個の発光点を有するm(m≧2)個の半導体
レーザアレイと、各半導体レーザアレイから発せられる
n本の光ビームを各々実質的な平行光束とするm個のコ
リメートレンズと、平行光束化されたmn本の光ビーム
を合成するビーム合成手段とを有する光源装置と、この
光源装置から射出されたmn本の光ビームを偏向走査さ
せる偏向手段と、前記光源装置から射出されたmn本の
光ビームを前記偏向手段を介して被走査面上に光スポッ
トとして結像させる結像光学系とを備えることで、n個
の発光点を有するm個の半導体レーザアレイを用いるよ
うにしたので、従来のビーム合成方式に比して、光源装
置を大型化せずにn倍のマルチビーム化を図ることがで
き、従来の半導体レーザアレイ方式に比してm倍のマル
チビーム化を図ることができ、マルチビーム化をより有
利な条件で実現することができる。
【0061】請求項2記載の発明によれば、請求項1記
載のマルチビーム走査装置における光源装置が、発光点
配列方向が互いに平行となるようにm個の半導体レーザ
アレイを配設させるとともに、ビーム合成手段から射出
されるmn本の全ての光ビーム間が何れも発光点配列方
向においては所定のビーム間角度θB となり発光点配列
方向に直交する方向にはビーム間角度がほぼ0となるよ
うに設定して半導体レーザとコリメートレンズとビーム
合成手段とを実質的に一体化させてなり、発光点配列方
向を主走査方向に対して所定角度θR 傾けるように一体
化された光源装置を可動調整する傾き調整手段を備える
ことで、実質的にmn個の発光点を有する1個の半導体
レーザアレイを用いる場合と等価的な光学装置構成とし
たので、光源装置全体を主走査方向に対して所定角度だ
け傾けて配設させるだけで、mn本の光ビームを被走査
面上で所望の走査線間隔となるようにすることができ、
従って、半導体レーザアレイ毎の回転調整などが不要と
なり、調整を簡素化し得る上に、光学装置が実質的に一
体化されて構成されているので経時的にみても走査線間
隔の変動を抑制することができる。
載のマルチビーム走査装置における光源装置が、発光点
配列方向が互いに平行となるようにm個の半導体レーザ
アレイを配設させるとともに、ビーム合成手段から射出
されるmn本の全ての光ビーム間が何れも発光点配列方
向においては所定のビーム間角度θB となり発光点配列
方向に直交する方向にはビーム間角度がほぼ0となるよ
うに設定して半導体レーザとコリメートレンズとビーム
合成手段とを実質的に一体化させてなり、発光点配列方
向を主走査方向に対して所定角度θR 傾けるように一体
化された光源装置を可動調整する傾き調整手段を備える
ことで、実質的にmn個の発光点を有する1個の半導体
レーザアレイを用いる場合と等価的な光学装置構成とし
たので、光源装置全体を主走査方向に対して所定角度だ
け傾けて配設させるだけで、mn本の光ビームを被走査
面上で所望の走査線間隔となるようにすることができ、
従って、半導体レーザアレイ毎の回転調整などが不要と
なり、調整を簡素化し得る上に、光学装置が実質的に一
体化されて構成されているので経時的にみても走査線間
隔の変動を抑制することができる。
【0062】請求項3記載の発明によれば、請求項2記
載のマルチビーム走査装置において、半導体レーザアレ
イの発光点の間隔をp、コリメートレンズの焦点距離を
fcol 、結像光学系の副走査方向の焦点距離をfs 、被
走査面上での所望の走査線間隔をPs としたとき、 θB ・sinθR =tan~1(Ps /fs ) θB =tan~1(p/fcol ) を満足するように角度θB ,θR を設定することで、各
半導体レーザアレイが各々連続したn本の走査線を形成
し、m個の半導体レーザアレイで合計mn本の走査線を
形成するようにしたので、半導体レーザアレイ間或いは
コリメートレンズ間で相対位置変動が生じても、連続し
たn本の走査線間隔については変動しくにい特性を持た
せることができる。
載のマルチビーム走査装置において、半導体レーザアレ
イの発光点の間隔をp、コリメートレンズの焦点距離を
fcol 、結像光学系の副走査方向の焦点距離をfs 、被
走査面上での所望の走査線間隔をPs としたとき、 θB ・sinθR =tan~1(Ps /fs ) θB =tan~1(p/fcol ) を満足するように角度θB ,θR を設定することで、各
半導体レーザアレイが各々連続したn本の走査線を形成
し、m個の半導体レーザアレイで合計mn本の走査線を
形成するようにしたので、半導体レーザアレイ間或いは
コリメートレンズ間で相対位置変動が生じても、連続し
たn本の走査線間隔については変動しくにい特性を持た
せることができる。
【0063】請求項4記載の発明によれば、請求項2記
載のマルチビーム走査装置において、半導体レーザアレ
イの発光点の間隔をp、コリメートレンズの焦点距離を
fcol 、結像光学系の副走査方向の焦点距離をfs 、被
走査面上での所望の走査線間隔をPs としたとき、 θB ・sinθR =tan~1(Ps /fs ) θB =tan~1(p/m/fcol ) を満足するように角度θB ,θR を設定することで、各
半導体レーザアレイからの光ビームは各々(m−1)本
置きに走査線を形成し、その走査線隙間を他の半導体レ
ーザアレイからの光ビームが互いに埋め合うように走査
線を形成するようにしたので、主走査方向の光ビームの
全体の拡がりを約1/m、即ち、1個の半導体レーザア
レイ分に低減させることができ、用いる光学素子を極力
小型化することができる。
載のマルチビーム走査装置において、半導体レーザアレ
イの発光点の間隔をp、コリメートレンズの焦点距離を
fcol 、結像光学系の副走査方向の焦点距離をfs 、被
走査面上での所望の走査線間隔をPs としたとき、 θB ・sinθR =tan~1(Ps /fs ) θB =tan~1(p/m/fcol ) を満足するように角度θB ,θR を設定することで、各
半導体レーザアレイからの光ビームは各々(m−1)本
置きに走査線を形成し、その走査線隙間を他の半導体レ
ーザアレイからの光ビームが互いに埋め合うように走査
線を形成するようにしたので、主走査方向の光ビームの
全体の拡がりを約1/m、即ち、1個の半導体レーザア
レイ分に低減させることができ、用いる光学素子を極力
小型化することができる。
【0064】請求項5記載の発明によれば、請求項2記
載のマルチビーム走査装置において、m個のコリメート
レンズが互いの光軸を平行にして同一の光学装置基体内
に近接配設され、m個の半導体レーザアレイは各々の支
持体を介して前記光学装置基体に取り付けられ、各半導
体レーザアレイの発光点位置と対応するコリメートレン
ズの光軸との位置関係により、mn本全ての各光ビーム
間に所定ビーム間角度θB を設定するようにしたので、
コリメートレンズ間、及び、半導体レーザアレイ間の経
時的な相対位置ずれが起こりにくく、走査線間隔を安定
して維持することができる。
載のマルチビーム走査装置において、m個のコリメート
レンズが互いの光軸を平行にして同一の光学装置基体内
に近接配設され、m個の半導体レーザアレイは各々の支
持体を介して前記光学装置基体に取り付けられ、各半導
体レーザアレイの発光点位置と対応するコリメートレン
ズの光軸との位置関係により、mn本全ての各光ビーム
間に所定ビーム間角度θB を設定するようにしたので、
コリメートレンズ間、及び、半導体レーザアレイ間の経
時的な相対位置ずれが起こりにくく、走査線間隔を安定
して維持することができる。
【0065】請求項6記載の発明によれば、請求項2記
載のマルチビーム走査装置における傾き調整手段は、光
源装置から射出される光ビームの基準光軸を回転軸とし
て、一体化された前記光源装置を回動させることにより
発光点配列方向が主走査方向に対して所定の傾き角度θ
R となるように調整するようにしたので、走査線間隔が
ほぼ連続的に可変となり、また、回転角度と走査線間隔
とがほぼリニアな関係を保つので、正確で安定した走査
線間隔の調整が可能となり、同時に、走査線間隔が経時
的に変化したとしてもその場合の補正を容易なものとす
ることができ、さらには、アクチュエータ等を利用して
光学装置の回転駆動を行なわせることで、調整や補正の
自動化が可能になる上に、アクチュエータ等により意図
的に光学装置を所定量回動させることで走査線密度を切
り替えることも可能となる。
載のマルチビーム走査装置における傾き調整手段は、光
源装置から射出される光ビームの基準光軸を回転軸とし
て、一体化された前記光源装置を回動させることにより
発光点配列方向が主走査方向に対して所定の傾き角度θ
R となるように調整するようにしたので、走査線間隔が
ほぼ連続的に可変となり、また、回転角度と走査線間隔
とがほぼリニアな関係を保つので、正確で安定した走査
線間隔の調整が可能となり、同時に、走査線間隔が経時
的に変化したとしてもその場合の補正を容易なものとす
ることができ、さらには、アクチュエータ等を利用して
光学装置の回転駆動を行なわせることで、調整や補正の
自動化が可能になる上に、アクチュエータ等により意図
的に光学装置を所定量回動させることで走査線密度を切
り替えることも可能となる。
【0066】請求項7記載の発明によれば、請求項1,
2,3,4又は5記載のマルチビーム走査装置において
m=2である。即ち、用いる半導体レーザアレイを2個
としたので、小型の光源装置にして4ビーム以上のマル
チ化を図れるとともに、半導体レーザアレイから出射さ
れる光ビームの偏光特性を利用して光損失の少ない状態
で合成させることも可能となる。
2,3,4又は5記載のマルチビーム走査装置において
m=2である。即ち、用いる半導体レーザアレイを2個
としたので、小型の光源装置にして4ビーム以上のマル
チ化を図れるとともに、半導体レーザアレイから出射さ
れる光ビームの偏光特性を利用して光損失の少ない状態
で合成させることも可能となる。
【0067】請求項8記載の発明によれば、各々n(n
≧2)個の発光点を有するm(m≧2)個の半導体レー
ザアレイと、各半導体レーザアレイから発せられるn本
の光ビームを各々実質的な平行光束とするm個のコリメ
ートレンズと、平行光束化されたmn本の光ビームを合
成するビーム合成手段とを有し、発光点配列方向が互い
に平行となるようにm個の前記半導体レーザアレイを配
設させるとともに、前記ビーム合成手段から射出される
mn本の全ての光ビーム間が何れも発光点配列方向にお
いては所定のビーム間角度θB となり発光点配列方向に
直交する方向にはビーム間角度がほぼ0となるように設
定してこれらの半導体レーザとコリメートレンズとビー
ム合成手段とを実質的に一体化させることで、実質的に
mn個の発光点を有する1個の半導体レーザアレイを用
いる場合と等価的な構成としたので、全体を主走査方向
に対して所定角度だけ傾けて配設させるだけで、マルチ
ビーム走査装置に利用した場合にmn本の光ビームを被
走査面上で所望の走査線間隔となるようにすることがで
き、従って、半導体レーザアレイ毎の回転調整などが不
要となり、調整を簡素化し得る上に、実質的に一体化さ
れて構成されているので経時的にみても走査線間隔の変
動を抑制することができる。
≧2)個の発光点を有するm(m≧2)個の半導体レー
ザアレイと、各半導体レーザアレイから発せられるn本
の光ビームを各々実質的な平行光束とするm個のコリメ
ートレンズと、平行光束化されたmn本の光ビームを合
成するビーム合成手段とを有し、発光点配列方向が互い
に平行となるようにm個の前記半導体レーザアレイを配
設させるとともに、前記ビーム合成手段から射出される
mn本の全ての光ビーム間が何れも発光点配列方向にお
いては所定のビーム間角度θB となり発光点配列方向に
直交する方向にはビーム間角度がほぼ0となるように設
定してこれらの半導体レーザとコリメートレンズとビー
ム合成手段とを実質的に一体化させることで、実質的に
mn個の発光点を有する1個の半導体レーザアレイを用
いる場合と等価的な構成としたので、全体を主走査方向
に対して所定角度だけ傾けて配設させるだけで、マルチ
ビーム走査装置に利用した場合にmn本の光ビームを被
走査面上で所望の走査線間隔となるようにすることがで
き、従って、半導体レーザアレイ毎の回転調整などが不
要となり、調整を簡素化し得る上に、実質的に一体化さ
れて構成されているので経時的にみても走査線間隔の変
動を抑制することができる。
【図1】本発明の第一の実施の形態を示す基本的構成の
概略斜視図である。
概略斜視図である。
【図2】ビーム合成後のmn本のビームの各々の出射角
度を2次元表示して示す模式図である。
度を2次元表示して示す模式図である。
【図3】mn本の走査線形成例の2例を示す模式図であ
る。
る。
【図4】光学装置の構造例を示す分解斜視図である。
【図5】半導体レーザアレイの構造例を一部切欠いて示
す斜視図である。
す斜視図である。
【図6】角度を変えて示す半導体レーザアレイの外観斜
視図である。
視図である。
【図7】調整時の構成例を示す斜視図である。
【図8】調整時のビーム合成後のmn本のビームの各々
の出射角度を2次元表示して示す模式図である。
の出射角度を2次元表示して示す模式図である。
【図9】光学装置における基体の変形例を示す分解斜視
図である。
図である。
【図10】m=2の変形例を示す基本的構成の概略斜視
図である。
図である。
【図11】ビーム合成後の2n本のビームの各々の出射
角度を2次元表示して示す模式図である。
角度を2次元表示して示す模式図である。
【図12】2n本の走査線形成例の2例を示す模式図で
ある。
ある。
【図13】m=2の場合の光学装置の構造例を示す分解
斜視図である。
斜視図である。
【図14】m=2の場合の調整時の構成例を示す斜視図
である。
である。
【図15】本発明の第二の実施の形態を示す光学装置の
断面図である。
断面図である。
【図16】従来例を示す平面図である。
【図17】2n本のビーム角度の調整の不具合を説明す
るための斜視図である。
るための斜視図である。
【図18】ミラー可変方式を示す概略側面図である。
1 光源装置 21 〜2m 半導体レーザアレイ 31 〜3m コリメートレンズ 4 ビーム合成手段 8 被走査面 11 偏向手段 15 結像光学系 231 〜23m 支持体 41 傾き調整手段 51 光源装置 52 光源装置基体
Claims (8)
- 【請求項1】 各々n(n≧2)個の発光点を有するm
(m≧2)個の半導体レーザアレイと、各半導体レーザ
アレイから発せられるn本の光ビームを各々実質的な平
行光束とするm個のコリメートレンズと、平行光束化さ
れたmn本の光ビームを合成するビーム合成手段とを有
する光源装置と、 この光源装置から射出されたmn本の光ビームを偏向走
査させる偏向手段と、 前記光源装置から射出されたmn本の光ビームを前記偏
向手段を介して被走査面上に光スポットとして結像させ
る結像光学系と、を備えることを特徴とするマルチビー
ム走査装置。 - 【請求項2】 光源装置は、発光点配列方向が互いに平
行となるようにm個の半導体レーザアレイを配設させる
とともに、ビーム合成手段から射出されるmn本の全て
の光ビーム間が何れも発光点配列方向においては所定の
ビーム間角度θB となり発光点配列方向に直交する方向
にはビーム間角度がほぼ0となるように設定して半導体
レーザとコリメートレンズとビーム合成手段とを実質的
に一体化させてなり、 発光点配列方向を主走査方向に対して所定角度θR 傾け
るように一体化された前記光源装置を可動調整する傾き
調整手段を備えることを特徴とする請求項1記載のマル
チビーム走査装置。 - 【請求項3】 半導体レーザアレイの発光点の間隔を
p、コリメートレンズの焦点距離をfcol 、結像光学系
の副走査方向の焦点距離をfs 、被走査面上での所望の
走査線間隔をPs としたとき、 θB ・sinθR =tan~1(Ps /fs ) θB =tan~1(p/fcol ) を満足するように角度θB ,θR を設定することを特徴
とする請求項2記載のマルチビーム走査装置。 - 【請求項4】 半導体レーザアレイの発光点の間隔を
p、コリメートレンズの焦点距離をfcol 、結像光学系
の副走査方向の焦点距離をfs 、被走査面上での所望の
走査線間隔をPs としたとき、 θB ・sinθR =tan~1(Ps /fs ) θB =tan~1(p/m/fcol ) を満足するように角度θB ,θR を設定することを特徴
とする請求項2記載のマルチビーム走査装置。 - 【請求項5】 m個のコリメートレンズが互いの光軸を
平行にして同一の光学装置基体内に近接配設され、m個
の半導体レーザアレイは各々の支持体を介して前記光学
装置基体に取り付けられ、各半導体レーザアレイの発光
点位置と対応するコリメートレンズの光軸との位置関係
により、mn本全ての各光ビーム間に所定ビーム間角度
θB を設定することを特徴とする請求項2記載のマルチ
ビーム走査装置。 - 【請求項6】 傾き調整手段は、光源装置から射出され
る光ビームの基準光軸を回転軸として、一体化された前
記光源装置を回動させることにより発光点配列方向が主
走査方向に対して所定の傾き角度θR となるように調整
することを特徴とする請求項2記載のマルチビーム走査
装置。 - 【請求項7】 m=2であることを特徴とする請求項
1,2,3,4又は5記載のマルチビーム走査装置。 - 【請求項8】 各々n(n≧2)個の発光点を有するm
(m≧2)個の半導体レーザアレイと、各半導体レーザ
アレイから発せられるn本の光ビームを各々実質的な平
行光束とするm個のコリメートレンズと、平行光束化さ
れたmn本の光ビームを合成するビーム合成手段とを有
し、発光点配列方向が互いに平行となるようにm個の前
記半導体レーザアレイを配設させるとともに、前記ビー
ム合成手段から射出されるmn本の全ての光ビーム間が
何れも発光点配列方向においては所定のビーム間角度θ
B となり発光点配列方向に直交する方向にはビーム間角
度がほぼ0となるように設定してこれらの半導体レーザ
とコリメートレンズとビーム合成手段とを実質的に一体
化させてなることを特徴とする光源装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9244903A JPH1184283A (ja) | 1997-09-10 | 1997-09-10 | マルチビーム走査装置及び光源装置 |
| US09/151,029 US6133566A (en) | 1997-09-10 | 1998-09-10 | Multiple beam scanning apparatus and light source unit therefor |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9244903A JPH1184283A (ja) | 1997-09-10 | 1997-09-10 | マルチビーム走査装置及び光源装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1184283A true JPH1184283A (ja) | 1999-03-26 |
Family
ID=17125690
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9244903A Pending JPH1184283A (ja) | 1997-09-10 | 1997-09-10 | マルチビーム走査装置及び光源装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6133566A (ja) |
| JP (1) | JPH1184283A (ja) |
Cited By (4)
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|---|---|---|---|---|
| US6930812B2 (en) | 2001-09-27 | 2005-08-16 | Canon Kabushiki Kaisha | Multi-beam light scanning optical system and image forming apparatus using same |
| JP2009092928A (ja) * | 2007-10-09 | 2009-04-30 | Konica Minolta Business Technologies Inc | 光源装置及びこれを備えた光走査装置 |
| JP2010117393A (ja) * | 2008-11-11 | 2010-05-27 | Konica Minolta Business Technologies Inc | レーザ走査光学装置 |
| WO2023143010A1 (zh) * | 2022-01-26 | 2023-08-03 | 华为技术有限公司 | 激光扫描单元和激光打印机 |
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| JP2002189182A (ja) * | 1999-11-30 | 2002-07-05 | Ricoh Co Ltd | マルチビーム光源装置 |
| KR100396192B1 (ko) * | 2000-03-17 | 2003-08-27 | 히타치 프린팅 솔루션즈 가부시키가이샤 | 광주사장치 |
| US6792811B2 (en) * | 2002-03-04 | 2004-09-21 | The Regents Of The University Of Michigan | Method and system for measuring vibration of an object |
| US6671107B2 (en) | 2002-04-18 | 2003-12-30 | Lexmark International, Inc. | Mounting of pre-scan optics for a laser scanning device |
| JP4229637B2 (ja) * | 2002-06-06 | 2009-02-25 | フジノン株式会社 | 光源装置および光走査装置 |
| JP2005027109A (ja) * | 2003-07-03 | 2005-01-27 | Ricoh Co Ltd | カラー画像形成装置およびカラー画像形成方法 |
| JP4822668B2 (ja) * | 2004-02-03 | 2011-11-24 | 株式会社東芝 | マルチビーム光走査装置 |
| JP5095946B2 (ja) * | 2005-02-18 | 2012-12-12 | ハイデルベルガー ドルツクマシーネン アクチエンゲゼルシヤフト | 少なくとも1つのレーザダイオードバーを備える版の画像付け装置 |
| US20060270975A1 (en) * | 2005-05-31 | 2006-11-30 | Prorhythm, Inc. | Steerable catheter |
| CN101676112B (zh) * | 2008-09-17 | 2013-03-06 | 株式会社理光 | 光学扫描装置 |
| US20100295919A1 (en) * | 2009-05-21 | 2010-11-25 | Palo Alto Research Center Incorporated | Multiple Integrated Multi-Beam Laser Scanning System |
| KR101696090B1 (ko) * | 2015-08-12 | 2017-01-24 | 주식회사 포스코 | 강판 채색장치 및 채색방법 |
| CN112684464B (zh) | 2020-01-07 | 2024-06-21 | 光为科技(广州)有限公司 | 用于投射激光线的设备及方法、光探测测距设备 |
| US11909169B2 (en) * | 2020-01-07 | 2024-02-20 | Liturex (Guangzhou) Co. Ltd. | Apparatus for projecting linear laser beams |
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|---|---|---|---|---|
| US5005928A (en) * | 1988-07-15 | 1991-04-09 | Ricoh Company, Ltd. | Optical scanning system |
| JP2598473B2 (ja) * | 1988-08-01 | 1997-04-09 | 株式会社リコー | 走査光学系 |
| US5155616A (en) * | 1989-07-20 | 1992-10-13 | Ricoh Company, Ltd. | Scanning optical system |
| US5233455A (en) * | 1989-07-20 | 1993-08-03 | Ricoh Company, Ltd. | Scanning optical system |
| JP3193546B2 (ja) * | 1993-01-14 | 2001-07-30 | 旭光学工業株式会社 | 反射型走査光学系 |
-
1997
- 1997-09-10 JP JP9244903A patent/JPH1184283A/ja active Pending
-
1998
- 1998-09-10 US US09/151,029 patent/US6133566A/en not_active Expired - Fee Related
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