JPH1189825A - 放射線照射・検出装置および放射線断層撮影装置 - Google Patents
放射線照射・検出装置および放射線断層撮影装置Info
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- JPH1189825A JPH1189825A JP9260043A JP26004397A JPH1189825A JP H1189825 A JPH1189825 A JP H1189825A JP 9260043 A JP9260043 A JP 9260043A JP 26004397 A JP26004397 A JP 26004397A JP H1189825 A JPH1189825 A JP H1189825A
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- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims abstract description 142
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 title claims abstract description 20
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 136
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 22
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 16
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 13
- 238000003325 tomography Methods 0.000 description 6
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 description 5
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 230000012447 hatching Effects 0.000 description 1
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 1
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 description 1
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- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 照射位置検出のための予備測定が不要な放射
線照射・検出装置およびそのような放射線照射・検出装
置を備えた放射線断層撮影装置を実現する。 【解決手段】 放射線検出素子アレイ24における放射
線ビーム40の照射位置検出用に、放射線検出素子アレ
イの厚みの中心292に関し互いに反対側にそれぞれ放
射線受光面250,270を有する偶数個の放射線検出
素子242,244を設けるようにした。
線照射・検出装置およびそのような放射線照射・検出装
置を備えた放射線断層撮影装置を実現する。 【解決手段】 放射線検出素子アレイ24における放射
線ビーム40の照射位置検出用に、放射線検出素子アレ
イの厚みの中心292に関し互いに反対側にそれぞれ放
射線受光面250,270を有する偶数個の放射線検出
素子242,244を設けるようにした。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、放射線照射・検出
装置および放射線断層撮影装置に関し、特に、幅と厚み
を持つ放射線ビームを照射し、この放射線ビームを放射
線検出素子アレイで受ける放射線照射・検出装置、およ
びそのような放射線照射・検出装置を備えた放射線断層
撮影装置に関する。
装置および放射線断層撮影装置に関し、特に、幅と厚み
を持つ放射線ビームを照射し、この放射線ビームを放射
線検出素子アレイで受ける放射線照射・検出装置、およ
びそのような放射線照射・検出装置を備えた放射線断層
撮影装置に関する。
【0002】
【従来の技術】放射線断層撮影装置の一例として、例え
ば、X線CT(computed tomography)装置がある。X線
CT装置においては、放射線としてはX線が利用され
る。そして、放射線照射・検出系、すなわちX線照射・
検出系を被検体の周りで回転(スキャン(scan))させ
て、被検体の周囲の複数のビュー(view)方向でそれぞれ
X線による被検体の投影データ(data)を測定し、それら
投影データに基づいて断層像を生成(再構成)するよう
になっている。
ば、X線CT(computed tomography)装置がある。X線
CT装置においては、放射線としてはX線が利用され
る。そして、放射線照射・検出系、すなわちX線照射・
検出系を被検体の周りで回転(スキャン(scan))させ
て、被検体の周囲の複数のビュー(view)方向でそれぞれ
X線による被検体の投影データ(data)を測定し、それら
投影データに基づいて断層像を生成(再構成)するよう
になっている。
【0003】X線照射装置は、撮影範囲を包含する幅を
持ちそれに垂直な方向に所定の厚みを持つX線ビーム(b
eam)を照射する。X線検出装置は、X線ビームの幅の方
向に多数のX線検出素子をアレイ(array) 状に配列した
多チャンネル(channel) のX線検出器によってX線を検
出する。
持ちそれに垂直な方向に所定の厚みを持つX線ビーム(b
eam)を照射する。X線検出装置は、X線ビームの幅の方
向に多数のX線検出素子をアレイ(array) 状に配列した
多チャンネル(channel) のX線検出器によってX線を検
出する。
【0004】X線検出器は、X線ビームの幅の方向に、
X線ビームの幅に相当する寸法(幅)を有する。また、
X線ビームの厚みの方向に、X線ビームの厚みよりも大
きな寸法(厚み)を有する。
X線ビームの幅に相当する寸法(幅)を有する。また、
X線ビームの厚みの方向に、X線ビームの厚みよりも大
きな寸法(厚み)を有する。
【0005】X線ビームの厚みは、断層撮影のスライス
(slice) 厚を決定する。スライス厚は、撮影の目的に合
わせて適宜の値に調節される。スライス厚の調節には、
X線ビームの厚みを調節するコリメータ(collimeter)が
用いられる。コリメータは、また、X線検出器における
X線ビームの厚み方向における照射位置をも制御する。
これによって、例えば、X線ビームが常にX線検出器の
厚み方向の中央に入射するように制御し、個々のX線検
出素子の予め較正された既知の感度でのX線検出が行え
るようしている。
(slice) 厚を決定する。スライス厚は、撮影の目的に合
わせて適宜の値に調節される。スライス厚の調節には、
X線ビームの厚みを調節するコリメータ(collimeter)が
用いられる。コリメータは、また、X線検出器における
X線ビームの厚み方向における照射位置をも制御する。
これによって、例えば、X線ビームが常にX線検出器の
厚み方向の中央に入射するように制御し、個々のX線検
出素子の予め較正された既知の感度でのX線検出が行え
るようしている。
【0006】X線検出器に対するX線ビームの照射位置
を制御するためには、X線検出器における厚み方向のX
線ビームの照射位置を検出する必要がある。そのため
に、図11に示すように、X線検出器90の端部に、照
射位置検出用のX線検出素子92〜96が設けられる。
を制御するためには、X線検出器における厚み方向のX
線ビームの照射位置を検出する必要がある。そのため
に、図11に示すように、X線検出器90の端部に、照
射位置検出用のX線検出素子92〜96が設けられる。
【0007】X線検出素子92〜96は、それらのX線
入射面920〜960の合成として与えられるX線入射
面の幅が、矢印98の方向すなわちX線ビーム100の
厚みの方向での距離に応じて次第に変化するようになっ
ている。
入射面920〜960の合成として与えられるX線入射
面の幅が、矢印98の方向すなわちX線ビーム100の
厚みの方向での距離に応じて次第に変化するようになっ
ている。
【0008】このようなX線検出素子92〜96は、X
線検出器90の端部において、X線検出素子92から9
6にかけて、X線入射面をX線遮蔽板970で対角的に
半分覆うことによって構成される。
線検出器90の端部において、X線検出素子92から9
6にかけて、X線入射面をX線遮蔽板970で対角的に
半分覆うことによって構成される。
【0009】X線検出素子92〜96がこのようなX線
入射面920〜960を有することにより、X線ビーム
100がその厚みの方向で変位すると、それに応じてX
線検出素子92〜96のX線検出信号の和が変化する。
したがって、X線検出素子92〜96のX線検出信号の
和の値に基づいて、X線検出器90におけるX線ビーム
100の厚み方向の照射位置を知ることができる。
入射面920〜960を有することにより、X線ビーム
100がその厚みの方向で変位すると、それに応じてX
線検出素子92〜96のX線検出信号の和が変化する。
したがって、X線検出素子92〜96のX線検出信号の
和の値に基づいて、X線検出器90におけるX線ビーム
100の厚み方向の照射位置を知ることができる。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】上記のような構成でX
線検出器における厚み方向のX線照射位置を検出するた
めには、予め、X線検出器における厚み方向のX線照射
位置とX線検出信号との関係を求めておかなければなら
ない。すなわち、X線検出器90におけるX線ビーム1
00の厚み方向の照射位置を何らかの方法で測定し、各
照射位置ごとにX線検出素子92〜96のX線検出信号
の和を測定し、両測定値の関係を求める必要がある。
線検出器における厚み方向のX線照射位置を検出するた
めには、予め、X線検出器における厚み方向のX線照射
位置とX線検出信号との関係を求めておかなければなら
ない。すなわち、X線検出器90におけるX線ビーム1
00の厚み方向の照射位置を何らかの方法で測定し、各
照射位置ごとにX線検出素子92〜96のX線検出信号
の和を測定し、両測定値の関係を求める必要がある。
【0011】特に、照射位置検出信号に基づいて、X線
ビーム100の照射位置がX線検出器90の厚み方向の
中央となるように制御するためには、予め、X線ビーム
100がX線検出器90の厚み方向の中央に照射したと
きのX線検出信号の値を正しく求めておく必要がある。
ビーム100の照射位置がX線検出器90の厚み方向の
中央となるように制御するためには、予め、X線ビーム
100がX線検出器90の厚み方向の中央に照射したと
きのX線検出信号の値を正しく求めておく必要がある。
【0012】その場合、照射位置が同一でもX線ビーム
100の厚みによってX線検出信号の値が異なるので、
X線ビーム100の厚みが可変なX線CT装置では、X
線ビーム100の厚みを変えてそれぞれX線検出信号を
求めることが必要になる。
100の厚みによってX線検出信号の値が異なるので、
X線ビーム100の厚みが可変なX線CT装置では、X
線ビーム100の厚みを変えてそれぞれX線検出信号を
求めることが必要になる。
【0013】X線ビームの照射位置は、X線検出素子9
2〜96の近傍に感光フィルムを取り付け、それに感光
したX線ビーム像の位置から求めるようにしているが、
この方法はフィルムの現像等を必要とするので作業性が
悪く、特に、上記のように照射位置とX線検出信号との
関係をX線ビーム100の複数の厚みごとに逐一求める
場合は、作業の能率が大幅に低下する。
2〜96の近傍に感光フィルムを取り付け、それに感光
したX線ビーム像の位置から求めるようにしているが、
この方法はフィルムの現像等を必要とするので作業性が
悪く、特に、上記のように照射位置とX線検出信号との
関係をX線ビーム100の複数の厚みごとに逐一求める
場合は、作業の能率が大幅に低下する。
【0014】本発明は上記の問題点を解決するためにな
されたもので、その目的は、照射位置検出のための予備
測定が不要な放射線照射・検出装置およびそのような放
射線照射・検出装置を備えた放射線断層撮影装置を実現
することである。
されたもので、その目的は、照射位置検出のための予備
測定が不要な放射線照射・検出装置およびそのような放
射線照射・検出装置を備えた放射線断層撮影装置を実現
することである。
【0015】
(1)上記の課題を解決する第1の発明は、照射方向に
垂直でかつ互いに垂直な2つの方向の一方では相対的に
大きな寸法の幅を持ち他方では相対的に小さな寸法の厚
みを持つ放射線ビームを照射する放射線照射手段と、前
記放射線ビームの厚みの方向において前記放射線ビーム
の厚みよりも大きな寸法を持つ放射線検出素子が前記放
射線ビームの幅の方向に複数個配列され前記放射線ビー
ムの照射を受ける放射線検出素子アレイと、前記放射線
検出素子アレイの少なくとも一端部に設けられ、前記放
射線ビームの厚みの方向における前記放射線検出素子ア
レイの中心に関し半数ずつが互いに反対側にそれぞれ放
射線受光面を有する偶数個の放射線検出素子と、前記偶
数個の放射線検出素子の放射線検出信号に基づいて、前
記放射線検出素子アレイにおける前記放射線ビームの照
射位置を示す照射位置信号を生じる照射位置検出手段
と、を具備することを特徴とする。
垂直でかつ互いに垂直な2つの方向の一方では相対的に
大きな寸法の幅を持ち他方では相対的に小さな寸法の厚
みを持つ放射線ビームを照射する放射線照射手段と、前
記放射線ビームの厚みの方向において前記放射線ビーム
の厚みよりも大きな寸法を持つ放射線検出素子が前記放
射線ビームの幅の方向に複数個配列され前記放射線ビー
ムの照射を受ける放射線検出素子アレイと、前記放射線
検出素子アレイの少なくとも一端部に設けられ、前記放
射線ビームの厚みの方向における前記放射線検出素子ア
レイの中心に関し半数ずつが互いに反対側にそれぞれ放
射線受光面を有する偶数個の放射線検出素子と、前記偶
数個の放射線検出素子の放射線検出信号に基づいて、前
記放射線検出素子アレイにおける前記放射線ビームの照
射位置を示す照射位置信号を生じる照射位置検出手段
と、を具備することを特徴とする。
【0016】第1の発明において、前記照射位置信号に
基づいて、前記放射線検出素子アレイにおける前記放射
線ビームの照射位置を制御する制御手段を備えること
が、放射線検出素子アレイにおける放射線ビームの照射
位置を適正化する点で好ましい。
基づいて、前記放射線検出素子アレイにおける前記放射
線ビームの照射位置を制御する制御手段を備えること
が、放射線検出素子アレイにおける放射線ビームの照射
位置を適正化する点で好ましい。
【0017】(2)上記の課題を解決する第2の発明
は、照射方向に垂直でかつ互いに垂直な2つの方向の一
方では相対的に大きな寸法の幅を持ち他方では相対的に
小さな寸法の厚みを持つ放射線ビームを照射する放射線
照射手段と、前記放射線ビームの厚みの方向において前
記放射線ビームの厚みよりも大きな寸法を持つ放射線検
出素子が前記放射線ビームの幅の方向に複数個配列され
前記放射線ビームの照射を受ける放射線検出素子アレイ
と、前記放射線検出素子アレイの少なくとも一端部に設
けられ、前記放射線ビームの厚みの方向における前記放
射線検出素子アレイの中心に関し半数ずつが互いに反対
側にそれぞれ放射線受光面を有する偶数個の放射線検出
素子と、前記偶数個の放射線検出素子の放射線検出信号
に基づいて、前記放射線検出素子アレイにおける前記放
射線ビームの照射位置を示す照射位置信号を生じる照射
位置検出手段と、前記照射位置信号に基づいて、前記放
射線検出素子アレイにおける前記放射線ビームの照射位
置を制御する制御手段と、前記放射線検出素子アレイに
よる複数ビューの放射線検出信号に基づいて前記放射線
ビームの通過領域についての断層像を生成する断層像生
成手段と、を具備することを特徴とする。
は、照射方向に垂直でかつ互いに垂直な2つの方向の一
方では相対的に大きな寸法の幅を持ち他方では相対的に
小さな寸法の厚みを持つ放射線ビームを照射する放射線
照射手段と、前記放射線ビームの厚みの方向において前
記放射線ビームの厚みよりも大きな寸法を持つ放射線検
出素子が前記放射線ビームの幅の方向に複数個配列され
前記放射線ビームの照射を受ける放射線検出素子アレイ
と、前記放射線検出素子アレイの少なくとも一端部に設
けられ、前記放射線ビームの厚みの方向における前記放
射線検出素子アレイの中心に関し半数ずつが互いに反対
側にそれぞれ放射線受光面を有する偶数個の放射線検出
素子と、前記偶数個の放射線検出素子の放射線検出信号
に基づいて、前記放射線検出素子アレイにおける前記放
射線ビームの照射位置を示す照射位置信号を生じる照射
位置検出手段と、前記照射位置信号に基づいて、前記放
射線検出素子アレイにおける前記放射線ビームの照射位
置を制御する制御手段と、前記放射線検出素子アレイに
よる複数ビューの放射線検出信号に基づいて前記放射線
ビームの通過領域についての断層像を生成する断層像生
成手段と、を具備することを特徴とする。
【0018】第1の発明または第2の発明において、前
記偶数個の放射線検出素子は前記放射線検出素子アレイ
の両端部に設けられたものであることが、放射線検出素
子アレイにおける放射線照射位置をより適切に検出する
点で好ましい。
記偶数個の放射線検出素子は前記放射線検出素子アレイ
の両端部に設けられたものであることが、放射線検出素
子アレイにおける放射線照射位置をより適切に検出する
点で好ましい。
【0019】また、第1の発明または第2の発明におい
て、前記偶数個の放射線検出素子の放射線検出信号の和
に基づいて、前記放射線の強度を示す信号を生じる放射
線強度検出手段を備えることが、放射線検出信号のレフ
ァレンスを得る点で好ましい。
て、前記偶数個の放射線検出素子の放射線検出信号の和
に基づいて、前記放射線の強度を示す信号を生じる放射
線強度検出手段を備えることが、放射線検出信号のレフ
ァレンスを得る点で好ましい。
【0020】また、第1の発明または第2の発明におい
て、前記偶数個の放射線検出素子が、前記放射線検出素
子アレイ中の放射線検出素子であって、前記放射線ビー
ムの厚みの方向における前記放射線検出素子アレイの中
心に関し互いに反対側の放射線入射面が放射線遮蔽部材
で遮蔽されたものであることが、放射線検出素子アレイ
中の放射線検出素子を利用する点で好ましい。
て、前記偶数個の放射線検出素子が、前記放射線検出素
子アレイ中の放射線検出素子であって、前記放射線ビー
ムの厚みの方向における前記放射線検出素子アレイの中
心に関し互いに反対側の放射線入射面が放射線遮蔽部材
で遮蔽されたものであることが、放射線検出素子アレイ
中の放射線検出素子を利用する点で好ましい。
【0021】また、第1の発明または第2の発明におい
て、前記放射線がX線であることが、その発生、検出お
よび制御等に関し実用的な手段が最も充実している点で
好ましい。
て、前記放射線がX線であることが、その発生、検出お
よび制御等に関し実用的な手段が最も充実している点で
好ましい。
【0022】(作用)第1の発明または第2の発明で
は、偶数個の放射線検出素子の放射線受光面が、放射線
ビームの厚みの方向における放射線検出素子アレイの中
心に関し半数ずつ互いに反対側にあるので、反対側同士
では放射線検出信号が厚み方向における放射線ビームの
位置に応じて差動的に変化する。
は、偶数個の放射線検出素子の放射線受光面が、放射線
ビームの厚みの方向における放射線検出素子アレイの中
心に関し半数ずつ互いに反対側にあるので、反対側同士
では放射線検出信号が厚み方向における放射線ビームの
位置に応じて差動的に変化する。
【0023】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態を詳細に説明する。なお、本発明は実施の形態
に限定されるものではない。
施の形態を詳細に説明する。なお、本発明は実施の形態
に限定されるものではない。
【0024】図1にX線CT装置のブロック(block) 図
を示す。本装置は本発明の実施の形態の一例である。図
1に示すように、本装置は、走査ガントリ(gantry)2
と、撮影テーブル4と、操作コンソール(console) 6を
備えている。
を示す。本装置は本発明の実施の形態の一例である。図
1に示すように、本装置は、走査ガントリ(gantry)2
と、撮影テーブル4と、操作コンソール(console) 6を
備えている。
【0025】走査ガントリ2は、放射線源としてのX線
管20を有する。X線管20から放射された図示しない
X線は、コリメータ22により例えば扇状のX線ビーム
となるように成形され、検出器アレイ24に照射される
ようになっている。X線管20とコリメータ22は、本
発明における放射線照射手段の実施の形態の一例であ
る。
管20を有する。X線管20から放射された図示しない
X線は、コリメータ22により例えば扇状のX線ビーム
となるように成形され、検出器アレイ24に照射される
ようになっている。X線管20とコリメータ22は、本
発明における放射線照射手段の実施の形態の一例であ
る。
【0026】検出器アレイ24は、本発明における放射
線検出素子アレイの実施の形態の一例である。検出器ア
レイ24は、扇状のX線ビームの幅の方向にアレイ状に
配列された複数のX線検出素子を有する。検出器アレイ
24の構成については後にあらためて説明する。
線検出素子アレイの実施の形態の一例である。検出器ア
レイ24は、扇状のX線ビームの幅の方向にアレイ状に
配列された複数のX線検出素子を有する。検出器アレイ
24の構成については後にあらためて説明する。
【0027】X線管20、コリメータ22および検出器
アレイ24は、X線照射・検出系を構成する。X線照射
・検出系の構成については後にあらためて説明する。検
出器アレイ24にはデータ収集部26が接続されてい
る。データ収集部26は検出器アレイ24の個々のX線
検出素子の検出データを収集するようになっている。
アレイ24は、X線照射・検出系を構成する。X線照射
・検出系の構成については後にあらためて説明する。検
出器アレイ24にはデータ収集部26が接続されてい
る。データ収集部26は検出器アレイ24の個々のX線
検出素子の検出データを収集するようになっている。
【0028】X線管20からのX線の照射は、X線コン
トローラ(controller)28によって制御されるようにな
っている。なお、X線管20とX線コントローラ28と
の接続関係については図示を省略する。
トローラ(controller)28によって制御されるようにな
っている。なお、X線管20とX線コントローラ28と
の接続関係については図示を省略する。
【0029】コリメータ22は、コリメータコントロー
ラ30によって制御されるようになっている。なお、コ
リメータ22とコリメータコントローラ30との接続関
係については図示を省略する。
ラ30によって制御されるようになっている。なお、コ
リメータ22とコリメータコントローラ30との接続関
係については図示を省略する。
【0030】以上のX線管20乃至コリメータコントロ
ーラ30が、走査ガントリ2の回転部32に搭載されて
いる。回転部32の回転は、回転コントローラ34によ
って制御されるようになっている。なお、回転部32と
回転コントローラ34との接続関係については図示を省
略する。
ーラ30が、走査ガントリ2の回転部32に搭載されて
いる。回転部32の回転は、回転コントローラ34によ
って制御されるようになっている。なお、回転部32と
回転コントローラ34との接続関係については図示を省
略する。
【0031】撮影テーブル4は、図示しない被検体を走
査ガントリ2のX線照射空間に搬入および搬出するよう
になっている。被検体とX線照射空間との関係について
は後にあらためて説明する。
査ガントリ2のX線照射空間に搬入および搬出するよう
になっている。被検体とX線照射空間との関係について
は後にあらためて説明する。
【0032】操作コンソール6は、中央処理装置60を
有している。中央処理装置60は、例えばコンピュータ
(computer)等によって構成される。中央処理装置60に
は、制御インタフェース(interface) 62が接続されて
いる。制御インタフェース62には、走査ガントリ2と
撮影テーブル4が接続されている。
有している。中央処理装置60は、例えばコンピュータ
(computer)等によって構成される。中央処理装置60に
は、制御インタフェース(interface) 62が接続されて
いる。制御インタフェース62には、走査ガントリ2と
撮影テーブル4が接続されている。
【0033】中央処理装置60は制御インタフェース6
2を通じて走査ガントリ2および撮影テーブル4を制御
するようになっている。走査ガントリ2内のデータ収集
部26、X線コントローラ28、コリメータコントロー
ラ30および回転コントローラ34が制御インタフェー
ス62によって制御される。なお、それら各部と制御イ
ンタフェース62との個別の接続については図示を省略
する。中央処理装置60、制御インタフェース62、コ
リメータコントローラ30およびコリメータ22は、本
発明における制御手段の実施の形態の一例である。
2を通じて走査ガントリ2および撮影テーブル4を制御
するようになっている。走査ガントリ2内のデータ収集
部26、X線コントローラ28、コリメータコントロー
ラ30および回転コントローラ34が制御インタフェー
ス62によって制御される。なお、それら各部と制御イ
ンタフェース62との個別の接続については図示を省略
する。中央処理装置60、制御インタフェース62、コ
リメータコントローラ30およびコリメータ22は、本
発明における制御手段の実施の形態の一例である。
【0034】中央処理装置60には、また、データ収集
バッファ64が接続されている。データ収集バッファ6
4には、走査ガントリ2のデータ収集部26が接続され
ている。データ収集部26で収集されたデータがデータ
収集バッファ64に入力される。データ収集バッファ6
4は、入力データを一時的に記憶する。
バッファ64が接続されている。データ収集バッファ6
4には、走査ガントリ2のデータ収集部26が接続され
ている。データ収集部26で収集されたデータがデータ
収集バッファ64に入力される。データ収集バッファ6
4は、入力データを一時的に記憶する。
【0035】中央処理装置60には、また、記憶装置6
6が接続されている。記憶装置66は、各種のデータや
再構成画像およびプログラム(program) 等を記憶する。
中央処理装置60には、また、表示装置68と操作装置
70がそれぞれ接続されている。表示装置68は、中央
処理装置60から出力される再構成画像やその他の情報
を表示するようになっている。操作装置70は、操作者
によって操作され、各種の指示や情報等を中央処理装置
60に入力するようになっている。
6が接続されている。記憶装置66は、各種のデータや
再構成画像およびプログラム(program) 等を記憶する。
中央処理装置60には、また、表示装置68と操作装置
70がそれぞれ接続されている。表示装置68は、中央
処理装置60から出力される再構成画像やその他の情報
を表示するようになっている。操作装置70は、操作者
によって操作され、各種の指示や情報等を中央処理装置
60に入力するようになっている。
【0036】図2に、検出器アレイ24の模式的構成を
示す。検出器アレイ24は、多数(例えば1000個)
のX線検出素子24(i)を円弧状に配列した多チャン
ネルのX線検出器を形成している。iはチャンネル番号
であり例えばi=1〜1000である。X線検出素子2
4(i)は、本発明における放射線検出素子の実施の形
態の一例である。
示す。検出器アレイ24は、多数(例えば1000個)
のX線検出素子24(i)を円弧状に配列した多チャン
ネルのX線検出器を形成している。iはチャンネル番号
であり例えばi=1〜1000である。X線検出素子2
4(i)は、本発明における放射線検出素子の実施の形
態の一例である。
【0037】図3に、X線照射・検出系におけるX線管
20とコリメータ22と検出器アレイ24の相互関係を
示す。なお、図3の(a)は正面図、(b)は側面図で
ある。同図に示すように、X線管20から放射されたX
線は、コリメータ22により扇状のX線ビーム40とな
るように成形され、検出器アレイ24に照射されるよう
になっている。図3の(a)においては、扇状のX線ビ
ーム40の広がりすなわちX線ビーム40の幅を示して
いる。図3の(b)では、X線ビーム40の厚みを示し
ている。
20とコリメータ22と検出器アレイ24の相互関係を
示す。なお、図3の(a)は正面図、(b)は側面図で
ある。同図に示すように、X線管20から放射されたX
線は、コリメータ22により扇状のX線ビーム40とな
るように成形され、検出器アレイ24に照射されるよう
になっている。図3の(a)においては、扇状のX線ビ
ーム40の広がりすなわちX線ビーム40の幅を示して
いる。図3の(b)では、X線ビーム40の厚みを示し
ている。
【0038】このようなX線ビーム40の扇面に体軸を
交叉させて、例えば図4に示すように、撮影テーブル4
に載置された被検体8がX線照射空間に搬入される。X
線ビーム40によってスライスされた被検体8の投影像
が検出器アレイ24に投影される。被検体8のアイソセ
ンタ(isocenter) におけるX線ビーム40の厚みが、被
検体8のスライス厚thを与える。スライス厚thは、
コリメータ22のX線通過開口によって定まる。
交叉させて、例えば図4に示すように、撮影テーブル4
に載置された被検体8がX線照射空間に搬入される。X
線ビーム40によってスライスされた被検体8の投影像
が検出器アレイ24に投影される。被検体8のアイソセ
ンタ(isocenter) におけるX線ビーム40の厚みが、被
検体8のスライス厚thを与える。スライス厚thは、
コリメータ22のX線通過開口によって定まる。
【0039】検出器アレイ24に対するX線ビーム40
の照射状態のさらに詳細な模式図を図5に示す。同図に
示すように、コリメータ22におけるコリメータ片22
0,222をX線通過開口を狭める方向に変位させるこ
とにより、検出器アレイ24における投影像のスライス
厚thを薄くすることができる。また、コリメータ片2
20,222をX線通過開口を広げる方向に動かすこと
により、検出器アレイ24における投影像のスライス厚
thを厚くすることができる。
の照射状態のさらに詳細な模式図を図5に示す。同図に
示すように、コリメータ22におけるコリメータ片22
0,222をX線通過開口を狭める方向に変位させるこ
とにより、検出器アレイ24における投影像のスライス
厚thを薄くすることができる。また、コリメータ片2
20,222をX線通過開口を広げる方向に動かすこと
により、検出器アレイ24における投影像のスライス厚
thを厚くすることができる。
【0040】また、スライス厚thを設定したコリメー
タ片220,222の相対的位置関係を維持しながら両
者を同時に動かすことにより、検出器アレイ24上のX
線ビーム40の厚み方向の照射位置を制御するようにな
っている。なお、厚み方向の照射位置の制御は、コリメ
ータ片220,222を動かす代わりに、検出器アレイ
24を、破線矢印で示すように、X線ビーム40の厚み
方向にコリメータ22に関して相対的に変位させて行う
ようにしても良い。このようにすれば、スライス厚の調
節機構と厚み方向の照射位置の制御機構を別々に2系統
設けることができ、多角的な制御が可能になる。これに
対して、上記のように全てコリメータ22で行えば、制
御の系統が1系統に統一でき、簡素化の要請に応じられ
る。
タ片220,222の相対的位置関係を維持しながら両
者を同時に動かすことにより、検出器アレイ24上のX
線ビーム40の厚み方向の照射位置を制御するようにな
っている。なお、厚み方向の照射位置の制御は、コリメ
ータ片220,222を動かす代わりに、検出器アレイ
24を、破線矢印で示すように、X線ビーム40の厚み
方向にコリメータ22に関して相対的に変位させて行う
ようにしても良い。このようにすれば、スライス厚の調
節機構と厚み方向の照射位置の制御機構を別々に2系統
設けることができ、多角的な制御が可能になる。これに
対して、上記のように全てコリメータ22で行えば、制
御の系統が1系統に統一でき、簡素化の要請に応じられ
る。
【0041】図6に、検出器アレイ24のX線入射面の
構成例を示す。同図に示すように、検出器アレイ24の
端部には、偶数個(この場合2個)の照射位置検出用の
X線検出素子242,244が設けられている。X線検
出素子242,244は、本発明における偶数個の放射
線検出素子の実施の形態の一例である。なお、X線検出
素子242,244が設けられている検出器アレイ24
の端部付近は、被検体の透過像が投影される範囲外とな
っており、これによって、X線管20からのX線が被検
体8を透過することなく直接照射される。
構成例を示す。同図に示すように、検出器アレイ24の
端部には、偶数個(この場合2個)の照射位置検出用の
X線検出素子242,244が設けられている。X線検
出素子242,244は、本発明における偶数個の放射
線検出素子の実施の形態の一例である。なお、X線検出
素子242,244が設けられている検出器アレイ24
の端部付近は、被検体の透過像が投影される範囲外とな
っており、これによって、X線管20からのX線が被検
体8を透過することなく直接照射される。
【0042】X線検出素子242,244は、それぞれ
のX線受光面すなわちX線入射面250,270が、検
出器アレイ24の厚みの中心線292に関して互いに反
対側になるように構成されている。
のX線受光面すなわちX線入射面250,270が、検
出器アレイ24の厚みの中心線292に関して互いに反
対側になるように構成されている。
【0043】このようなX線検出素子242,244
は、例えば、検出器アレイ24の端部にある2つのX線
検出素子のX線入射面を、それぞれX線遮蔽板252,
272で互いに反対側を半分ずつ覆うこと等によって構
成される。これは、検出器アレイ24における他のX線
検出素子と同じ構造のX線検出素子を利用できる点で好
ましい。なお、それに限らず、z方向の寸法を半分にし
たX線検出素子を用いるようにしても良いのは勿論であ
る。
は、例えば、検出器アレイ24の端部にある2つのX線
検出素子のX線入射面を、それぞれX線遮蔽板252,
272で互いに反対側を半分ずつ覆うこと等によって構
成される。これは、検出器アレイ24における他のX線
検出素子と同じ構造のX線検出素子を利用できる点で好
ましい。なお、それに限らず、z方向の寸法を半分にし
たX線検出素子を用いるようにしても良いのは勿論であ
る。
【0044】X線検出素子242,244がこのような
X線入射面250,270を有することにより、厚みが
TのX線ビーム40がその厚みの方向(z方向)で変位
したとき、それに応じてX線検出素子242,244の
X線検出信号がそれぞれ変化する。
X線入射面250,270を有することにより、厚みが
TのX線ビーム40がその厚みの方向(z方向)で変位
したとき、それに応じてX線検出素子242,244の
X線検出信号がそれぞれ変化する。
【0045】その様子を図7に示す。図7は、X線ビー
ム40の移動距離zとX線検出信号iとの関係の一例を
示すグラフである。なお、移動距離zの原点は、中心線
292の位置にとり、移動方向は図6における上向きを
正とする。また、X線ビーム40の位置は厚みの中心の
位置で代表する。
ム40の移動距離zとX線検出信号iとの関係の一例を
示すグラフである。なお、移動距離zの原点は、中心線
292の位置にとり、移動方向は図6における上向きを
正とする。また、X線ビーム40の位置は厚みの中心の
位置で代表する。
【0046】図7に示すように、X線検出素子242の
X線検出信号は、X線ビーム40がz=0の位置にある
とき、X線入射面250にX線ビーム40の厚みTの半
分が照射されることにより、Im/2となる。この状態
から、X線ビーム40が正方向に移動すると、X線入射
面250におけるX線ビーム40の照射面積の増加にと
もなって次第にX線検出信号が増加する。そして、z=
T/2の位置以降は、照射面積がX線ビーム40の厚み
Tに対応した一定値になることにより、X線検出信号が
Imとなる。
X線検出信号は、X線ビーム40がz=0の位置にある
とき、X線入射面250にX線ビーム40の厚みTの半
分が照射されることにより、Im/2となる。この状態
から、X線ビーム40が正方向に移動すると、X線入射
面250におけるX線ビーム40の照射面積の増加にと
もなって次第にX線検出信号が増加する。そして、z=
T/2の位置以降は、照射面積がX線ビーム40の厚み
Tに対応した一定値になることにより、X線検出信号が
Imとなる。
【0047】また、X線ビーム40が負方向に移動する
ときは、X線入射面250におけるX線ビーム40の照
射面積の減少につれてX線検出信号が次第に減少し、z
=−T/2の位置以降は、X線ビーム40がX線入射面
250を外れることにより0となる。
ときは、X線入射面250におけるX線ビーム40の照
射面積の減少につれてX線検出信号が次第に減少し、z
=−T/2の位置以降は、X線ビーム40がX線入射面
250を外れることにより0となる。
【0048】X線検出素子244については、X線入射
面270が中心線292に関してX線入射面250とは
反対側にあることにより、上記とは反対方向のX線ビー
ム40の移動について、上記と同様なX線検出信号が得
られる。
面270が中心線292に関してX線入射面250とは
反対側にあることにより、上記とは反対方向のX線ビー
ム40の移動について、上記と同様なX線検出信号が得
られる。
【0049】すなわち、X線検出素子242,244に
より、X線ビーム40の照射位置の変化に応じて互いに
差動的に変化する1対のX線検出信号が得られる。これ
らのX線検出信号は、データ収集部26により収集され
てデータ収集バッファ64に入力される。
より、X線ビーム40の照射位置の変化に応じて互いに
差動的に変化する1対のX線検出信号が得られる。これ
らのX線検出信号は、データ収集部26により収集され
てデータ収集バッファ64に入力される。
【0050】中央処理装置60は、データ収集バッファ
64に入力されたこれら1対の入力信号の差を求め、X
線ビーム40の照射位置検出信号を形成するようになっ
ている。中央処理装置60は、本発明における照射位置
検出手段の実施の形態の一例である。
64に入力されたこれら1対の入力信号の差を求め、X
線ビーム40の照射位置検出信号を形成するようになっ
ている。中央処理装置60は、本発明における照射位置
検出手段の実施の形態の一例である。
【0051】照射位置検出信号は、図7に一点鎖線で示
すように、X線ビーム40の照射位置が検出アレイ24
の中心線292上にあるとき0となり、この位置からの
z方向の正負の変位に応じて、0を中心として正負に変
化する信号となる。
すように、X線ビーム40の照射位置が検出アレイ24
の中心線292上にあるとき0となり、この位置からの
z方向の正負の変位に応じて、0を中心として正負に変
化する信号となる。
【0052】すなわち、X線ビーム40の照射位置が検
出アレイ24の中心線292上にあるとき、照射検出信
号が0となる。このため、従来のように、予めX線ビー
ムの照射位置と照射位置検出信号との対応関係を実測
し、それに基づいてX線ビーム40の照射位置が検出ア
レイ24の中心線292上にあるときの照射位置検出信
号の値を求める作業は不要になる。
出アレイ24の中心線292上にあるとき、照射検出信
号が0となる。このため、従来のように、予めX線ビー
ムの照射位置と照射位置検出信号との対応関係を実測
し、それに基づいてX線ビーム40の照射位置が検出ア
レイ24の中心線292上にあるときの照射位置検出信
号の値を求める作業は不要になる。
【0053】しかも、X線ビーム40の照射位置が検出
アレイ24の中心線292上にあるときは、照射位置検
出信号の値がX線ビーム40の厚みの如何に関わらず常
に0となるので、従来のようにX線ビーム40の照射位
置と照射位置検出信号との対応をビームの厚みごとにい
ちいち求める必要もなくなる。これによって、調整の作
業性が大幅に向上する。
アレイ24の中心線292上にあるときは、照射位置検
出信号の値がX線ビーム40の厚みの如何に関わらず常
に0となるので、従来のようにX線ビーム40の照射位
置と照射位置検出信号との対応をビームの厚みごとにい
ちいち求める必要もなくなる。これによって、調整の作
業性が大幅に向上する。
【0054】なお、照射位置検出信号は、X線検出素子
242,244のX線検出信号の比として求めるように
しても良い。その場合は、照射位置検出信号は、X線ビ
ーム40の照射位置が検出アレイ24の中心線292上
にあるとき、X線ビーム40の厚みに関わらず1となる
ので、やはり予備的な測定は不要であり、調整が極めて
容易である。
242,244のX線検出信号の比として求めるように
しても良い。その場合は、照射位置検出信号は、X線ビ
ーム40の照射位置が検出アレイ24の中心線292上
にあるとき、X線ビーム40の厚みに関わらず1となる
ので、やはり予備的な測定は不要であり、調整が極めて
容易である。
【0055】中央処理装置60は、このような照射位置
検出信号に基づいて、検出器アレイ24におけるX線ビ
ーム40の厚み方向の照射位置を認識し、X線ビーム4
0が常に検出器アレイ24の厚み方向の中心に照射され
るように、すなわち、照射位置検出信号が0(あるいは
1)になるように、制御インタフェース62およびコリ
メータコントローラ30を通じてコリメータ22を制御
する。
検出信号に基づいて、検出器アレイ24におけるX線ビ
ーム40の厚み方向の照射位置を認識し、X線ビーム4
0が常に検出器アレイ24の厚み方向の中心に照射され
るように、すなわち、照射位置検出信号が0(あるいは
1)になるように、制御インタフェース62およびコリ
メータコントローラ30を通じてコリメータ22を制御
する。
【0056】中央処理装置60、制御インタフェース6
2、コリメータコントローラ30およびコリメータ22
は、本発明における制御手段の実施の形態の一例であ
る。検出器アレイ24に位置調節機構が備わっていると
きは、検出器アレイ24のz方向の位置を制御してX線
ビームの照射位置を制御するようにしても良い。
2、コリメータコントローラ30およびコリメータ22
は、本発明における制御手段の実施の形態の一例であ
る。検出器アレイ24に位置調節機構が備わっていると
きは、検出器アレイ24のz方向の位置を制御してX線
ビームの照射位置を制御するようにしても良い。
【0057】中央処理装置60は、また、X線検出素子
242,244のX線検出信号の和を求め、X線の強度
を示すレファレンス(reference) 信号を得るようになっ
ている。中央処理装置60は、本発明における放射線強
度検出手段の実施の形態の一例である。図8は、X線検
出素子242,244のX線検出信号の和がレファレン
ス信号に等しいことを説明する図である。
242,244のX線検出信号の和を求め、X線の強度
を示すレファレンス(reference) 信号を得るようになっ
ている。中央処理装置60は、本発明における放射線強
度検出手段の実施の形態の一例である。図8は、X線検
出素子242,244のX線検出信号の和がレファレン
ス信号に等しいことを説明する図である。
【0058】X線検出素子244に隣接するX線検出素
子246も、被検体8の透過像の投影範囲の外にあり、
レファレンス用のX線検出素子となっている。X線検出
素子246は、遮蔽されない本来のX線入射面290を
有する。
子246も、被検体8の透過像の投影範囲の外にあり、
レファレンス用のX線検出素子となっている。X線検出
素子246は、遮蔽されない本来のX線入射面290を
有する。
【0059】X線ビーム40が照射された状態で、X線
検出素子242,244におけるX線照射面積(横のハ
ッチングを付した部分)の和は、レファレンス用のX線
検出素子246におけるX線照射面積(縦のハッチング
を付した部分)に等しい。
検出素子242,244におけるX線照射面積(横のハ
ッチングを付した部分)の和は、レファレンス用のX線
検出素子246におけるX線照射面積(縦のハッチング
を付した部分)に等しい。
【0060】これによって、X線検出素子242,24
4のX線検出信号の和は、図7に二点鎖線で示すよう
に、X線ビーム40のz方向における照射位置に関わら
ず値が一定ものとなる。このX線検出信号は、X線の強
度を示すレファレンス信号を与える。すなわち、X線検
出素子242,244は、X線ビーム40の照射位置検
出とレファレンス信号検出とに共用される。
4のX線検出信号の和は、図7に二点鎖線で示すよう
に、X線ビーム40のz方向における照射位置に関わら
ず値が一定ものとなる。このX線検出信号は、X線の強
度を示すレファレンス信号を与える。すなわち、X線検
出素子242,244は、X線ビーム40の照射位置検
出とレファレンス信号検出とに共用される。
【0061】中央処理装置60は、X線検出素子24
2,244のX線検出信号の和を、X線検出素子246
のX線検出信号と共にレファレンス信号として用る。こ
のようにレファレンス信号を複数化し、それらの平均値
を求めることにより、ノイズ(noise) の影響が少ないレ
ファレンス信号を得ている。
2,244のX線検出信号の和を、X線検出素子246
のX線検出信号と共にレファレンス信号として用る。こ
のようにレファレンス信号を複数化し、それらの平均値
を求めることにより、ノイズ(noise) の影響が少ないレ
ファレンス信号を得ている。
【0062】検出器アレイ24の他方の端部には、X線
検出素子242,244,246と同様に構成された3
つのX線検出素子242’,244’,246’が設け
られている。これらX線検出素子242’,244’,
246’のX線検出信号も、上記と同様に、X線ビーム
40の照射位置制御およびレファレンスのために利用さ
れる。このように、検出器アレイ24の両端においてX
線ビームの照射位置の検出および制御を行うことによ
り、X線ビーム40と検出器アレイ24との平行性を良
くすることができる。
検出素子242,244,246と同様に構成された3
つのX線検出素子242’,244’,246’が設け
られている。これらX線検出素子242’,244’,
246’のX線検出信号も、上記と同様に、X線ビーム
40の照射位置制御およびレファレンスのために利用さ
れる。このように、検出器アレイ24の両端においてX
線ビームの照射位置の検出および制御を行うことによ
り、X線ビーム40と検出器アレイ24との平行性を良
くすることができる。
【0063】X線管20とコリメータ22と検出器アレ
イ24とからなるX線照射・検出系は、それらの相互関
係を保ったまま被検体8の体軸の周りを回転(スキャ
ン)する。スキャンの1回転当たり複数(例えば100
0)のビュー角度で被検体の投影データが収集される。
投影データの収集は、検出器アレイ24−データ収集部
26−データ収集バッファ62の系統によって行われ
る。
イ24とからなるX線照射・検出系は、それらの相互関
係を保ったまま被検体8の体軸の周りを回転(スキャ
ン)する。スキャンの1回転当たり複数(例えば100
0)のビュー角度で被検体の投影データが収集される。
投影データの収集は、検出器アレイ24−データ収集部
26−データ収集バッファ62の系統によって行われ
る。
【0064】データ収集バッファ62に収集された投影
データは、中央処理装置60により、同時に収集された
レファレンス信号を用いてX線強度補正が施され、補正
後の投影データに基づいて、中央処理装置60により断
層像の生成すなわち画像再構成が行われる。中央処理装
置60は、本発明における断層像生成手段の実施の形態
の一例である。画像再構成は、1回転のスキャンで得ら
れた例えば1000ビューの投影データを、例えばフィ
ルタード・バックプロジェクション(filteredback-proj
ection)法によって処理すること等により行われる。
データは、中央処理装置60により、同時に収集された
レファレンス信号を用いてX線強度補正が施され、補正
後の投影データに基づいて、中央処理装置60により断
層像の生成すなわち画像再構成が行われる。中央処理装
置60は、本発明における断層像生成手段の実施の形態
の一例である。画像再構成は、1回転のスキャンで得ら
れた例えば1000ビューの投影データを、例えばフィ
ルタード・バックプロジェクション(filteredback-proj
ection)法によって処理すること等により行われる。
【0065】図9に、照射位置検出用のX線検出素子の
構成の他の例を模式的に示す。同図において、図6と同
様の部分については同一の符号を付し説明を省略する。
ここでは、照射位置検出用のX線検出素子242,24
4の間に他のX線検出素子248が介在するようになっ
ている。また、X線遮蔽板252は、X線検出素子24
2,244のX線受光面の、図における上半分と下半分
をそれぞれ残し、残りの部分を覆う形状を持つ一体の遮
蔽板となっている。
構成の他の例を模式的に示す。同図において、図6と同
様の部分については同一の符号を付し説明を省略する。
ここでは、照射位置検出用のX線検出素子242,24
4の間に他のX線検出素子248が介在するようになっ
ている。また、X線遮蔽板252は、X線検出素子24
2,244のX線受光面の、図における上半分と下半分
をそれぞれ残し、残りの部分を覆う形状を持つ一体の遮
蔽板となっている。
【0066】このようなX線遮蔽板252は、X線検出
器248を覆う1チャンネル幅分の中間部を持つことに
より、その一体性を保つことが容易になる。これによ
り、X線検出素子242,244,248に対するX線
遮蔽板252の取り付け作業がやり易くなる。なお、X
線検出素子248は、X線遮蔽板252でX線入射面の
全部が覆われることにより、X線検出の役目を果たさな
くなり、その出力信号は利用されない。
器248を覆う1チャンネル幅分の中間部を持つことに
より、その一体性を保つことが容易になる。これによ
り、X線検出素子242,244,248に対するX線
遮蔽板252の取り付け作業がやり易くなる。なお、X
線検出素子248は、X線遮蔽板252でX線入射面の
全部が覆われることにより、X線検出の役目を果たさな
くなり、その出力信号は利用されない。
【0067】図10に、照射位置検出用のX線検出素子
のさらに他の構成例を模式的に示す。同図において、図
9と同様の部分については同一の符号を付し説明を省略
する。ここでは、X線遮蔽板252を、その中間部の縁
部254,256が、X線検出素子248のX線受光面
上に来るように構成している。
のさらに他の構成例を模式的に示す。同図において、図
9と同様の部分については同一の符号を付し説明を省略
する。ここでは、X線遮蔽板252を、その中間部の縁
部254,256が、X線検出素子248のX線受光面
上に来るように構成している。
【0068】これによって、チャンネルの並び方向での
X線遮蔽板252の位置合わせが楽になり、また、縁部
254,256の加工精度がX線検出素子242,24
4のX線受光面積に影響を及ぼすおそれが少なくなる。
実際の検出器アレイにおいては、X線検出素子242,
244は、そのチャンネル幅がz方向の寸法の例えば2
0分の1ないし30分の1程度なので、このように縁部
254,256にマージン(margin)を設けるのは、作業
性を良くする点で極めて効果的である。なお、X線検出
素子248の出力信号は利用されない。
X線遮蔽板252の位置合わせが楽になり、また、縁部
254,256の加工精度がX線検出素子242,24
4のX線受光面積に影響を及ぼすおそれが少なくなる。
実際の検出器アレイにおいては、X線検出素子242,
244は、そのチャンネル幅がz方向の寸法の例えば2
0分の1ないし30分の1程度なので、このように縁部
254,256にマージン(margin)を設けるのは、作業
性を良くする点で極めて効果的である。なお、X線検出
素子248の出力信号は利用されない。
【0069】なお、以上の例では、照射位置検出用に2
つのX線検出素子を用いる例を示したが、4つ以上の偶
数のX線検出素子を用い、半数づつ、検出アレイの中心
線に関して互いに反対側にX線受光面を持つようにして
も良い。これは、それらのX線検出信号を総合すること
により、感度ないしSNR(signal-to-noise ratio)が
さらによい照射位置検出を行う点で好ましい。
つのX線検出素子を用いる例を示したが、4つ以上の偶
数のX線検出素子を用い、半数づつ、検出アレイの中心
線に関して互いに反対側にX線受光面を持つようにして
も良い。これは、それらのX線検出信号を総合すること
により、感度ないしSNR(signal-to-noise ratio)が
さらによい照射位置検出を行う点で好ましい。
【0070】以上、放射線としてX線を用いた例につい
て説明したが、放射線はX線に限るものではなく、例え
ばγ線等の他の種類の放射線であっても良い。ただし、
現時点では、X線がその発生、検出および制御等に関し
実用的な手段が最も充実している点で好ましい。
て説明したが、放射線はX線に限るものではなく、例え
ばγ線等の他の種類の放射線であっても良い。ただし、
現時点では、X線がその発生、検出および制御等に関し
実用的な手段が最も充実している点で好ましい。
【0071】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明で
は、放射線ビームの照射位置検出用に、放射線検出素子
アレイの厚みの中心に関し半数ずつが互いに反対側にそ
れぞれ放射線受光面を有する偶数個の放射線検出素子を
用いるようにしたので、照射位置検出のための予備測定
が不要な放射線照射・検出装置およびそのような放射線
照射・検出装置を備えた放射線断層撮影装置を実現する
ことができる。
は、放射線ビームの照射位置検出用に、放射線検出素子
アレイの厚みの中心に関し半数ずつが互いに反対側にそ
れぞれ放射線受光面を有する偶数個の放射線検出素子を
用いるようにしたので、照射位置検出のための予備測定
が不要な放射線照射・検出装置およびそのような放射線
照射・検出装置を備えた放射線断層撮影装置を実現する
ことができる。
【図1】本発明の実施の形態の一例の装置のブロック図
である。
である。
【図2】本発明の実施の形態の一例の装置における検出
器アレイの模式的構成図である。
器アレイの模式的構成図である。
【図3】本発明の実施の形態の一例の装置におけるX線
照射・検出系の模式的構成図である。
照射・検出系の模式的構成図である。
【図4】本発明の実施の形態の一例の装置におけるX線
照射・検出系の模式的構成図である。
照射・検出系の模式的構成図である。
【図5】本発明の実施の形態の一例の装置におけるX線
照射・検出系の模式的構成図である。
照射・検出系の模式的構成図である。
【図6】本発明の実施の形態の一例の装置における検出
器アレイの模式的構成図である。
器アレイの模式的構成図である。
【図7】本発明の実施の形態の一例の装置における照射
位置検出信号の一例を示すグラフである。
位置検出信号の一例を示すグラフである。
【図8】図6に示す実施の形態において、1対のX線検
出素子の検出信号の和がレファレンス信号に等しいこと
を示す図である。
出素子の検出信号の和がレファレンス信号に等しいこと
を示す図である。
【図9】本発明の実施の形態の一例の装置における検出
器アレイの一部の模式的構成図である。
器アレイの一部の模式的構成図である。
【図10】本発明の実施の形態の一例の装置における検
出器アレイの一部の模式的構成図である。
出器アレイの一部の模式的構成図である。
【図11】X線検出器におけるX線ビームの照射位置検
出の従来例を示す模式図である。
出の従来例を示す模式図である。
2 走査ガントリ 20 X線管 22 コリメータ 24 検出器アレイ 26 データ収集部 28 X線コントローラ 30 コリメータコントローラ 32 回転部 34 回転コントローラ 4 撮影テーブル 6 操作コンソール 60 中央処理装置 62 制御インタフェース 64 データ収集バッファ 66 記憶装置 68 表示装置 70 操作装置 40 X線ビーム 8 被検体 220,222 コリメータ片 24(i),242〜248,242’〜246’ X
線検出素子 250,270,290 X線入射面 252,272 X線遮蔽板
線検出素子 250,270,290 X線入射面 252,272 X線遮蔽板
フロントページの続き (72)発明者 黒地 治夫 東京都日野市旭が丘四丁目7番地の127 ジーイー横河メディカルシステム株式会社 内
Claims (2)
- 【請求項1】 照射方向に垂直でかつ互いに垂直な2つ
の方向の一方では相対的に大きな寸法の幅を持ち他方で
は相対的に小さな寸法の厚みを持つ放射線ビームを照射
する放射線照射手段と、 前記放射線ビームの厚みの方向において前記放射線ビー
ムの厚みよりも大きな寸法を持つ放射線検出素子が前記
放射線ビームの幅の方向に複数個配列され前記放射線ビ
ームの照射を受ける放射線検出素子アレイと、 前記放射線検出素子アレイの少なくとも一端部に設けら
れ、前記放射線ビームの厚みの方向における前記放射線
検出素子アレイの中心に関し半数ずつが互いに反対側に
それぞれ放射線受光面を有する偶数個の放射線検出素子
と、 前記偶数個の放射線検出素子の放射線検出信号に基づい
て、前記放射線検出素子アレイにおける前記放射線ビー
ムの照射位置を示す照射位置信号を生じる照射位置検出
手段と、を具備することを特徴とする放射線照射・検出
装置。 - 【請求項2】 照射方向に垂直でかつ互いに垂直な2つ
の方向の一方では相対的に大きな寸法の幅を持ち他方で
は相対的に小さな寸法の厚みを持つ放射線ビームを照射
する放射線照射手段と、 前記放射線ビームの厚みの方向において前記放射線ビー
ムの厚みよりも大きな寸法を持つ放射線検出素子が前記
放射線ビームの幅の方向に複数個配列され前記放射線ビ
ームの照射を受ける放射線検出素子アレイと、 前記放射線検出素子アレイの少なくとも一端部に設けら
れ、前記放射線ビームの厚みの方向における前記放射線
検出素子アレイの中心に関し半数ずつが互いに反対側に
それぞれ放射線受光面を有する偶数個の放射線検出素子
と、 前記偶数個の放射線検出素子の放射線検出信号に基づい
て、前記放射線検出素子アレイにおける前記放射線ビー
ムの照射位置を示す照射位置信号を生じる照射位置検出
手段と、 前記照射位置信号に基づいて、前記放射線検出素子アレ
イにおける前記放射線ビームの照射位置を制御する制御
手段と、 前記放射線検出素子アレイによる複数ビューの放射線検
出信号に基づいて前記放射線ビームの通過領域について
の断層像を生成する断層像生成手段と、を具備すること
を特徴とする放射線断層撮影装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9260043A JPH1189825A (ja) | 1997-09-25 | 1997-09-25 | 放射線照射・検出装置および放射線断層撮影装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9260043A JPH1189825A (ja) | 1997-09-25 | 1997-09-25 | 放射線照射・検出装置および放射線断層撮影装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1189825A true JPH1189825A (ja) | 1999-04-06 |
Family
ID=17342517
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9260043A Pending JPH1189825A (ja) | 1997-09-25 | 1997-09-25 | 放射線照射・検出装置および放射線断層撮影装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1189825A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001095792A (ja) * | 1999-08-27 | 2001-04-10 | General Electric Co <Ge> | Ctイメージング用x線ビームを位置決めする方法及び装置 |
| JP2002143147A (ja) * | 2000-10-25 | 2002-05-21 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | X線ct装置 |
| JP2002320607A (ja) * | 2001-04-26 | 2002-11-05 | Hitachi Medical Corp | X線ct装置 |
-
1997
- 1997-09-25 JP JP9260043A patent/JPH1189825A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001095792A (ja) * | 1999-08-27 | 2001-04-10 | General Electric Co <Ge> | Ctイメージング用x線ビームを位置決めする方法及び装置 |
| JP2002143147A (ja) * | 2000-10-25 | 2002-05-21 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | X線ct装置 |
| JP2002320607A (ja) * | 2001-04-26 | 2002-11-05 | Hitachi Medical Corp | X線ct装置 |
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| Date | Code | Title | Description |
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|
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