JPH1190969A - モールド方法およびモールド装置ならびに半導体装置の製造方法 - Google Patents

モールド方法およびモールド装置ならびに半導体装置の製造方法

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JPH1190969A
JPH1190969A JP25631297A JP25631297A JPH1190969A JP H1190969 A JPH1190969 A JP H1190969A JP 25631297 A JP25631297 A JP 25631297A JP 25631297 A JP25631297 A JP 25631297A JP H1190969 A JPH1190969 A JP H1190969A
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JP
Japan
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cavity
mold
molding
mold surface
resin
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JP25631297A
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English (en)
Inventor
Yasuhito Kimura
靖仁 木村
Yasuhiko Kurokawa
泰彦 黒川
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Hitachi Ltd
Renesas Eastern Japan Semiconductor Inc
Original Assignee
Hitachi Tokyo Electronics Co Ltd
Hitachi Ltd
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Publication date
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  • Injection Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
  • Moulds For Moulding Plastics Or The Like (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 封止樹脂を成型するキャビティにおける温度
分布の偏りや変動をなくして成型不良の発生を防止す
る。 【解決手段】 下型キャビティブロック41(上型キャ
ビティブロック42)を、上型キャビティブロック42
(下型キャビティブロック41)に対する対向面に複数
のキャビティ41a(キャビティ42a)が刻設された
型面部材41b(型面部材42b)と、上部開口端が型
面部材41b(型面部材42b)にて密閉された箱状の
外殻41c(外殻42c)とし、外殻41c(外殻42
c)の内部空間に伝熱流体41d(伝熱流体42d)を
充満させ、ヒータ41e(ヒータ42e)にて伝熱流体
41d(伝熱流体42d)を加熱することにより、伝熱
流体41d(伝熱流体42d)の対流にて、型面部材4
1b(キャビティ41a)(型面部材42b(キャビテ
ィ42a))の全体を均一な所定の成型温度に加熱す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、モールド技術およ
び半導体装置の製造技術に関し、特に、たとえば比較的
大型の樹脂封止パッケージの成型等に適用して有効な技
術に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体装置の製造工程では、所望の機能
を有する半導体ペレット(素子)を環境から保護するた
めに成型樹脂で封止してパッケージを構成することが行
われている。
【0003】このパッケージの成型方法としては、たと
えば、日刊工業新聞社、1994年11月30日、第3
版1刷発行、日本半導体製造装置協会編「半導体製造装
置用語辞典」P264〜P269等の文献にも記載され
ているように、従来、パッケージの形状のキャビティが
刻設されたキャビティブロックの合わせ面の間に半導体
ペレットを搭載したリードフレームを挟み込み、キャビ
ティ内部の中央部に位置する半導体ペレットの周囲の空
間に熱硬化性樹脂を充填してパッケージを成型すること
が行われていた。この場合、封止樹脂を硬化させる等の
目的でキャビティブロックを所定の成型温度に加熱する
必要があり、従来では、キャビティブロックの内部に棒
状のヒータを貫通して組み込むことが一般に行われてい
た。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】前述の従来技術のよう
に、キャビティブロックの内部に棒状ヒータを組み込む
方法では、当該キャビティブロックの温度分布を所定の
温度に均一に制御することが困難であった。
【0005】特に、たとえば成型されるパッケージが大
型化し、キャビティブロックに形成されるキャビティの
寸法が大きくなると、個々のキャビティ内部の温度分布
に偏りが発生しやすく、樹脂の充填不足や、半導体ペレ
ット(を搭載したリードフレームのタブ)の位置がキャ
ビティ中心から厚さ方向に変動し、半導体ペレットの周
囲の封止樹脂の厚さに偏りが発生するタブ変動、等の成
型不良が発生する、という技術的課題があった。
【0006】本発明の目的は、封止樹脂を成型するキャ
ビティにおける温度分布の偏りや変動をなくして成型不
良の発生を防止することが可能なモールド技術を提供す
ることにある。
【0007】本発明の他の目的は、封止工程における成
型不良の発生を防止して、半導体装置の組立工程におけ
る歩留りを向上させることが可能な半導体装置の製造技
術を提供することにある。
【0008】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかに
なるであろう。
【0009】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、
以下のとおりである。
【0010】本発明は、金型のキャビティに充填されて
成型される樹脂にて半導体ペレットを封止するモールド
方法において、キャビティを構成する金型部材を流体を
介して所望の温度に加熱するものである。
【0011】また、金型のキャビティに充填されて成型
される樹脂にて半導体ペレットを封止するモールド方法
において、キャビティを構成する金型部材を少なくとも
一つの板状ヒータを用いて所望の温度に加熱するもので
ある。
【0012】また、金型のキャビティに充填されて成型
される樹脂にて半導体ペレットを封止するモールド方法
において、キャビティを構成する金型部材の周囲の少な
くとも一部を断熱部材にて覆うものである。
【0013】また、金型のキャビティに充填されて成型
される樹脂にて半導体ペレットを封止するモールド方法
において、キャビティを構成する金型部材においてキャ
ビティ部分を選択的に所望の温度に加熱するものであ
る。
【0014】上記した本発明によれば、たとえば対流に
よって温度が均一化しやすい流体を介してキャビティが
加熱されるので、キャビティ(型面)の加熱を均一に行
うことができる。また、板状ヒータを用いてキャビティ
を構成する金型部材を加熱することにより、キャビティ
の加熱を均一に行うことができる。また、キャビティを
構成する金型部材の周囲の少なくとも一部を断熱部材に
て覆うことにより、キャビティの温度分布を均一化でき
る。また、キャビティを構成する金型部材においてキャ
ビティ部分を選択的に所望の温度に加熱することによ
り、キャビティの温度分布を均一化できる。
【0015】これにより、キャビティ(型面)の加熱温
度の偏りや変動等に起因する成型不良を確実に防止する
ことができる。従って、このような本発明のモールド技
術を半導体装置の製造工程における封止組立工程に採用
することにより、半導体装置の歩留りを向上させること
が可能になる。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参照しながら詳細に説明する。
【0017】(実施の形態1)図1は、本発明の一実施
の形態である半導体装置の製造方法およびモールド方法
が実施されるモールド装置の構成の一例を示す断面図で
あり、図2は、その一部を取り出して示す平面図であ
る。なお、図1は、図2の線I−Iにて示される部分の
断面を示している。
【0018】本実施の形態のモールド装置は、上下方向
に対向する下型チェイス10と上型チェイス20からな
る成型金型を備えており、下型チェイス10および上型
チェイス20は、図示しないプレス機構等によって互い
に独立に上下動することが可能になっている。
【0019】下型チェイス10は、カル11aおよびラ
ンナ11bが形成された下型センタブロック11と、下
型キャビティブロック41と、これらを一体に保持する
ホルダ12からなる。
【0020】上型チェイス20は、カル11aに対応す
る位置にプランジャ21bが圧入されるポット21aが
形成された上型センタブロック21と、上型キャビティ
ブロック42と、これらを一体に保持するホルダ22か
らなる。
【0021】下型キャビティブロック41は、上型キャ
ビティブロック42に対する対向面に複数のキャビティ
41a、および個々のキャビティ41aを、下型センタ
ブロック11のランナ11bに連通させるサブランナ3
1およびゲート32と、キャビティ41aから空気を逃
がす働きをするエアベント33と、リードフレーム80
が収容されて位置決めされる凹部34等が刻設された型
面部材41bと、上部開口端がこの型面部材41bにて
密閉された箱状の外殻41cとからなる。
【0022】この場合、外殻41cと型面部材41bで
構成される密閉空間の内部には、伝熱流体41dが充満
されているとともに、複数のキャビティ41aの配列方
向に貫通するように、棒状のヒータ41eが設けられて
いる。そして、この棒状のヒータ41eから発生する熱
は、伝熱流体41dの対流等によって型面部材41bに
伝達され、キャビティ41aが均一に加熱される構成と
なっている。
【0023】上型キャビティブロック42は、下型キャ
ビティブロック41に対する対向面に個々のキャビティ
41aに重なり合う位置に複数のキャビティ42aが刻
設された型面部材42bと、上部開口端がこの型面部材
42bにて密閉された箱状の外殻42cとからなる。
【0024】この場合、外殻42cと型面部材42bで
構成される密閉空間の内部には、伝熱流体42dが充満
されているとともに、複数のキャビティ42aの配列方
向に貫通するように、棒状のヒータ42eが設けられて
いる。そして、この棒状のヒータ42eから発生する熱
は、伝熱流体42dの対流等によって型面部材42bに
伝達され、キャビティ42aが均一に加熱される構成と
なっている。
【0025】伝熱流体41dおよび伝熱流体42dは、
必要な成型温度(たとえば175±5℃)に応じて、伝
熱特性、沸点、不燃性等の物性が最適な流体を選択して
用いる。具体的には、一例として、鉱物油や低融点の金
属や合金等からなる溶融金属等を用いることが考えられ
る。
【0026】型面部材41bおよび型面部材42bは、
たとえば工具鋼(SKH55)等の耐摩耗性の高い素材
にて構成されている。外殻41cおよび外殻42cは、
断熱部材を用いることができる。
【0027】リードフレーム80は、その中央部に設け
られたタブ81に、所望の機能を有する半導体ペレット
82を搭載しており、タブ81を取り囲むように配置さ
れた複数のリード83の各々と、半導体ペレット82の
図示しないボンディングパッドとが、図示しないボンデ
ィングワイヤにて電気的に接続されている。
【0028】また、上型センタブロック21のポット2
1aには、後述のように、所望の温度に予熱された封止
樹脂塊であるタブレット90が投入される。
【0029】以下、本実施の形態の半導体装置の製造方
法およびモールド方法が実施されるモールド装置の作用
の一例を説明する。
【0030】まず、待機状態では、予め、下型キャビテ
ィブロック41および上型キャビティブロック42は、
ヒータ41eおよび伝熱流体41d、ヒータ42eおよ
び伝熱流体42dを作動させることによって所定の成型
温度に予熱されている。この時、ヒータ41eおよび4
2eの熱は、伝熱流体41d、42dの対流によって、
型面部材41b、42bに均一に伝達されるので、キャ
ビティ41aおよび42aは、所定の成型温度に均一に
加熱される。
【0031】同様に、下型センタブロック11および上
型センタブロック21も図示しないヒータにて所望の成
型温度に予熱されている。
【0032】この状態で、下型チェイス10と上型チェ
イス20を離間させ、下型キャビティブロック41の凹
部34に、リードフレーム80をセットした後、下型チ
ェイス10と上型チェイス20とを密着させる型締めを
行う。この状態が、図1である。
【0033】その後、ポット21aに予熱されたタブレ
ット90を投入して、プランジャ21bで加圧すると、
タブレット90は、流動状態となって、ランナ11b、
サブランナ31、ゲート32を経由して、中央の半導体
ペレット82を取り囲むキャビティ41aおよびキャビ
ティ42aに流入し、キャビティ41aおよびキャビテ
ィ42a内の空気はエアベント33を通じて外部に排出
され、半導体ペレット82の周囲のキャビティ41aお
よびキャビティ42aには、成型樹脂が充填される。
【0034】この時、本実施の形態の場合には、キャビ
ティ41a(型面部材41b)およびキャビティ42a
(型面部材42b)が、伝熱流体41dおよび伝熱流体
42dを介して均一に加熱されているので、たとえば、
キャビティ41a(型面部材41b)およびキャビティ
42a(型面部材42b)における温度分布の偏りや変
動等に起因する樹脂の充填不足や、タブ変動等の樹脂封
止欠陥の発生が回避され、良好な樹脂封止結果を得るこ
とができる。特に温度分布の偏りが発生しやすいサイズ
の大きな樹脂パッケージの半導体装置等の封止に適用し
て効果が大きい。
【0035】半導体ペレット82の周囲のキャビティ4
1aおよびキャビティ42aに充填された樹脂は、所定
のキュアタイムを経ることによって熱硬化し、その後、
下型チェイス10と上型チェイス20を離間させ、図示
しないエジェクタピン等を作動させることによって、成
型済のリードフレーム80は、下型チェイス10および
上型チェイス20の型面部材41bおよび型面部材42
bから離型され、後の図示しないバリ取り工程や、リー
ド切断成型工程等を経て、最終的な製品である半導体装
置となる。
【0036】このように、本実施の形態の半導体装置の
製造方法によれば、樹脂封止工程における封止欠陥の発
生が減少するので、半導体装置の歩留りが向上する。
【0037】(実施の形態2)図3は、本発明の他の実
施の形態であるモールド装置の断面図である。なお、前
述の図1および図2に例示された構成と共通の部分につ
いては、同一の符号を付して説明は割愛する。
【0038】この実施の形態2の場合には、下型キャビ
ティブロック41および上型キャビティブロック42の
各々の、型面部材41bおよび型面部材42bを除く外
周部を断熱材41fおよび断熱材42fにてそれぞれ覆
う構成としたものである。
【0039】これにより、ヒータ41eおよび42eの
熱を、キャビティ41a(型面部材41b)およびキャ
ビティ42a(型面部材42b)の加熱により有効に利
用できるとともに、下型キャビティブロック41および
上型キャビティブロック42の各々からの不均一な熱放
散等に起因するキャビティ41a(型面部材41b)お
よびキャビティ42a(型面部材42b)の温度分布の
偏りや変動を防止でき、良好な樹脂封止結果を得ること
ができる。
【0040】(実施の形態3)図4は、本発明のさらに
他の実施の形態であるモールド装置の断面図である。な
お、前述の図1および図2に例示された構成と共通の部
分については、同一の符号を付して説明は割愛する。
【0041】この実施の形態3においては、下型キャビ
ティブロック41および上型キャビティブロック42の
各々の加熱手段として、上述の棒状のヒータ41eおよ
び42eの代わりに、下型キャビティブロック41およ
び上型キャビティブロック42の各々の型面部材41b
および型面部材42bを除く外周部に、複数セクション
からなる板状ヒータ41gおよび板状ヒータ42gをそ
れぞれ設置し、伝熱流体41dおよび伝熱流体42dを
介して、キャビティ41a(型面部材41b)およびキ
ャビティ42a(型面部材42b)の加熱を行うように
したものである。
【0042】この場合には、熱源が平面であるととも
に、複数セクションからなる板状ヒータ41gおよび複
数セクションからなる板状ヒータ42gの各セクション
の発熱温度を個別に制御することにより、伝熱流体41
dおよび伝熱流体42dを介したキャビティ41a(型
面部材41b)およびキャビティ42a(型面部材42
b)の加熱をより均一に行うことができる、という利点
がある。また、棒状のヒータを用いる場合に比較して省
スペースとなる。なお、複数セクションからなる板状ヒ
ータ41gおよび複数セクションからなる板状ヒータ4
2gの各々の外側に図3に例示したような断熱材を配置
して保温してもよいことは言うまでもない。
【0043】(実施の形態4)図5は、本発明のさらに
他の実施の形態であるモールド装置の断面図である。な
お、前述の図1および図2に例示された構成と共通の部
分については、同一の符号を付して説明は割愛する。
【0044】この実施の形態4の場合、下型キャビティ
ブロック51は、中実な、たとえば工具鋼(SKH5
5)等の耐摩耗性の高い素材にて構成され、その型面5
1bに所望の形状のキャビティ51a、サブランナ3
1、ゲート32、エアベント33、リードフレーム80
が収容される凹部34等が刻設されている。そして、下
型キャビティブロック51における型面51b以外の外
周部には、複数セクションからなる板状ヒータ51gが
配置され、下型キャビティブロック51の外周全体か
ら、型面51bのキャビティ51aの加熱を行う構造と
なっている。複数セクションからなる板状ヒータ51g
の各セクションは、独立に発熱温度の制御が可能であ
る。
【0045】同様に、上型キャビティブロック52は、
中実な、たとえば工具鋼(SKH55)等の耐摩耗性の
高い素材にて構成され、その型面52bには、下型キャ
ビティブロック51のキャビティ51aに重なり合う位
置に所望の形状のキャビティ52a、等が刻設されてい
る。そして、上型キャビティブロック52における型面
52b以外の外周部には、複数セクションからなる板状
ヒータ52gが配置され、上型キャビティブロック52
の外周全体から、型面52bのキャビティ52aの加熱
を行う構造となっている。複数セクションからなる板状
ヒータ52gの各セクションは、独立に発熱温度の制御
が可能である。
【0046】このように、本実施の形態4の場合には、
中実な下型キャビティブロック51および上型キャビテ
ィブロック52の各々の外周部を取り囲むように配置さ
れた複数セクションからなる板状ヒータ51gおよび複
数セクションからなる板状ヒータ52gにて、下型キャ
ビティブロック51および上型キャビティブロック52
の各々の加熱を行う構成であるため、加熱効率が向上す
るとともに、キャビティ51a(型面51b)およびキ
ャビティ52a(型面52b)の加熱温度の均一化を実
現することができ、温度分布の偏りや変動等に起因する
樹脂成型不良の発生を確実に防止することができ、樹脂
封止工程での歩留りが向上する。
【0047】(実施の形態5)図6は、本発明のさらに
他の実施の形態であるモールド装置の断面図である。な
お、前述の図1および図2に例示された構成と共通の部
分については、同一の符号を付して説明は割愛する。
【0048】この実施の形態5の場合には、図5に例示
される前述の実施の形態4における複数セクションから
なる板状ヒータ51gおよび複数セクションからなる板
状ヒータ52gの代わりに、下型キャビティブロック5
1および上型キャビティブロック52の各々の内部に軸
方向(図6の紙面に垂直な方向に)に埋め込まれた棒状
のヒータ51eおよび棒状のヒータ52eを配置するこ
とによって、下型キャビティブロック51および上型キ
ャビティブロック52の各々の加熱を行う構成となって
いる。
【0049】また、この場合、下型キャビティブロック
51および上型キャビティブロック52の各々におい
て、型面51bおよび型面52bを除く外周部は、断熱
材51fおよび断熱材52fにて覆われる構成としてい
る。
【0050】このように、断熱材51fおよび断熱材5
2fにて下型キャビティブロック51および上型キャビ
ティブロック52の各々を覆うことにより、加熱効率が
向上するとともに、キャビティ51a(型面51b)お
よびキャビティ52a(型面52b)の加熱温度の均一
化を実現することができ、温度分布の偏りや変動等に起
因する樹脂成型不良の発生を確実に防止することがで
き、樹脂封止工程での歩留りが向上する。
【0051】(実施の形態6)図7は、本発明のさらに
他の実施の形態であるモールド装置の断面図である。な
お、前述の図1および図2に例示された構成と共通の部
分については、同一の符号を付して説明は割愛する。
【0052】この実施の形態6の場合、下型キャビティ
ブロック61は、たとえば工具鋼(SKH55)等の耐
摩耗性の高い素材からなる板状の型面部材61bに所望
の形状のキャビティ61a、サブランナ31、ゲート3
2、エアベント33、リードフレーム80が収容される
凹部34等が刻設されている。そして、型面部材61b
の背面には当該型面部材61bの平面に沿って配置され
た板状ヒータ61gと、この板状ヒータ61gの背面を
さらに覆う断熱材61fが設けられ、板状ヒータ61g
にて、下型キャビティブロック61の型面部材61b
(キャビティ61a)の加熱を行うとともに、断熱材6
1fにて型面部材61bの保温が行われる構造となって
いる。
【0053】同様に、上型キャビティブロック62は、
たとえば工具鋼(SKH55)等の耐摩耗性の高い素材
からなる板状の型面部材62bに所望の形状のキャビテ
ィ62aが刻設されている。そして、型面部材62bの
背面には当該型面部材62bの平面に沿って配置された
板状ヒータ62gと、この板状ヒータ62gの背面をさ
らに覆う断熱材62fが設けられ、板状ヒータ62gに
て、上型キャビティブロック62の型面部材62b(キ
ャビティ62a)の加熱を行うとともに、断熱材62f
にて型面部材62bの保温が行われる構造となってい
る。
【0054】このように、板状の型面部材61bおよび
型面部材62bを板状ヒータ61gおよび板状ヒータ6
2gにて加熱するので、型面部材61b(キャビティ6
1a)および型面部材62b(キャビティ62a)の全
体を均一な温度に加熱することができ、温度分布の偏り
や変動等に起因する樹脂成型不良の発生を確実に防止す
ることができ、樹脂封止工程での歩留りが向上する。
【0055】また、板状ヒータ61gおよび板状ヒータ
62gを用いることにより、金型全体の厚さ寸法の低減
による省スペース効果も得られる。
【0056】なお、簡単のため、板状ヒータ61gおよ
び板状ヒータ62gの各々を単一体で図示してあるが、
板状ヒータ61gおよび板状ヒータ62gの各々を、平
面方向に複数のセクションに分割した構成とし、各セク
ションの温度を独立に制御可能な構成としてもよい。
【0057】以上本発明者によってなされた発明を実施
の形態に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施
の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しな
い範囲で種々変更可能であることはいうまでもない。
【0058】たとえば、伝熱流体の加熱方法としては、
型内に設けられた熱源を用いることに限らず、たとば、
外部に設けられた熱源と金型とを伝熱流体が流通する配
管で接続し、キャビティブロック内部に、外部の熱源に
て所定温度に制御された流体を流通させることで、キャ
ビティブロックの加熱を行う構成としてもよい。その場
合、キャビティブロックは、単純な箱状に限らず、たと
えば中実のブロック体の内部に流体通路が任意の経路に
て穿設された、いわゆるマニホールド形状等、任意の形
状にすることができる。
【0059】以上の説明では、主として本発明者によっ
てなされた発明をその背景となった利用分野である半導
体装置の製造工程におけるモールド工程に適用した場合
を例に採って説明したが、樹脂成型を必要とする一般の
技術に広く適用することが可能である。
【0060】
【発明の効果】本願において開示される発明のうち、代
表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、
以下のとおりである。
【0061】本発明のモールド方法によれば、封止樹脂
を成型するキャビティにおける温度分布の偏りや変動を
なくして成型不良の発生を防止することができる、とい
う効果が得られる。
【0062】本発明のモールド装置によれば、封止樹脂
を成型するキャビティにおける温度分布の偏りや変動を
なくして成型不良の発生を防止することができる、とい
う効果が得られる。
【0063】また、本発明の半導体装置の製造方法によ
れば、封止工程における成型不良の発生を防止して、半
導体装置の組立工程における歩留りを向上させることが
できる、という効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態1である半導体装置の製造
方法およびモールド方法が実施されるモールド装置の構
成の一例を示す断面図である。
【図2】本発明の実施の形態1である半導体装置の製造
方法およびモールド方法が実施されるモールド装置の一
部を取り出して示す平面図である。
【図3】本発明の実施の形態2であるモールド装置の断
面図である。
【図4】本発明の実施の形態3であるモールド装置の断
面図である。
【図5】本発明の実施の形態4であるモールド装置の断
面図である。
【図6】本発明の実施の形態5であるモールド装置の断
面図である。
【図7】本発明の実施の形態6であるモールド装置の断
面図である。
【符号の説明】
10 下型チェイス 11 下型センタブロック 11a カル 11b ランナ 12 ホルダ 20 上型チェイス 21 上型センタブロック 21a ポット 21b プランジャ 22 ホルダ 31 サブランナ 32 ゲート 33 エアベント 34 凹部 41 下型キャビティブロック 41a キャビティ 41b 型面部材(金型部材) 41c 外殻 41d 伝熱流体 41e ヒータ 41f 断熱材 41g 板状ヒータ 42 上型キャビティブロック 42a キャビティ 42b 型面部材(金型部材) 42c 外殻 42d 伝熱流体 42e ヒータ 42f 断熱材 42g 板状ヒータ 51 下型キャビティブロック 51a キャビティ 51b 型面(金型部材) 51e ヒータ 51f 断熱材 51g 板状ヒータ 52 上型キャビティブロック 52a キャビティ 52b 型面(金型部材) 52e ヒータ 52f 断熱材 52g 板状ヒータ 61 下型キャビティブロック 61a キャビティ 61b 型面部材(金型部材) 61f 断熱材 61g 板状ヒータ 62 上型キャビティブロック 62a キャビティ 62b 型面部材(金型部材) 62f 断熱材 62g 板状ヒータ 80 リードフレーム 81 タブ 82 半導体ペレット 83 リード 90 タブレット
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI // B29L 31:34

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 金型のキャビティに充填されて成型され
    る樹脂にて半導体ペレットを封止するモールド方法であ
    って、前記キャビティを構成する金型部材を流体を介し
    て所望の温度に加熱することを特徴とするモールド方
    法。
  2. 【請求項2】 金型のキャビティに充填されて成型され
    る樹脂にて半導体ペレットを封止するモールド方法であ
    って、前記キャビティを構成する金型部材を少なくとも
    一つの板状ヒータを用いて所望の温度に加熱することを
    特徴とするモールド方法。
  3. 【請求項3】 金型のキャビティに充填されて成型され
    る樹脂にて半導体ペレットを封止するモールド方法であ
    って、前記キャビティを構成する前記金型部材の周囲の
    少なくとも一部を断熱部材にて覆うことを特徴とするモ
    ールド方法。
  4. 【請求項4】 金型のキャビティに充填されて成型され
    る樹脂にて半導体ペレットを封止するモールド方法であ
    って、前記キャビティを構成する前記金型部材において
    前記キャビティ部分を選択的に所望の温度に加熱するこ
    とを特徴とするモールド方法。
  5. 【請求項5】 所望の機能を有する半導体ペレットと、
    前記半導体ペレットを封止する封止樹脂とを含む半導体
    装置の製造方法であって、請求項1,2,3または4記
    載のモールド方法を用いて前記封止樹脂の成型を行うこ
    とを特徴とする半導体装置の製造方法。
  6. 【請求項6】 半導体ペレットを金型のキャビティに充
    填されて成型される樹脂にて封止するモールド装置であ
    って、前記キャビティを構成する金型部材と、熱源と、
    前記熱源が発生する熱を前記金型部材に伝達して所望の
    温度に加熱する流体と、を備えたことを特徴とするモー
    ルド装置。
  7. 【請求項7】 半導体ペレットを金型のキャビティに充
    填されて成型される樹脂にて封止するモールド装置であ
    って、前記キャビティを構成する金型部材と、前記金型
    部材を所望の温度に加熱する少なくとも一つの板状ヒー
    タと、を備えたことを特徴とするモールド装置。
  8. 【請求項8】 半導体ペレットを金型のキャビティに充
    填されて成型される樹脂にて封止するモールド装置であ
    って、前記キャビティを構成する金型部材と、前記金型
    部材を所望の温度に加熱する加熱手段と、前記金型部材
    の少なくとも一部を覆う断熱部材と、を備えたことを特
    徴とするモールド装置。
  9. 【請求項9】 請求項6または8記載のモールド装置に
    おいて、前記熱源または前記加熱手段が、少なくとも一
    つの板状ヒータからなることを特徴とするモールド装
    置。
  10. 【請求項10】 所望の機能を有する半導体ペレット
    と、前記半導体ペレットを封止する封止樹脂とを含む半
    導体装置の製造方法であって、請求項6,7,8または
    9記載のモールド装置を用いて前記封止樹脂の成型を行
    うことを特徴とする半導体装置の製造方法。
JP25631297A 1997-09-22 1997-09-22 モールド方法およびモールド装置ならびに半導体装置の製造方法 Pending JPH1190969A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009105273A (ja) * 2007-10-24 2009-05-14 Sumitomo Heavy Ind Ltd 樹脂封止金型
JP2012256925A (ja) * 2012-08-10 2012-12-27 Sumitomo Heavy Ind Ltd 樹脂封止金型
KR20150103837A (ko) * 2014-03-04 2015-09-14 한국생산기술연구원 금형가열장치
US9889581B2 (en) 2011-11-10 2018-02-13 Surface Generation Limited Tool temperature control

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