JPH1195138A - 光ビーム走査装置及び画像形成装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 光ビーム走査装置で、走査のタイミングを１
走査ごとに検出するための同期検知器を所定検知位置に
正確に取り付けるには、調整に手間取り多くの時間を要
しており、コスト高となっていた。 【解決手段】 光源より発した光ビームを偏向し、被走
査面上を走査する光偏向器と、前記光ビームの走査線上
に配置され、前記走査のタイミングを１走査ごとに検出
するための同期検知器８とを設けた光ビーム走査装置１
に於いて、前記光ビーム走査装置１の一部に、前記同期
検知器８を所定検知位置に取付けるための第１、第２の
取付基準部１Ｂ（１１Ａ）を設けたことを特徴とする光
ビーム走査装置。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光ビームを光偏向
器で被走査面上を走査する際、走査線上に配置され、前
記走査のタイミングを１走査ごとに検出するための同期
検知器を正確な位置に取り付けることが出来る光ビーム
走査装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】光源である半導体レーザ発光体より発す
る光ビームを、回転するポリゴンミラー、ｆθレンズ等
の光偏向器と、反射ミラーを用いて像担持体に記録を行
うとき、光ビームの走査を行う走査線上に走査のタイミ
ングを１走査ごとに検出するための同期検知器を設ける
ことにより正確な露光を前記像担持体上に行っている。

【０００３】図４（ａ），（ｂ）は、従来の光ビーム走
査装置に設けた同期検知器の取り付け状態を示す分解斜
視図と、取り付けを完了した正面図である。

【０００４】図４（ａ）に示すように、センサ８と基板
９とを有するには同期検知器８０にはセンサ８Ａを制御
する制御部品８１が基板９に取り付けられ、枠体１０の
開口部１１１に同期検知器８０が配置されるように基板
９をネジ８３，８４で枠体１のネジ孔１３，１４に取り
付ける。

【０００５】図４（ｂ）は、枠体１０に基板９をネジ孔
１３，１４で取り付けた状態を示しており、先ずネジ孔
１３，１４でセンサ８と共に基板９を枠体１０に仮締め
し、走査のタイミングを１走査ごとに検出するＡ−Ａ線
位置に同期検知器８０の検知部であるセンサ８が正確に
配置されように調整する。調整方法は基板９に設けた横
方向の長孔８４，８５により右左に移動して調整した
後、ネジ孔１３，１４で基板９を枠体１０に固定する。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】前記同期検知器８０の
センサ８は、主走査方向に対する検知幅が約１ｍｍ程度
であり、副走査方向が上下に約３ｍｍの長さで形成され
ている。従って、特に主走査方向で１走査ごとに検出す
る位置にセンサ８を正確に配置して固定するには、例え
ば治具等を用いるか、センサ８に光を当てるかの方法で
基板９を移動し、センサ８が完全に所定の検知位置に調
整した後、ネジ８３，８４で枠体１０のネジ孔１３，１
４に取り付け固定している。

【０００７】更に、副走査方向でも光ビーム走査装置を
組み立てたとき、反射ミラーに組立誤差が発生して副走
査方向の光ビームがセンサ８に正確に入射するように調
整しなければならない。

【０００８】このように、同期検知器８０を枠体１０の
所定位置に正確に取り付ける作業は、調整も含めて長時
間の組み立て作業となり、光ビーム走査装置を製作する
上で作業効率を低下させており、製造コストを高くする
欠点があった。

【０００９】本発明は、前記の欠点を改善するため特に
考えられたものである。即ち、枠体に同期検知器を所定
検知位置に調整を行うことなく正確な取り付けを可能に
することを目的とするものである。

【００１０】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成する請求
項１の発明にかかる光ビーム走査装置は、光源より発し
た光ビームを偏向し、被走査面上を走査する光偏向器
と、前記光ビームの走査線上に配置され、前記走査のタ
イミングを１走査ごとに検出するための同期検知器とを
設けた光ビーム走査装置に於いて、前記光ビーム走査装
置の一部に、前記同期検知器を所定検知位置に取付ける
ための取付基準部を設けたことを特徴とするものであ
る。

【００１１】請求項２の発明にかかる光ビーム走査装置
は、前記取付基準部に前記同期検知器を接触させた位置
で、前記同期検知器を所定検知位置に固定する固定手段
を有することを特徴とするものである。

【００１２】請求項３の発明にかかる光ビーム走査装置
は、前記同期検知器は基板とセンサとからなり、前記同
期検知器を所定検知位置に取付けるため、前記基板及び
／又はセンサに前記取付基準部と接触させる取付位置決
定部を設けたことを特徴とするものである。

【００１３】請求項４の発明にかかる光ビーム走査装置
は、前記取付基準部は、前記光ビームの主走査方向及び
副走査方向に於いて位置決めするために、少なくとも２
つ設けられたことを特徴とするものである。

【００１４】請求項５の発明にかかる光ビーム走査装置
は、前記光ビーム走査装置の枠体は、前記取付基準部と
共に樹脂で一体成形されていることを特徴とするもので
ある。

【００１５】請求項６の発明にかかる画像形成装置は、
請求項１〜５の何れか１項に記載の前記光ビーム走査装
置を有したことを特徴とするものである。

【００１６】

【発明の実施の形態】図１は、同期検知器８０を使用
し、ポリゴンミラー２を用いた本発明の光ビーム走査装
置１の実施形態例を示す斜視図である。

【００１７】図１は、光ビーム走査装置１の全体構成で
あり、半導体レーザ発光体３より、発光され平行光にな
した光ビームを第１結像光学系の第１シリンドリカルレ
ンズ４を通過させ、矢印方向に回転する前記ポリゴンミ
ラー２と、ｆθレンズ５で偏向した光ビームを第２結像
光学系の第２シリンドリカルレンズ６を介して反射ミラ
ー１１より感光体ドラム１２面上に、所定のスポット径
で主走査方向と、副走査方向に走査して露光する前記各
手段が樹脂で構成された枠体１０の内部１Ａに設けられ
ている。

【００１８】更に、光ビーム走査装置１には、１走査毎
の同期検知をを行うため、光ビームの主走査方向に配置
された反射ミラー７で主走査開始前の光ビームを反射ミ
ラー７で反射し、基板９とセンサ８とからなる同期検知
器８０にビームを入射し、入射され１ビームよりビーム
数をカウントすることにより前記走査を行うため同期タ
イミングを検出している。

【００１９】図２（ａ），（ｂ）及び図３は、図１の光
ビームを受ける同期検知器８０と、同期検知器８０を枠
体１０の所定の位置に取り付ける構成を示す分解斜視図
と、組立図である。

【００２０】図２（ａ）は、枠体１０の一部と、同期検
知器８０とを分解した状態で図示している。

【００２１】先ず、基板９の一側面には、図２（ｂ）
と、図３に示すように、横幅１ｍｍ、縦長さ３ｍｍの縦
方向に細長い光ビームを入射させる入射孔８Ａを設けた
センサ８を固定すると共に、基板９の他側面に設けた制
御部品８１と導線等で前記センサ８と接続された同期検
知器８０が構成されている。

【００２２】更に、基板９には第１取付位置決定部８７
を形成した切込部８６が設けられており、この第１取付
位置決定部８７は、樹脂で一体成形された枠体１０に設
けられた第１取付基準部１１Ｂ（後段で詳述する）に接
触して同期検知器８０を主走査方向に対して所定検知位
置に配置する。

【００２３】一方、同期検知器８０を主走査方向に対し
て所定検知位置に配置するため、枠体１０に一体に樹脂
成形した突起部１Ｂに、前記第１取付基準部１１Ｂが一
体形成されている。

【００２４】更に、枠体１０には同期検知器８０のセン
サ８に光ビームの入射を可能にするコ字形の開口部１１
１が形成されている。この開口部１１１には、同期検知
器８０のセンサ８を副走査方向に対して所定検知位置に
配置するため、前記開口部１１１の一部に第２取付基準
部１１Ａが形成され、この第２取付基準部１１Ａとセン
サ８の下位置に設けた第２取付位置決定部８Ｂを接触す
ることにより同期検知器８０を副走査方向に対して所定
検知位置に配置する。

【００２５】８２，８３は、基板９とセンサ８とからな
る同期検知器８０を、枠体１０に固定するための固定ネ
ジで、基板９に設けた取付用孔８４，８５に固定ネジ８
２，８３を貫通させ、枠体１０に設けたネジ孔１３，１
４で同期検知器８０を枠体１０に固定して設けるように
構成されている。

【００２６】次に、前記同期検知器８０を枠体１０に対
して主走査方向と、副走査方向に対して所定検知位置に
組み立てる順序を説明する。

【００２７】基板９の取付用孔８４，８５を枠体１０に
設けたネジ孔１３，１４と略一致させるよう枠体１０に
基板９を取り付ける。その際、基板９の切込部８６に第
１取付基準面１１Ｂが挿入されると共に、図３に示すよ
うに同期検知器８０のセンサ８も開口部１１１に挿入さ
れ、光ビームの入射方向に向けて配置される。

【００２８】次に、固定ネジ８２，８３を取付用孔８
４，８５に貫通させた後、ネジ孔１３，１４に固定ネジ
８２，８３で基板９が枠体１０に対して移動出来る状態
で止めておく。

【００２９】次に、図２（ｂ）に示す矢印の主走査方向
に同期検知器８０を移動し、基板９の第１取付位置決定
部８７が第１取付基準部１１Ｂに接することにより、基
板９を介してセンサ８に形成した光ビームの入射孔８Ａ
が主走査方向の所定検知位置に配置される。

【００３０】次に、図３に示すように、同期検知器８０
を前記開口部１１１内で副走査方向である下方に移動し
て第２取付基準部１１Ａとセンサ８の第２取付位置決定
部８Ｂが接触させて副走査方向における所定検知位置に
センサ８に形成した光ビームの入射孔８Ａが配置され
る。

【００３１】又、図３に示すように同期検知器８０のセ
ンサ８を主走査方向に対して所定検知位置に配置する手
段として、前記開口部１１１の一部に前記第１取付基準
部１１Ｂに対応する取付基準部１１１Ａを形成し、該取
付基準部１１１Ａとセンサ８の側方に設けた第１取付位
置決定部８Ｂに対応する取付位置決定部８Ｃ上とを接触
することにより同期検知器８０を主走査方向に対して所
定検知位置に配置することも出来る。

【００３２】以上のように枠体１０に対して所定検知位
置に、センサ８と基板９を有する同期検知器８０が配置
されると、次に、固定ネジ８２，８３により基板９を枠
体１０に固定することによりセンサ８の入射孔８Ａを正
確に所定検知位置に設定することが出来る。

【００３３】前記のように、所定検知位置に組み立てら
れた同期検知器８０により光ビームの走査を行う同期タ
イミングが正確に検出される光ビーム走査装置１を、電
子写真方式のプロセスを使用した複写機、又は、プリン
タ等の露光部に用いることで極めて鮮明な画像を複写
機、又は、プリンタ等の画像形成装置で得ることが出来
る。

【００３４】

【発明の効果】請求項１に於いて、光源より発した光ビ
ームを偏向し、被走査面上を走査する光偏向器と、前記
光ビームの走査線上に配置され、前記走査のタイミング
を１走査ごとに検出するための同期検知器とを設けた光
ビーム走査装置に於いて、前記光ビーム走査装置の一部
に、前記同期検知器を所定検知位置に取付けるための取
付基準部を設けたことにより、光ビーム走査装置に同期
検知器を取り付ける際、取付基準部より同期検知器を所
定検知位置に短時間に、且つ正確に取り付けることが可
能となった。

【００３５】請求項２に於いて、前記取付基準部に、前
記同期検知器を接触させる位置で、前記同期検知器を所
定検知位置に固定する固定手段を有することにより、同
期検知器を取付基準部に接触させ、同期検知器を光ビー
ム走査装置に固定することにより、同期検知器により１
走査ごとのタイミングを正確な位置で固定することが出
来る。

【００３６】請求項３に於いて、前記同期検知器は基板
とセンサとからなり、前記同期検知器を所定検知位置に
取付けるため、前記基板及び／又はセンサに前記取付基
準部と接触させる取付位置決定部を設けたことにより、
基板及び／又はセンサに設けた取付位置決定部を取付基
準部に接触させることにより、同期検知器を所定検知位
置の正確な位置に短時間に配置することが可能となっ
た。

【００３７】請求項４に於いて、前記取付基準部は、前
記光ビームの主走査方向及び副走査方向に於いて位置決
めするために、少なくとも２つ設けられたことにより、
同期検知器は、主走査方向と副走査方向に対して所定検
知位置の正確な位置に短時間に位置決めし取り付けるこ
とが可能となった。

【００３８】請求項５に於いて、前記光ビーム走査装置
の枠体は、前記取付基準部と共に樹脂で一体成形されて
いることにより、光ビーム走査装置の枠体は樹脂で一体
成形されているので、取付基準部が枠体の所定位置で正
確に設けることが出来ると共に、大量に、且つ、安価に
製造することが可能となった。

【００３９】請求項６に於いて、請求項１〜５の何れか
１項に記載の前記光ビーム走査装置を有したことによ
り、前記光ビーム走査装置を画像形成装置に用いたと
き、所定検知位置に組み立てられた同期検知器により光
ビームの走査を行う同期タイミングが正確に検出される
光ビーム走査装置１を、電子写真方式のプロセスを使用
した複写機、又は、プリンタ等の露光部に用いることが
でき、極めて鮮明な画像を複写機、又は、プリンタ等で
得ることが出来る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の光ビーム走査装置を示す斜視図であ
る。

【図２】本発明の光ビーム走査装置の枠体の所定位置に
同期検知器を取り付けた状態を示す分解斜視図と組立図
である。

【図３】本発明の光ビーム走査装置の枠体の所定位置に
同期検知器を取り付けた状態を示す斜視図である。

【図４】従来の光ビーム走査装置の枠体に同期検知器を
取り付けた状態を示す分角斜視図と、正面図である。

【符号の説明】

１ 光ビーム走査装置 １Ｂ 突起部 １１Ａ 第２取付基準部 １１Ｂ 第１取付基準部 ８ センサ ８０ 同期検知器 ８Ｂ 第２取付位置決定部 ９ 基板 １０ 枠体 ８２，８３ 固定ネジ ８７ 第１取付位置決定部 １１１ 開口部

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光源より発した光ビームを偏向し、被走
   査面上を走査する光偏向器と、前記光ビームの走査線上
   に配置され、前記走査のタイミングを１走査ごとに検出
   するための同期検知器とを設けた光ビーム走査装置に於
   いて、 前記光ビーム走査装置の一部に、前記同期検知器を所定
   検知位置に取付けるための取付基準部を設けたことを特
   徴とする光ビーム走査装置。
2. 【請求項２】 前記取付基準部に前記同期検知器を接触
   させた位置で、前記同期検知器を所定検知位置に固定す
   る固定手段を有することを特徴とする請求項１記載の光
   ビーム走査装置。
3. 【請求項３】 前記同期検知器は基板とセンサとからな
   り、 前記同期検知器を所定検知位置に取付けるため、前記基
   板及び／又はセンサに前記取付基準部と接触させる取付
   位置決定部を設けたことを特徴とする請求項２記載の光
   ビーム走査装置。
4. 【請求項４】 前記取付基準部は、前記光ビームの主走
   査方向及び副走査方向に於いて位置決めするために、少
   なくとも２つ設けられたことを特徴とする請求項１、２
   又は３記載の光ビーム走査装置。
5. 【請求項５】 前記光ビーム走査装置の枠体は、前記取
   付基準部と共に樹脂で一体成形されていることを特徴と
   する請求項１、２、３又は４記載の光ビーム走査装置。
6. 【請求項６】 請求項１〜５の何れか１項に記載の前記
   光ビーム走査装置を有したことを特徴とする画像形成装
   置。