JPH1197660A5 - 半導体装置及びその作製方法、並びにデジタルスチルカメラ - Google Patents
半導体装置及びその作製方法、並びにデジタルスチルカメラInfo
- Publication number
- JPH1197660A5 JPH1197660A5 JP1997273443A JP27344397A JPH1197660A5 JP H1197660 A5 JPH1197660 A5 JP H1197660A5 JP 1997273443 A JP1997273443 A JP 1997273443A JP 27344397 A JP27344397 A JP 27344397A JP H1197660 A5 JPH1197660 A5 JP H1197660A5
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- thin film
- semiconductor device
- photoelectric conversion
- film transistor
- substrate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Description
〔実施の形態1〕図1は、本発明の実施の形態を示す図である。図1(A)において、基板1000は、石英、合成石英、無アルカリガラス、ホウケイ酸ガラスなどの絶縁表面を有する基板1000である。その上に、ゲート電極1001、ゲート絶縁膜1002、チャネル形成領域1003、ドレイン領域1004、ソース領域1005からなる薄膜トランジスタが形成されている。薄膜半導体材料としては、多結晶シリコン、非晶質シリコンなどを用いてチャネル形成領域1003、ドレイン領域1004、ソース領域1005を形成する。
Claims (19)
- 絶縁表面を有する基板上に、
ゲート電極、ゲート絶縁膜、チャネル形成領域、ドレイン領域、ソース領域からなる薄膜トランジスタと、
前記薄膜トランジスタ上の光電変換装置が積層して形成され、
前記薄膜トランジスタ及び前記光電変換装置は前記基板上にマトリクス状に配置されてなる半導体装置であって、
前記薄膜トランジスタに接続する信号線と前記光電変換装置の下部電極の間には、導電性材料で形成されたシールドが設けられていることを特徴とする半導体装置。 - 絶縁表面を有する基板上に、
ゲート電極、ゲート絶縁膜、チャネル形成領域、ドレイン領域、ソース領域からなる薄膜トランジスタと、
前記薄膜トランジスタ上の光電変換装置が積層して形成され、
前記薄膜トランジスタ及び前記光電変換装置は前記基板上にマトリクス状に配置されてなる半導体装置であって、
前記薄膜トランジスタと前記光電変換装置の間には、導電性材料で形成されたシールドが設けられていることを特徴とする半導体装置。 - 絶縁表面を有する基板上に、
ゲート電極、ゲート絶縁膜、チャネル形成領域、ドレイン領域、ソース領域からなる薄膜トランジスタと、
前記薄膜トランジスタ上の光電変換装置が積層して形成され、
前記薄膜トランジスタ及び前記光電変換装置は前記基板上にマトリクス状に配置されてなる半導体装置であって、
前記薄膜トランジスタと前記光電変換装置は、当該薄膜トランジスタと当該光電変換装置の間に平坦化膜を有して積層されており、
前記薄膜トランジスタに接続する信号線と前記光電変換装置の間の前記平坦化膜上には、導電性材料で形成されたシールドが設けられていることを特徴とする半導体装置。 - 絶縁表面を有する基板上に、
ゲート電極、ゲート絶縁膜、チャネル形成領域、ドレイン領域、ソース領域からなる薄膜トランジスタと、
前記薄膜トランジスタ上の光電変換装置が積層して形成され、
前記薄膜トランジスタ及び前記光電変換装置は前記基板上にマトリクス状に配置されてなる半導体装置であって、
前記薄膜トランジスタと前記光電変換装置は、当該薄膜トランジスタと当該光電変換装置の間に平坦化膜を有して積層されており、
前記薄膜トランジスタと前記光電変換装置の間の前記平坦化膜上には、導電性材料で形成されたシールドが設けられていることを特徴とする半導体装置。 - 請求項3または4において、前記平坦化膜は有機樹脂膜であることを特徴とする半導体装置。
- 請求項1乃至5のいずれか1項において、前記導電性材料はアルミニウム、タンタル、クロム、モリブデン、タングステン、酸化インジウム、ITOのいずれかを含むものであることを特徴とする半導体装置。
- 請求項1乃至6のいずれか1項において、前記光電変換装置の光電変換層は水素化非晶質 シリコンを有することを特徴とする半導体装置。
- 請求項1乃至7のいずれか1項において、前記シールドは、接地電位または電源電位に接続されていることを特徴とする半導体装置。
- 請求項1乃至8のいずれか1項において、前記基板は石英、合成石英、無アルカリガラス、ホウケイ酸ガラスであることを特徴とする半導体装置。
- 請求項1乃至9のいずれか1項において、前記ゲート電極は、不純物がヘビードープされた半導体あるいは、アルミニウム、タンタル、クロム、モリブデン、タングステンのいずれかを用いることを特徴とする半導体装置。
- 請求項1乃至10のいずれか1項において、前記ゲート絶縁膜は、酸化珪素膜、窒化珪素膜、酸化珪素膜のいずれかの単層、または積層であることを特徴とする半導体装置。
- 請求項1乃至11のいずれか1項において、前記薄膜トランジスタはボトムゲート型の薄膜トランジスタであることを特徴とする半導体装置。
- 請求項1乃至12のいずれか1項の半導体装置を具備するデジタルスチルカメラ。
- 絶縁表面を有する基板上に、薄膜トランジスタと光電変換装置とが積層して形成され、且つ前記薄膜トランジスタ及び光電変換装置は前記基板上にマトリクス状に配置される半導体装置の作製方法であって、
絶縁表面を有する基板上に、
ゲート電極、ゲート絶縁膜、チャネル形成領域、ドレイン領域、ソース領域からなる薄膜トランジスタを形成し、
前記薄膜トランジスタ上に、第1の層間膜を形成し、
前記第1の層間膜上に、前記ドレイン領域に接続された信号線を形成し、
前記信号線及び前記第1の層間膜を覆って、第2の層間膜を形成し、
前記第2の層間膜上に導電性材料でなるシールドを形成し、
前記シールド上に第3の層間膜を形成し、
前記ソース領域に接続するためのコンタクトホールを形成し、
前記第3の層間絶縁膜上、及び前記コンタクトホールに光電変換装置の下部電極を形成し、
前記下部電極上に光電変換層を形成し、
前記光電変換層上に前記光電変換装置の上部電極を形成することを特徴とする半導体装置の作製方法。 - 請求項14において、前記第2の層間膜は有機樹脂膜であることを特徴とする半導体装置の作製方法。
- 請求項14または15において、前記導電性材料は、アルミニウム、タンタル、クロム、モリブデン、タングステン、酸化インジウム、ITOのいずれかを含むものであることを特徴とする半導体装置の作製方法。
- 請求項14乃至16のいずれか1項において、前記薄膜トランジスタはボトムゲート型の薄膜トランジスタであることを特徴とする半導体装置の作製方法。
- 請求項14乃至17のいずれか1項において、前記シールドは、前記信号線上に形成されていることを特徴とする半導体装置の作製方法。
- 請求項14乃至17のいずれか1項において、前記シールドは、前記薄膜トランジスタ上を覆うように形成されていることを特徴とする半導体装置の作製方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9273443A JPH1197660A (ja) | 1997-09-19 | 1997-09-19 | イメージセンサおよびそれを用いた装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9273443A JPH1197660A (ja) | 1997-09-19 | 1997-09-19 | イメージセンサおよびそれを用いた装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1197660A JPH1197660A (ja) | 1999-04-09 |
| JPH1197660A5 true JPH1197660A5 (ja) | 2005-06-02 |
Family
ID=17527990
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9273443A Withdrawn JPH1197660A (ja) | 1997-09-19 | 1997-09-19 | イメージセンサおよびそれを用いた装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1197660A (ja) |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4323827B2 (ja) * | 2003-02-14 | 2009-09-02 | キヤノン株式会社 | 固体撮像装置及び放射線撮像装置 |
| US7759680B2 (en) * | 2005-11-30 | 2010-07-20 | General Electric Company | Thin-film transistor and diode array for an imager panel or the like |
| JP4498283B2 (ja) | 2006-01-30 | 2010-07-07 | キヤノン株式会社 | 撮像装置、放射線撮像装置及びこれらの製造方法 |
| JP5293197B2 (ja) * | 2009-01-07 | 2013-09-18 | セイコーエプソン株式会社 | 光電変換装置、電気光学装置、電子機器 |
| JP5654305B2 (ja) | 2010-09-28 | 2015-01-14 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 光センサアレイ |
| JP5974438B2 (ja) * | 2011-08-30 | 2016-08-23 | セイコーエプソン株式会社 | 光電変換装置および電子機器 |
| JP2013161810A (ja) | 2012-02-01 | 2013-08-19 | Japan Display West Co Ltd | 撮像装置およびその製造方法ならびに撮像表示システム |
| JP5700073B2 (ja) * | 2013-06-13 | 2015-04-15 | セイコーエプソン株式会社 | 光電変換装置、電気光学装置、電子機器 |
| WO2017085591A1 (ja) * | 2015-11-20 | 2017-05-26 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置、該半導体装置を有する表示装置、及び該半導体装置を有する電子機器 |
| US10355040B2 (en) | 2016-02-29 | 2019-07-16 | Sharp Kabushiki Kaisha | Photoelectric conversion device |
| CN105720063B (zh) * | 2016-04-13 | 2019-02-15 | 京东方科技集团股份有限公司 | 阵列基板及其制备方法、传感器和探测设备 |
-
1997
- 1997-09-19 JP JP9273443A patent/JPH1197660A/ja not_active Withdrawn
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP2985784B1 (en) | Low-temperature poly-silicon tft array substrate, manufacturing method therefor, and display apparatus | |
| US20110266542A1 (en) | Semiconductor device and method of fabricating the same | |
| US10937813B2 (en) | Active matrix substrate, liquid crystal display device, organic electroluminescent display device and method for producing active matrix substrate | |
| TWI418910B (zh) | 陣列基板及其形成方法 | |
| JPH06342909A (ja) | 薄膜トランジスタ及びその製法 | |
| JP2001175198A5 (ja) | 表示装置 | |
| US8421944B2 (en) | Display device substrate, display device, and wiring substrate | |
| KR102457204B1 (ko) | 박막 트랜지스터 기판 및 이를 이용한 표시장치 | |
| US11158710B2 (en) | Display device | |
| US9219085B2 (en) | Thin film transistor display panel and manufacturing method thereof | |
| WO2013137045A1 (ja) | 半導体装置およびその製造方法 | |
| WO2019000493A1 (zh) | 薄膜晶体管阵列基板及其制备方法、oled显示装置 | |
| CN1312958A (zh) | 集成无机/有机互补薄膜晶体管电路及其制造方法 | |
| CN103779355A (zh) | 薄膜晶体管基板及包含此的有机发光显示装置 | |
| JP2000150906A5 (ja) | ||
| JPH1197660A5 (ja) | 半導体装置及びその作製方法、並びにデジタルスチルカメラ | |
| TWI573257B (zh) | 感測裝置 | |
| CN112740420B (zh) | 薄膜晶体管及其制造方法 | |
| TW200302386A (en) | Semiconductor display device, method for making the same, and active matrix type display device | |
| JPH10125928A5 (ja) | ||
| CN114270252B (zh) | 阵列基板、显示装置和制造阵列基板的方法 | |
| US5834344A (en) | Method for forming high performance thin film transistor structure | |
| KR101054340B1 (ko) | 박막 트랜지스터 표시판 및 그 제조 방법 | |
| US12328907B2 (en) | Semiconductor device and manufacturing method thereof | |
| JPH0653506A (ja) | 薄膜トランジスタ |