|
JP3587081B2
(ja)
|
1999-05-10 |
2004-11-10 |
豊田合成株式会社 |
Iii族窒化物半導体の製造方法及びiii族窒化物半導体発光素子
|
|
JP3555500B2
(ja)
|
1999-05-21 |
2004-08-18 |
豊田合成株式会社 |
Iii族窒化物半導体及びその製造方法
|
|
US6580098B1
(en)
|
1999-07-27 |
2003-06-17 |
Toyoda Gosei Co., Ltd. |
Method for manufacturing gallium nitride compound semiconductor
|
|
JP2001185493A
(ja)
|
1999-12-24 |
2001-07-06 |
Toyoda Gosei Co Ltd |
Iii族窒化物系化合物半導体の製造方法及びiii族窒化物系化合物半導体素子
|
|
JP4432180B2
(ja)
|
1999-12-24 |
2010-03-17 |
豊田合成株式会社 |
Iii族窒化物系化合物半導体の製造方法、iii族窒化物系化合物半導体素子及びiii族窒化物系化合物半導体
|
|
JP2001267242A
(ja)
|
2000-03-14 |
2001-09-28 |
Toyoda Gosei Co Ltd |
Iii族窒化物系化合物半導体及びその製造方法
|
|
EP1265273A4
(fr)
|
2000-03-14 |
2009-05-06 |
Toyoda Gosei Kk |
Procede de production de semiconducteur a base de compose de nitrure iii et element en semiconducteur a base de compose de nitrure iii
|
|
TW518767B
(en)
|
2000-03-31 |
2003-01-21 |
Toyoda Gosei Kk |
Production method of III nitride compound semiconductor and III nitride compound semiconductor element
|
|
JP2001313259A
(ja)
|
2000-04-28 |
2001-11-09 |
Toyoda Gosei Co Ltd |
Iii族窒化物系化合物半導体基板の製造方法及び半導体素子
|
|
JP3864670B2
(ja)
*
|
2000-05-23 |
2007-01-10 |
豊田合成株式会社 |
Iii族窒化物系化合物半導体発光素子の製造方法
|
|
US7052979B2
(en)
|
2001-02-14 |
2006-05-30 |
Toyoda Gosei Co., Ltd. |
Production method for semiconductor crystal and semiconductor luminous element
|
|
JP2002280314A
(ja)
|
2001-03-22 |
2002-09-27 |
Toyoda Gosei Co Ltd |
Iii族窒化物系化合物半導体の製造方法、及びそれに基づくiii族窒化物系化合物半導体素子
|
|
JP3690326B2
(ja)
|
2001-10-12 |
2005-08-31 |
豊田合成株式会社 |
Iii族窒化物系化合物半導体の製造方法
|
|
JP4241764B2
(ja)
*
|
2006-06-07 |
2009-03-18 |
豊田合成株式会社 |
Iii族窒化物系化合物半導体発光素子
|