JPS5637057U - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS5637057U JPS5637057U JP11956979U JP11956979U JPS5637057U JP S5637057 U JPS5637057 U JP S5637057U JP 11956979 U JP11956979 U JP 11956979U JP 11956979 U JP11956979 U JP 11956979U JP S5637057 U JPS5637057 U JP S5637057U
- Authority
- JP
- Japan
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11956979U JPS5637057U (de) | 1979-08-29 | 1979-08-29 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11956979U JPS5637057U (de) | 1979-08-29 | 1979-08-29 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5637057U true JPS5637057U (de) | 1981-04-09 |
Family
ID=29351773
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11956979U Pending JPS5637057U (de) | 1979-08-29 | 1979-08-29 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5637057U (de) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009168623A (ja) * | 2008-01-16 | 2009-07-30 | Moritex Corp | Ｔｌｃ用補助装置 |
| WO2011149041A1 (ja) * | 2010-05-27 | 2011-12-01 | ダイセル化学工業株式会社 | 薄層クロマトグラフィーによる試料の検出方法、薄層クロマトグラフィープレート、及びその製造方法 |
| WO2018123476A1 (ja) * | 2016-12-26 | 2018-07-05 | パナソニックＩｐマネジメント株式会社 | 薄層クロマトグラフィープレート及びそれを用いた試料の分析方法 |
| JP2020531840A (ja) * | 2017-08-24 | 2020-11-05 | メルク パテント ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングＭｅｒｃｋ Ｐａｔｅｎｔ Ｇｅｓｅｌｌｓｃｈａｆｔ ｍｉｔ ｂｅｓｃｈｒａｅｎｋｔｅｒ Ｈａｆｔｕｎｇ | サンプルを提供する方法および装置 |
-
1979
- 1979-08-29 JP JP11956979U patent/JPS5637057U/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009168623A (ja) * | 2008-01-16 | 2009-07-30 | Moritex Corp | Ｔｌｃ用補助装置 |
| WO2011149041A1 (ja) * | 2010-05-27 | 2011-12-01 | ダイセル化学工業株式会社 | 薄層クロマトグラフィーによる試料の検出方法、薄層クロマトグラフィープレート、及びその製造方法 |
| EP2579034A4 (de) * | 2010-05-27 | 2014-07-16 | Daicel Corp | Verfahren zur probendetektion durch dünnschichtchromatographie, dünnschichtchromatographieplatte und herstellungsverfahren dafür |
| JP5941405B2 (ja) * | 2010-05-27 | 2016-06-29 | 株式会社ダイセル | 薄層クロマトグラフィーによる試料の検出方法、薄層クロマトグラフィープレート、及びその製造方法 |
| WO2018123476A1 (ja) * | 2016-12-26 | 2018-07-05 | パナソニックＩｐマネジメント株式会社 | 薄層クロマトグラフィープレート及びそれを用いた試料の分析方法 |
| JPWO2018123476A1 (ja) * | 2016-12-26 | 2019-10-31 | パナソニックＩｐマネジメント株式会社 | 薄層クロマトグラフィープレート及びそれを用いた試料の分析方法 |
| JP2020531840A (ja) * | 2017-08-24 | 2020-11-05 | メルク パテント ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングＭｅｒｃｋ Ｐａｔｅｎｔ Ｇｅｓｅｌｌｓｃｈａｆｔ ｍｉｔ ｂｅｓｃｈｒａｅｎｋｔｅｒ Ｈａｆｔｕｎｇ | サンプルを提供する方法および装置 |