JPS58106452A - ア−ク溶接部の非破壊検査装置 - Google Patents
ア−ク溶接部の非破壊検査装置Info
- Publication number
- JPS58106452A JPS58106452A JP20678381A JP20678381A JPS58106452A JP S58106452 A JPS58106452 A JP S58106452A JP 20678381 A JP20678381 A JP 20678381A JP 20678381 A JP20678381 A JP 20678381A JP S58106452 A JPS58106452 A JP S58106452A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- detection
- welding
- needles
- pair
- welded
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/02—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance
- G01N27/04—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating resistance
- G01N27/20—Investigating the presence of flaws
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はアーク溶接部の非破壊検査装置に係広史に具体
的には溶接部近傍に発生する未溶着部の検出と未溶着部
の形成に影響を及ばず溶接ワイヤねらい位置の測定を行
う非破壊検査装ｆｉｔＫ関する。
的には溶接部近傍に発生する未溶着部の検出と未溶着部
の形成に影響を及ばず溶接ワイヤねらい位置の測定を行
う非破壊検査装ｆｉｔＫ関する。
溶接部の非破壊検査方法として超音波探傷、Ｘ線透過試
験、電気抵抗試験等があシ、溶接部の欠陥に対してはそ
れぞれ有効な検査方法であるが溶接欠陥を生じる原因と
なる溶接ワイヤねらい位置については別の測定手段を必
要としてｂた。
験、電気抵抗試験等があシ、溶接部の欠陥に対してはそ
れぞれ有効な検査方法であるが溶接欠陥を生じる原因と
なる溶接ワイヤねらい位置については別の測定手段を必
要としてｂた。
以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。第１
図には溶接ワイヤねらい位置４と被溶接材１，２を溶接
する際に溶接部３近傍に発生する未溶着部５，６の形成
状況が示されている。同図■は正規のねらい位置で溶接
した状態を示し、この場合は未溶着部は形成されない。
図には溶接ワイヤねらい位置４と被溶接材１，２を溶接
する際に溶接部３近傍に発生する未溶着部５，６の形成
状況が示されている。同図■は正規のねらい位置で溶接
した状態を示し、この場合は未溶着部は形成されない。
ねらい位置４が被溶接材話 ２へずれた場合に未溶着部
５．６が発生し、被溶接材１との境界に未溶着部５が発
生する。
５．６が発生し、被溶接材１との境界に未溶着部５が発
生する。
逆に被溶接材１の方向へずれると溶接部３と被溶接材２
の境界に未溶着部６が形成される（同図山几 Ｃ））
。
の境界に未溶着部６が形成される（同図山几 Ｃ））
。
このようにアーク溶接においては溶接ワイヤねらい位置
４が溶接品質に大きな影ｔ＃を及ぼし、未溶着部５，６
の発生している溶接部３は溶接強度が著しく低下する。
４が溶接品質に大きな影ｔ＃を及ぼし、未溶着部５，６
の発生している溶接部３は溶接強度が著しく低下する。
なお未溶着部の発生はねらい位置によって左右されるが
、ねらい位置が正規であっても他の髪因、例えば溶接電
流、２イヤチツプの摩耗等にＪシ発生する可ＩｔｒＳ性
があシ、ねらい位置４の管理たけでは十分な溶接品質を
保証することはできない。
、ねらい位置が正規であっても他の髪因、例えば溶接電
流、２イヤチツプの摩耗等にＪシ発生する可ＩｔｒＳ性
があシ、ねらい位置４の管理たけでは十分な溶接品質を
保証することはできない。
本発明の目的は溶接部の欠陥出資と同時に欠陥発生の原
因となる溶接ワイヤのねらい位置の計測が可能なアーク
溶接部の非破壊検査装置を提供するにある。
因となる溶接ワイヤのねらい位置の計測が可能なアーク
溶接部の非破壊検査装置を提供するにある。
本発明の特徴は電気抵抗法を用いたアーク溶接部の非破
壊検査装Ｈにおいて、溶接部の電気抵抗（電圧）を検出
する一対の検出針に対向させてスケールを設け、該一対
の検出針全支持部材を介して一体的に設は且つ該支持部
材に指針を固設すると共に、前記一対の検出針をスクー
ルに沿って移動可能に設けた点にある。□ 第２図は被溶接材（被検査物）の溶接欠陥の検出原理を
示しておシ、同図（４）は欠陥のない場合を、また同図
田）は欠陥のある場合をそれぞれ示している。被検査物
１の電気抵抗値はその断面積を５１ 。
壊検査装Ｈにおいて、溶接部の電気抵抗（電圧）を検出
する一対の検出針に対向させてスケールを設け、該一対
の検出針全支持部材を介して一体的に設は且つ該支持部
材に指針を固設すると共に、前記一対の検出針をスクー
ルに沿って移動可能に設けた点にある。□ 第２図は被溶接材（被検査物）の溶接欠陥の検出原理を
示しておシ、同図（４）は欠陥のない場合を、また同図
田）は欠陥のある場合をそれぞれ示している。被検査物
１の電気抵抗値はその断面積を５１ 。
検出針８，８′の間隔を１０とすると次式で表わされる
。
。
Ｒ□−１・ ０
Ｓ、 ・・・・（１）
そしてＪＩＩ電針７，７′間に定電流源９がら電流Ｉを
流した場合ＶＣ検出釘８，８′を介して電圧計１０で測
定される電圧Ｖ！は次式で表わされる。
流した場合ＶＣ検出釘８，８′を介して電圧計１０で測
定される電圧Ｖ！は次式で表わされる。
Ｖ、＝Ｉ−Ｒ，・・・・（２）
従って欠陥のない場合は検ＩＪｊ針７，７′の間隔ｌｎ
及び断面積Ｓｌにより電気抵抗値が決定される。
及び断面積Ｓｌにより電気抵抗値が決定される。
次に溶接欠陥が発生している場合の電気抵抗値は欠陥部
の断面積金Ｓ茸とすると次式で表わされる。
の断面積金Ｓ茸とすると次式で表わされる。
０
■ｉに！１１ｓ； ・・Φ・（３）上式（３
）から明らかな如く電気抵抗値は欠陥のない場合に比べ
て増加することが判る。ここで欠陥がある場合の電圧＃
ｔ １ ｏ ｖｃよシ耐測される電圧値は次式（４）で
表わされる。
）から明らかな如く電気抵抗値は欠陥のない場合に比べ
て増加することが判る。ここで欠陥がある場合の電圧＃
ｔ １ ｏ ｖｃよシ耐測される電圧値は次式（４）で
表わされる。
Ｖ、 ＝Ｉ ｅＲｓ −−−−（４）
このように電圧計１０で上式（２）、 ＧＫ）によって
表わされる電圧値を比較するとＶ ｘ ＜ Ｖ ＊とな
シミ圧計１０の指示値から溶接欠陥の有無を推定できる
ことになる。なお検出針７．７’Ｆ（よシ検出される欠
陥検出出力は検出針間隔２．と通電針間陥ｌとの比ｌ・
／／の値で定まり検出針間隔／、を被検査領域にできる
だけ近ずけた方が検出出力は大きくなる。
このように電圧計１０で上式（２）、 ＧＫ）によって
表わされる電圧値を比較するとＶ ｘ ＜ Ｖ ＊とな
シミ圧計１０の指示値から溶接欠陥の有無を推定できる
ことになる。なお検出針７．７’Ｆ（よシ検出される欠
陥検出出力は検出針間隔２．と通電針間陥ｌとの比ｌ・
／／の値で定まり検出針間隔／、を被検査領域にできる
だけ近ずけた方が検出出力は大きくなる。
次に第３図に、第２図に示した被検査物の欠陥検出原理
をアーク溶接部に適用した本発明の一実施例ケ示す。同
図において通電針８，８′及び検出針７，７′を図示の
如く配置する。ここで未浴着部５，６が発生していると
、既述した理由によシミ電圧計ｌＯで測定される電圧値
が増加することと、溶接部３内に未溶着部５，６が存在
する場合にこれを横切って流れる電流１１が未溶着部５
゜６にエフその流れが詔書され、見＃（上の電気抵抗４
値が未溶着部５，６の大きさに比ν１１シて増加するこ
とから電圧＊＋ｌＯによシ指示される電圧値が高くなシ
、欠陥（未溶着部）を検出できることになる。々お検出
針８，８′の間隔ｌ・は検出出力を高めるために溶接部
３にできるだけ近ずけた配置となるように設定されてい
る。なお検出針８，８′によシ検出される電圧は本実施
例では電圧計１０により測定するように構成されている
が、実際には電圧計のみ々らず増幅器、比較器１表示部
等を含む電圧検出回路が使用される。
をアーク溶接部に適用した本発明の一実施例ケ示す。同
図において通電針８，８′及び検出針７，７′を図示の
如く配置する。ここで未浴着部５，６が発生していると
、既述した理由によシミ電圧計ｌＯで測定される電圧値
が増加することと、溶接部３内に未溶着部５，６が存在
する場合にこれを横切って流れる電流１１が未溶着部５
゜６にエフその流れが詔書され、見＃（上の電気抵抗４
値が未溶着部５，６の大きさに比ν１１シて増加するこ
とから電圧＊＋ｌＯによシ指示される電圧値が高くなシ
、欠陥（未溶着部）を検出できることになる。々お検出
針８，８′の間隔ｌ・は検出出力を高めるために溶接部
３にできるだけ近ずけた配置となるように設定されてい
る。なお検出針８，８′によシ検出される電圧は本実施
例では電圧計１０により測定するように構成されている
が、実際には電圧計のみ々らず増幅器、比較器１表示部
等を含む電圧検出回路が使用される。
次に第４図に本発明に係る非破壊検査装置のねらい位置
測定部の構成を示す。同図においてまずマスターワーク
で検出針８．８”ｉ溶接部に対向し且つできるだけ溶接
部近傍に近い位置に配置し、検出針と一体的に構成され
ている指針１３の位置とスクール１２上の零点位置とを
一致させるよりに両者全移動させる（同図（Ａ））。そ
してスクール１２はこの時の位置を基準として固定して
おき、被溶接材１方向へのずれを例えば−、被溶接材２
方向へのずれを十とし、スクール１２上釦記しておく０
この状態で溶接部のねらい位Ｗを測定する。
測定部の構成を示す。同図においてまずマスターワーク
で検出針８．８”ｉ溶接部に対向し且つできるだけ溶接
部近傍に近い位置に配置し、検出針と一体的に構成され
ている指針１３の位置とスクール１２上の零点位置とを
一致させるよりに両者全移動させる（同図（Ａ））。そ
してスクール１２はこの時の位置を基準として固定して
おき、被溶接材１方向へのずれを例えば−、被溶接材２
方向へのずれを十とし、スクール１２上釦記しておく０
この状態で溶接部のねらい位Ｗを測定する。
まず最初に検出針８，８′を溶接部近傍に配置するよう
に移動させる。次いでこの時の指針１３の位置をスクー
ル１２上で読み取る。ねらい位置が被溶接材２方向へず
れると、指針１３は例えば同図の）においては＋３の値
となり、被溶接材１方向へずれると指針１３は−２を示
す（同図１０））。このようにねらい位置のずれ量をス
クール１２に沿って指針と一対的に構成された検出針８
．８’に移動させることによシ測定することができる。
に移動させる。次いでこの時の指針１３の位置をスクー
ル１２上で読み取る。ねらい位置が被溶接材２方向へず
れると、指針１３は例えば同図の）においては＋３の値
となり、被溶接材１方向へずれると指針１３は−２を示
す（同図１０））。このようにねらい位置のずれ量をス
クール１２に沿って指針と一対的に構成された検出針８
．８’に移動させることによシ測定することができる。
アーク溶接においてはこの溶接ビードねらい位Ｍが溶接
欠陥を発生する重要外因子となり、ねらい位置を測定す
れば溶接欠陥の発生を予知することができる。
欠陥を発生する重要外因子となり、ねらい位置を測定す
れば溶接欠陥の発生を予知することができる。
次に第５図に本発明に係る非破壊検査装置のセンサ部の
要部の全体構成を示す。該検出部は溶接部の欠陥検査と
同時に欠陥の発生原因となるねらい位置を測定するもの
である。まず測定に際しては被溶接材１の機械加工面に
センナ部１４の端面１１：１η 全設定する。
要部の全体構成を示す。該検出部は溶接部の欠陥検査と
同時に欠陥の発生原因となるねらい位置を測定するもの
である。まず測定に際しては被溶接材１の機械加工面に
センナ部１４の端面１１：１η 全設定する。
次いで検出針８，８′が配置されている検出部１５を移
動させてねらい位置測定を行う。ねらい位置は検出部１
５の上面のスクール１２上で測定できる。ねらい位置の
測定後、電気抵抗試験に−よシ未溶着部等の欠陥検出を
行う。欠陥検出方法は前述したように通電針７，７′に
定電流１１を流し、検出針８，８′を介して検出される
電圧値に基づいて欠陥の有無を判定する。
動させてねらい位置測定を行う。ねらい位置は検出部１
５の上面のスクール１２上で測定できる。ねらい位置の
測定後、電気抵抗試験に−よシ未溶着部等の欠陥検出を
行う。欠陥検出方法は前述したように通電針７，７′に
定電流１１を流し、検出針８，８′を介して検出される
電圧値に基づいて欠陥の有無を判定する。
本実施例では検出部１５をねらい位＃を測定するために
移動可能に構成したことにょシミ気抵抗試験において溶
接部３内のみの情報を得ることが可能となり、欠陥検出
出力、即ち欠陥検出精度の向上を図ることができる。一
般の電気抵抗測定器においては検出部１５が固定式であ
シ、ねら−位置がずれた場合に被溶接材と溶接部との間
で測定が行われるため、溶接部と被溶接材とで電気抵抗
値が厳密には一致しないことから測定誤差を生じる一因
とをシ、検出出力が低下する。
移動可能に構成したことにょシミ気抵抗試験において溶
接部３内のみの情報を得ることが可能となり、欠陥検出
出力、即ち欠陥検出精度の向上を図ることができる。一
般の電気抵抗測定器においては検出部１５が固定式であ
シ、ねら−位置がずれた場合に被溶接材と溶接部との間
で測定が行われるため、溶接部と被溶接材とで電気抵抗
値が厳密には一致しないことから測定誤差を生じる一因
とをシ、検出出力が低下する。
次に第６図にねらい位置ずれ量と検出針を介して測定さ
れる検出出力との関係を示す実験結果の一例を示す。同
図から明らかなように未溶Ｍ部が発生した場合は測定値
がある基準レベルＡを越えることによシ知ることができ
る。未溶着部はねらい位置が２馴程度以上ずれた場合に
発生することがあり、その時の測定ｉｂ未溶着部が発生
していない場合に比べて高い値を示していることが判る
。
れる検出出力との関係を示す実験結果の一例を示す。同
図から明らかなように未溶Ｍ部が発生した場合は測定値
がある基準レベルＡを越えることによシ知ることができ
る。未溶着部はねらい位置が２馴程度以上ずれた場合に
発生することがあり、その時の測定ｉｂ未溶着部が発生
していない場合に比べて高い値を示していることが判る
。
以上に費明した如く本発明では溶接部の欠陥検査と同時
に欠陥発生の原因となる溶接ワイヤのねらい位置の計測
を行うように構成したので、本発明によれば検査時間の
短縮が図れ且つ欠陥発生を予知し得る。
に欠陥発生の原因となる溶接ワイヤのねらい位置の計測
を行うように構成したので、本発明によれば検査時間の
短縮が図れ且つ欠陥発生を予知し得る。
第１図は被溶接材を溶接する際妬溶接部近傍に発生する
未溶着部の形成状況を示す説明図、第２図は被検査物の
欠陥の検出原理金示す説ＢＡＩ￥′１１第３図は第２図
に示した欠陥の検出原理をアーク溶接部に適用した一例
を示す説明図、第４図は本発明に係る非破壊検査装置の
一実施例のねらい位置測定部の構成を示す図、第５図は
本発明に係る非破壊検査装置の一実施例のセンサ部の要
部の全体構成を示す図、第６図はねらい位置ずれ量と検
出針を介して測定される検出出力との関係の実験結果の
一例を示す特性図である。 １．２・・被溶接材、３・・溶接部、７，７・・通ｔｔ
ｂ８．８′・・検出針、１２・・スクール、１３・・指
針。 １４・争センサ部、１５ｅ・検出部。 代理人 鵜 沼 辰 之 （ほか２名）
未溶着部の形成状況を示す説明図、第２図は被検査物の
欠陥の検出原理金示す説ＢＡＩ￥′１１第３図は第２図
に示した欠陥の検出原理をアーク溶接部に適用した一例
を示す説明図、第４図は本発明に係る非破壊検査装置の
一実施例のねらい位置測定部の構成を示す図、第５図は
本発明に係る非破壊検査装置の一実施例のセンサ部の要
部の全体構成を示す図、第６図はねらい位置ずれ量と検
出針を介して測定される検出出力との関係の実験結果の
一例を示す特性図である。 １．２・・被溶接材、３・・溶接部、７，７・・通ｔｔ
ｂ８．８′・・検出針、１２・・スクール、１３・・指
針。 １４・争センサ部、１５ｅ・検出部。 代理人 鵜 沼 辰 之 （ほか２名）
Claims (1)
- 被溶接材間に配置される一対の通電針と、該一対の通電
針に接続される定電流源と、溶接部に配置される一対の
検出針と、該一対の検出針に接続される電圧検出回路と
を有し、前記一対の検出針によシ検出される電圧値に基
づいて溶接欠陥の有無を判定するアーク溶接部の非破壊
検査装置において、前記一対の検出針に対向させてスク
ールを設け、該一対の検出針を支持部材を介して一体的
に設け１つ該支持部材に指針を固設すると共に、前記一
対の検出針をスクールに沿って移動可能に設けたことを
特徴とするアーク溶接部の非破壊検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20678381A JPS58106452A (ja) | 1981-12-21 | 1981-12-21 | ア−ク溶接部の非破壊検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20678381A JPS58106452A (ja) | 1981-12-21 | 1981-12-21 | ア−ク溶接部の非破壊検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58106452A true JPS58106452A (ja) | 1983-06-24 |
| JPH0244019B2 JPH0244019B2 (ja) | 1990-10-02 |
Family
ID=16529012
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20678381A Granted JPS58106452A (ja) | 1981-12-21 | 1981-12-21 | ア−ク溶接部の非破壊検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58106452A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62103511A (ja) * | 1985-10-31 | 1987-05-14 | Nippon Kokan Kk <Nkk> | 電位差計測用電極位置決め方法 |
| JPH04284368A (ja) * | 1991-03-13 | 1992-10-08 | Japan Storage Battery Co Ltd | 鉛蓄電池の製造方法 |
| WO2024219490A1 (ja) * | 2023-04-21 | 2024-10-24 | 日置電機株式会社 | 測定方法及び測定システム |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4847393U (ja) * | 1971-10-08 | 1973-06-21 |
-
1981
- 1981-12-21 JP JP20678381A patent/JPS58106452A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4847393U (ja) * | 1971-10-08 | 1973-06-21 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62103511A (ja) * | 1985-10-31 | 1987-05-14 | Nippon Kokan Kk <Nkk> | 電位差計測用電極位置決め方法 |
| JPH04284368A (ja) * | 1991-03-13 | 1992-10-08 | Japan Storage Battery Co Ltd | 鉛蓄電池の製造方法 |
| WO2024219490A1 (ja) * | 2023-04-21 | 2024-10-24 | 日置電機株式会社 | 測定方法及び測定システム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0244019B2 (ja) | 1990-10-02 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5689183A (en) | Electromagnetic-induction type inspection device employing two induction coils connected in opposite phase relation | |
| JP2720389B2 (ja) | 部品の固有応力検出方法および装置 | |
| US5258708A (en) | Methods and apparatus for non-destructive testing of materials with eddy currents | |
| US3401332A (en) | Magnetic leakage field and eddy current flaw detection system | |
| JPS5877653A (ja) | 非破壊検査装置 | |
| JP2007147525A (ja) | 渦電流探傷プローブと被検査体のリフトオフ量評価方法及びその評価装置並びに渦電流探傷方法及び渦電流探傷装置 | |
| CA2539086C (en) | Method and apparatus for eddy current detection of material discontinuities | |
| US3555412A (en) | Probe for detection of surface cracks in metals utilizing a hall probe | |
| JPS58106452A (ja) | ア−ク溶接部の非破壊検査装置 | |
| JP3753499B2 (ja) | 磁気探傷装置及び方法 | |
| JPH0545184B2 (ja) | ||
| JP2012112868A (ja) | 内部欠陥計測方法及び内部欠陥計測装置 | |
| JP4619092B2 (ja) | レーザ溶接継手の検査方法及び検査装置 | |
| US2817060A (en) | Non-destructive flaw detection apparatus | |
| JPH01297546A (ja) | 導電性材料の劣化診断方法 | |
| CN108982651A (zh) | 基于铁磁平板对接焊缝裂纹检测的交流漏磁传感器及使用其进行裂纹检测的方法 | |
| JPS62134552A (ja) | 渦電流探傷法による亀裂深さ測定装置 | |
| JPH11160285A (ja) | 磁気探傷装置 | |
| JPH0470561A (ja) | 金属内異質層検出方法およびその装置 | |
| JP2011203055A (ja) | 溶接接合幅測定方法、電位差計測装置及び溶接接合幅測定システム | |
| JPH046461A (ja) | 低周波渦流探触子の感知有効深さ計測方法 | |
| JPS6193901A (ja) | ライナ厚測定方法 | |
| JPH0510893A (ja) | 異材金属境界部の判定方法 | |
| JPS6180076A (ja) | Ｍｒ素子の検査装置 | |
| JPH04291137A (ja) | 鋼帯突合せ溶接部の検査方法および検査装置 |