JPS58106537A - 金属像または金属パタ−ンの形成方法 - Google Patents
金属像または金属パタ−ンの形成方法Info
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- JPS58106537A JPS58106537A JP57216304A JP21630482A JPS58106537A JP S58106537 A JPS58106537 A JP S58106537A JP 57216304 A JP57216304 A JP 57216304A JP 21630482 A JP21630482 A JP 21630482A JP S58106537 A JPS58106537 A JP S58106537A
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- C23C18/16—Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by reduction or substitution, e.g. electroless plating
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- C23C18/1607—Process or apparatus coating on selected surface areas by direct patterning
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- G03C—PHOTOSENSITIVE MATERIALS FOR PHOTOGRAPHIC PURPOSES; PHOTOGRAPHIC PROCESSES, e.g. CINE, X-RAY, COLOUR, STEREO-PHOTOGRAPHIC PROCESSES; AUXILIARY PROCESSES IN PHOTOGRAPHY
- G03C1/00—Photosensitive materials
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- H—ELECTRICITY
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明は、露光後に金4イオン溶液からこの金属を物理
的現像または無電解メッキ溶液によって補力される核の
形態で堆積することができる感光性の半導電性化合物を
含有する基板あるいは該化合物からなる基板の表面の上
または下の少くとも一方に、金属像または金属パターン
を形成する方法に関するものである。
的現像または無電解メッキ溶液によって補力される核の
形態で堆積することができる感光性の半導電性化合物を
含有する基板あるいは該化合物からなる基板の表面の上
または下の少くとも一方に、金属像または金属パターン
を形成する方法に関するものである。
従来技術
米国特許第8,880,828号明細書は重合体の樹脂
結合剤中の半導電性顔料の層を紙支持体に設けてなる的
体上に像を形成するこのような方法を開示している。こ
の方法では、像のネガを通して露光すると)−により顔
料な可逆的に活性化し、次いで@肥媒体を像形成性還元
−酸化系と接触させ、この結果として像を不可逆的に形
成する。
結合剤中の半導電性顔料の層を紙支持体に設けてなる的
体上に像を形成するこのような方法を開示している。こ
の方法では、像のネガを通して露光すると)−により顔
料な可逆的に活性化し、次いで@肥媒体を像形成性還元
−酸化系と接触させ、この結果として像を不可逆的に形
成する。
プリント回路板のような絶縁性重合体基板材料上に導電
性金嘴パターンを形成する対応する方法は米国特許第8
,674,486号明細書に記載されており、この方法
も感光性の半導電性金属化合物な練水性樹脂結合剤中に
均一に分散させてなる層を表面に設けた基鈑材料を基材
とする。この方法では、選択的露光および関連する金輌
イオンの溶液・どの接触により金属核のパターンを形成
し、次いで金属核からなる像を物理的現像剤または無電
解メッキ液により補力して導電性パターンを形成する。
性金嘴パターンを形成する対応する方法は米国特許第8
,674,486号明細書に記載されており、この方法
も感光性の半導電性金属化合物な練水性樹脂結合剤中に
均一に分散させてなる層を表面に設けた基鈑材料を基材
とする。この方法では、選択的露光および関連する金輌
イオンの溶液・どの接触により金属核のパターンを形成
し、次いで金属核からなる像を物理的現像剤または無電
解メッキ液により補力して導電性パターンを形成する。
これらの方法ではスクリーンパターンまたは場合によっ
てはネガを用いる必要がある。また核像の形成中および
その補力中に選択性を維持するにはカブリ防止手段を使
用するような追加の処置が必要である。
てはネガを用いる必要がある。また核像の形成中および
その補力中に選択性を維持するにはカブリ防止手段を使
用するような追加の処置が必要である。
発明の目的
本発明はこれらの手段および保穫パターンの使用を不必
要にし、かつ像の形成または場合によってはパターンの
形成を著しく簡単にすることを目的とする。
要にし、かつ像の形成または場合によってはパターンの
形成を著しく簡単にすることを目的とする。
発明の構成
本発明は、内部または表面上に前記感光性の半導電性金
属化合物が存在する前記基板表面を、核形成性金縞のイ
オンを含有する溶液中に浸漬し、次いで前記基板に対し
て制御されて移動しかつ前記の関連する手導′d性化合
物によって吸収されるような波長をスペクトルの紫外部
または可視部に有するレーザー資力集宋ビームによりパ
ターンに従って露光することを特徴とする。
属化合物が存在する前記基板表面を、核形成性金縞のイ
オンを含有する溶液中に浸漬し、次いで前記基板に対し
て制御されて移動しかつ前記の関連する手導′d性化合
物によって吸収されるような波長をスペクトルの紫外部
または可視部に有するレーザー資力集宋ビームによりパ
ターンに従って露光することを特徴とする。
先ず、内部に半導電性化合物が含有されていてレーザー
光線の入射する表面部分上に、金属核をかかる溶液から
光化学的に堆積させる。しかる後に、これ以上露光せず
に、露光を伴わない無電解堆積法によりこの接触的(c
atalytic ’)核像上に償金属を堆積させるこ
とができる。この場合には、基板を同じ浴中に浸漬した
ままにしておく必要はない。
光線の入射する表面部分上に、金属核をかかる溶液から
光化学的に堆積させる。しかる後に、これ以上露光せず
に、露光を伴わない無電解堆積法によりこの接触的(c
atalytic ’)核像上に償金属を堆積させるこ
とができる。この場合には、基板を同じ浴中に浸漬した
ままにしておく必要はない。
既知のプログラム技術により所要のパターンに従って弊
ビームを移動させることにより4光を行うことができる
。
ビームを移動させることにより4光を行うことができる
。
本発明の他の例では、無電解メッキまたは物理的現像に
適当な金属塩およびこの金属塩の還元剤の溶液中で4元
を行う。
適当な金属塩およびこの金属塩の還元剤の溶液中で4元
を行う。
特公昭50−99,880号(C,A、 84 、94
240n(1976)参照)は金パターンなGa−As
−表面に被着させる方法を開示している。しかし、これ
を行うために主として波4ioμmの放射を発生するC
02−レーザーを使用している。この波長範囲では本発
明方法で行われるような介化学プロセスは勿論不ci7
能である。これらの刊公物に記載されている金属堆積物
は熱作用の結果であるに相違ない。
240n(1976)参照)は金パターンなGa−As
−表面に被着させる方法を開示している。しかし、これ
を行うために主として波4ioμmの放射を発生するC
02−レーザーを使用している。この波長範囲では本発
明方法で行われるような介化学プロセスは勿論不ci7
能である。これらの刊公物に記載されている金属堆積物
は熱作用の結果であるに相違ない。
保護パターンを使用する代りに、形成すべきパターンに
従って基板に対して移動する制御された資ビームによる
放射を使用する方法による作業を可能にするには、核形
成を十分に迅速に行う必要がある。このためには本発明
方法に用いる半導電性金属化合物が、使用レーザービー
ムの強さと協働して、極めて短い露光時間を可能とする
のに十分なalfに感光性であることが必要である。さ
らに、表面を浸漬させる溶液は使用する尤に対し十分に
高度な透過性を持っていることが必要である。
従って基板に対して移動する制御された資ビームによる
放射を使用する方法による作業を可能にするには、核形
成を十分に迅速に行う必要がある。このためには本発明
方法に用いる半導電性金属化合物が、使用レーザービー
ムの強さと協働して、極めて短い露光時間を可能とする
のに十分なalfに感光性であることが必要である。さ
らに、表面を浸漬させる溶液は使用する尤に対し十分に
高度な透過性を持っていることが必要である。
本発明の範囲内の極めて適当な半導゛離性金属酸化物は
二酸化チタンまたは酸化唾鉛である。
二酸化チタンまたは酸化唾鉛である。
核f象金属のイオンの溶液は使用した尤に対して可能な
最高の透過性を持つことが必要であるとい・う必要条件
を考1すれば、金または金合金を無電解堆積法ることが
できる溶液を核の形成および次の核の補力に用いること
は、極めて興味あることである。オランダ国特許出願第
8,108,174号およびイギリス国特肝第1,82
2,208号明細醤に開示されているこれらの溶液は、
感覚性半導体に適した波長a囲において、例えば、無電
解鋼メッキ溶液により著しく高い透過性を持っており、
最後に挙げた溶液だけは本発明方法において比較的低a
ばで1す用するかあるいは溶液を通る一層短い資通路と
共に使用するのが適当である。
最高の透過性を持つことが必要であるとい・う必要条件
を考1すれば、金または金合金を無電解堆積法ることが
できる溶液を核の形成および次の核の補力に用いること
は、極めて興味あることである。オランダ国特許出願第
8,108,174号およびイギリス国特肝第1,82
2,208号明細醤に開示されているこれらの溶液は、
感覚性半導体に適した波長a囲において、例えば、無電
解鋼メッキ溶液により著しく高い透過性を持っており、
最後に挙げた溶液だけは本発明方法において比較的低a
ばで1す用するかあるいは溶液を通る一層短い資通路と
共に使用するのが適当である。
次に本発明を実施例について説明する。
実施・1列 l
ガラス繊維強化エポキシ樹脂[4重量%の分量の二酸化
チタン粒子(ルチル型)を分散させてなる基板材料を、
50“Cにおいてメチルエチルケトン−水(1:2)混
合物で6分間処理し、次いでこれを周彼敬50 Hzの
振動iC6分間さらしながら11当り: Na 2 Cr 207120 g H2So、(d、=1.84)400m/およびH3P
0. (d =1.88 )200 ml と水を含
有する溶液で処理するこ1. Kより疎水性にした。
チタン粒子(ルチル型)を分散させてなる基板材料を、
50“Cにおいてメチルエチルケトン−水(1:2)混
合物で6分間処理し、次いでこれを周彼敬50 Hzの
振動iC6分間さらしながら11当り: Na 2 Cr 207120 g H2So、(d、=1.84)400m/およびH3P
0. (d =1.88 )200 ml と水を含
有する溶液で処理するこ1. Kより疎水性にした。
しかる借に、この基板材料を水中で洗浄し、次価酸銅
0.04モルエチレンジアミン四酢
酸ノ 四ナトリウム塩 0.072モルNaQ
F(0,12モル ホルムアルデヒド 0.10モルを有する
50°Cの水溶液を入れた石英キュベツト中VC#いた
。
0.04モルエチレンジアミン四酢
酸ノ 四ナトリウム塩 0.072モルNaQ
F(0,12モル ホルムアルデヒド 0.10モルを有する
50°Cの水溶液を入れた石英キュベツト中VC#いた
。
次いで、この基板材料を前記溶液中でパルス化窒素レー
ザーの集束ビームに露光した。このレーザーは出力IM
W、波長8B?nm、パルス持続時間4B5+およびパ
ルス周波数10 Hzであった。前記溶液を西る資の通
路を最短に維持した。有効露光時間を12xlO−8秒
とし、10分間補力した後に明確な像を得た。
ザーの集束ビームに露光した。このレーザーは出力IM
W、波長8B?nm、パルス持続時間4B5+およびパ
ルス周波数10 Hzであった。前記溶液を西る資の通
路を最短に維持した。有効露光時間を12xlO−8秒
とし、10分間補力した後に明確な像を得た。
エポキシ−ガラス繊維材料にZnO粉末を分散させたも
のを用いた場合に匹敵する結果が得られた。
のを用いた場合に匹敵する結果が得られた。
実施例 2
二酸化チタンを充填した基板材料を、同様な予備処理工
程の債に、11当り: エチレンジアミン四酢酸の 四ナトリウム塩 0.072モルNaO
HO,12モル シアン化金(I)カリウム 0.014モルを含
有し、50−Cに加熱された水溶液中に置いた。
程の債に、11当り: エチレンジアミン四酢酸の 四ナトリウム塩 0.072モルNaO
HO,12モル シアン化金(I)カリウム 0.014モルを含
有し、50−Cに加熱された水溶液中に置いた。
このシート材料を実施例1で用いたと同様なパルス化窒
素レーザーに露光した。明確な可視像を得るには有効露
光時間4X10 ’秒の1個のパルスで充分であった。
素レーザーに露光した。明確な可視像を得るには有効露
光時間4X10 ’秒の1個のパルスで充分であった。
実施例 8
実施例1と同様にして二酸化チタン顔料を充填した板を
疎水性にし、次いで実施例1と同様な無電解銅メッキ溶
液中に置き、アルゴンイオンレーザ−(出力約0.70
W、波長884.1351および864nm)に16
秒間連続的に露光した。露光中この板を約7朋の距離に
わたって直線状に移動させた。露光後溶液中に約10分
間留めた後に導電性の良好な銅ラインを得た。
疎水性にし、次いで実施例1と同様な無電解銅メッキ溶
液中に置き、アルゴンイオンレーザ−(出力約0.70
W、波長884.1351および864nm)に16
秒間連続的に露光した。露光中この板を約7朋の距離に
わたって直線状に移動させた。露光後溶液中に約10分
間留めた後に導電性の良好な銅ラインを得た。
実施例 4
実施例1と同様にしてTiO□顔料を充填し、予備処理
した板を11当り: PdC!、2 5.6x10 モルHC1O、1
2モルおよび 「テンサゲクス(Tensagex :商品名) DP
24Jすなわちアルキルアリールポリグリコールエー
テルザルフェートからなる湿潤剤 0.4電量% を含有する水溶液中に1dいた。
した板を11当り: PdC!、2 5.6x10 モルHC1O、1
2モルおよび 「テンサゲクス(Tensagex :商品名) DP
24Jすなわちアルキルアリールポリグリコールエー
テルザルフェートからなる湿潤剤 0.4電量% を含有する水溶液中に1dいた。
この板に対する露光は実施例8のアルゴンイオンレーザ
−(出力約0.70 W )を用いて1 、 l/2゜
’Q ”14 ’ ”i6 、電2および鴇秒の露光時
間の範囲で行った。50℃に加熱した銅メツキ浴液中に
約1分間留めた後に、すべての露光時間において蕗資板
に黒色像を得た。
−(出力約0.70 W )を用いて1 、 l/2゜
’Q ”14 ’ ”i6 、電2および鴇秒の露光時
間の範囲で行った。50℃に加熱した銅メツキ浴液中に
約1分間留めた後に、すべての露光時間において蕗資板
に黒色像を得た。
実施例 5
At208セラミツクからなる板をアセチルアセトフチ
タフ25重奮%とプロパノ−ルー275重着%とからな
る溶液中に浸漬し、次いでこの溶液から徐々に取出した
。ヘヤ・ドライヤーを用いて乾燥した後に、この板を5
00″(lC8分間維持し、次いで熱分解により二酸化
チタンなAl2O8基板」二に形成した。次いでこの板
を1を当1′lニジアン化金(I)カリウム 0
.014モル価酸銅 0.005モ
ルエチレンシアεン四酢酸の 四ナトリウム塩 0.072モルNaO
HO,12モルお、Lび ホルムアルデヒド 0.11’1モルを含
有する水溶液を入れたキュベツト中に留いた。
タフ25重奮%とプロパノ−ルー275重着%とからな
る溶液中に浸漬し、次いでこの溶液から徐々に取出した
。ヘヤ・ドライヤーを用いて乾燥した後に、この板を5
00″(lC8分間維持し、次いで熱分解により二酸化
チタンなAl2O8基板」二に形成した。次いでこの板
を1を当1′lニジアン化金(I)カリウム 0
.014モル価酸銅 0.005モ
ルエチレンシアεン四酢酸の 四ナトリウム塩 0.072モルNaO
HO,12モルお、Lび ホルムアルデヒド 0.11’1モルを含
有する水溶液を入れたキュベツト中に留いた。
こい板を実施例4と同様な4″#時間範囲で露光・させ
た。露光後溶液中に15分間留めた汝に適正な可視金属
像が形成した。
た。露光後溶液中に15分間留めた汝に適正な可視金属
像が形成した。
フルーイランペンファブリケン
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 露党後に金属イオン溶液からこの金属を物理的現像
または無電解メッキ溶液によって補力される核の形態で
堆積することができる感光性の半導電性化合物が内部ま
たは表面上に存在する基板材料あるいは該化合物からな
る基板材料の表面の上または下の少くとも一方に、金属
像または金属パターンを形成するに当り、 内部fたは表面上に前記感光性の半導電性化合物が存在
する前記基板表面を、核形成性金属のイオンを含有する
溶液中に浸漬し、次いで前記基板に対して制御されて移
動しかつ前記の関連する半導シ性化合物によって吸収さ
れるような波長をスペクトルの紫外部または可視部に有
するレーザー″#の集束ビームによりパターンに従って
露光することを特徴とする金聞像または金属パターンの
形成方法。 & 無電解メッキまたは物理的現像に適当な金属塩およ
びこの金属塩の還元剤の溶液中で露光を行う特許請求の
範囲第1項に記載の方法。 8 感光性の半導電性化合物が二酸化ナタンまたは酸化
亜鉛である特許請求の範囲第1項または第2項VC紀載
の方法。 小 金または金合金を堆積させるための無電解溶液を核
の形成および次の核の補力に用いる特許請求の範囲第1
〜8項のいずれか一つの項に記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| NL8105633 | 1981-12-15 | ||
| NL8105633A NL8105633A (nl) | 1981-12-15 | 1981-12-15 | Werkwijze voor de vervaardiging van metaalbeelden of patronen op en/of onder het oppervlak van een substraat met een halfgeleidende lichtgevoelige verbinding. |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58106537A true JPS58106537A (ja) | 1983-06-24 |
| JPH0326816B2 JPH0326816B2 (ja) | 1991-04-12 |
Family
ID=19838548
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57216304A Granted JPS58106537A (ja) | 1981-12-15 | 1982-12-11 | 金属像または金属パタ−ンの形成方法 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4426442A (ja) |
| EP (1) | EP0081889B1 (ja) |
| JP (1) | JPS58106537A (ja) |
| DE (1) | DE3267190D1 (ja) |
| NL (1) | NL8105633A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10344385B2 (en) | 2013-08-09 | 2019-07-09 | Lg Chem, Ltd. | Method for forming conductive pattern by direct radiation of electromagnetic wave, and resin structure having conductive pattern thereon |
Families Citing this family (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3237205C2 (de) * | 1982-10-07 | 1985-11-07 | Karl-Heinz Dipl.-Chem. 8900 Augsburg Stadler | Verfahren zum Abscheiden von Metallen und/oder Halbmetallen auf Photoleitern sowie die Verwendung dieses Verfahrens |
| NL8702219A (nl) * | 1987-09-16 | 1989-04-17 | Philips Nv | Werkwijze voor het lokaal aanbrengen van metaal op een oppervlak van een substraat. |
| US4814259A (en) * | 1987-11-09 | 1989-03-21 | Rockwell International Corporation | Laser generated electrically conductive pattern |
| NL9000502A (nl) * | 1990-03-05 | 1991-10-01 | Philips Nv | Werkwijze voor het herstellen van een defect in een lithografisch masker. |
| US5206102A (en) * | 1991-11-15 | 1993-04-27 | Rockwell International Corporation | Photoelectrochemical imaging system |
| US5260108A (en) * | 1992-03-10 | 1993-11-09 | International Business Machines Corporation | Selective seeding of Pd by excimer laser radiation through the liquid |
| US5378508A (en) * | 1992-04-01 | 1995-01-03 | Akzo Nobel N.V. | Laser direct writing |
| US5834069A (en) * | 1996-04-30 | 1998-11-10 | Zentox Corporation | In situ method for metalizing a semiconductor catalyst |
| FR2822167B1 (fr) | 2001-03-15 | 2004-07-16 | Nexans | Procede de metallisation d'une piece substrat |
| GB2385863A (en) * | 2001-10-29 | 2003-09-03 | Qinetiq Ltd | High resolution patterning method |
| JP4521228B2 (ja) * | 2003-07-28 | 2010-08-11 | 正也 市村 | 光析出による金メッキ法及び金メッキ膜形成装置 |
| EP1610597A1 (de) * | 2004-06-22 | 2005-12-28 | Technomedica AG | Ausscheiden von Kupfer zur Erzeugung von Leiterbahnen |
| US9435035B2 (en) | 2010-01-15 | 2016-09-06 | Byd Company Limited | Metalized plastic articles and methods thereof |
| CN102071424B (zh) * | 2010-02-26 | 2012-05-09 | 比亚迪股份有限公司 | 一种塑料制品的制备方法及一种塑料制品 |
| CN102071411B (zh) | 2010-08-19 | 2012-05-30 | 比亚迪股份有限公司 | 一种塑料制品的制备方法及一种塑料制品 |
| KR101988241B1 (ko) * | 2012-10-04 | 2019-06-12 | 도레이 카부시키가이샤 | 도전 패턴의 제조 방법 |
| CN103813651B (zh) * | 2013-11-07 | 2017-05-10 | 溧阳市江大技术转移中心有限公司 | 一种覆铜板的制造方法 |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3052541A (en) | 1959-01-14 | 1962-09-04 | Gen Aniline & Film Corp | Photographic reproduction process and apparatus therefor |
| US3380823A (en) | 1966-06-20 | 1968-04-30 | Itek Corp | Photocopying method |
| NL157659B (nl) | 1967-09-22 | 1978-08-15 | Philips Nv | Werkwijze voor het langs fotografische weg vervaardigen van elektrisch geleidende koperpatronen. |
| US3732100A (en) * | 1968-04-01 | 1973-05-08 | Itek Corp | Method of making electrical capacitors |
| FR1601856A (en) * | 1968-09-12 | 1970-09-21 | Display system | |
| US3672744A (en) | 1970-10-06 | 1972-06-27 | Ibm | Holographic system and process utilizing a wet cell phase hologram |
-
1981
- 1981-12-15 NL NL8105633A patent/NL8105633A/nl not_active Application Discontinuation
-
1982
- 1982-11-15 US US06/441,580 patent/US4426442A/en not_active Expired - Fee Related
- 1982-12-11 JP JP57216304A patent/JPS58106537A/ja active Granted
- 1982-12-14 EP EP82201599A patent/EP0081889B1/en not_active Expired
- 1982-12-14 DE DE8282201599T patent/DE3267190D1/de not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10344385B2 (en) | 2013-08-09 | 2019-07-09 | Lg Chem, Ltd. | Method for forming conductive pattern by direct radiation of electromagnetic wave, and resin structure having conductive pattern thereon |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0081889B1 (en) | 1985-10-30 |
| JPH0326816B2 (ja) | 1991-04-12 |
| US4426442A (en) | 1984-01-17 |
| EP0081889A2 (en) | 1983-06-22 |
| DE3267190D1 (en) | 1985-12-05 |
| NL8105633A (nl) | 1983-07-01 |
| EP0081889A3 (en) | 1983-07-20 |
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