JPS58106940A - 局間導通試験方式 - Google Patents
局間導通試験方式Info
- Publication number
- JPS58106940A JPS58106940A JP20533981A JP20533981A JPS58106940A JP S58106940 A JPS58106940 A JP S58106940A JP 20533981 A JP20533981 A JP 20533981A JP 20533981 A JP20533981 A JP 20533981A JP S58106940 A JPS58106940 A JP S58106940A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- time division
- test
- digital
- bit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04M—TELEPHONIC COMMUNICATION
- H04M3/00—Automatic or semi-automatic exchanges
- H04M3/22—Arrangements for supervision, monitoring or testing
- H04M3/24—Arrangements for supervision, monitoring or testing with provision for checking the normal operation
- H04M3/244—Arrangements for supervision, monitoring or testing with provision for checking the normal operation for multiplex systems
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)
- Use Of Switch Circuits For Exchanges And Methods Of Control Of Multiplex Exchanges (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、ディジタル１リンク接続を可能とするディジ
タル統金網における局間導通試験方式に関する。
タル統金網における局間導通試験方式に関する。
音声通信を目的に主にアナログ技術により構築されたｌ
ｌＩＥ話網は、その地域釣人が９の進展度によりデータ
通信やファクシミリ通信といりた非電話系サービスの通
信に使用される場合が多くなりてきている。しかも各種
ディジタル技術の進歩に伴なってＰＣＭ伝送路や時分割
交換機が経済的に実現できるようになシ、電話網のディ
ジタル化が今後進むと予想される。そして時分割交換機
とＰＣＭ伝送路だけを介して通信パスが形成できるよう
になれば、６４Ｋｈ／ＩＯデ一タ通信が可能となシ、デ
ータ通信の通信時間を大巾に短縮できる。しかし、本来
電話網ではアナログ音声信号通信を目的としているため
、従来の導通試験方法ではデータ通信の導通試験を行う
には不充分である。
ｌＩＥ話網は、その地域釣人が９の進展度によりデータ
通信やファクシミリ通信といりた非電話系サービスの通
信に使用される場合が多くなりてきている。しかも各種
ディジタル技術の進歩に伴なってＰＣＭ伝送路や時分割
交換機が経済的に実現できるようになシ、電話網のディ
ジタル化が今後進むと予想される。そして時分割交換機
とＰＣＭ伝送路だけを介して通信パスが形成できるよう
になれば、６４Ｋｈ／ＩＯデ一タ通信が可能となシ、デ
ータ通信の通信時間を大巾に短縮できる。しかし、本来
電話網ではアナログ音声信号通信を目的としているため
、従来の導通試験方法ではデータ通信の導通試験を行う
には不充分である。
第１図は従来の導通試験を行う場合の中継方式図である
。図で、Ａけ発信側市内交換局（ＬＳ）、Ｂは市外交換
局（７’５）、１，８は通信路スイッチ、２．９け通信
パス、３は導通試験回路、４は加入者線、５，１２け制
御装置、６，７，１５．１４は制御リンク、１０は折返
し回路、１１．１５は伝送路、１６．１７は共通線リン
ク、１Ｂは発信電話機である。
。図で、Ａけ発信側市内交換局（ＬＳ）、Ｂは市外交換
局（７’５）、１，８は通信路スイッチ、２．９け通信
パス、３は導通試験回路、４は加入者線、５，１２け制
御装置、６，７，１５．１４は制御リンク、１０は折返
し回路、１１．１５は伝送路、１６．１７は共通線リン
ク、１Ｂは発信電話機である。
今、電話機１８が発信すると公矧の方法で選択数字の受
信１発信分析が行われ、交換局Ａの制御装置１５け該当
する出ルートの伝送路１５を選択するとともに共通機リ
ンク１６を介して回線番号アドレス等を中継交換局Ｂの
制御装置１２に転送する。共通制御装置５は伝送路１５
と導通試験回路３を通信パス２で接続し、共通制御装置
１２は伝送路１５と折返し回路１ｏを通信パス９で接続
する。導通試験回路３け共通制御装［５よ多制御リンク
６を介した信号で周波数ｆの可聴音を通信ハス２の上り
側に送出する。この町−音は伝送路１５９通信パス９を
介して折返し回路１０に入力される。折返し回ＭＩＯは
上り側の信号をそのまま下り側に折返すもので、この可
聴音は通信パス９の下り側、伝送路１５１通信パス２を
介して導通試験回路５のトーン受信器に入力される。
信１発信分析が行われ、交換局Ａの制御装置１５け該当
する出ルートの伝送路１５を選択するとともに共通機リ
ンク１６を介して回線番号アドレス等を中継交換局Ｂの
制御装置１２に転送する。共通制御装置５は伝送路１５
と導通試験回路３を通信パス２で接続し、共通制御装置
１２は伝送路１５と折返し回路１ｏを通信パス９で接続
する。導通試験回路３け共通制御装［５よ多制御リンク
６を介した信号で周波数ｆの可聴音を通信ハス２の上り
側に送出する。この町−音は伝送路１５９通信パス９を
介して折返し回路１０に入力される。折返し回ＭＩＯは
上り側の信号をそのまま下り側に折返すもので、この可
聴音は通信パス９の下り側、伝送路１５１通信パス２を
介して導通試験回路５のトーン受信器に入力される。
パスが正しく接続されていればトーン受信器が可聴音を
検出し、制御リンク６で共通制御装置５に通知する。導
通試験の結果は共通線リンク１６を介して後位局Ｂに通
知される。上述の従来方式は、通信パスが閉成されてい
ることを保証する本ので電話通信には適しているが、デ
ィジタルデータ通信では、さらに任意のビット列が正し
く送信されるというビットインテグリテイの保証も必要
であシ、単に通信パスが閉成されているという７１２′
□けでは不充分である。すなわち。
検出し、制御リンク６で共通制御装置５に通知する。導
通試験の結果は共通線リンク１６を介して後位局Ｂに通
知される。上述の従来方式は、通信パスが閉成されてい
ることを保証する本ので電話通信には適しているが、デ
ィジタルデータ通信では、さらに任意のビット列が正し
く送信されるというビットインテグリテイの保証も必要
であシ、単に通信パスが閉成されているという７１２′
□けでは不充分である。すなわち。
従来方式では、中継線としてＦＤＭ回線が選択されたシ
、ディジタル回線でもレベル合わせのためのパッド（Ｐ
ＡＤ）が挿入されていてピットインテグリテイが保たれ
ていなくても１通信バスが閉成されて可聴音盾号が通れ
ば正常と判定してしまうため、ピットインテグリテイが
保証されているか否かを検出できないという問題がある
。
、ディジタル回線でもレベル合わせのためのパッド（Ｐ
ＡＤ）が挿入されていてピットインテグリテイが保たれ
ていなくても１通信バスが閉成されて可聴音盾号が通れ
ば正常と判定してしまうため、ピットインテグリテイが
保証されているか否かを検出できないという問題がある
。
このことは、アナログ交換機とディジタル時分割交換機
、及びアナログ伝送路とＰＣＭ伝Ｆｓ路が混在し、鑞話
通傷とディジタルデータ通信を可能とする統合通信網を
構成する際に１重要な問題となるものである。
、及びアナログ伝送路とＰＣＭ伝Ｆｓ路が混在し、鑞話
通傷とディジタルデータ通信を可能とする統合通信網を
構成する際に１重要な問題となるものである。
また、導通試験回路３のトーン受信器が可聴音の受信を
開始してから、信号有と判定するには通常数１０ｗｇｚ
ｇｃの時間が必要となるため、短い接続時間が要求され
るデータ呼に対しては接続遅延が問題となる。しかもト
ーン受信器は一般にディジタル信号処理回路で構成され
るため。
開始してから、信号有と判定するには通常数１０ｗｇｚ
ｇｃの時間が必要となるため、短い接続時間が要求され
るデータ呼に対しては接続遅延が問題となる。しかもト
ーン受信器は一般にディジタル信号処理回路で構成され
るため。
経済性にも問題がある。
本発明の目的は、上記した従来方式の欠点を無くシ、デ
ィジタル１リンク接続時にピットインテグリテイをも含
めた導通の保証が可能な導通試験方式を経済的に提供す
ることにある。
ィジタル１リンク接続時にピットインテグリテイをも含
めた導通の保証が可能な導通試験方式を経済的に提供す
ることにある。
本発明の要点は、特定ビット列の信号を交換機、伝送路
を介して送出し、そのビット列が保存されたまま受信さ
れることを調べることで局間導通試験を行うことにある
。
を介して送出し、そのビット列が保存されたまま受信さ
れることを調べることで局間導通試験を行うことにある
。
すなわち、前位時分割交換機に収容される試験回路より
特定ビット列の試験信号を伝送路を介して後位時分割交
換機に送出し、後位時分割交換機に収容される折返し回
路にて、その試験信号を伝送路を介して前位時分割交換
機に折返すことで、試験回路における送受信号のビット
照合により、上シと下夛のリンクの正常性を判定し、デ
ィジタル１リンク呼に対するピットインテグリテイを保
証するものである。その際、試験信号として、電話通信
に割当てられたアナログ周波数帯域以外の信号成分をデ
ィジタル化したときに得られるビット列を含む信号とす
ることで、よシ一層のピットインテグリテイを保証する
ことが可能となる。
特定ビット列の試験信号を伝送路を介して後位時分割交
換機に送出し、後位時分割交換機に収容される折返し回
路にて、その試験信号を伝送路を介して前位時分割交換
機に折返すことで、試験回路における送受信号のビット
照合により、上シと下夛のリンクの正常性を判定し、デ
ィジタル１リンク呼に対するピットインテグリテイを保
証するものである。その際、試験信号として、電話通信
に割当てられたアナログ周波数帯域以外の信号成分をデ
ィジタル化したときに得られるビット列を含む信号とす
ることで、よシ一層のピットインテグリテイを保証する
ことが可能となる。
以下１図を用いて本発明の詳細な説明する。
第２図は本発明による局間導通試験方式の１夾施例な示
す中継方式図である。第２図で、１９は本発明によシ新
たに追加されたディジタル導通試験回路であシ、２０け
６４ｘｂ／＃のディジタルデータ端末である。他の符号
は第１図の従来方式に示す符号に対応するものである。
す中継方式図である。第２図で、１９は本発明によシ新
たに追加されたディジタル導通試験回路であシ、２０け
６４ｘｂ／＃のディジタルデータ端末である。他の符号
は第１図の従来方式に示す符号に対応するものである。
今、ディジタルデータ端末２０が発信すると従来方法と
同様に発信分析を行い出ルートが選択されるが１発信端
末がディジタルデータ端末なので出ルートはディジタル
伝送路１５が選択される。そして局間導通試験のためデ
ィジタル導通試験回路１９と伝送路１５は通信パス２で
、伝送路１５と折返し回路１０は通信パス９で接続され
る。
同様に発信分析を行い出ルートが選択されるが１発信端
末がディジタルデータ端末なので出ルートはディジタル
伝送路１５が選択される。そして局間導通試験のためデ
ィジタル導通試験回路１９と伝送路１５は通信パス２で
、伝送路１５と折返し回路１０は通信パス９で接続され
る。
ディジタル導通試験回路１９は通信パス２に特定ビット
列のディジタル信号を送出するとともに、パス２．伝送
路１５．パス９．折返し回路１０．パス９．伝送路１５
．パス２を介して戻ってくる信号とのピット照合を行い
、一致、不一致を制御リンク６を介して制御装置５に通
知する。そして、一致していれば導通正常と判定し、そ
の試験が完了したディジタル伝送路１５を加入者線４に
接続し、相手側端末とのデータ通信を行わ♂る。一方、
一致していなければ、他のディジタル伝送路を選択し、
再度導通試験を実施する。
列のディジタル信号を送出するとともに、パス２．伝送
路１５．パス９．折返し回路１０．パス９．伝送路１５
．パス２を介して戻ってくる信号とのピット照合を行い
、一致、不一致を制御リンク６を介して制御装置５に通
知する。そして、一致していれば導通正常と判定し、そ
の試験が完了したディジタル伝送路１５を加入者線４に
接続し、相手側端末とのデータ通信を行わ♂る。一方、
一致していなければ、他のディジタル伝送路を選択し、
再度導通試験を実施する。
次にｍ！１図及び第４図にｔディジタル導通試験回路１
９の創作ン詳細に説明する。第５図において、１０１Ｕ
３２ビツトパラレルのビットパターン発生回路、 １
０２ｒ１５２人カー１出力のセレクタ、１０６は５ビツ
トカウンタ、１０４は５２ビツトシフトレジスタ、１０
５はコンパレータ、１１０はフリップフロップ、１１２
は１ビツトシフトレジスタである。また、１０５，１０
７及び１０９ハそれぞれ２ｍＺ、６４ＫＨ１及び８ｆ／
／ｚｏりＣｌツタで、第４図に示す位相関係で発生され
る。１１５及び１０８は試験回路から送受信される６４
Ｋｂ／ｚの出及び大信号、１１１ ｔ／ｉピット照合の
チェック出力である。６４ＫｂΔ出信号１１３は第２図
に示す通信パス２の出側に、６４Ｋｂ／Ｉ入信号１０８
は通信パス２０入側に接続される。またチェック出力１
１１は制御リンク６に接続される。カウンタ１０５ ｔ
ｄ ２ＫＩｌｚクロツク１０６でリセットされ、６４ｍ
Ｘクロック１０７で積算される。そして６４ｘｂ／を比
信号１１５として、第４図に示す如くビットパターン発
生回路１０１のＡＯ〜、（５１のパターンがセレクタ１
０２で順次選択されて出力される。一方相手局よシ戻っ
てきた信号は６４ｘｂ／ｚ入信号１０８からシフトレジ
スタ１０４に入力され、 ６４ＫＢｚクロツク１０７で
順次シフトされてゆく。そしてシフトレジスタ１０４の
出力とビットパターン発生回路１０１の出力は３２ビッ
ト単位でコンパレータ１０５で比較照合され、全ビット
が一致したときにコンパレータ１０５は出力を出す。こ
の出力はフリップフロップ１１０にて８ｆｆｚクロツク
１０９よシ１ビットずれたクロックで１２５μｓｇｔｙ
毎にセットされる。従りて接続パスのピットインテグリ
テイが確保されているとチェック出力１１１には２ＸＩ
ｉｚ周期で１１０００１のパターンが出力されるが、ピ
ットインテグリテイが確保されていないと池のパターン
が出力されるので導通とピットインテグリテイの両方を
試験することができる。上記説明ではＡＯ〜Ａ５１
のビット列は特に限定しなかったが１例えば１Ｋ１１ｚ
の正弦波に相当するＰＣＭビット列を選ぶことも可能で
ある。この場合、伝送路１５が損失のあるメタリック線
路でありたり、途中にレベル調整−用のパッド（ｐＡＤ
）が挿入されていてピットインテグリテイが保たれてい
なければ、そのことを十分検出できる。しかし、特定の
可聴載量のにＭピット列を選んだ場合、伝送路はディジ
タル伝送路だが対向交換機がアナログ交換機であった場
合等で、正しくレベル調整がされていてＯｄＢパスが形
成されていると、途中に符号変換があっても元のビット
列に戻ることがある。この場合、ピットインテグリテイ
が確保されていないにもかかわらず、そのことが検出で
きず、そのようなアナログ交換機を介する接続ルートを
データ通信用に選択してしまう可能性がある。このため
本発明でハ、すらに試験用ビット列として電話通信に割
当てられた周波数帯域以外の信号成分を含むアナログ信
号を符号化して得られるビット列を選ぶことで、これを
解決した。第５図はこのようにして選ばれたビット列の
１例であシ、第６図はこのビット列のアナログ波形を示
している。このビット列は２ＫＢｚの成分の他。
９の創作ン詳細に説明する。第５図において、１０１Ｕ
３２ビツトパラレルのビットパターン発生回路、 １
０２ｒ１５２人カー１出力のセレクタ、１０６は５ビツ
トカウンタ、１０４は５２ビツトシフトレジスタ、１０
５はコンパレータ、１１０はフリップフロップ、１１２
は１ビツトシフトレジスタである。また、１０５，１０
７及び１０９ハそれぞれ２ｍＺ、６４ＫＨ１及び８ｆ／
／ｚｏりＣｌツタで、第４図に示す位相関係で発生され
る。１１５及び１０８は試験回路から送受信される６４
Ｋｂ／ｚの出及び大信号、１１１ ｔ／ｉピット照合の
チェック出力である。６４ＫｂΔ出信号１１３は第２図
に示す通信パス２の出側に、６４Ｋｂ／Ｉ入信号１０８
は通信パス２０入側に接続される。またチェック出力１
１１は制御リンク６に接続される。カウンタ１０５ ｔ
ｄ ２ＫＩｌｚクロツク１０６でリセットされ、６４ｍ
Ｘクロック１０７で積算される。そして６４ｘｂ／を比
信号１１５として、第４図に示す如くビットパターン発
生回路１０１のＡＯ〜、（５１のパターンがセレクタ１
０２で順次選択されて出力される。一方相手局よシ戻っ
てきた信号は６４ｘｂ／ｚ入信号１０８からシフトレジ
スタ１０４に入力され、 ６４ＫＢｚクロツク１０７で
順次シフトされてゆく。そしてシフトレジスタ１０４の
出力とビットパターン発生回路１０１の出力は３２ビッ
ト単位でコンパレータ１０５で比較照合され、全ビット
が一致したときにコンパレータ１０５は出力を出す。こ
の出力はフリップフロップ１１０にて８ｆｆｚクロツク
１０９よシ１ビットずれたクロックで１２５μｓｇｔｙ
毎にセットされる。従りて接続パスのピットインテグリ
テイが確保されているとチェック出力１１１には２ＸＩ
ｉｚ周期で１１０００１のパターンが出力されるが、ピ
ットインテグリテイが確保されていないと池のパターン
が出力されるので導通とピットインテグリテイの両方を
試験することができる。上記説明ではＡＯ〜Ａ５１
のビット列は特に限定しなかったが１例えば１Ｋ１１ｚ
の正弦波に相当するＰＣＭビット列を選ぶことも可能で
ある。この場合、伝送路１５が損失のあるメタリック線
路でありたり、途中にレベル調整−用のパッド（ｐＡＤ
）が挿入されていてピットインテグリテイが保たれてい
なければ、そのことを十分検出できる。しかし、特定の
可聴載量のにＭピット列を選んだ場合、伝送路はディジ
タル伝送路だが対向交換機がアナログ交換機であった場
合等で、正しくレベル調整がされていてＯｄＢパスが形
成されていると、途中に符号変換があっても元のビット
列に戻ることがある。この場合、ピットインテグリテイ
が確保されていないにもかかわらず、そのことが検出で
きず、そのようなアナログ交換機を介する接続ルートを
データ通信用に選択してしまう可能性がある。このため
本発明でハ、すらに試験用ビット列として電話通信に割
当てられた周波数帯域以外の信号成分を含むアナログ信
号を符号化して得られるビット列を選ぶことで、これを
解決した。第５図はこのようにして選ばれたビット列の
１例であシ、第６図はこのビット列のアナログ波形を示
している。このビット列は２ＫＢｚの成分の他。
’ＫｆｊＺ、８ｆｆｚ・・・に大きな信号成分を持って
おシ。
おシ。
ｏ、ａｎ１ｚ〜３．４Ｋｌｉｚ ｉｃ帝職域制限れたア
ナログ信号からは発生し得ないビット列である。従って
パスの途中にアナログ回線、アナログ変換機等が存在す
ると、アナログ信号への復号化時に０．５〜５．４Ｋｆ
ｌｚ以外の成分は除去されてしまうため、このビット列
は再成されない。よりて、ビットインテグリテイが保た
れていないことが必ず検出できる。しかも、５２ビット
単位でビット照合を行うため、１回の照合に要する時間
は、 Ｑ、１２５μＩＩＣＸ ４−Ｑ、５μｔｏｅでＩ
ｈＤ、従来方式に比べ導通試験に要する時間は大幅に短
縮できる。
ナログ信号からは発生し得ないビット列である。従って
パスの途中にアナログ回線、アナログ変換機等が存在す
ると、アナログ信号への復号化時に０．５〜５．４Ｋｆ
ｌｚ以外の成分は除去されてしまうため、このビット列
は再成されない。よりて、ビットインテグリテイが保た
れていないことが必ず検出できる。しかも、５２ビット
単位でビット照合を行うため、１回の照合に要する時間
は、 Ｑ、１２５μＩＩＣＸ ４−Ｑ、５μｔｏｅでＩ
ｈＤ、従来方式に比べ導通試験に要する時間は大幅に短
縮できる。
上記実施例で明らかなように本発明によれば簡単な導通
試験回路と折返し回路を、所望の時１１ 分割交換機に設けるだけで、ディジタル１リンク接続呼
に対するビットインテグリテイ保証を含む導通試験を短
時間に行うことが可能であシ。
試験回路と折返し回路を、所望の時１１ 分割交換機に設けるだけで、ディジタル１リンク接続呼
に対するビットインテグリテイ保証を含む導通試験を短
時間に行うことが可能であシ。
性能、経済性とも大幅に改善される。
なお１以上の実施例では、発信側交換局に試験回路を、
また中継交換局に折返し回路を設けて試験ループン設定
する場合について説明したが、ディジタルデータ端末を
収容する全ての時分割交換機に試験回路と折返し回路を
設け、ディジタル１リンク呼ごとに発侶９着信交換機関
で試験ループを設定しても良いことはいうまでもない。
また中継交換局に折返し回路を設けて試験ループン設定
する場合について説明したが、ディジタルデータ端末を
収容する全ての時分割交換機に試験回路と折返し回路を
設け、ディジタル１リンク呼ごとに発侶９着信交換機関
で試験ループを設定しても良いことはいうまでもない。
これにより呼ごとにビットインテグリテイを保証するこ
とができる。
とができる。
第１図は従来の導通試験方式を示す中継方式図、第２図
は本発明による局間導通試験方式の１実施例を示す中継
方式図、第３図は本発明による４通試験回路の１例を示
す構成図、第４図は第３図におけるクロックの位相関係
を示す図。 第５図は本発明による試験信号のビット列の１例を示す
図、第６図は第５図のビット列に対応するアナログ波形
を示す図である。 Ａ、Ｂ・・・交換局、１，８・・・通信路スイッチ。 ２．９・・・通信バス、 ５，１２・・・制御装置
。 ６．７，１５．１４・・・制御リンク、１０・・・折返
し回路、 １１．１５・・・伝送路、１６．１７・
・・共通線リンク。 １９・・・ディジタル導通試験回路。 ２０・・・ディジタルデータ端末。 第１国 第２虐 オ ５巴 オＡｙＱ 第３圓 オ ４ 口
は本発明による局間導通試験方式の１実施例を示す中継
方式図、第３図は本発明による４通試験回路の１例を示
す構成図、第４図は第３図におけるクロックの位相関係
を示す図。 第５図は本発明による試験信号のビット列の１例を示す
図、第６図は第５図のビット列に対応するアナログ波形
を示す図である。 Ａ、Ｂ・・・交換局、１，８・・・通信路スイッチ。 ２．９・・・通信バス、 ５，１２・・・制御装置
。 ６．７，１５．１４・・・制御リンク、１０・・・折返
し回路、 １１．１５・・・伝送路、１６．１７・
・・共通線リンク。 １９・・・ディジタル導通試験回路。 ２０・・・ディジタルデータ端末。 第１国 第２虐 オ ５巴 オＡｙＱ 第３圓 オ ４ 口
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、 時分割交換機の通信′路の上シリンジに特定ビッ
ト列の試験信号を送出するとともに、下Ｆ）リンクよシ
到来する信号を受信して前記式 ５威信号とのビット
照合な行う試験回路と、通信Ｗｒｂリンクよシの受信信
号をそのビット列を保存したまま上シリンジに折返す折
返し回路を時分割交換機の通信路に収容し、ディジタル
１りンク呼に対して前位時分割交換機の前記試験回路と
後位時分割交換機の前記折返し回路を、前位時分割交換
機の通信路スイッチ、局間伝送路、後位交換機の通信路
スイッチを介して接続することで被試験ループを設定し
、前記試験回路より該被試験ループに前記試験信号を通
すとともに送受信号のビット照合を行うことを特徴とす
る局間導通試験方式。 ２、特許請求の範囲第１項記載の局間導通試験方式に於
いて、前記試験信号として、電話通信に割当てられたア
ナキグ周波数帯域以外の信号成分を含むアナログ信号を
ディジタル化したときに得られるビット列を含む信号を
用いることを特徴とするＮＪ間導通試験方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20533981A JPS58106940A (ja) | 1981-12-21 | 1981-12-21 | 局間導通試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20533981A JPS58106940A (ja) | 1981-12-21 | 1981-12-21 | 局間導通試験方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58106940A true JPS58106940A (ja) | 1983-06-25 |
Family
ID=16505263
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20533981A Pending JPS58106940A (ja) | 1981-12-21 | 1981-12-21 | 局間導通試験方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58106940A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS619064A (ja) * | 1984-06-25 | 1986-01-16 | Oki Electric Ind Co Ltd | 時分割交換システム試験方式 |
-
1981
- 1981-12-21 JP JP20533981A patent/JPS58106940A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS619064A (ja) * | 1984-06-25 | 1986-01-16 | Oki Electric Ind Co Ltd | 時分割交換システム試験方式 |
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