JPS58111704A - 光学式機械量測定装置 - Google Patents

光学式機械量測定装置

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JPS58111704A
JPS58111704A JP56215250A JP21525081A JPS58111704A JP S58111704 A JPS58111704 A JP S58111704A JP 56215250 A JP56215250 A JP 56215250A JP 21525081 A JP21525081 A JP 21525081A JP S58111704 A JPS58111704 A JP S58111704A
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JP
Japan
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image sensor
light
mechanical quantity
reflecting surface
frequency signal
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JP56215250A
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English (en)
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JPS6212442B2 (ja
Inventor
Toshitsugu Ueda
敏嗣 植田
Eiji Ogita
英治 荻田
Yutaka Ono
裕 小野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
Yokogawa Hokushin Electric Corp
Yokogawa Electric Works Ltd
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Publication date
Application filed by Yokogawa Electric Corp, Yokogawa Hokushin Electric Corp, Yokogawa Electric Works Ltd filed Critical Yokogawa Electric Corp
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Publication of JPS58111704A publication Critical patent/JPS58111704A/ja
Publication of JPS6212442B2 publication Critical patent/JPS6212442B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/26Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
    • G01D5/266Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light by interferometric means

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
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  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 た光学式機械量測定装置に関するものである。
本発明の目的は、被測定物体とは非接触であって、その
変位方向が判別可能な高精度のこの種の装置を実現しよ
うとするものである。
本発明に係る装置は、光源からの光を被測定機械量が与
えられる可動反射面と、光源の光軸に対してθだけ傾け
た固定反射面とに照射するとともに、可動反射面からの
反射光と固定反射面からの反射光をイメージセンサ上に
照射させて、そこで干渉稿を作るようにし、イメージセ
ンサからの出力周波数信号をヘテロダイン検波するよう
にした点に構成上のひとつの特徴がある。
第1図は、本発明に係る装置の構成ブロック図である。
図において、1は光源で、ここからは可干渉な光、例え
ばレーザ光が出射する。2は光源1からの光ビームを拡
大するレンズ、5はハーフミラで、光源1の光軸Ceに
対して、450傾斜させて設置されている。41は鏡又
はキーーブコーナなど・7′構成されている可動反射面
で、これには例えば矢印a方向に移動する被測定変位X
が与えられておシ、光源1からの光が、ハーフミラ−5
を通って垂直に照射する。42は固定反射面で、光源1
ている。なお、可動反射面41と固定反射面42とを入
れ替えた構成でもよい。5は例えばMOS CODのイ
メージセンサで、その受光面には、可動反射面41から
の反射光が、ハーフミラ−3で反射されて、照射される
とともに、固定反射面42からの反射光が、ハーフミラ
−3を通って照射され、ふたつの反射光によってその受
光面上に干渉稿が作られるように設置されている。
6はイメージセンサ5からの出力周波数信号fと、発振
器61からの出力信号fRとをミキシングするミキサ、
7はミキサ6からの出力信号のkかの特定な周波数信号
を通過させるローパスフィルλ8はローパスフィルタ7
からの周波数信号を計数セッサが使用される。
このように構成した装置の動作は次の通りでろる。光源
1から出射した、波長λの光は、レンズ2で拡大され、
光軸ceに対して平行な平行光束となり、可動反射面4
1と、固定反射面42とに照射される。可動反射面41
と固定反射面42とで反射した各反射光は、ハーフミラ
−3を反射、透過後、マイケルソンの光学系による干渉
と同じ原理で、干渉し、イメージセンサ5上に干渉稿を
形成させる。
このときイメージセンサ5上に形成される干渉稿の、干
渉稿間隔dは(1)式で表わされ、また、可動反射面4
1がXだけ変位したときの干渉稿の移動距離yけ(2)
式で表わされる。
2°X ””5ino(2) イメージセンサ5は、一端にクロック信号fが印加され
て駆動されており、出方端から、fo=f、/N(ただ
しfけクロック信号の周波数であり、Nはイメージセン
サ5のビット数)を基本周波数とする周期信号fが出力
される。
(−) ここで、イメージセンサ5から得られる周波数信号fの
周波数スペクトルを調べたところ、第2図に示すような
結果が得られた。すなわち、基本周波数f。の整数倍の
点でピークがあり、かつ、そのピークはイメージセンサ
5の全幅の1/整数と干渉稿の間隔が等しいところが一
番大きくなるもdx/dtに比例したΔfmだけ周波数
シフトすることが認められた。
第1図において、ミーキサロはm矢高調波prnと、そ
の近傍周波数fRとをミキシング、すなわちヘテロダイ
ン検波し、その出力をローパスフィルタ7を介すること
によって、ローパスフィルタ7の出力端に、(3)式で
示すような周波数信号f。UTを得る。
fOUT″mfO”−i’R−Δfm(5)カウンタ8
は、この周波数信号を計数する。
演算回路9は、カウンタ8からの信号を人力し、(4)
式及び又は(5ン式に示すような演算を行うことに(4
) よって、可動反射面41に与えられている変位X及び又
はその速度dx/dt を知ることができる。
x 1[”K°Δfm = K (foUT−(mfo−fR))      
  (s)なお、これらの式において、mfo t f
Rは、あらかじめ定められておシ、既知であって、演算
回路9のメモリ手段に記憶されているものとする。なお
ことで使用するm次の高調波としては干渉じまの間隔と
イメジセンサの全幅/mが等くなるように選択すると最
適と々る。
このように構成される装置は、周波数シフトΔfmが可
動反射面41の移動方向に応じて、正、負の極性に変る
ため、との極性から可動反射面41に与えられている変
位Xの変位方向の判別をも同時に行うことができる。ま
た、イメージセンサ5から得られる信号は、周波数信号
であるために、高分解能の速度及び又は変位測定を行う
ことができる。
第3図は、本発明の他の実施例を示す構成ブロック図で
、とこでは、信号処理回路についてのみ示す。この実施
例においては、イメージセンサ5からの出力信号を入力
とするミキサ及びフィルタからなる系統を複数系統用意
し、各フィルタ7a。
7bからの出力信号を選択スイッチSによって選択して
、カウンタ8に印加するようにしたものである。なお、
各ミキサ6a、 6b 、、、には、各発振器61a、
 6ab、、、から、それぞれ異なった次数の高調波に
近い周波数信号fR1”R289,が印加でれている。
この実施例においては、スイッチSによって、信号振巾
の一番大きな次数の高調波信号の系統を選択するもので
、常に動作安定な装置が実現できられる変位X及びその
移動速度を測定する場合を例示したが、可動反射面の振
動数や形状変化等、r  7  ) 可動反射面41に与えられる各種の機械量を同様にして
知ることができる。また、ここでは、可動反射面及び固
定反射面を用いたが、いずれか一方、又は両方とも光の
拡散面を用いるようにしてもよい0 第4図および第5図は、本発明装置に用いられるイメー
ジセンサ5の他の一例を示す接続図で、いずれもホトダ
イオードアレイを用いたものを示す0 第4図に示すイメージセンサは、多数個のホトダイオ−
ドルT工、 PT2.、、 PTnを横一列に並べて配
列するとともに、各ホトダイオードからの信号を、バッ
ファアンプBA1. BA2.、、 BAnおよびスイ
ッチsw  sw  、、、swを介して取り出すよう
に構成した11 2T   n ものである。ここで、スイッチSW0〜SWnは、周波
数f。のクロック信号によって順番に一定時間駆動され
るようになっている。
第5図に示すイメージセンサは、多数個のホトダイオー
ドPT1. PT2.、、 PTnを横一列に並べて配
列するとともに、2個置きに配列する各ホトダイオード
PT1. PT4・・・をひとつのグループとし、これ
らのグループの信号を、それぞれバッファアンプBA□
、BA2.BA3及びスイッチsw□、sw2.sw3
を介1.テ、取シ出すように構成したものである。ここ
で、スイッチSW1〜SW3は、クロック信号によって
順番に駆動される。このイメージセンナは、第4図のも
のに比べてバッファアンプ及びスイッチの数を大幅に減
少できる。なお、ここで、バツアアンプの数は3個以外
の他の数でもよい。
以上説明したように、本発明に係る装置は、機械量が与
えられる可動反射面あるいは可動拡散面とは、非接触で
よく、また、信号処理回路が簡単で、高い精度で変位、
移動速度、角度、歪振動数等各種機械量の測定を行うこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明に係る装置の一例を示す構成説明図、
第2図はイメージセンサから得られる信号の周波数スペ
クトルを示す線図、第3図は本発明の他の実施例の信号
処理回路を示す構成ブロック図、第4図および第5図は
本発明に用いられる( 8 ) イメージセンサの一例を示す接続図である。 1・・・光源、2・・・レンズ、3・・・ハーフミラ、
41・・・可動反射面、42・・・固定反射面、5・・
・イメージセンサ、6・・・ミキサ、7・・・ローパス
フィルタ、8・・・カウンタ、9・・・演算回路。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)  可干渉な光を、被測定機械量が与えられる反
    射面又は拡散面を有する可動部と、前記光源の光軸に対
    して所定角度だけ傾斜させた反射面又は拡散面を有する
    固定部とに照射し、前記可動部からの反射光又は拡散光
    と、前記固定部からの反射光又は拡散光とをイメージセ
    ンサ上に照射させこのイメージセンサ上に干渉稿を作る
    ようにし、前記イメージセンサからの出力周波数信号を
    ヘテロダイン検波し、得られた周波数信号を利用して所
    定の演算を行い、前記可動部に与えられる機械量を知る
    ようにした光学式機械量測定装置。
JP56215250A 1981-12-25 1981-12-25 光学式機械量測定装置 Granted JPS58111704A (ja)

Priority Applications (1)

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JP56215250A JPS58111704A (ja) 1981-12-25 1981-12-25 光学式機械量測定装置

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JP56215250A JPS58111704A (ja) 1981-12-25 1981-12-25 光学式機械量測定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS58111704A true JPS58111704A (ja) 1983-07-02
JPS6212442B2 JPS6212442B2 (ja) 1987-03-18

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ID=16669198

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6337202A (ja) * 1986-07-31 1988-02-17 Japan Spectroscopic Co 光学的微小変位測定装置
JPS6473254A (en) * 1987-09-14 1989-03-17 Hamamatsu Photonics Kk Measuring apparatus for fast moving object
JP2008002191A (ja) * 2006-06-23 2008-01-10 Toyo Exterior Co Ltd 折板屋根の雨水誘導装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6337202A (ja) * 1986-07-31 1988-02-17 Japan Spectroscopic Co 光学的微小変位測定装置
JPS6473254A (en) * 1987-09-14 1989-03-17 Hamamatsu Photonics Kk Measuring apparatus for fast moving object
JP2008002191A (ja) * 2006-06-23 2008-01-10 Toyo Exterior Co Ltd 折板屋根の雨水誘導装置

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JPS6212442B2 (ja) 1987-03-18

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