JPS5812850U - 光学測定装置用試料ホルダ− - Google Patents

光学測定装置用試料ホルダ−

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JPS5812850U
JPS5812850U JP10553481U JP10553481U JPS5812850U JP S5812850 U JPS5812850 U JP S5812850U JP 10553481 U JP10553481 U JP 10553481U JP 10553481 U JP10553481 U JP 10553481U JP S5812850 U JPS5812850 U JP S5812850U
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JP
Japan
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sample holder
suction hole
rotating
sample
optical measurement
Prior art date
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JP10553481U
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信雄 岡崎
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Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Publication date
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  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１図は本考案の光学測定装置用試料ホルダーの一実施
例の説明断面図、第２図は他の実施例の説明断面図であ
る。　　　− １，２０・・・・・・光学測定装置用試料ホルダー、３
・・・・・・胴部、４・・・・・・内部空間、５・・・
・・・連通孔、６・・・・・・試料保持部、７・・・・
・・吸着孔、９・・・・・・環状部材、１０・・・・・
・減圧孔、１３・・・・・・リング状空間。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 試料の形状に適合する形状の試料保持部を先端に有し、
    その試料保持部から軸状の胴部周面へ連通する吸引孔を
    有し、かつモータなどで回転される回転体、前記吸引孔
    が開口する回転体胴部の周面を覆うように前記回転体を
    摺動自在に胴巻きにし、回転体との間に前記吸引孔と実
    質的に常時連通する減圧空間を形成する非回転環状部材
    、およびその非回転環状部材に穿設された減圧孔を介し
    て前記減圧空間を減圧する減圧手段を備えてなる光学測
    定装置用試料ホルダー。
JP10553481U 1981-07-16 1981-07-16 光学測定装置用試料ホルダ− Granted JPS5812850U (ja)

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JP10553481U JPS5812850U (ja) 1981-07-16 1981-07-16 光学測定装置用試料ホルダ−

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JPS5812850U true JPS5812850U (ja) 1983-01-27
JPH0116036Y2 JPH0116036Y2 (ja) 1989-05-12

Family

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JP2012505375A (ja) * 2008-10-09 2012-03-01 オパル プロデューサーズ オーストラリア リミテッド 宝石の査定、評価および等級づけのための改良された装置および方法

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