JPS5813687Y2 - 望遠鏡の正反表示装置 - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 セオドライト又はトランシットの正反観測には、望遠鏡
を正にして観測し、次に反にして観測し、機械の誤差を
消去すると同時に、観測誤差をも消去する方法が一般に
行なわれている。

この場合、望遠鏡視野には正又は反の表示がなく、観測
中に、ともすると正を観測していたのか、反を観測して
いたのか忘れてしｌい再度正反観測をすることが生ずる
。

この考案は、正観測か、反観測かを極めて明瞭に判別す
ることができる望遠鏡の正反表示装置を得ることを目的
とするものである。

図面に示す実施例について、この考案を説明すれば、次
の通りである。

第１図に示すように、高度分度目盛板１に目盛３と文字
４とが刻線、刻印しである。

半円帯金属薄体２ａ、２ｂはこの亥憩、刻印の内側又は
外側に設ける。

即ち半円帯金属薄体２ａを蒸着し、この半円体金属薄体
２ａと対応する側に上記半円帯金属薄体２ａと径を異に
する（図示の実施例においては小径の）半円帯金属薄体
２ｂを蒸着する。

発生円帯金属薄体２ａ、２ｂは金属薄膜を上述のように
蒸着してもよいし、化学エッチにより設けてもよい。

望遠鏡光学系は、第２図に示すように対物レンズ２３、
無焦点レンズ２４、と接眼レンズ２５とにより構成され
、上記光学系が水平軸Ｘ−Ｘにより３６０’Ｉ転する。

上記水平軸Ｘ−Ｘに固定された高度分度目盛盤１も光学
系と同期して回転する。

第２図にトいて半円帯金属薄体２ａは光学系プリズム１
１で光路変更され、結像レンズ１４．１３を経て、プリ
ズム１２、プリズム１５、平行ガラス１６、マスク１７
上に結像される。

マスク１７には、第３図、第４図に示すように高度目盛
表示窓２１の上方にｒＬＪ ｒＲｊの文字又は「正」「
反」の文字を上下に位置するように現わす。

２２はマイクロ目盛、２３は水平目盛である。

望遠鏡光学系の回転と同期して高度分度目盛盤１ばＸ−
Ｘ軸に於て回転する。

半円帯金属薄体２ ａ 、 ２ ｂ ｕ結像レンズ１４
，１３によってマスク１７の上方に結像される。

而して上記半円帯の金属薄体２ａ、２ｂは前述のように
異なる半径で形成されているから、望遠鏡が反の状態の
とき半円体の金属薄体２ａばｒＲＪ又は「正」の文字を
掩閉し、「Ｌ」又は「反」の文字をマスク１７に現わす
。

望遠鏡が正の状態のとき半円帯の金属薄体２ｂはｒＬＪ
又は「反」の文字を液間し、「Ｒ」又は「正」の文字を
マスク１７に現わす。

マスク１７はマイクロ目盛盤１８、顕微鏡対物レンズ１
９を経てＸ−Ｘ軸に於て望遠鏡光学系と同期して回転す
るマイクロ顕微鏡側に光路を曲げる。

即ちプリズム２０により光路を曲げ、顕微鏡対物レンズ
２１を経て対物レンズのマイクロ顕微鏡焦点鏡の焦点面
Ｐに結像され、顕微鏡接眼レンズ２２で観測する。

顕微鏡接眼レンズ２２の観測によシ「Ｒ」又は「正「の
文字が現われたときは、望遠鏡が正の状態であることを
示し、「Ｌ」又は「反」の文字が現われたときは望遠鏡
が反の状態であることを示す。

この考案は以上述べたように、セオドライト又はトラン
シットの正反観測を、観測中の顕微鏡に核眼レンズに示
される正反表示により明瞭に判別することができる観測
を誤ることがない等の効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの考案の高度分度目盛盤の正面図、第２図は
セオドライト又はトランシット光学系を示す線図、第３
図はＬ又は反表示の場合のマスクの正面図、第４図はＲ
又は正表示の場合のマスクの正面図である。 １・・・高度分度目盛板、２ａ、２ｂ・・・半円帯の金
属薄体、１７・・・マスク、Ｐ・・・マイクロ顕微鏡焦
点鏡の焦点面。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. セオドライト又はトランシットの望遠鏡による正反観測
   系において、高度分度目盛板１に半円帯の金属薄体２ａ
   を設け、残りの相対する半円に相当する部分に上記半円
   帯の金属薄体２ａと径を異にする半円帯の金属薄体２ｂ
   を設けて高度分度目盛を結像レンズ１３．１４で結像さ
   せると共に分度読取焦点マスク１７上に半円帯の金属薄
   体２ａ＋２ｂをも結像させ、その結像位置上に位置する
   分度読取焦点マスク１７上方には、上下に「正」「反」
   を現わす文字又は記号をマスク１７に抜き、一つのマス
   クとして構成し、望遠鏡が正にあるときは一方の半円帯
   の金属薄体が「反」を現わす文字又は記号を覆い、正を
   現わす文字又は記号のみを照明して、望遠鏡の正又は反
   をマイクロ顕微鏡焦点面上に表示する構成を有する望遠
   鏡の正反表示装置。