JPS58143254A - 物質同定装置 - Google Patents
物質同定装置Info
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- JPS58143254A JPS58143254A JP57027958A JP2795882A JPS58143254A JP S58143254 A JPS58143254 A JP S58143254A JP 57027958 A JP57027958 A JP 57027958A JP 2795882 A JP2795882 A JP 2795882A JP S58143254 A JPS58143254 A JP S58143254A
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
- G01N23/207—Diffractometry using detectors, e.g. using a probe in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は与えられた試料物質、特に結晶性試料物質の同
定を行うだめの装置に関する。
定を行うだめの装置に関する。
結晶性試料の同定には多くの場合Ｘ線回折法が用いられ
る。しかしＸ線回折法では与えられた試料が予定された
物質であるか否かは比較的容易に決定できるが、試料物
質が何であるかを決定するのは容易でなく、同定の適中
率は余り良くない。
る。しかしＸ線回折法では与えられた試料が予定された
物質であるか否かは比較的容易に決定できるが、試料物
質が何であるかを決定するのは容易でなく、同定の適中
率は余り良くない。
物質の同定も研究室的に行う場合は時間的な制約もなく
、色々な装置が利用できて各種の分析方法を適用するこ
とにより確実な同定が可能であるが、日常的な業務とし
て種々な試料の同定を行う場合は時間的な制約が大きく
設備も限定されるから一つの装置で短期間に分析できる
ことが望まれる。
、色々な装置が利用できて各種の分析方法を適用するこ
とにより確実な同定が可能であるが、日常的な業務とし
て種々な試料の同定を行う場合は時間的な制約が大きく
設備も限定されるから一つの装置で短期間に分析できる
ことが望まれる。
本発明はＸ線回折法だけでは情報不足で同定が困難であ
る所を、他の分析手段をＸ線回折装置に組込むことによ
って、情報量を増し、物質同定を容易ならしめると共に
同定の確度をも高めだ物質同定装置を提供しようとする
ものである。以下実施例によって本発明を説明する。
る所を、他の分析手段をＸ線回折装置に組込むことによ
って、情報量を増し、物質同定を容易ならしめると共に
同定の確度をも高めだ物質同定装置を提供しようとする
ものである。以下実施例によって本発明を説明する。
図面は本発明の一実施例装置を示す。１はＸ線回折装置
のゴニオメータ、２はＸ線管球、３はゴニオメータ１の
中心にセットされた試料、４はＸ線管の電源装置であり
、６はＸ線検出器である。
のゴニオメータ、２はＸ線管球、３はゴニオメータ１の
中心にセットされた試料、４はＸ線管の電源装置であり
、６はＸ線検出器である。
５はゴニオメータ制御装置で、例えば粉末或は多結晶試
料の場合Ｘ線検出器６を試料３の周囲に回動させ、まだ
試料３に対するＸ線の入射角を適宜変更できるように、
試料３及びＸ線源２をゴニオメータ１の周囲に回動させ
ることができる。これらの回転そのものはパルスモータ
によって行われ、ゴニオメータ制御装置５はとれらのパ
ルスモータを駆動したパルス信号をデータ処理装置１２
に送る。データ処理装置１２ではそれらのパルスを計数
し試料３． Ｘ線管２． Ｘ線検出器６のゴニオメ
ータ上の角位置を検出している。７はｘ、１測定回路取 でＸ線検出器６の出力パルスを受要り、回折Ｘ線強度を
測定している。この強度データも上記データ処理装置１
２に入力され、データ処理装置１２では回折Ｘ線のピー
クを検出してそのときのＸ線管２とＸ線検出器６０角位
置から格子面間隔或はブラックの反射角を算出し、幾つ
かの回折Ｘ線のピークを検出することによって試料に対
するデバイシェラ−環に関するデータを得る。８は光源
、９は同光源の光を集光して試料３に投射する照射光学
系、１０は集光光学系、１１は分光光度計であり、集光
光学系１０は試料３から来る光を集光して分光光度計１
１に入射させ乏。試料３から来る光は光源８の光の反射
光だけに限られないのであり、光源８からの光の照射に
よって励起されだ螢光或はラマン散乱光更にＸ線の照射
によって励起された螢光等も含まれる。データ処理装置
１２には予め光源８の分光特性を記憶させておく。それ
には試料３の位置に標準白板を置いて光源８の反射光を
分光光度計で分光して測定し、その結果をデータ処理装
置に入力する。任意の試料３の分光反射特性は試料３０
反射光の分光測光値と予め記憶させである標準白板の対
応波長における測光値光源に変えることによシ、分光光
度計１１によって試料の螢光特性が得られる。また光源
８に通電せず試料をＸ線で照射することにより、試料を
Ｘ線で励起した場合の螢光の測定もできる。これらの測
定によるデータはデータ処理装置１２に入力され記憶せ
られる。
料の場合Ｘ線検出器６を試料３の周囲に回動させ、まだ
試料３に対するＸ線の入射角を適宜変更できるように、
試料３及びＸ線源２をゴニオメータ１の周囲に回動させ
ることができる。これらの回転そのものはパルスモータ
によって行われ、ゴニオメータ制御装置５はとれらのパ
ルスモータを駆動したパルス信号をデータ処理装置１２
に送る。データ処理装置１２ではそれらのパルスを計数
し試料３． Ｘ線管２． Ｘ線検出器６のゴニオメ
ータ上の角位置を検出している。７はｘ、１測定回路取 でＸ線検出器６の出力パルスを受要り、回折Ｘ線強度を
測定している。この強度データも上記データ処理装置１
２に入力され、データ処理装置１２では回折Ｘ線のピー
クを検出してそのときのＸ線管２とＸ線検出器６０角位
置から格子面間隔或はブラックの反射角を算出し、幾つ
かの回折Ｘ線のピークを検出することによって試料に対
するデバイシェラ−環に関するデータを得る。８は光源
、９は同光源の光を集光して試料３に投射する照射光学
系、１０は集光光学系、１１は分光光度計であり、集光
光学系１０は試料３から来る光を集光して分光光度計１
１に入射させ乏。試料３から来る光は光源８の光の反射
光だけに限られないのであり、光源８からの光の照射に
よって励起されだ螢光或はラマン散乱光更にＸ線の照射
によって励起された螢光等も含まれる。データ処理装置
１２には予め光源８の分光特性を記憶させておく。それ
には試料３の位置に標準白板を置いて光源８の反射光を
分光光度計で分光して測定し、その結果をデータ処理装
置に入力する。任意の試料３の分光反射特性は試料３０
反射光の分光測光値と予め記憶させである標準白板の対
応波長における測光値光源に変えることによシ、分光光
度計１１によって試料の螢光特性が得られる。また光源
８に通電せず試料をＸ線で照射することにより、試料を
Ｘ線で励起した場合の螢光の測定もできる。これらの測
定によるデータはデータ処理装置１２に入力され記憶せ
られる。
上述した装置においてデータ処理装置１２に集積された
一つの試料についてのデータと予め記憶させである各種
物質のデータとから試料物質の種定 別を同椀するプログラムは任意である。例えば試３− 料に関する回折Ｘ線のデータ中量も強いピークを与えて
いる回折線と同じ或はきわめて近い回折線を与える物質
を検索し、検索された物質中から試料における２番目に
強いピークの回折線と一致するような回折線を与える物
質を検索すると云う手順を繰返す。通常このようにする
と幾つかの候補物質に絞られるがＸ線回折のデータだけ
では物質名を一つに確定することは困難である。こ＼で
試料に関する色特性即ち分光反射率及び螢光特性が参照
されて試料物質の同定が確定せられる。
一つの試料についてのデータと予め記憶させである各種
物質のデータとから試料物質の種定 別を同椀するプログラムは任意である。例えば試３− 料に関する回折Ｘ線のデータ中量も強いピークを与えて
いる回折線と同じ或はきわめて近い回折線を与える物質
を検索し、検索された物質中から試料における２番目に
強いピークの回折線と一致するような回折線を与える物
質を検索すると云う手順を繰返す。通常このようにする
と幾つかの候補物質に絞られるがＸ線回折のデータだけ
では物質名を一つに確定することは困難である。こ＼で
試料に関する色特性即ち分光反射率及び螢光特性が参照
されて試料物質の同定が確定せられる。
本発明装置は上述したような構成で、一つの装置でＸ線
回折法によるデータと分光分析的データとが得られるか
ら試料物質の同定が容易となシ適中率も向上でき、Ｘ線
を励起線とする螢光スペクトルのデータは例えば稀土類
元素を含む試料の同定にきわめて有力な情報を与え、し
かも装置構成はＸ線回折装置を主体とし、ゴニオメータ
は分光的測定時の試料台に兼用され、Ｘ線源も螢光分析
用励起線として利用できるので、多機能であるにもか＼
わらず、各機能別の装置を設置するのに比４− し分析のだめの設備費が大幅に節減でき、−装置多機能
であるから試料は単一でよく、試料の調整、或は試料の
装置から装置への移し替え等の時間消費がなく、同時平
行して２種の分析法を実施することもできるので、分析
作業の能率化と云う効果も得られる。
回折法によるデータと分光分析的データとが得られるか
ら試料物質の同定が容易となシ適中率も向上でき、Ｘ線
を励起線とする螢光スペクトルのデータは例えば稀土類
元素を含む試料の同定にきわめて有力な情報を与え、し
かも装置構成はＸ線回折装置を主体とし、ゴニオメータ
は分光的測定時の試料台に兼用され、Ｘ線源も螢光分析
用励起線として利用できるので、多機能であるにもか＼
わらず、各機能別の装置を設置するのに比４− し分析のだめの設備費が大幅に節減でき、−装置多機能
であるから試料は単一でよく、試料の調整、或は試料の
装置から装置への移し替え等の時間消費がなく、同時平
行して２種の分析法を実施することもできるので、分析
作業の能率化と云う効果も得られる。
図面は本発明の一実施例装置の構成を示すブロック図で
ある。 １・・・ゴニオメータ、２・・・Ｘ線管、３・・・試料
、５・・・ゴニオメータ制御装置、６・・・Ｘ線検出器
、７・・・Ｘ線測定回路、８・・・光源、９・・・照射
光学系、１０・・・集光光学系、１１・・・分光光度計
、１２・・・データ処理装置。
ある。 １・・・ゴニオメータ、２・・・Ｘ線管、３・・・試料
、５・・・ゴニオメータ制御装置、６・・・Ｘ線検出器
、７・・・Ｘ線測定回路、８・・・光源、９・・・照射
光学系、１０・・・集光光学系、１１・・・分光光度計
、１２・・・データ処理装置。
Claims (1)
- Ｘ線回折装置と、同装置にセットされた試料に分光測光
する分光装置と、上記Ｘ線回折装置及び分光１装置より
得られるデータと内蔵された各種物質に関するデータと
によって試料物質の同定を行うデータ処理装置とよりな
る物質同定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57027958A JPS58143254A (ja) | 1982-02-22 | 1982-02-22 | 物質同定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57027958A JPS58143254A (ja) | 1982-02-22 | 1982-02-22 | 物質同定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58143254A true JPS58143254A (ja) | 1983-08-25 |
Family
ID=12235393
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57027958A Pending JPS58143254A (ja) | 1982-02-22 | 1982-02-22 | 物質同定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58143254A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7604173B2 (en) | 2004-11-16 | 2009-10-20 | Illumina, Inc. | Holographically encoded elements for microarray and other tagging labeling applications, and method and apparatus for making and reading the same |
| US7623624B2 (en) * | 2005-11-22 | 2009-11-24 | Illumina, Inc. | Method and apparatus for labeling using optical identification elements characterized by X-ray diffraction |
| US7659983B2 (en) | 2003-01-22 | 2010-02-09 | Electronics And Telecommunications Resarch Institute | Hybrid random bead/chip based microarray |
| US7830575B2 (en) | 2006-04-10 | 2010-11-09 | Illumina, Inc. | Optical scanner with improved scan time |
| US7901630B2 (en) | 2002-08-20 | 2011-03-08 | Illumina, Inc. | Diffraction grating-based encoded microparticle assay stick |
| US7900836B2 (en) | 2002-08-20 | 2011-03-08 | Illumina, Inc. | Optical reader system for substrates having an optically readable code |
| US7923260B2 (en) | 2002-08-20 | 2011-04-12 | Illumina, Inc. | Method of reading encoded particles |
| US8081792B2 (en) | 2003-08-20 | 2011-12-20 | Illumina, Inc. | Fourier scattering methods for encoding microbeads and methods and apparatus for reading the same |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5017695A (ja) * | 1973-06-14 | 1975-02-25 | ||
| JPS5049533A (ja) * | 1973-09-05 | 1975-05-02 | ||
| JPS5081387A (ja) * | 1973-11-20 | 1975-07-02 | ||
| JPS5395694A (en) * | 1977-02-02 | 1978-08-22 | Rigaku Denki Co Ltd | Xxrays analyzer |
| JPS56150331A (en) * | 1980-02-07 | 1981-11-20 | Perkin Elmer Corp | Method of and apparatus for determining nature of unknown substance |
-
1982
- 1982-02-22 JP JP57027958A patent/JPS58143254A/ja active Pending
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5017695A (ja) * | 1973-06-14 | 1975-02-25 | ||
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| JPS56150331A (en) * | 1980-02-07 | 1981-11-20 | Perkin Elmer Corp | Method of and apparatus for determining nature of unknown substance |
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| US7901630B2 (en) | 2002-08-20 | 2011-03-08 | Illumina, Inc. | Diffraction grating-based encoded microparticle assay stick |
| US7900836B2 (en) | 2002-08-20 | 2011-03-08 | Illumina, Inc. | Optical reader system for substrates having an optically readable code |
| US7923260B2 (en) | 2002-08-20 | 2011-04-12 | Illumina, Inc. | Method of reading encoded particles |
| US7659983B2 (en) | 2003-01-22 | 2010-02-09 | Electronics And Telecommunications Resarch Institute | Hybrid random bead/chip based microarray |
| US8081792B2 (en) | 2003-08-20 | 2011-12-20 | Illumina, Inc. | Fourier scattering methods for encoding microbeads and methods and apparatus for reading the same |
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| US7623624B2 (en) * | 2005-11-22 | 2009-11-24 | Illumina, Inc. | Method and apparatus for labeling using optical identification elements characterized by X-ray diffraction |
| US7830575B2 (en) | 2006-04-10 | 2010-11-09 | Illumina, Inc. | Optical scanner with improved scan time |
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