JPS58143264A - 音響放出による溶接欠陥の検知方法 - Google Patents
音響放出による溶接欠陥の検知方法Info
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- JPS58143264A JPS58143264A JP57025984A JP2598482A JPS58143264A JP S58143264 A JPS58143264 A JP S58143264A JP 57025984 A JP57025984 A JP 57025984A JP 2598482 A JP2598482 A JP 2598482A JP S58143264 A JPS58143264 A JP S58143264A
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- G01N29/14—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object using acoustic emission techniques
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- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は音響放出による溶接欠陥の検知方法に関し、
特に溶接中のアークの後方で冷却中の溶接金属中から生
ずる音響放出音を検出することによシ、内部欠陥とその
位置を検知する方法に関する。
特に溶接中のアークの後方で冷却中の溶接金属中から生
ずる音響放出音を検出することによシ、内部欠陥とその
位置を検知する方法に関する。
サブマージアーク溶接やＭＩＧ溶接など、大電流溶接で
溶は込みの深い溶接をする場合、溶接欠陥として高温割
れを生じやすいことは周知の通υである１、この高温割
れは溶接金属の凝固温度範囲またはその直下の温度で発
生し、縦割れ、横割れ、ルート割れ、あるいは顕微鏡で
認められるような微細なもの捷で各種あるか、いずれも
機械的性質の低下を招く極めて危険なものである。この
高温割れは溶接金属だけでなく、それに隣接した熱影響
部の結晶粒粗大域にも生ずることがあり、これらの部分
での内部欠陥は外観検査では発見が困難でおる。
溶は込みの深い溶接をする場合、溶接欠陥として高温割
れを生じやすいことは周知の通υである１、この高温割
れは溶接金属の凝固温度範囲またはその直下の温度で発
生し、縦割れ、横割れ、ルート割れ、あるいは顕微鏡で
認められるような微細なもの捷で各種あるか、いずれも
機械的性質の低下を招く極めて危険なものである。この
高温割れは溶接金属だけでなく、それに隣接した熱影響
部の結晶粒粗大域にも生ずることがあり、これらの部分
での内部欠陥は外観検査では発見が困難でおる。
この発明は溶接中においてアークの後方で溶接欠陥、特
に高温割れをその程度と位置について非破壊的に且つリ
アルタイムで検知する方法を提供することを目的とする
ものであシ、それによって溶接継手の品質の向上を果そ
うとするものである。
に高温割れをその程度と位置について非破壊的に且つリ
アルタイムで検知する方法を提供することを目的とする
ものであシ、それによって溶接継手の品質の向上を果そ
うとするものである。
すなわちこの発明は溶接欠陥の発生をそれに伴々う音響
放出音の検知によって認識するもので、欠陥の程度と発
生位置をアークノイズやフラックス割れ音或いは浴接金
属の変態前などに邪魔されずに適確に実時間で検知する
ことを可能とするものである。
放出音の検知によって認識するもので、欠陥の程度と発
生位置をアークノイズやフラックス割れ音或いは浴接金
属の変態前などに邪魔されずに適確に実時間で検知する
ことを可能とするものである。
この発明の検知方法のひとつの態様では、予じめ定めら
れた溶接速度で移動する溶接トーチのアーク直下点よシ
後方で溶着部の冷却過程において欠陥の発生し易い時期
に相当する位置にマスターセンサを配置し、このマスタ
ーセンサの前方で且つ溶接トーチの後方位置に第１のス
レーブセンサを配置し、また前記マスターセンサの後方
位置に第２のスレーブセンサを配置し、溶接中にマスタ
ーセンサおよび第１と第２のスレーブセンサを前記溶接
トーチと一体的に且つ相互位置関係を変えずに移動させ
つつ母材と溶接金属中を伝播してくる溶接金属の冷却中
の音響放出音をこれら３つのセンサで検出し、マスター
センサによる検出信号と第１および第２のスレーブセン
サによる検出信号との信号到着順位とを比較し、マスタ
ーセンサによる検出信号が第１到着順位であるときのみ
信号をと９こみ、このようにしてマスターセンサ近傍で
発生した音響放出音だけをとり出して、そのエネルギ、
リングダウンカウント、或いは電圧実効値の値から第１
のスレーブセンサとマスターセンサとの中点位置から第
２のスレーブセンサとマスターセンサとの中点位置まで
の範囲内に相当する溶接ビード内の欠陥の大きさとその
位置を判定する。
れた溶接速度で移動する溶接トーチのアーク直下点よシ
後方で溶着部の冷却過程において欠陥の発生し易い時期
に相当する位置にマスターセンサを配置し、このマスタ
ーセンサの前方で且つ溶接トーチの後方位置に第１のス
レーブセンサを配置し、また前記マスターセンサの後方
位置に第２のスレーブセンサを配置し、溶接中にマスタ
ーセンサおよび第１と第２のスレーブセンサを前記溶接
トーチと一体的に且つ相互位置関係を変えずに移動させ
つつ母材と溶接金属中を伝播してくる溶接金属の冷却中
の音響放出音をこれら３つのセンサで検出し、マスター
センサによる検出信号と第１および第２のスレーブセン
サによる検出信号との信号到着順位とを比較し、マスタ
ーセンサによる検出信号が第１到着順位であるときのみ
信号をと９こみ、このようにしてマスターセンサ近傍で
発生した音響放出音だけをとり出して、そのエネルギ、
リングダウンカウント、或いは電圧実効値の値から第１
のスレーブセンサとマスターセンサとの中点位置から第
２のスレーブセンサとマスターセンサとの中点位置まで
の範囲内に相当する溶接ビード内の欠陥の大きさとその
位置を判定する。
またこの発明の検知方法のもうひとつの態様では、予じ
め定められた溶接速度で移動する溶接トーチのアーク直
下点よシ後方の第１の位置に第１のマスターセンサを配
置し、前記第１の位置よシ更に後方の第２の位置に第２
のマスターセンサを配置し、更に前記第１のマスターセ
ンサの直前に第１のスレーブセンサを配置し、前記第２
のマスターセンサの直後に第２のスレーブセンサを配置
して、溶接中に第１と第２のマスターセンサおよび第１
と第２のスレーブセンサを前記溶接トーチと一体的に且
つ相互位置関係を変えずに移動させつつ母材と溶接金属
中を伝播してくる溶接金属の冷却中の音響放出音をこれ
ら４つのセンサで検出し、第１および第２のマスターセ
ンサによる検出信号と第１および第２のスレーブセンサ
による検出信号との信号到着順位を比較し、第１および
第２のマスターセンサの検出信号の信号到着順位が第１
および第２のスレーブセンサのそれよりも早い場合のみ
信号をとりこむことによシ、第１と第２のマスターセン
サの間の範囲内に相当する溶接ビード内で生じた音響放
出音のみをとシ出してその大きさと発生位置を検知する
ものである。
め定められた溶接速度で移動する溶接トーチのアーク直
下点よシ後方の第１の位置に第１のマスターセンサを配
置し、前記第１の位置よシ更に後方の第２の位置に第２
のマスターセンサを配置し、更に前記第１のマスターセ
ンサの直前に第１のスレーブセンサを配置し、前記第２
のマスターセンサの直後に第２のスレーブセンサを配置
して、溶接中に第１と第２のマスターセンサおよび第１
と第２のスレーブセンサを前記溶接トーチと一体的に且
つ相互位置関係を変えずに移動させつつ母材と溶接金属
中を伝播してくる溶接金属の冷却中の音響放出音をこれ
ら４つのセンサで検出し、第１および第２のマスターセ
ンサによる検出信号と第１および第２のスレーブセンサ
による検出信号との信号到着順位を比較し、第１および
第２のマスターセンサの検出信号の信号到着順位が第１
および第２のスレーブセンサのそれよりも早い場合のみ
信号をとりこむことによシ、第１と第２のマスターセン
サの間の範囲内に相当する溶接ビード内で生じた音響放
出音のみをとシ出してその大きさと発生位置を検知する
ものである。
この発明の実施例を図示すれば、第１図において、（１
）は母材、（２）はフラックス層、（３）は溶接トーチ
、（４）はフラックスホッパノズル、＜５）ハｍ接金属
で、この例ではサブマージアーク溶接に適用した場合を
示している。溶接トーチ（３）の直下のアーク点より１
・−チの溶接進行方向（矢印）に関して後方の距離ｔ。
）は母材、（２）はフラックス層、（３）は溶接トーチ
、（４）はフラックスホッパノズル、＜５）ハｍ接金属
で、この例ではサブマージアーク溶接に適用した場合を
示している。溶接トーチ（３）の直下のアーク点より１
・−チの溶接進行方向（矢印）に関して後方の距離ｔ。
の位置において音響放出音検出用のマスターセンサ（財
）が配置され、このマスターセンサ（財）の直前に間隔
距離１．を隔てて同様の第１のスレーブセンサ（Ｓ、）
が配置され、またマスターセンサ（ロ）の後方にも間隔
距離４を隔てて同様の第２のスレーブセンサ（Ｓ、）が
配置されている。これらのセンサ（財）（Ｓ ＋） （
ＳＺ）は、母材表面側に継手線に沿って一列に配列され
、溶接の進行に伴ってトーチ（３）と共に相互位置関係
を変えずに一体的に開先αηに沿って移動するようにか
されてい尿。１記距離ｔｏの位置すなわちマスターセン
サ（財）が配置されている位置は、溶接トーチよシ稜方
でセンサが溶接アークの熱的悪影響を受けない位置でし
かも予じめ与えられた溶接速度にて溶着部の冷却過程に
おいて欠陥の発生し易い時期に相当する位置である。（
６）はこれらセンサ（財）（Ｓ ＋） （ＳＺ ）から
の検出信号を処理する信号処理装置であシ、その出力デ
ータは記録装置（７）によって記録表示される。すなわ
ち信号処理装置（６）内においてスレーブセンサ（Ｓｔ
） （ＳＸ）の検出結果に基づく雑音除去とマスターセ
ンサ（財）の検出結果に基づく音響放出音の大きさに関
係する量、例えはリングダウンカウント、電圧実効値、
エネルギーなど、および時間的な判別が行なわれる。
）が配置され、このマスターセンサ（財）の直前に間隔
距離１．を隔てて同様の第１のスレーブセンサ（Ｓ、）
が配置され、またマスターセンサ（ロ）の後方にも間隔
距離４を隔てて同様の第２のスレーブセンサ（Ｓ、）が
配置されている。これらのセンサ（財）（Ｓ ＋） （
ＳＺ）は、母材表面側に継手線に沿って一列に配列され
、溶接の進行に伴ってトーチ（３）と共に相互位置関係
を変えずに一体的に開先αηに沿って移動するようにか
されてい尿。１記距離ｔｏの位置すなわちマスターセン
サ（財）が配置されている位置は、溶接トーチよシ稜方
でセンサが溶接アークの熱的悪影響を受けない位置でし
かも予じめ与えられた溶接速度にて溶着部の冷却過程に
おいて欠陥の発生し易い時期に相当する位置である。（
６）はこれらセンサ（財）（Ｓ ＋） （ＳＺ ）から
の検出信号を処理する信号処理装置であシ、その出力デ
ータは記録装置（７）によって記録表示される。すなわ
ち信号処理装置（６）内においてスレーブセンサ（Ｓｔ
） （ＳＸ）の検出結果に基づく雑音除去とマスターセ
ンサ（財）の検出結果に基づく音響放出音の大きさに関
係する量、例えはリングダウンカウント、電圧実効値、
エネルギーなど、および時間的な判別が行なわれる。
音響放出の発生位置については、成る一定の長さくａ）
をもって表わされる。つまりこれは第２図に示すように
マスターセンサ（財）とスレーブセンサ（Ｓ、）（Ｓｚ
）！：の各々の中点からマスターセンサ（財）寄りノ領
域として表わされる１、これらの検知結果が記録装置（
７）によって溶接材毎のデータとして記録されるわけで
ある。さらに欠陥が有害なものと判定された場合にはマ
ーカーａＱによって有害欠陥発生位置にマーキングを行
なうようにすれば後工程での手入れに際して便利である
。このマーカーαＱはセンサ（財）（８１）（８２）な
どと共に一体的に移動するものであることは述べるまで
もない。
をもって表わされる。つまりこれは第２図に示すように
マスターセンサ（財）とスレーブセンサ（Ｓ、）（Ｓｚ
）！：の各々の中点からマスターセンサ（財）寄りノ領
域として表わされる１、これらの検知結果が記録装置（
７）によって溶接材毎のデータとして記録されるわけで
ある。さらに欠陥が有害なものと判定された場合にはマ
ーカーａＱによって有害欠陥発生位置にマーキングを行
なうようにすれば後工程での手入れに際して便利である
。このマーカーαＱはセンサ（財）（８１）（８２）な
どと共に一体的に移動するものであることは述べるまで
もない。
第１図において信号処理装置（６）は以下の通シの構成
を備えている。すなわち、センサ（財）（Ｓ ＋）（Ｓ
ｔ ）がとらえた信号はそれぞれ前置増幅器（８）、フ
ィルタ（９）、主増幅器（ト）に通されて、これらによ
り信号中の必要な周波数成分のみが電気的処理のし易い
ように増幅され、各センサ出力ともに時間差比較回路（
１１）に入る。ここでマスターセンサＭの検出信号は両
スレーブセンサ（ｓ ｒ Ｘｓ”）の検出信号と各々信
号到着順位の比較をなされ、その結果によってマスター
センサ（財）の検出信号が第１到着順位であるときのみ
これを欠陥検知信号としてとり出し、これ以外を雑音と
して除去し、この欠陥信号だけが信号検出回路（６）へ
送られる。信号検出回路α埠では欠陥信号の振幅、継続
時間等々を検出し、有害度評価回路α→へこの検出結果
を送って判定したのち記録装置（７）に出力を送り、同
時に有害欠陥についてはマーカー作動回路αつへマーカ
ーαＱの作動を指令するものである。
を備えている。すなわち、センサ（財）（Ｓ ＋）（Ｓ
ｔ ）がとらえた信号はそれぞれ前置増幅器（８）、フ
ィルタ（９）、主増幅器（ト）に通されて、これらによ
り信号中の必要な周波数成分のみが電気的処理のし易い
ように増幅され、各センサ出力ともに時間差比較回路（
１１）に入る。ここでマスターセンサＭの検出信号は両
スレーブセンサ（ｓ ｒ Ｘｓ”）の検出信号と各々信
号到着順位の比較をなされ、その結果によってマスター
センサ（財）の検出信号が第１到着順位であるときのみ
これを欠陥検知信号としてとり出し、これ以外を雑音と
して除去し、この欠陥信号だけが信号検出回路（６）へ
送られる。信号検出回路α埠では欠陥信号の振幅、継続
時間等々を検出し、有害度評価回路α→へこの検出結果
を送って判定したのち記録装置（７）に出力を送り、同
時に有害欠陥についてはマーカー作動回路αつへマーカ
ーαＱの作動を指令するものである。
第３図はこの発明のもうひとつの実施例を示すもので、
第１図と同一符号は同等のものを示している。
第１図と同一符号は同等のものを示している。
この例もサブマージアーク溶接の場合を示しておシ、ト
ーチ直下のアーク点よシトーチの溶接進行方向（矢印）
に関し七後方の距離ｔ０の第１の位置において第１のマ
スターセンサ（Ｍ、）が配置され、さらに距離りだけ後
方の第２の位置において第２のマスターセンサ（Ｍ、）
が配着され、第１のシスターセンサ（Ｍ、）の直前には
間隔距離１．を隔てて第１スレーブセンサ（Ｓｔ）が配
置され、また第２マスターセンサ（Ｍ、）の直後にも間
隔距離４を隔てて第２スレーブセンサ（Ｓ、）が配置さ
れている。これらセンサ（Ｍ＋）（Ｍ＊）（ｓｌ）（ｓ
＊）は全て溶接金属（５）中において冷却中に生じる割
れに基づ攻音響放出音を検知すべく、母材表面側に継手
線に沿って一列に配列さ′れ、溶接の進行に伴ガつてト
ーチ（３）と共に相対位置関係を変えずに一体的に移動
するようになされそいる１、前記トーチから距離ｔ。の
位置すなわちマスターセ／す（Ｍ、）が配置されている
第１位置は、溶接トーチよ）後方でセンサが溶接アーク
の熱的影響を受けない位置であ如、また前記距離りすな
わちマスターセンサ（Ｍ２）が配置される第２位置は、
溶接トーチ（３）と連動したフラックス除去装置を使用
する場合はその影響を受けない位置、フラックス除去装
置を使用しない場合は、音響放出音の減衰を考慮した位
置とする。尚、前記距離ｔ１および４はセンサｏｔ＋Ｘ
Ｍｇ）（ｓ ｔ）（ｓｚ）のレスポンスと後述の信号処
理系の分解能とによって下限を定められ、この下限範囲
内でなるべく小さい値に選ばれるが、通常センザー直径
の２倍程度である。信号処理装［（６） Ｋ １つてス
レーブセンサ（ＳＩＸＳｇ）の検出信号に基づく雑音除
去およびマスターセンサ（Ｍ 、）（Ｍｚ ）の検出信
号による音響放出音の大きさと発生位置の検知が行なわ
れ、この検知結果が記録装置（７）によって各溶接材毎
のデータと１で記録される。さらに、有害欠陥の場合は
（２）のマーカーによシ有害欠陥発生位置にマーキング
を行なうことも可能なことは先の実施例と同様である。
ーチ直下のアーク点よシトーチの溶接進行方向（矢印）
に関し七後方の距離ｔ０の第１の位置において第１のマ
スターセンサ（Ｍ、）が配置され、さらに距離りだけ後
方の第２の位置において第２のマスターセンサ（Ｍ、）
が配着され、第１のシスターセンサ（Ｍ、）の直前には
間隔距離１．を隔てて第１スレーブセンサ（Ｓｔ）が配
置され、また第２マスターセンサ（Ｍ、）の直後にも間
隔距離４を隔てて第２スレーブセンサ（Ｓ、）が配置さ
れている。これらセンサ（Ｍ＋）（Ｍ＊）（ｓｌ）（ｓ
＊）は全て溶接金属（５）中において冷却中に生じる割
れに基づ攻音響放出音を検知すべく、母材表面側に継手
線に沿って一列に配列さ′れ、溶接の進行に伴ガつてト
ーチ（３）と共に相対位置関係を変えずに一体的に移動
するようになされそいる１、前記トーチから距離ｔ。の
位置すなわちマスターセ／す（Ｍ、）が配置されている
第１位置は、溶接トーチよ）後方でセンサが溶接アーク
の熱的影響を受けない位置であ如、また前記距離りすな
わちマスターセンサ（Ｍ２）が配置される第２位置は、
溶接トーチ（３）と連動したフラックス除去装置を使用
する場合はその影響を受けない位置、フラックス除去装
置を使用しない場合は、音響放出音の減衰を考慮した位
置とする。尚、前記距離ｔ１および４はセンサｏｔ＋Ｘ
Ｍｇ）（ｓ ｔ）（ｓｚ）のレスポンスと後述の信号処
理系の分解能とによって下限を定められ、この下限範囲
内でなるべく小さい値に選ばれるが、通常センザー直径
の２倍程度である。信号処理装［（６） Ｋ １つてス
レーブセンサ（ＳＩＸＳｇ）の検出信号に基づく雑音除
去およびマスターセンサ（Ｍ 、）（Ｍｚ ）の検出信
号による音響放出音の大きさと発生位置の検知が行なわ
れ、この検知結果が記録装置（７）によって各溶接材毎
のデータと１で記録される。さらに、有害欠陥の場合は
（２）のマーカーによシ有害欠陥発生位置にマーキング
を行なうことも可能なことは先の実施例と同様である。
信号処理装置（６）においては、まずマスターセンサ（
Ｍｌ）（Ｍｚ）の検知音のうち第１マスターセンサ（Ｍ
ｌ）の位置よシ前方のトーチ寄りで発生した音響成分を
スレーブセンサ（Ｓ、）の検知出力との相対的到着順位
の比較によシ除去し、また同様にマスターセ／す（Ｍｊ
ＸＭｔ）の検知音のうち第２マスターセンサ（Ｍ２）の
位置よシ稜方で発生した音響成分をスレーブセンサ（Ｓ
、）の検知出力との比較によシ除去し、これによ）前者
の音響成分の大半を占めるアークノイズと、後者の音響
成分の大半を占めるフラックスの割れあるいはスラック
スはつり音等を雑音として除去する。さらに信号処理装
置（６）では前記のように雑音を除去したマスターセン
サ（Ｍｌ）（Ｍりの検知信号によシ距離りの範囲内のみ
で発生した音響放出音から欠陥の有害度と位置とを検出
し、これを記録装置（７）へ出力する。この場合、欠陥
の有害度はマスターセンサ出力の振幅と継続時間とによ
り求められ、発生位置は、先にその音響放出音を検知し
た方のマスターセンサからの距離Ｘとして、ｘ＝（Ｌ−
Ｊｔ−ｖ）／２によシ求められる。
Ｍｌ）（Ｍｚ）の検知音のうち第１マスターセンサ（Ｍ
ｌ）の位置よシ前方のトーチ寄りで発生した音響成分を
スレーブセンサ（Ｓ、）の検知出力との相対的到着順位
の比較によシ除去し、また同様にマスターセ／す（Ｍｊ
ＸＭｔ）の検知音のうち第２マスターセンサ（Ｍ２）の
位置よシ稜方で発生した音響成分をスレーブセンサ（Ｓ
、）の検知出力との比較によシ除去し、これによ）前者
の音響成分の大半を占めるアークノイズと、後者の音響
成分の大半を占めるフラックスの割れあるいはスラック
スはつり音等を雑音として除去する。さらに信号処理装
置（６）では前記のように雑音を除去したマスターセン
サ（Ｍｌ）（Ｍりの検知信号によシ距離りの範囲内のみ
で発生した音響放出音から欠陥の有害度と位置とを検出
し、これを記録装置（７）へ出力する。この場合、欠陥
の有害度はマスターセンサ出力の振幅と継続時間とによ
り求められ、発生位置は、先にその音響放出音を検知し
た方のマスターセンサからの距離Ｘとして、ｘ＝（Ｌ−
Ｊｔ−ｖ）／２によシ求められる。
この式においてΔ（は両マヌターセンサでの音響放出音
の検出時間差、■は溶接金属ないし母材中の音速でおる
。
の検出時間差、■は溶接金属ないし母材中の音速でおる
。
第３図において信号処理装置（６）は以下の通シの構成
を備えている。すなわち、センサ（Ｍθ（ＭｚＸｓ＋）
（Ｓｔ ）がとらえた信号は、それぞれ前置増幅器（８
）、フィルター（９）、主増幅器（２）により信号中の
必要な周波数成分のみが電気的処理のしやすい様に増幅
され、時間差比較回路ａカにはいる。ここでマスターセ
ンサとスレーブセンサへの信号到着順位から欠陥信号か
雑音かの判別を行ない、欠陥信号と認められたものだけ
が信号検出回路（６）と位置標定回路０に送られる。位
置標定回路υでは時間差比較回路０９で計測されたマス
ターセ／す（Ｍｌ）（Ｍｌ）への信号到着時間差Δｔか
ら欠陥の発生位置を演算し、その結果を有害度評価回路
へ４に送る。信号検出回路（６）では、欠陥信号の振幅
、継続時間等々を求め、これらの結果を有害度評価回路
α尋に送る。有害度評価回路α４では位置評定回路（２
）と信号検出回路（６）とから送られた情報をもとに、
検出された欠陥の有害度を判定し、記録装置（７）に出
力するとともに手直し必要と判断された欠陥部について
は、マーカー作動回路αＱを動作させ、位置評定回路員
で演算された位置にマーカーαＱでマーキングを行なう
。
を備えている。すなわち、センサ（Ｍθ（ＭｚＸｓ＋）
（Ｓｔ ）がとらえた信号は、それぞれ前置増幅器（８
）、フィルター（９）、主増幅器（２）により信号中の
必要な周波数成分のみが電気的処理のしやすい様に増幅
され、時間差比較回路ａカにはいる。ここでマスターセ
ンサとスレーブセンサへの信号到着順位から欠陥信号か
雑音かの判別を行ない、欠陥信号と認められたものだけ
が信号検出回路（６）と位置標定回路０に送られる。位
置標定回路υでは時間差比較回路０９で計測されたマス
ターセ／す（Ｍｌ）（Ｍｌ）への信号到着時間差Δｔか
ら欠陥の発生位置を演算し、その結果を有害度評価回路
へ４に送る。信号検出回路（６）では、欠陥信号の振幅
、継続時間等々を求め、これらの結果を有害度評価回路
α尋に送る。有害度評価回路α４では位置評定回路（２
）と信号検出回路（６）とから送られた情報をもとに、
検出された欠陥の有害度を判定し、記録装置（７）に出
力するとともに手直し必要と判断された欠陥部について
は、マーカー作動回路αＱを動作させ、位置評定回路員
で演算された位置にマーカーαＱでマーキングを行なう
。
以上に述べた様に、この発明においては溶接中のトーチ
の後方で冷却中の溶接金属に対しある一定の部分につい
てのみ音響放出の連続監視が可能であシ、この部分では
溶接が正常から本来例等の音響放出も起るものではない
ので、この発明による連続監視で検出された音響放出音
は溶接金属ないし熱影響部の高温割れ等の溶接欠陥に起
因するものとみなすことができ、従ってその発生位置と
大きさとの記録データによって溶接継手部に欠陥発生の
マーキングを施すことが容易であり、さらにこのマーキ
ング個所の早期の補修作業によって溶接継手の品質を著
るしく高めることが可能である。
の後方で冷却中の溶接金属に対しある一定の部分につい
てのみ音響放出の連続監視が可能であシ、この部分では
溶接が正常から本来例等の音響放出も起るものではない
ので、この発明による連続監視で検出された音響放出音
は溶接金属ないし熱影響部の高温割れ等の溶接欠陥に起
因するものとみなすことができ、従ってその発生位置と
大きさとの記録データによって溶接継手部に欠陥発生の
マーキングを施すことが容易であり、さらにこのマーキ
ング個所の早期の補修作業によって溶接継手の品質を著
るしく高めることが可能である。
第１図は本発明の一実施例に係るシステム構成のブロッ
ク図、第２図はマスターセンサによって音響発生位置が
限定される領域を説明するだめの模式図、第６図は本発
明のもうひとつの実施例を示すブロック図である。 （１）：母材、（２）：フラツクス、（３）：溶接トー
チ、（４）：フラツクスホッパ、（５）：溶接金属、（
６）：信号処理装置、（７）：記録装置、（８）：装置
増幅器、（９）：フィルタ、（至）：主増幅器、αめ：
時間差比−回路、ａ埠：信号検出回路、０：位置標定回
路、ａ４：有害度評価回路、０５＝マ一カー作動回路、
Ｑ＠：マーカー、α′ｉ）：溶接開先、（ＭＩ）（ＭＩ
）（Ｍ） ：マスターセンサ、（８１）（８２）ニスレ
ープセンサ。 代理人 弁理士 佐 藤 正 年
ク図、第２図はマスターセンサによって音響発生位置が
限定される領域を説明するだめの模式図、第６図は本発
明のもうひとつの実施例を示すブロック図である。 （１）：母材、（２）：フラツクス、（３）：溶接トー
チ、（４）：フラツクスホッパ、（５）：溶接金属、（
６）：信号処理装置、（７）：記録装置、（８）：装置
増幅器、（９）：フィルタ、（至）：主増幅器、αめ：
時間差比−回路、ａ埠：信号検出回路、０：位置標定回
路、ａ４：有害度評価回路、０５＝マ一カー作動回路、
Ｑ＠：マーカー、α′ｉ）：溶接開先、（ＭＩ）（ＭＩ
）（Ｍ） ：マスターセンサ、（８１）（８２）ニスレ
ープセンサ。 代理人 弁理士 佐 藤 正 年
Claims (2)
- （１）予じめ定められた溶接速度で移動する溶接トーチ
のアーク直下点よりｅ方位置にマスターセンサを配置し
、このマスターセンサの前方で且つ溶接トーチの後方位
置に第１のスレーブセンサを配置し、また前記マスター
センサの彼方位置に第２のスレープセ／すを配置し、溶
接中にマスターセンサおよび第１と第２のスレーブセン
サを前記溶接トーチと一体的に且つ相互位置関係を変え
ずに移動させつつ母材と溶接金属中を伝播してくる溶接
金属の冷却中の音響放出音をこれらセンサで検出し、マ
スターセンサによる検出信号と第１および第２のスレー
ブセンサによる検出信号との信号到着順位とを比較し、
マスターセンサによる検出信号が第１到着順位であると
きのみ信号をとシこみ、そのエネルギ、リングダウンカ
ウント、或いは電圧実効値の値から第１のスレーブセン
サとマスターセンサとの中点位置から第２のスレーフセ
／すとマスターセンサとの中点位置までの範囲内に相当
する溶接ビード内の欠陥の有無を判定することを特徴と
する音響放出による溶接欠陥の検知方法。 - （２）予じめ定められた溶接速度で移動する溶接トーチ
のアーク直下点より彼方の第１の位置に第２のマスター
センサを配置し、前記第１の位置よシ更に彼方の第２の
位置に第２のマスターセンサを配置し、更に前記第１の
マスターセンサの直前に第１のスレーブセンサを配置し
、前記第２のマスターセンサの直後に第２のスレーブセ
ンサを配置して、溶接中に第１と第２のマスターセンサ
および第１と第２のスレーブセンサを前記溶接トーチと
一体的に且つ相互位置関係を変えずに移動はせつつ母材
と溶接金属中を伝播してくる溶接金属の冷却中の音響放
出音をこれらセンサで検出し、第１および第２のマスタ
ーセンサによる検出信号と第１および第２のスレーブセ
ンサによる検出信号との信号到着順位を比較し、第１お
よび第２のマスターセンサへの信号到着順位が第１およ
び第２のスレーブセンサのそれよりも早い場合のみ信号
をとりこむことにより、第１と第２のマスターセンサの
間の範囲内に相当する溶接ビード内で生じた音響放出音
のみをと多山してその発生位置を求めることを特徴とす
る音響放出による溶接欠陥の検知方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57025984A JPS58143264A (ja) | 1982-02-22 | 1982-02-22 | 音響放出による溶接欠陥の検知方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57025984A JPS58143264A (ja) | 1982-02-22 | 1982-02-22 | 音響放出による溶接欠陥の検知方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58143264A true JPS58143264A (ja) | 1983-08-25 |
| JPS6351505B2 JPS6351505B2 (ja) | 1988-10-14 |
Family
ID=12180974
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57025984A Granted JPS58143264A (ja) | 1982-02-22 | 1982-02-22 | 音響放出による溶接欠陥の検知方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58143264A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6243565A (ja) * | 1985-08-21 | 1987-02-25 | Nippon Kokan Kk <Nkk> | 溶接欠陥のリアルタイム監視方法 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH027817A (ja) * | 1988-06-15 | 1990-01-11 | Fuji Electric Co Ltd | ガス絶縁開閉装置のガス封入容器 |
-
1982
- 1982-02-22 JP JP57025984A patent/JPS58143264A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6243565A (ja) * | 1985-08-21 | 1987-02-25 | Nippon Kokan Kk <Nkk> | 溶接欠陥のリアルタイム監視方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6351505B2 (ja) | 1988-10-14 |
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