JPS58155343A - ハニカム状物体の孔壁検査方法 - Google Patents
ハニカム状物体の孔壁検査方法Info
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- JPS58155343A JPS58155343A JP57038080A JP3808082A JPS58155343A JP S58155343 A JPS58155343 A JP S58155343A JP 57038080 A JP57038080 A JP 57038080A JP 3808082 A JP3808082 A JP 3808082A JP S58155343 A JPS58155343 A JP S58155343A
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Classifications
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
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- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
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- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/956—Inspecting patterns on the surface of objects
- G01N21/95692—Patterns showing hole parts, e.g. honeycomb filtering structures
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はハニカム状物体の各孔壁部分における欠陥、即
ち孔壁の亀裂や開口による貫通部の有無を検査するため
の孔壁検査方法に関する。
ち孔壁の亀裂や開口による貫通部の有無を検査するため
の孔壁検査方法に関する。
自動車の排気ガス中に含まれるNOx、−酸化炭素、炭
化水素等の分解燃焼除去のために用いられる触媒として
ハニカム状に形成されたものが用いられるようになって
きた。 このハニカム状触媒として、例えば貴金属塩を
担持させた活性アルミナ粉末を懸濁したスラリー中にセ
ラミックで作られた多孔性のハニカム状物体を浸漬し、
このハニカム状物体に貴金属を担持させて乾燥焼成した
もの、或いは活性アルミナ粉末を懸濁したスラリー中に
ハニカム状物体を浸漬し、これを乾燥焼成した後で貴金
属を担持させたものが排気ガス通路に装着され、排気ガ
スによ、って所定以上の温度に加熱されると、NOxの
還元或いは一酸化炭素や炭火水素の酸化が行なわれる。
化水素等の分解燃焼除去のために用いられる触媒として
ハニカム状に形成されたものが用いられるようになって
きた。 このハニカム状触媒として、例えば貴金属塩を
担持させた活性アルミナ粉末を懸濁したスラリー中にセ
ラミックで作られた多孔性のハニカム状物体を浸漬し、
このハニカム状物体に貴金属を担持させて乾燥焼成した
もの、或いは活性アルミナ粉末を懸濁したスラリー中に
ハニカム状物体を浸漬し、これを乾燥焼成した後で貴金
属を担持させたものが排気ガス通路に装着され、排気ガ
スによ、って所定以上の温度に加熱されると、NOxの
還元或いは一酸化炭素や炭火水素の酸化が行なわれる。
しかして、ハニカム状物体に活性アルミナ粉末を付着さ
せるときにハニカム状物体の孔(セル)が閉塞すると、
これを触媒として使用したときに通気抵抗が大となって
使用上好ましくない。 そのためにハニカム状物体によ
る触媒は製造後に孔の閉塞有無を個別に検査する必要が
あるし、また各々の孔の各境界壁に生じ勝ちな亀裂や開
口による貫通部の有無を検査することが不可欠となる。
せるときにハニカム状物体の孔(セル)が閉塞すると、
これを触媒として使用したときに通気抵抗が大となって
使用上好ましくない。 そのためにハニカム状物体によ
る触媒は製造後に孔の閉塞有無を個別に検査する必要が
あるし、また各々の孔の各境界壁に生じ勝ちな亀裂や開
口による貫通部の有無を検査することが不可欠となる。
そして、孔の各境界壁の貫通部検査を行なう場合には、
光にハニカム状物体を向けてこのハニカム秋物体を手で
円錐運動(歳差運動)させ、貫通部の有無を直接目視に
より確認する方法が用いられてきた。
光にハニカム状物体を向けてこのハニカム秋物体を手で
円錐運動(歳差運動)させ、貫通部の有無を直接目視に
より確認する方法が用いられてきた。
この従来方法による場合は、ハニカム状物体の両端部分
の欠陥有無を確認することはできても、深部(中間部分
)に対しては確認できないのが現状であり、また、検査
員による個人差もあって常に正確な検査を行なうことは
困難であるといった問題がある。
の欠陥有無を確認することはできても、深部(中間部分
)に対しては確認できないのが現状であり、また、検査
員による個人差もあって常に正確な検査を行なうことは
困難であるといった問題がある。
そこで、本発明は単なる光ではなくて平行光束を用い、
この平行光束をハニカム状物体に照射して各々の孔の各
境界壁に対する走査を行ない、この走査状態をスクリー
ン上に投影する光学的手段を採用し、ハニカム状物体の
孔壁の欠陥有無を簡単かつ正確に検査できるようにして
上記従来方法による問題点を全面的に解決したものであ
る。
この平行光束をハニカム状物体に照射して各々の孔の各
境界壁に対する走査を行ない、この走査状態をスクリー
ン上に投影する光学的手段を採用し、ハニカム状物体の
孔壁の欠陥有無を簡単かつ正確に検査できるようにして
上記従来方法による問題点を全面的に解決したものであ
る。
先ず、本発明方法の基本的構成を第1図及び第2図を参
照しながら説明すると、光源1からの光を凸レンズ2で
平行光束となし、この平行光束の進行通路上にその光軸
と対向させて被検体である状物体3との間に歳差運動を
与えながらハニカム状物体3に上記平行光束を照射して
、この平行光束により全ての孔壁面3aを走査し、その
走査状態をスクリーン4上に投影して各孔壁面3aにお
ける貫通部の有無を検査する。 即ち、第2図に示す如
くハニカム状物体3の孔壁面3aに亀裂や開口による貫
通部5がちすると、その貫通部5から光線が洩れ、洩れ
た光線はその侭直進してスクリーン4上には直射光線と
して投影され、孔壁面3aに貫通部5のあることが直ち
に確認できる。 一方、孔壁面3aに貫通部5が全く無
いと、各孔壁面3aに当った光線は孔壁面3aで反射し
直進できないので、スクリーン4上にはハニカム状物体
3の輪郭のみが暗黒状に投影されることになる。
照しながら説明すると、光源1からの光を凸レンズ2で
平行光束となし、この平行光束の進行通路上にその光軸
と対向させて被検体である状物体3との間に歳差運動を
与えながらハニカム状物体3に上記平行光束を照射して
、この平行光束により全ての孔壁面3aを走査し、その
走査状態をスクリーン4上に投影して各孔壁面3aにお
ける貫通部の有無を検査する。 即ち、第2図に示す如
くハニカム状物体3の孔壁面3aに亀裂や開口による貫
通部5がちすると、その貫通部5から光線が洩れ、洩れ
た光線はその侭直進してスクリーン4上には直射光線と
して投影され、孔壁面3aに貫通部5のあることが直ち
に確認できる。 一方、孔壁面3aに貫通部5が全く無
いと、各孔壁面3aに当った光線は孔壁面3aで反射し
直進できないので、スクリーン4上にはハニカム状物体
3の輪郭のみが暗黒状に投影されることになる。
この場合、平行光束とハニカム状物体3.!:の間に歳
差運動を与えた理由は、平行光束による走査がハニカム
状物体の全ての孔壁面全域にわたって隈なく行なわれる
ようにするた、めであって、これによって貫通部有無の
検査を完全に行なうことが可能となる。
差運動を与えた理由は、平行光束による走査がハニカム
状物体の全ての孔壁面全域にわたって隈なく行なわれる
ようにするた、めであって、これによって貫通部有無の
検査を完全に行なうことが可能となる。
次に、平行光束とノ・ニカム秋物体との間に歳差運動を
与えるだめの実施例を図面を参照しながら説明する。
与えるだめの実施例を図面を参照しながら説明する。
第1実施例
第3図に示す如く、平面鏡(反射鏡)11から反射され
た平行光束の進行通路上に該平行光束の光軸と対向させ
てノ・ニカム秋物体3を、またノ・ニカム状物体3の後
方にスクリーン4をそれぞれ設置しである。 平面11
11は支軸12の先端に傾動自在に支持され、13はそ
の枢止ビンであって、平面鏡11と支軸12との間には
スプリング14を掛は止め、平面鏡11を1方向に向け
て付勢している。 この平面鏡11の裏面側にはカム1
5が当接し、カム15の回転作用とスプリング14の引
張り作用とによって反射する平行光束の光軸角度は変動
する。 一方、ハニカム状物体3は主従1対のローラー
15a、16b上に支持され、主ローラ−16aを駆動
することによって回転を与えられる。 したがって、反
射鏡11の傾動運動とノ・ニカム状物体3の回転運動に
よる相互運動によって両者間には見掛は上の歳差運動が
与えられ、ハニカム状物体3の各孔壁面に対し平行光束
による走査は隈なく行なわれることになる。 図中、1
7は主ローラ−16aの回転軸18に固定したブーIJ
−119は駆動軸20に固定したプーリーであり、21
は両プーリー17と19の間に損は渡したベルトである
。
た平行光束の進行通路上に該平行光束の光軸と対向させ
てノ・ニカム秋物体3を、またノ・ニカム状物体3の後
方にスクリーン4をそれぞれ設置しである。 平面11
11は支軸12の先端に傾動自在に支持され、13はそ
の枢止ビンであって、平面鏡11と支軸12との間には
スプリング14を掛は止め、平面鏡11を1方向に向け
て付勢している。 この平面鏡11の裏面側にはカム1
5が当接し、カム15の回転作用とスプリング14の引
張り作用とによって反射する平行光束の光軸角度は変動
する。 一方、ハニカム状物体3は主従1対のローラー
15a、16b上に支持され、主ローラ−16aを駆動
することによって回転を与えられる。 したがって、反
射鏡11の傾動運動とノ・ニカム状物体3の回転運動に
よる相互運動によって両者間には見掛は上の歳差運動が
与えられ、ハニカム状物体3の各孔壁面に対し平行光束
による走査は隈なく行なわれることになる。 図中、1
7は主ローラ−16aの回転軸18に固定したブーIJ
−119は駆動軸20に固定したプーリーであり、21
は両プーリー17と19の間に損は渡したベルトである
。
第2実施例
第4図に示す如く、平行光束の進行通路上には該平行光
束の光軸と対向させてノ・ニカム秋物体3を設置してあ
り、このハニカム状物体3の一端、即ち平行光束の受光
面側は回転体22に偏心して取付けてあり、回転体22
は支持体乙に回転自在に支持されている。 また、ハニ
カム状物体3の他端は垂直軸24上に支持されて回動で
きる回動枠25に横架した水平軸26に支持3127を
介して取付けられ、回転体22を回転することによって
ハニカム状物体3は歳差運動を行ない、受光面側より入
射した平行光束による各孔壁面に対する走査は隈なく行
なわれることになる。 図中、墓は駆動プーリー、29
は駆動ブーIJ−28と回転体22との間に掛は渡した
ベルトである。
束の光軸と対向させてノ・ニカム秋物体3を設置してあ
り、このハニカム状物体3の一端、即ち平行光束の受光
面側は回転体22に偏心して取付けてあり、回転体22
は支持体乙に回転自在に支持されている。 また、ハニ
カム状物体3の他端は垂直軸24上に支持されて回動で
きる回動枠25に横架した水平軸26に支持3127を
介して取付けられ、回転体22を回転することによって
ハニカム状物体3は歳差運動を行ない、受光面側より入
射した平行光束による各孔壁面に対する走査は隈なく行
なわれることになる。 図中、墓は駆動プーリー、29
は駆動ブーIJ−28と回転体22との間に掛は渡した
ベルトである。
以上の説明において、平行光束を得る光学系は通常の手
段を採用できるので、その図示説明は省略した。 また
歳差運動を与える機構は第1及び第2実施例に限定され
ないことは勿論であシ、平行光束とハニカム状物体の相
対的な歳差運動機構、乃至は両者の相互運動によって合
成される歳差運動機構は図示以外のものを任意に採用で
きる。
段を採用できるので、その図示説明は省略した。 また
歳差運動を与える機構は第1及び第2実施例に限定され
ないことは勿論であシ、平行光束とハニカム状物体の相
対的な歳差運動機構、乃至は両者の相互運動によって合
成される歳差運動機構は図示以外のものを任意に採用で
きる。
本発明は上記の如くであって、検査員がハニカム状物体
を直接目視して各孔壁面の欠陥を検査する方法と異なり
、平行光束によって各孔壁面の全域を走査し、その欠陥
の有無をスクリーン上に現われる投影によって確認する
光学的手段を採用したので、検査は素早くかつ安全にで
きる利点があり、また、検査に個人差の生ずる不都合や
検査員の眼の疲労を軽減する上に“も極めて有効である
。
を直接目視して各孔壁面の欠陥を検査する方法と異なり
、平行光束によって各孔壁面の全域を走査し、その欠陥
の有無をスクリーン上に現われる投影によって確認する
光学的手段を採用したので、検査は素早くかつ安全にで
きる利点があり、また、検査に個人差の生ずる不都合や
検査員の眼の疲労を軽減する上に“も極めて有効である
。
第1図は本発明方法の原理図、第2図はその検査状態図
、第3図及び第4図は本発明方法を実施するだめの作動
機構を説明するもので、第3図は第1実施例の側面略図
、第4図は第2実施例の斜視図である。 図中、3はハニカム状物体、3aは孔壁面、4はスクリ
ーンである。 特許出願人山田勝也 手続補正書 昭和57年4月 2日 特許庁 長官 島 1)春 樹膜 l 事件の表示 昭和57年 特許 願第38080号 事件との関係 特許出願人 fE ;Qi 埼玉県用越市大字今福2773
番地の1氏 名(名fA−)山 1) 勝 也4
代 理 人 f) 抽正により増加する発明の数 を「完全」と補正する。
、第3図及び第4図は本発明方法を実施するだめの作動
機構を説明するもので、第3図は第1実施例の側面略図
、第4図は第2実施例の斜視図である。 図中、3はハニカム状物体、3aは孔壁面、4はスクリ
ーンである。 特許出願人山田勝也 手続補正書 昭和57年4月 2日 特許庁 長官 島 1)春 樹膜 l 事件の表示 昭和57年 特許 願第38080号 事件との関係 特許出願人 fE ;Qi 埼玉県用越市大字今福2773
番地の1氏 名(名fA−)山 1) 勝 也4
代 理 人 f) 抽正により増加する発明の数 を「完全」と補正する。
Claims (1)
- 平行光束の進行通路上にその光軸と対向させてハニカム
状物体を設置し、このハニカム状物体と上記平行光束と
の間に相対的乃至はハニカム状物体と平行光束の相互運
動によシ合成した歳差運動を与えて、ハニカム状物体の
全ての孔壁面をハニカム状物体に照射した上記平行光束
により走査し、その走査状態をスクリーン上に投影する
ことを特徴とするハニカム状物体の孔壁検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57038080A JPS58155343A (ja) | 1982-03-12 | 1982-03-12 | ハニカム状物体の孔壁検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57038080A JPS58155343A (ja) | 1982-03-12 | 1982-03-12 | ハニカム状物体の孔壁検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58155343A true JPS58155343A (ja) | 1983-09-16 |
Family
ID=12515500
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57038080A Pending JPS58155343A (ja) | 1982-03-12 | 1982-03-12 | ハニカム状物体の孔壁検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58155343A (ja) |
Cited By (11)
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-
1982
- 1982-03-12 JP JP57038080A patent/JPS58155343A/ja active Pending
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