JPS5817307A - 凹凸検査装置 - Google Patents
凹凸検査装置Info
- Publication number
- JPS5817307A JPS5817307A JP11438581A JP11438581A JPS5817307A JP S5817307 A JPS5817307 A JP S5817307A JP 11438581 A JP11438581 A JP 11438581A JP 11438581 A JP11438581 A JP 11438581A JP S5817307 A JPS5817307 A JP S5817307A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- bottle
- unevenness
- concave
- image
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/2433—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures for measuring outlines by shadow casting
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明はびん等の光透過物体上に形成された凹凸部の
検査装置に関する〇 第1図および第2図はいずれも従来のこの職の検査装置
を示す概略llI成図である。
検査装置に関する〇 第1図および第2図はいずれも従来のこの職の検査装置
を示す概略llI成図である。
すなわち、第1図においては照明ランプLAによって照
明されるびんBTの凹凸部OBを直接テレビジ曹ンカメ
ラCAにより撮影するものである。
明されるびんBTの凹凸部OBを直接テレビジ曹ンカメ
ラCAにより撮影するものである。
しかしながら1この方法によると一照明うンプLAによ
るびんBTの照明むら1あるいはぴんと凹凸部が同一材
質である場合にはそのためのフンドラスジの翳さ1會た
はびんの形状による反射光のむら等により、検査対象と
なる像が不解明な場合が多く1したがって検出精度が低
下して必要な情報が得られない場合が生じる。また1第
2WJは送。
るびんBTの照明むら1あるいはぴんと凹凸部が同一材
質である場合にはそのためのフンドラスジの翳さ1會た
はびんの形状による反射光のむら等により、検査対象と
なる像が不解明な場合が多く1したがって検出精度が低
下して必要な情報が得られない場合が生じる。また1第
2WJは送。
受光用のセンナ811.8E2によって検査を行なうも
のであるが、この場合送光用の七ン+881からの光が
拡散するため〜受光用センサSE2では凹凸部からの反
射光を効率よく受光することが困難で、検出精度がセン
サの方向や距離によって大きく左右されるという欠点が
ある0しかも1この場合に検出精度を上げるにはセンナ
を凹凸部に接する程度に充分接近させなければならない
が1こうするとセンサの取5付、配線型たは調整作業が
複雑になるという欠点がある。
のであるが、この場合送光用の七ン+881からの光が
拡散するため〜受光用センサSE2では凹凸部からの反
射光を効率よく受光することが困難で、検出精度がセン
サの方向や距離によって大きく左右されるという欠点が
ある0しかも1この場合に検出精度を上げるにはセンナ
を凹凸部に接する程度に充分接近させなければならない
が1こうするとセンサの取5付、配線型たは調整作業が
複雑になるという欠点がある。
この発明は上記に鑑みなされたもので1構成配雪上の制
約等を受けることなく1簡単で精度よくこの種の凹凸を
検出することができる検査装置を提供することを目的と
する◎ 上記の目的は1この発明によれば、びん等の表面に形成
された凹凸部に透過光を当て1#凹凸部によるレンズ作
用によってスクリーン上に光学像を結像せしめ1験光学
像をセンナにて検出することにより達成される◇ 以下、この発明の実m*なanyを参照して11@する
。
約等を受けることなく1簡単で精度よくこの種の凹凸を
検出することができる検査装置を提供することを目的と
する◎ 上記の目的は1この発明によれば、びん等の表面に形成
された凹凸部に透過光を当て1#凹凸部によるレンズ作
用によってスクリーン上に光学像を結像せしめ1験光学
像をセンナにて検出することにより達成される◇ 以下、この発明の実m*なanyを参照して11@する
。
第3WJはこの発明の実施例を示す構成概要間1第41
1は第3図の一部拡大−1第5@はスクリーン上に投影
される光学像とセンナとの関係を示す説明図である。
1は第3図の一部拡大−1第5@はスクリーン上に投影
される光学像とセンナとの関係を示す説明図である。
第3[において、LAは照明ランプ、BTはびん、OB
はびんllI&:形成された凹凸部、8Cはスクリーン
、Smはセンナ、8Fは儒晋娘聰都、Cはケーブルであ
る〇 照明ランプLAから出た光は、光透過性のびんBT内を
通り1表面の凹凸ll01Bの存夜により、第4[fに
も示される如く光が胴折してスクリーンSC上に結像す
る。この光の強弱のパターンをセンf88によって電気
信号に変換し1信号処理部8Pにて凹凸部の有無、位置
または形状等を判定するものである◎このようにするこ
とによって為スクリーンSC上には第5図に示されるよ
うに、凹凸によって形成される像が光の強弱の鮮明なパ
ターンPAとなって現われ1これが図示の如きセンサ8
E亥たはBB’によって電気信号に変換される0図から
も明らかなようにセンサの形状または設置位置は検査対
象に応じて任意に選択することができるものである〇 以上のように1この発明によれば、次のような効果を期
待することができる@ 1)スクリーン上に凹凸部の像を結像させているため1
びんと凹凸部とが同一材質で構成されていても鮮明な像
を得ることができる。
はびんllI&:形成された凹凸部、8Cはスクリーン
、Smはセンナ、8Fは儒晋娘聰都、Cはケーブルであ
る〇 照明ランプLAから出た光は、光透過性のびんBT内を
通り1表面の凹凸ll01Bの存夜により、第4[fに
も示される如く光が胴折してスクリーンSC上に結像す
る。この光の強弱のパターンをセンf88によって電気
信号に変換し1信号処理部8Pにて凹凸部の有無、位置
または形状等を判定するものである◎このようにするこ
とによって為スクリーンSC上には第5図に示されるよ
うに、凹凸によって形成される像が光の強弱の鮮明なパ
ターンPAとなって現われ1これが図示の如きセンサ8
E亥たはBB’によって電気信号に変換される0図から
も明らかなようにセンサの形状または設置位置は検査対
象に応じて任意に選択することができるものである〇 以上のように1この発明によれば、次のような効果を期
待することができる@ 1)スクリーン上に凹凸部の像を結像させているため1
びんと凹凸部とが同一材質で構成されていても鮮明な像
を得ることができる。
2)X#9−ン上に結像させているため、検査対象に直
接センサを近づける必要がない。このため、スクリーン
上の任意の位置に1任意の個数または形状のセンサを配
置することができる◇3)その結果として1精度良く凹
凸物の位置1形状を検査することができる。
接センサを近づける必要がない。このため、スクリーン
上の任意の位置に1任意の個数または形状のセンサを配
置することができる◇3)その結果として1精度良く凹
凸物の位置1形状を検査することができる。
なお、この発明はいままで説明したびん表w凹凸物検査
の他にびん表面に印刷された図形の検出にも応用できる
ものである。
の他にびん表面に印刷された図形の検出にも応用できる
ものである。
第1mおよび第2図は凹凸検査装置の従来例を示す概略
構成図、第3WIはこの発明の実施例を示す構成概要[
、1114図は第3閣の一部拡大−1第5@はスl’)
>上に投影された像とセンナとの関係を示す説明図
である。 符号説明 BT・曲・びん、OB・・四日凸部、CA・・曲テレビ
ジョンカメラ、LA・・曲照明ランプ、8B、51ij
’。 SE1# SB2・・・・・・センサ、sc・・−・・
・スクリーン、SP・・・・・・信号栖理部、C・・曲
ケーブル、PA−−−−・凹凸による光学像
構成図、第3WIはこの発明の実施例を示す構成概要[
、1114図は第3閣の一部拡大−1第5@はスl’)
>上に投影された像とセンナとの関係を示す説明図
である。 符号説明 BT・曲・びん、OB・・四日凸部、CA・・曲テレビ
ジョンカメラ、LA・・曲照明ランプ、8B、51ij
’。 SE1# SB2・・・・・・センサ、sc・・−・・
・スクリーン、SP・・・・・・信号栖理部、C・・曲
ケーブル、PA−−−−・凹凸による光学像
Claims (1)
- びん等の光透過体の表面に形成された凹凸部に一方側よ
り透過光を当て、該凹凸部によるレンズ作用によって他
方側に生じる光学像を検査することによって凹凸の有無
またはその位置、溶状を検査するようにした検査装置で
あって、前記光透過体を照射する光源と、該凹凸によっ
て生じた光学像を投影するスクリーンと、該スクリーン
ト鮒肉する所定位置に設けられて前記光学像を検知する
検知手段とを備えてなることを特徴とする円凸検査装置
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11438581A JPS5817307A (ja) | 1981-07-23 | 1981-07-23 | 凹凸検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11438581A JPS5817307A (ja) | 1981-07-23 | 1981-07-23 | 凹凸検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5817307A true JPS5817307A (ja) | 1983-02-01 |
Family
ID=14636340
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11438581A Pending JPS5817307A (ja) | 1981-07-23 | 1981-07-23 | 凹凸検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5817307A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110961376A (zh) * | 2019-12-31 | 2020-04-07 | 中山市天鹏包装制品有限公司 | 一种玻璃瓶检测装置 |
-
1981
- 1981-07-23 JP JP11438581A patent/JPS5817307A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110961376A (zh) * | 2019-12-31 | 2020-04-07 | 中山市天鹏包装制品有限公司 | 一种玻璃瓶检测装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| ATE221650T1 (de) | Optisches verfahren und vorrichtung zum erkennen von fehlstellen | |
| EP0501683A2 (en) | Technique for enhanced two-dimensional imaging | |
| JP2017207380A (ja) | 表面欠陥検査装置 | |
| JP2000028320A (ja) | 画像認識装置および画像認識方法 | |
| CN114791430A (zh) | 晶圆缺口检测装置及其检测方法 | |
| JP3424536B2 (ja) | 電子部品の実装状態検査装置および実装基板の検査方法 | |
| JPS5817307A (ja) | 凹凸検査装置 | |
| JP2818687B2 (ja) | ヒューズ配列検査装置 | |
| JP4292352B2 (ja) | 画像計測方法 | |
| KR960042836A (ko) | 음극선관 패널 결함 검사장치 | |
| JP2000232564A (ja) | 対象物の不均一照度を補償する光学系 | |
| JPH0968504A (ja) | 瓶口外観検査方法及び装置 | |
| JPS62113050A (ja) | びん口部検査装置 | |
| JPH0678856U (ja) | 照明装置 | |
| JP2518763Y2 (ja) | 検査用照明装置 | |
| JP3993268B2 (ja) | 照明装置及びこれに使用する照明光拡散体 | |
| JP2555058B2 (ja) | ラベル等検査方法 | |
| JP2885443B2 (ja) | フラットパッケージ集積回路のリード検査装置 | |
| JP2000002526A (ja) | 表面欠陥の検査方法および検査装置 | |
| JPS61283805A (ja) | 2次元位置検出装置 | |
| JPS62119443A (ja) | パタ−ン検知方法 | |
| KR0152582B1 (ko) | 무패턴 기판의 결함 자동검색장치 및 그 검색방법 | |
| JPS63190354A (ja) | 外観検査装置 | |
| JPH1048139A (ja) | 端面検査装置 | |
| JPH06201609A (ja) | 面検査方法 |