JPS58175011A - プラント診断装置 - Google Patents
プラント診断装置Info
- Publication number
- JPS58175011A JPS58175011A JP57059205A JP5920582A JPS58175011A JP S58175011 A JPS58175011 A JP S58175011A JP 57059205 A JP57059205 A JP 57059205A JP 5920582 A JP5920582 A JP 5920582A JP S58175011 A JPS58175011 A JP S58175011A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- plant
- filter
- cause
- node
- data
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B23/00—Testing or monitoring of control systems or parts thereof
- G05B23/02—Electric testing or monitoring
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、大規模プラントの運転信頼性、稼動率の向
上に寄与する九めに、プラントの異常事象をオンライン
・リアル・タイムで同定するプラント＃ＩｆｒａｔＩｔ
に関するものである。
上に寄与する九めに、プラントの異常事象をオンライン
・リアル・タイムで同定するプラント＃ＩｆｒａｔＩｔ
に関するものである。
従来この種の装置として第１図に示すものかあつ九。図
において、（１）はプロセスデータを読み込む九めのデ
ータ収集装置（例えば、アナログ・ディジタル変換！！
） 、 （２）はプロセスデータを基準値と比較し、
許容範囲内にあれば°°０″、範囲外にあれば′″ｌ”
Ｋ変換するための演算処理装置１、（３）は演算処理装
置１（２）が演算処理し九結果を格納しておく記憶装置
ｌ、（４１は原因結果ツリー（以下００Ｔと記す）を記
憶しておく記憶装置２．ｆ５７は記憶装置１（３）と８
（４１Ｋ格納しであるプロセス情報とＯＣＴを用いて
異常の１ＩＥ１原因を同定する診断処理装置、（６）は
診断結果を表示するためのブラウン管表示装置である。
において、（１）はプロセスデータを読み込む九めのデ
ータ収集装置（例えば、アナログ・ディジタル変換！！
） 、 （２）はプロセスデータを基準値と比較し、
許容範囲内にあれば°°０″、範囲外にあれば′″ｌ”
Ｋ変換するための演算処理装置１、（３）は演算処理装
置１（２）が演算処理し九結果を格納しておく記憶装置
ｌ、（４１は原因結果ツリー（以下００Ｔと記す）を記
憶しておく記憶装置２．ｆ５７は記憶装置１（３）と８
（４１Ｋ格納しであるプロセス情報とＯＣＴを用いて
異常の１ＩＥ１原因を同定する診断処理装置、（６）は
診断結果を表示するためのブラウン管表示装置である。
次に動作について説明する。
プロセス・データをＸｉ （１−１，２，・、 Ｎ）と
する。
する。
ｘｌはデータ収集装置（１）によプ量子化される。量子
化゛され友データｘ１を入力として演算処理装置（２）
は０式に示す処理を施し、その結果８１ （１−１゜２
、−・ＩＮ）及び事象発生時刻を記憶装置Ｉ にｌ）に
格納する。
化゛され友データｘ１を入力として演算処理装置（２）
は０式に示す処理を施し、その結果８１ （１−１゜２
、−・ＩＮ）及び事象発生時刻を記憶装置Ｉ にｌ）に
格納する。
σ
Ｘ ＜１１＜Ｘ −＞ ８１ ＄０１
工 ここで、日１をＸｌのステータスと呼ぶ、ま几、ステー
タスが１とｔつ九時間を事象発生時刻と呼ぶ。
工 ここで、日１をＸｌのステータスと呼ぶ、ま几、ステー
タスが１とｔつ九時間を事象発生時刻と呼ぶ。
ＯＣＴ実行処理は記憶装置（３）と（４）からの情報を
基に診断処理装置１１ｉ ｆ５１で行なわれる。外乱の
第１原因検索の几め以下の処理が実施される。
基に診断処理装置１１ｉ ｆ５１で行なわれる。外乱の
第１原因検索の几め以下の処理が実施される。
まず、多数のＯＯＴ ＠の中から検索すべきサブＣｃ′
ｒ部分を抽出する九めに記憶装置（３３Ｋ格納されてい
るエントリーノード（解析を始めるノードとしてあらか
じめ指定）のうちステータスが変化したものを検出し、
そのノードから下位のノード側への検索が始まる。そし
て最初のゲートかムＮＤゲートかＯＲゲートか調べる。
ｒ部分を抽出する九めに記憶装置（３３Ｋ格納されてい
るエントリーノード（解析を始めるノードとしてあらか
じめ指定）のうちステータスが変化したものを検出し、
そのノードから下位のノード側への検索が始まる。そし
て最初のゲートかムＮＤゲートかＯＲゲートか調べる。
次に記憶装置ｔ（３）に書き込まれているプラント観測
データであるそのゲートの各入力の状態及び事象発生時
刻の関係が、記憶装置（４１に書き込まれているＣＯＴ
モデルと一致しているか調べる。ロジックが成立してい
る場合、更に下位のノードへと展開する九め記憶装置ｔ
（４１Ｋ格納されているＯＯＴモデルに従って次の検
索すべきノードを決める。検索ノードの順番は、エント
リーノードから始めて、エントリーノードに対して子供
に当るノードを全て検索したのち、孫に当るノードを全
て検索すると言う順序である。
データであるそのゲートの各入力の状態及び事象発生時
刻の関係が、記憶装置（４１に書き込まれているＣＯＴ
モデルと一致しているか調べる。ロジックが成立してい
る場合、更に下位のノードへと展開する九め記憶装置ｔ
（４１Ｋ格納されているＯＯＴモデルに従って次の検
索すべきノードを決める。検索ノードの順番は、エント
リーノードから始めて、エントリーノードに対して子供
に当るノードを全て検索したのち、孫に当るノードを全
て検索すると言う順序である。
こうして順番に従って、エントリーノードの下方に接続
されている各ゲート毎に、各ゲートの入力側のノードの
偽（不一致）、真（一致）を判定し、真なブランチを継
ぎあわせていく。そして、展開がプライマリ−ノードに
まで達すると、このエントリーノードのロジックが成立
し、原因同定が成功し九と判定する。
されている各ゲート毎に、各ゲートの入力側のノードの
偽（不一致）、真（一致）を判定し、真なブランチを継
ぎあわせていく。そして、展開がプライマリ−ノードに
まで達すると、このエントリーノードのロジックが成立
し、原因同定が成功し九と判定する。
展開の途中でエントリーノードに対してカット・セット
がないことが判明し九ときはそこで診断を打ち切る。
がないことが判明し九ときはそこで診断を打ち切る。
診断が打ち切られるか又は終了すれば、次のエントリー
ノードからの解析が優先順位を考慮して実行される。
ノードからの解析が優先順位を考慮して実行される。
原因同定が成功し几エントリーノードに対しては、その
ノードから上にロジックを九どっていき、外乱の進行状
態の解析を行なう。すなわち、外乱が上位方図にどれだ
け拡がったかチェックし、更に外乱が拡がると仮定し蝋
上位のアクティブノードより上のノードがしばらく後に
状態を変えるかどうか決め′る几めにチェックする。従
って、まずエントリーノードの直ぐ上のゲートの種類を
調べる。次にそのゲートθ人カステータスを調べ、その
出力ステータスは現在はまだＦａｌｓｅであるが時間が
たてばＴｒｕｅとなるかどうか検索する。
ノードから上にロジックを九どっていき、外乱の進行状
態の解析を行なう。すなわち、外乱が上位方図にどれだ
け拡がったかチェックし、更に外乱が拡がると仮定し蝋
上位のアクティブノードより上のノードがしばらく後に
状態を変えるかどうか決め′る几めにチェックする。従
って、まずエントリーノードの直ぐ上のゲートの種類を
調べる。次にそのゲートθ人カステータスを調べ、その
出力ステータスは現在はまだＦａｌｓｅであるが時間が
たてばＴｒｕｅとなるかどうか検索する。
以上、原因同定及び予測処理によシ、外乱Ｏ発生から将
来の伝電までをシーケンシャルに表わすツリーが決定で
きる。
来の伝電までをシーケンシャルに表わすツリーが決定で
きる。
この該当ツリーに接続されているメツセージ８答及び変
数をリストアツブする。そして、以下の情報をブラウン
管表示装！ｌ （［１）にリストアツブする。
数をリストアツブする。そして、以下の情報をブラウン
管表示装！ｌ （［１）にリストアツブする。
（１）現在までに進行してきたツリ一部に指定されてい
るメツセージ （２） 近い将来アクティブになるであろうメツセー
ジ （３）今までの手順で求められたツリ一部に関係してい
る変数リスト 従来のプラント診断装置は以上のように４成されている
ので、 ＯＯＴツリーはデータ収集装置（１１で収集
され几プラントデータｘ１を演算加工したステータスＳ
ｉ Ｌか使用できない。
るメツセージ （２） 近い将来アクティブになるであろうメツセー
ジ （３）今までの手順で求められたツリ一部に関係してい
る変数リスト 従来のプラント診断装置は以上のように４成されている
ので、 ＯＯＴツリーはデータ収集装置（１１で収集
され几プラントデータｘ１を演算加工したステータスＳ
ｉ Ｌか使用できない。
実際のプラントから収集できるデータは数に限りがあり
、故障発生をｍｇａ！するためのＯＣＴが作成しにくい
現状である。−例を第２図に示す。′ｉｇ２図において
、（７１は制御器、（８ｊは制御器のフィルタ、（９）
は制＃器の演算部、町は計測器から米る信号、１川はフ
ィルタ後の信号、Ｏ乃は制御器出力信号である。
、故障発生をｍｇａ！するためのＯＣＴが作成しにくい
現状である。−例を第２図に示す。′ｉｇ２図において
、（７１は制御器、（８ｊは制御器のフィルタ、（９）
は制＃器の演算部、町は計測器から米る信号、１川はフ
ィルタ後の信号、Ｏ乃は制御器出力信号である。
今、計測器から来る信号叫が故障した場盆を考える。こ
の場合、フィルタ（８〕に遅れがなければ計測器から来
る信号叫とフィルタ後の信号（１１）を比較して一致し
ていれば計測器から米る信号ＫＩＤはないと判断するこ
とができる。しかし、３Ａ実に遅れのないフィルタ（８
」は存在せず、信号間と１ｄ号１１］の比較だけでは誤
判断になるなどの欠点があった。
の場合、フィルタ（８〕に遅れがなければ計測器から来
る信号叫とフィルタ後の信号（１１）を比較して一致し
ていれば計測器から米る信号ＫＩＤはないと判断するこ
とができる。しかし、３Ａ実に遅れのないフィルタ（８
」は存在せず、信号間と１ｄ号１１］の比較だけでは誤
判断になるなどの欠点があった。
この発明は上記のような従来のものの欠点を除去するた
めになされたもので、演算処理装置（２）に入る信号の
うち、フィルタに関するものはフィルタの遅れ特性を模
擬する演算処理装置を介して入力することにより、ＯＣ
Ｔツリーはフィルタの遅れを考慮せず作成できるプラン
ト診断装置８提供することを目的としている。
めになされたもので、演算処理装置（２）に入る信号の
うち、フィルタに関するものはフィルタの遅れ特性を模
擬する演算処理装置を介して入力することにより、ＯＣ
Ｔツリーはフィルタの遅れを考慮せず作成できるプラン
ト診断装置８提供することを目的としている。
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第３
図において、峙はフィルタの遅れ特性を模擬する演Ｓ装
瀘である。
図において、峙はフィルタの遅れ特性を模擬する演Ｓ装
瀘である。
プロセスデータＸ１はデータ収実装置［１１Ｋより童子
化される。−子化され几デークＸｉのうち、フィルタと
関係のないデータは入力としてｙＬ鼻処理装＠ Ｃ２）
Ｖｃ送られる。また、童子化されたデータＸｉのうち
、７４２図の計測器から来る信号四のようＶｃフィルタ
と関連する信号はフィルタの遅れ特性を模擬する演算処
理装置 （３） Ｋ送り、この出力を演算処理装置（２
） Ｋ送る。
化される。−子化され几デークＸｉのうち、フィルタと
関係のないデータは入力としてｙＬ鼻処理装＠ Ｃ２）
Ｖｃ送られる。また、童子化されたデータＸｉのうち
、７４２図の計測器から来る信号四のようＶｃフィルタ
と関連する信号はフィルタの遅れ特性を模擬する演算処
理装置 （３） Ｋ送り、この出力を演算処理装置（２
） Ｋ送る。
演算処理装置ｔ（３）は遅れ特性（伝達関数ｉ）を模擬
し、例えば次の式で演算される。
し、例えば次の式で演算される。
Ｙｊ＋ｘ ＝ Ｙｉ十へ見（＜−Ｙ、’）
Ｃ式−１）１ １ Ｔ （式−１）でΔｔは時間刻み巾、Ｔは遅れの時定数、Ｙ
ｉは遅れ特性演ｓａの出力、ｊは時１１Ｊｆｆステツプ
、ｘｌはグ２ントデークである。
Ｃ式−１）１ １ Ｔ （式−１）でΔｔは時間刻み巾、Ｔは遅れの時定数、Ｙ
ｉは遅れ特性演ｓａの出力、ｊは時１１Ｊｆｆステツプ
、ｘｌはグ２ントデークである。
Ｃ式−１）の結果求められたＹｌをプラントから送られ
たｘｌの代わりに偵算逃珊装−（２）に送ることによ、
ｐ、ｃｏ’ｒツリー作成者はあたかもフィルタの遅れが
ないようにツリーを作成することがでさる。
たｘｌの代わりに偵算逃珊装−（２）に送ることによ、
ｐ、ｃｏ’ｒツリー作成者はあたかもフィルタの遅れが
ないようにツリーを作成することがでさる。
上記実施例では演算処理装置（２２と（影を別々の〕＼
−ドウエアとして説明したが、フィルタの遅れ特性を＊
Ｎする機能があれば１つのノ・−ドウエア構成としても
よい。
−ドウエアとして説明したが、フィルタの遅れ特性を＊
Ｎする機能があれば１つのノ・−ドウエア構成としても
よい。
また、演算Ｍ理装置ｌ１４は具体的に実機と同等のハー
ドウェア（回路）を使用してもよく、同様の効果を秦す
る。
ドウェア（回路）を使用してもよく、同様の効果を秦す
る。
以上のように、この発明によればＣＯＴ作成者の負担が
軽くなるばかりでなく、今までプラント情報が少なくて
困−であつ九故障まで診断できるようになるという効果
がある・
軽くなるばかりでなく、今までプラント情報が少なくて
困−であつ九故障まで診断できるようになるという効果
がある・
４１図は従来のプラント診！Ｆｒ装置を示すブロック図
、第２図は従来の＠Ｊｌ装置（２）の欠点を説明するた
めのブロック図、ｉｐ！、３図はこの発ＢＡｊＣよるプ
ラント診断銀源の一実施例を示すブロック図である。 図において、（１１はデーク収果装置、（２）は４１の
？１１ｉｌ算地理襄置、（３〕は第１の記憶装置、（４
１は第２の記憶装置、（５）は診断処理装置、（６）は
ブラウン！表示装置、（７）は制御器、（８１は制御器
のフィルタ、（９１は制御器の演Ｘ部、叫はめ°廁器か
ら米る信号、ｌ”／はフィルタ後の信号、０日は制御器
出力信号、α場はフィルタの逐一′Ｌ特性を模擬する演
算処理装置である。 なお１図中、同一符号は同一または相当部分を示す。 代理人 葛 野 信 −
、第２図は従来の＠Ｊｌ装置（２）の欠点を説明するた
めのブロック図、ｉｐ！、３図はこの発ＢＡｊＣよるプ
ラント診断銀源の一実施例を示すブロック図である。 図において、（１１はデーク収果装置、（２）は４１の
？１１ｉｌ算地理襄置、（３〕は第１の記憶装置、（４
１は第２の記憶装置、（５）は診断処理装置、（６）は
ブラウン！表示装置、（７）は制御器、（８１は制御器
のフィルタ、（９１は制御器の演Ｘ部、叫はめ°廁器か
ら米る信号、ｌ”／はフィルタ後の信号、０日は制御器
出力信号、α場はフィルタの逐一′Ｌ特性を模擬する演
算処理装置である。 なお１図中、同一符号は同一または相当部分を示す。 代理人 葛 野 信 −
Claims (1)
- プラントで生ずる各種異常４Ｉ）象の伝搬シーケンスを
論理式で記述し几原因結果ツリーを演算処理することに
より、異常の第１原因をオンライン・リアル・タイムで
同定し、プラント運転員の総合判断をサポートすること
により高信頼運転を可能とするプラント診断装置におい
て、プロセスデータを基準値と比較してアナログ値を（
’ｔユ）パターンに変換する演算装置に１次遅れ模擬装
置を含めたことを特徴とするプラント・診断装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57059205A JPS58175011A (ja) | 1982-04-07 | 1982-04-07 | プラント診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57059205A JPS58175011A (ja) | 1982-04-07 | 1982-04-07 | プラント診断装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58175011A true JPS58175011A (ja) | 1983-10-14 |
Family
ID=13106674
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57059205A Pending JPS58175011A (ja) | 1982-04-07 | 1982-04-07 | プラント診断装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58175011A (ja) |
-
1982
- 1982-04-07 JP JP57059205A patent/JPS58175011A/ja active Pending
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