JPS58191938A - 光学的測定装置 - Google Patents
光学的測定装置Info
- Publication number
- JPS58191938A JPS58191938A JP7607382A JP7607382A JPS58191938A JP S58191938 A JPS58191938 A JP S58191938A JP 7607382 A JP7607382 A JP 7607382A JP 7607382 A JP7607382 A JP 7607382A JP S58191938 A JPS58191938 A JP S58191938A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- output
- image sensor
- signal
- circuit
- measurement object
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N25/00—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means
- G01N25/72—Investigating presence of flaws
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
α）発明の分野
この発明は、測定物体の温度、キズ、幅等を測定する光
学的測定装置に関するものである。
学的測定装置に関するものである。
蓼）従来技術
走行銅板等の測定物体の板嘱方向勢の温度を測定するた
めの一軸走査蓋放射温度針が知られている。これは２回
転鏡により測定物体を走査して１個の検出器に測定物体
からの放射エネルギーを入射させ、板幅々向の温度を測
定するものである。
めの一軸走査蓋放射温度針が知られている。これは２回
転鏡により測定物体を走査して１個の検出器に測定物体
からの放射エネルギーを入射させ、板幅々向の温度を測
定するものである。
しかしながら、この方法では２回転鏡は機械的可動部を
もつため寿命の点で問題があり、又、各点毎の正確な温
度を精密に得るのが困難である欠点があった。
もつため寿命の点で問題があり、又、各点毎の正確な温
度を精密に得るのが困難である欠点があった。
（３）発明の目的
この発明の目的は１以上の点に鑑み、各点毎の温度の他
に、キズ、幅等も容易に、しかも正確に測定できる光学
的測定装置を提供することである。
に、キズ、幅等も容易に、しかも正確に測定できる光学
的測定装置を提供することである。
（４）発明の実施例
第１図は、この発明の一実施例を示す構成説明図である
。
。
図において、１は走行鋼板のような測定物体。
２は測定物体１からの放射エネルギーを集光する集光レ
ンズ、３はレンズ２により集光された放射エネルギーを
受光し、その複数個の光電素子の出力を順次ビデオ信号
として線転送、あるいは面転送するイメージセンサ、４
はイメージセンサ３の出力を増幅する増幅器、５は増幅
器４の出力ｅｌが供給すれるローパスフィルタ、６は増
幅器４の出力が供給されるバイパスフィルタ（または微
分回路）、７は増幅器４の出力と基準値Ｅとを比較する
比較器のような波形整形回路、８はイメージセンサ３に
基準クロックを送って制御するとともに。
ンズ、３はレンズ２により集光された放射エネルギーを
受光し、その複数個の光電素子の出力を順次ビデオ信号
として線転送、あるいは面転送するイメージセンサ、４
はイメージセンサ３の出力を増幅する増幅器、５は増幅
器４の出力ｅｌが供給すれるローパスフィルタ、６は増
幅器４の出力が供給されるバイパスフィルタ（または微
分回路）、７は増幅器４の出力と基準値Ｅとを比較する
比較器のような波形整形回路、８はイメージセンサ３に
基準クロックを送って制御するとともに。
ローパスフィルタ５の出力ｅｌから温度信号、バイパス
フィルタ６の出力ｅ３からキズ検知信号、波形整形回路
７の出力ｅ３から幅値信号を取り出すための所定の演算
処理等を行うマイクロコンピュータのような制御回路、
９は出力端子である。
フィルタ６の出力ｅ３からキズ検知信号、波形整形回路
７の出力ｅ３から幅値信号を取り出すための所定の演算
処理等を行うマイクロコンピュータのような制御回路、
９は出力端子である。
次に動作を、第２図を参照して説明する。
イメージセンサ３は、所定の周期でくり返し走査し、測
定物体１の各点に対応した信号を出力し。
定物体１の各点に対応した信号を出力し。
増幅器４で増幅され、第番図（１）で示すような出力信
号ｅｌが得られる。
号ｅｌが得られる。
（１）温度信号を得るには、イメージセンサ３の出力信
号ｅｌをそのまま、あるいはローパスフィルタ５で高周
波分を取り除き、第２図か）のような出力ｅｌとし、こ
れより制御回路８により、イメージセンサ３の各素子に
対応した測定物体１の各点の温ｌ）キズ信号を得るには
、測定物体１にキズがあると、その点での温度、放射率
等が変動するので。
号ｅｌをそのまま、あるいはローパスフィルタ５で高周
波分を取り除き、第２図か）のような出力ｅｌとし、こ
れより制御回路８により、イメージセンサ３の各素子に
対応した測定物体１の各点の温ｌ）キズ信号を得るには
、測定物体１にキズがあると、その点での温度、放射率
等が変動するので。
イメージセンサ３の出力ｅｌをバイパスフィルタ（ある
いは微分回路）６で、その変化分のみを取り出し、第２
図（Ｃ）で示すような出力Ｃ意とし、制御回路８により
、どの点（位置）にキメがあるか等のキズ検知信号を得
るようにする。
いは微分回路）６で、その変化分のみを取り出し、第２
図（Ｃ）で示すような出力Ｃ意とし、制御回路８により
、どの点（位置）にキメがあるか等のキズ検知信号を得
るようにする。
（２）幅信号を得るには、イメージセンサ３の出力ｅ＋
をそのまま、あるいは波形整形回路７で波形整形して第
２図（ｄ）のような信号ｅ３とし、この幅信号ｅ３から
、制御回路８等により、測定物体１の幅信号を得るよう
にする。
をそのまま、あるいは波形整形回路７で波形整形して第
２図（ｄ）のような信号ｅ３とし、この幅信号ｅ３から
、制御回路８等により、測定物体１の幅信号を得るよう
にする。
このようにして、イメージセンサ３を用いることにより
、測定物体１の各点の温度、幅、キズ等の状態が同時に
知ることができる。
、測定物体１の各点の温度、幅、キズ等の状態が同時に
知ることができる。
なお、この３つのすべての状態を知る必要がないときは
、必要な構成要素のみを用いればよい。
、必要な構成要素のみを用いればよい。
（５）発明の要約
この発明は、イメージセンサの出力を、ローパスフィル
タ、バイパスフィルタ、波形整形回路に導き、制御回路
等により、測定物体の各点での必要とする温度９幅、キ
ズ検知信号を取り出すようにした光学的測定装置である
。
タ、バイパスフィルタ、波形整形回路に導き、制御回路
等により、測定物体の各点での必要とする温度９幅、キ
ズ検知信号を取り出すようにした光学的測定装置である
。
（６）発明の効果
可動部がないので、高信頼性であり、イメージセンナの
素子数分だけ分解能があり、高精度に。
素子数分だけ分解能があり、高精度に。
測定物体の各点における必要な温度９幅、キズを知るこ
とができる。
とができる。
第１図は、この発明の一実施例を示す構成説明図、第２
図は、動作説明用波形図である。 １・・・測定物体、３・・・イメージセンナ、４・・・
増幅器、５・・・ローパスフィルタ、６・・・バイパス
フィルタ、７・・・波形整形回路、８・・・制御回路特
許出願人 株式会社 千野製作所
図は、動作説明用波形図である。 １・・・測定物体、３・・・イメージセンナ、４・・・
増幅器、５・・・ローパスフィルタ、６・・・バイパス
フィルタ、７・・・波形整形回路、８・・・制御回路特
許出願人 株式会社 千野製作所
Claims (1)
- １、 測定物体からの放射エネルギーを受光するイメー
ジセンサと、このイメージセンサの出力が供給サレるロ
ーパスフィルタ、バイパスフィルタまたは微分回路、お
よび波形整形回路の少なくとも１つと、ローパスフィル
タの出力から測定物体の温度信号、バイパスフィルタま
たは微分回路の出力からキズ検知信号、波形整形回路か
ら幅値信号のうち少なくとも１つを堆り出す制御回路と
を備えた光学的測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7607382A JPS58191938A (ja) | 1982-05-06 | 1982-05-06 | 光学的測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7607382A JPS58191938A (ja) | 1982-05-06 | 1982-05-06 | 光学的測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58191938A true JPS58191938A (ja) | 1983-11-09 |
Family
ID=13594620
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7607382A Pending JPS58191938A (ja) | 1982-05-06 | 1982-05-06 | 光学的測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58191938A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62137504A (ja) * | 1985-12-10 | 1987-06-20 | Sumitomo Special Metals Co Ltd | 部分クラッド材の幅測定装置 |
| JP2011099729A (ja) * | 2009-11-05 | 2011-05-19 | Jfe Steel Corp | 表面形状測定装置および方法 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5028381A (ja) * | 1973-07-13 | 1975-03-22 | ||
| JPS50159616A (ja) * | 1974-06-12 | 1975-12-24 | ||
| JPS52135782A (en) * | 1976-05-10 | 1977-11-14 | Nippon Steel Corp | Temperature distribution measuring system for skelp |
-
1982
- 1982-05-06 JP JP7607382A patent/JPS58191938A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5028381A (ja) * | 1973-07-13 | 1975-03-22 | ||
| JPS50159616A (ja) * | 1974-06-12 | 1975-12-24 | ||
| JPS52135782A (en) * | 1976-05-10 | 1977-11-14 | Nippon Steel Corp | Temperature distribution measuring system for skelp |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62137504A (ja) * | 1985-12-10 | 1987-06-20 | Sumitomo Special Metals Co Ltd | 部分クラッド材の幅測定装置 |
| JP2011099729A (ja) * | 2009-11-05 | 2011-05-19 | Jfe Steel Corp | 表面形状測定装置および方法 |
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