JPS5819225A - 角膜計 - Google Patents
角膜計Info
- Publication number
- JPS5819225A JPS5819225A JP56117800A JP11780081A JPS5819225A JP S5819225 A JPS5819225 A JP S5819225A JP 56117800 A JP56117800 A JP 56117800A JP 11780081 A JP11780081 A JP 11780081A JP S5819225 A JPS5819225 A JP S5819225A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lens
- cornea
- sub
- slit
- light
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- Granted
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- Eye Examination Apparatus (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、角膜の前面曲率半径を測定する装置に関する
亀のである。
亀のである。
従来、角膜針はオフサルモメータ、ケラトメータ等の名
称で呼ばれ、コンタクトレンズ装用の検査器具や角膜の
変曲異常等を検知するため広く用いられている。。
称で呼ばれ、コンタクトレンズ装用の検査器具や角膜の
変曲異常等を検知するため広く用いられている。。
しかしながらいずれもその測定が手動的であり、かつ測
定するのに時間がかかるため、その測定中眼球が動かな
い様にしておくことは極めて困難であり、正確さに欠け
ていたといえる。
定するのに時間がかかるため、その測定中眼球が動かな
い様にしておくことは極めて困難であり、正確さに欠け
ていたといえる。
また写真撮影郷を必要とするものもあるが、これは後処
理等が極めて面倒なものである。
理等が極めて面倒なものである。
本発明の角膜計は、このような点を鑑みてなされたもの
であシ、メインレンズの後方焦点位置とサブレンズの前
方焦点位置をはぼ一致せしめてその位置に絞シを置き、
角膜に対向してメインレンズの光軸に対して異なる角度
の複数位置に、コリメータレンズ、スリット及び光源か
らなる投光系を設け、前記メインレンズ及びサブレンズ
に関して角膜によ本前記投光系のスリットの反射骨と共
役な位置に撮偉素子等を配し、該撮儂素子等で前記スリ
ットの反射偉間の距離を読みとり、角膜前面の曲率半径
を測定するようにしたことを特徴とする。
であシ、メインレンズの後方焦点位置とサブレンズの前
方焦点位置をはぼ一致せしめてその位置に絞シを置き、
角膜に対向してメインレンズの光軸に対して異なる角度
の複数位置に、コリメータレンズ、スリット及び光源か
らなる投光系を設け、前記メインレンズ及びサブレンズ
に関して角膜によ本前記投光系のスリットの反射骨と共
役な位置に撮偉素子等を配し、該撮儂素子等で前記スリ
ットの反射偉間の距離を読みとり、角膜前面の曲率半径
を測定するようにしたことを特徴とする。
以下、本発明の実施例を図面によって説明する。
第１１ＥＩは本発明の実施例を示す光路概略図、第２図
は本発明の実施例の斜視図、第３図、第４図。
は本発明の実施例の斜視図、第３図、第４図。
第Ｓ図は本発明の原理図である。
図中１はメインレンズ、３はサブレンズ、２はメインレ
ンズ１の後方焦点位置及びサブレンズ３の前方焦点位置
近傍におかれた穴あき反射鏡より成る絞シ、器は絞シ２
と前記メインレンズ１及びサブレンズ３に関して被測定
限の角膜４０反射僚と共役な位置におかれた撮像素子で
ある。
ンズ１の後方焦点位置及びサブレンズ３の前方焦点位置
近傍におかれた穴あき反射鏡より成る絞シ、器は絞シ２
と前記メインレンズ１及びサブレンズ３に関して被測定
限の角膜４０反射僚と共役な位置におかれた撮像素子で
ある。
同様に、８は絞シ２と前記メインレンズ１及びサブレン
ズ３をはさんで被測定限の角膜４の反射儂と共役な位置
におかれた７゛ＴＴインダ焦、９は＊＊＊し／ズである
。
ズ３をはさんで被測定限の角膜４の反射儂と共役な位置
におかれた７゛ＴＴインダ焦、９は＊＊＊し／ズである
。
７は光路を撮儂素子Ｓ儒及びファインダ焦点板８１Ｉへ
分けるためのハーフミラ−であシ、第１図のごとくサブ
レンズ３の前におかれる。これは第３図に示すサブレン
ズ３と撮像素子５との間においてもよい。
分けるためのハーフミラ−であシ、第１図のごとくサブ
レンズ３の前におかれる。これは第３図に示すサブレン
ズ３と撮像素子５との間においてもよい。
６．６′は投光系であシ、角膜４に対向し、第３図の如
く角膜４の光軸Ａ上の焦点Ｆに対しそれぞれθＩ ＊
Ｌ’ｌの角度を有する位置におかれる。８ｍ。
く角膜４の光軸Ａ上の焦点Ｆに対しそれぞれθＩ ＊
Ｌ’ｌの角度を有する位置におかれる。８ｍ。
６＆′は投光レンズ、６ｂ、６ｂ’は投光レンズ６１゜
６．１の焦点におかれたスリン）、６ｅ、６ｃ’は光源
である。
６．１の焦点におかれたスリン）、６ｅ、６ｃ’は光源
である。
第２図において１０は照明系であり、照明レンズ１０ｍ
、指標ま九は拡散板１０ｂおよび照明光源１０ｃ よ
り成る。
、指標ま九は拡散板１０ｂおよび照明光源１０ｃ よ
り成る。
本発明における角膜計の作用を以下説明する。
まず、被測定限の角膜４とメインレンズ１との間の距離
の決め方について説明する。
の決め方について説明する。
照明系１０からの光は、照明光源１０ｅより、指標また
は拡散板ｔａｂを経て、照明しンズ１０ｍを通って穴＃
）き反射鏡より成る絞シ２に達する。
は拡散板ｔａｂを経て、照明しンズ１０ｍを通って穴＃
）き反射鏡より成る絞シ２に達する。
そして、絞シ２からの反射光は、メインレンズ１を通り
、角膜４に投じられ、その反射光は再びメインレンズ１
を通って、絞り２を経て、ハーフミラー７に達する。こ
とで光路は２つに分けられ、一方はファインダ焦点板８
に、他方はサブレンズ３を通って撮像素子３に達する。
、角膜４に投じられ、その反射光は再びメインレンズ１
を通って、絞り２を経て、ハーフミラー７に達する。こ
とで光路は２つに分けられ、一方はファインダ焦点板８
に、他方はサブレンズ３を通って撮像素子３に達する。
この時、ファインダ焦点板８において、絞り鵞ＯＳのピ
ントが合えば、角膜４０反反射色撮像素子５及びファイ
ンダ焦点板８とが共役とカリ、かつ、投光系６のスリン
）６ｂ、６ｂ’も共役となる。
ントが合えば、角膜４０反反射色撮像素子５及びファイ
ンダ焦点板８とが共役とカリ、かつ、投光系６のスリン
）６ｂ、６ｂ’も共役となる。
この状態で、投光系６，６′からの光は、角膜４で反射
してメインレンズ１、絞り２を通り、ノ・−フォラ−７
で分けられて一方はファインダ焦点板８に１他方はサブ
レンズ３を通って撮像素子５に達する。この時、いうま
でもなく投光系６．６′のスリン） ６ｂ、６ｂ’の儂
は撮儂素子ｓ上にできている。
してメインレンズ１、絞り２を通り、ノ・−フォラ−７
で分けられて一方はファインダ焦点板８に１他方はサブ
レンズ３を通って撮像素子５に達する。この時、いうま
でもなく投光系６．６′のスリン） ６ｂ、６ｂ’の儂
は撮儂素子ｓ上にできている。
ところで、投光系６，６′からの光が角膜４で反射され
る点間の距離りはそれぞれ光軸Ａとの距離をり１．ｈ鵞
゛とすると、 となる。
る点間の距離りはそれぞれ光軸Ａとの距離をり１．ｈ鵞
゛とすると、 となる。
ことで８は角膜４の前面曲率半径である。
ｔｅｌメインレンズ１及びサブレンズ３のパワー比をＭ
とすれば１’Ｉ−Ｍｈとなシ、■式をうる。
とすれば１’Ｉ−Ｍｈとなシ、■式をうる。
ここでＨａ撮儂素子ｓ上に４現われる前か投光系６．６
′のスリン）６ｂ、６ｂ’の反射骨間の距離であるＯ また、撮像素子５のビットのピッチをＰ１ピット数をＮ
とすると、Ｈ−ＰＮとなシ、０式をうる。
′のスリン）６ｂ、６ｂ’の反射骨間の距離であるＯ また、撮像素子５のビットのピッチをＰ１ピット数をＮ
とすると、Ｈ−ＰＮとなシ、０式をうる。
Ｐ ＠ Ｍ ＠ （’Ｉ ＊ ｅ＠は既知の定数である
から、撮備素子ｓ上でビット数Ｎをカウントすることに
よシ、角膜の前面曲率半径Ｒを測定できる。
から、撮備素子ｓ上でビット数Ｎをカウントすることに
よシ、角膜の前面曲率半径Ｒを測定できる。
次に本発明の原理を第４図及び第５図について説明する
。
。
第４図は角膜４が点線の如く、光軸Ａと直角にズした場
合を示しているが、この場合には角膜反射後の主光線が
光軸Ａに平行なためｈ −ｈ’となり測定誤差はない。
合を示しているが、この場合には角膜反射後の主光線が
光軸Ａに平行なためｈ −ｈ’となり測定誤差はない。
第５図は角膜４が点線のごとく光軸方向にズレた場合を
示しているが、この場合には角膜反射後の主光線は不動
であシ、撮儂素子５上の儂のボケの中心をとれば測定誤
差はない。
示しているが、この場合には角膜反射後の主光線は不動
であシ、撮儂素子５上の儂のボケの中心をとれば測定誤
差はない。
以上の如く、本発明においては、ピント合わせが多少光
軸方向及びそれと直角な方向（投光系のある平面）にズ
しても測定誤差がない。
軸方向及びそれと直角な方向（投光系のある平面）にズ
しても測定誤差がない。
尚これまでの説明は、両側２個の投光系がある場合につ
いて述べたが、これを複数個にしても同様であシ、その
場合には、角膜断面の各部所の曲率を測定できることに
攪り、角膜断面の形状を知ることもでき゛る。また、本
装置をｅｃＰ回転することによって、角膜の上下方向の
曲率も測定でき、回転角を検知する機構と組み合わせる
ことによシ、直視度、糺視軸の測定も可能である。
いて述べたが、これを複数個にしても同様であシ、その
場合には、角膜断面の各部所の曲率を測定できることに
攪り、角膜断面の形状を知ることもでき゛る。また、本
装置をｅｃＰ回転することによって、角膜の上下方向の
曲率も測定でき、回転角を検知する機構と組み合わせる
ことによシ、直視度、糺視軸の測定も可能である。
第１図は本発明の実施例を示す光路概略図、第３図は本
発明の実施例の斜視図、第３図、第４図。 第Ｓ図は本発明の原理図である。 ｌ・・・メインレンズ、２・・・絞シ、３・・・サブレ
ンズ、４・・・角膜、５・・・撮偉素子、６．６’・・
・投光系、６ａ。 ６ｍ’・・・投光レンズ、６ｂ、６ｂ’・・・スリット
、６ｃ。 ６（＋’・・・光源、ｒ・・・ハーフンラー、８・・・
ファインダ焦点板、９・・・接眼レンズ、１０・・・照
明系、ｌｏａ・・・照明レンズ、１０ｂ・・・指標また
は拡散板、１０ａ・・・照明光源。
発明の実施例の斜視図、第３図、第４図。 第Ｓ図は本発明の原理図である。 ｌ・・・メインレンズ、２・・・絞シ、３・・・サブレ
ンズ、４・・・角膜、５・・・撮偉素子、６．６’・・
・投光系、６ａ。 ６ｍ’・・・投光レンズ、６ｂ、６ｂ’・・・スリット
、６ｃ。 ６（＋’・・・光源、ｒ・・・ハーフンラー、８・・・
ファインダ焦点板、９・・・接眼レンズ、１０・・・照
明系、ｌｏａ・・・照明レンズ、１０ｂ・・・指標また
は拡散板、１０ａ・・・照明光源。
Claims (1)
- （１） メインレンズの後方焦点位置とサブレンズの
前方焦点位置をほぼ一致せしめてその位置に絞シを置き
、角膜に対向してメインレンズの光軸に対して異な゛る
角度の複数位置に、コリメータレンズ、スリット及び光
源からなる投光系を設け、前記メインレンズ及びサブレ
ンズに関して角膜による前記投光系のスリットの反射偉
と共役な位置に撮倖素子等を配し、該撮偉素子等で前記
スリットの反射骨間の距離を読みとシ、角膜前面の曲率
半径を測定するように、したことを特徴とする角膜針。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56117800A JPS5819225A (ja) | 1981-07-29 | 1981-07-29 | 角膜計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56117800A JPS5819225A (ja) | 1981-07-29 | 1981-07-29 | 角膜計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5819225A true JPS5819225A (ja) | 1983-02-04 |
| JPS628170B2 JPS628170B2 (ja) | 1987-02-21 |
Family
ID=14720588
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56117800A Granted JPS5819225A (ja) | 1981-07-29 | 1981-07-29 | 角膜計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5819225A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57125302A (en) * | 1981-01-28 | 1982-08-04 | Nippon Kogaku Kk <Nikon> | Automatic measuring device of radius of curvature |
-
1981
- 1981-07-29 JP JP56117800A patent/JPS5819225A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57125302A (en) * | 1981-01-28 | 1982-08-04 | Nippon Kogaku Kk <Nikon> | Automatic measuring device of radius of curvature |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS628170B2 (ja) | 1987-02-21 |
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