JPS582153Y2 - ゲ−トタ−ンオフサイリスタのゲ−ト制御回路 - Google Patents

ゲ−トタ−ンオフサイリスタのゲ−ト制御回路

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JPS582153Y2
JPS582153Y2 JP15070176U JP15070176U JPS582153Y2 JP S582153 Y2 JPS582153 Y2 JP S582153Y2 JP 15070176 U JP15070176 U JP 15070176U JP 15070176 U JP15070176 U JP 15070176U JP S582153 Y2 JPS582153 Y2 JP S582153Y2
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JP
Japan
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gate
turn
thyristor
circuit
negative
Prior art date
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Expired
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JP15070176U
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English (en)
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JPS5367757U (ja
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平田昭生
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
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Description

【考案の詳細な説明】 この考案はゲートターンオフサイリスタのゲート制御回
路の改良に関する。
ゲートターンオフサイリスク(以下GTOサイリスクと
称す)は周知のごとくゲート端子Gとカソードに間に正
のゲート制御信号を印加すると導通し、負のゲート制御
信号を加えると非導通となる特性を有する半導体素子で
ある。
GTOサイリスクを導通状態から非導通状態とするには
、G’lDサイリスタのアノードとカソードに間に流れ
ている主回路電流Iaに対し約1/2〜1/4の負のゲ
ート電流を数10 usec間流す必要があるが、GT
Oサイリスタは順電圧阻止特性を回復しはじめるとゲー
ト端子Gとカソード端子に間のインピーダンスが増加す
る。
端子G−に間のインピーダンスが増加すると、前述のご
とく主回路電流の1/2〜1/4の負のゲート電流を流
し込んでいるために端子G−に間に負の過電圧が発生す
る。
GTOサイリスクは端子G−に間に印加する負電圧は数
V以下に抑制しなければGTOが破壊する。
前記負の過電圧を抑制するため、第1図のごと<GTO
サイリスタ11のゲート端子Gとカソード端子にとの間
にダイオード12と定電圧ダイオード13の直列回路を
接続したものがある。
この直列回路には図示極性のゲート電源E1−オフ用ス
イッチoff−8Wの直列回路と、オン用スイッチon
−8W−ゲート電源E2(ゲート電源E1と逆極性に挿
入されている。
)との直列回路をそれぞれ並列に接続しである。
この回路においてオン用スイッチ0n−8Wを投入する
とGTOサイリスタ11のゲート端子Gとカソード端子
に間に正方向のゲート電流が流れてGTOサイリスタ1
1はターンオンし、逆にオフ用スイッチoff−8Wを
投入するとターンオフする。
しかしながらGTOサイリスタ11に流す主回路電流は
数100〜100OA程度になり、負のゲート電流が数
10OAとなる。
従ってインバータ回路などの高周波回路に第1図のごと
き構成の回路を使用したとき各GTOサイリスタのター
ンオフ動作ごとに定電圧ダイオード13に前述のごとき
数10OAの負のゲート電流が数usec〜数10us
ec間分流することになり、また軽負荷と重負荷時には
分流する電流幅が変化するなど問題がある。
つまり従来のGTOサイリスクのゲート制御回路の構成
においてはターンオフ動作時に次のような欠点がある。
(1)端子G−に間を所定の負電圧以下とするため定電
圧ダイオード13などの保護素子を挿入するが、GTO
サイリスタ11が大容量化すると保護素子の定格も過大
となり、その設計も困難である。
(2)前記保護素子に流れる負のゲート電流は実際のタ
ーンオフ動作に必要以上の電流となるので、これが損失
となる。
この考案はこのような欠点を除去するためなされたもの
で、保護素子の定格を軽減でき、ターンオフ動作で余っ
たエネルギを有効に活用できるゲートターンオフサイリ
スクの制御回路を提供することを目的とする。
以下この考案の一実施例について第2図を参照して説明
する。
GTOサイリスタ11のゲート端子Gとカソード端子に
との間にダイオード12と定電圧ダイオード13との直
列回路が接続されている。
このダイオード13のカソード側にコンデンサ14を接
続し、このコンデンサ14と前記定電圧ダイオード13
との間に抵抗器15−半導体スイッチ16−抵抗器17
の直列回路が接続されている。
この抵抗器17と半導体スイッチ16との接続点に抵抗
器18、ダイオード19の一端がそれぞれ接続され、抵
抗器18の他端は前記ダイオード12と定電圧ダイオー
ド13との接続点に接続され、ダイオード19の他端は
抵抗器17に接続されている。
前記抵抗器15にトランジスタ20のコレクタが接続さ
れ、このエミッタが前記抵抗器17に接続され、このベ
ースが前記半導体スイッチ16と抵抗器17との接続点
に接続されている。
前記トランジスタ20に直列に抵抗器21−半導体スイ
ッチ22の直列回路およびゲート電源23がそれぞれ接
続されている。
ゲート電源23と半導体スイッチ22との接続点に、半
導体スイッチ24の一端が接続されこの他端には抵抗器
25を介してトランジスタ26のベースが接続され、ト
ランジスタ26のエミッタが前記トランジスタ20のエ
ミッタとゲート電源23との接続点に接続され、またト
ランジスタ26のコレクタはインピーダンス素子27を
介して前記トランジスタ20のコレクタに接続されてい
る。
このような構成のものにおいて、GTOサイリスタ11
を導通させるには半導体スイッチ22を第3図のように
時刻t1でオンしてゲート電源23−半導体スイッチ2
2−抵抗器21−コンデンサ14−GTOサイリスク1
1−ゲート電源23のループで正のゲート電流を流して
GTOサイリスタ11をターンオンさせる。
GTOサイリスタ11は保持電流以上の主回路電流が流
れると導通状態を保持するから、半導体スイッチ22は
所定時間後に開放する。
このときコンデンサ14はいままで図示極性に充電され
ていたものが充電停止される。
GTOサイリスタ11を非導通させるには半導体スイッ
チ16を第3図のように時刻t2でオンすると、トラン
ジスタ20がオンし、これによりコンデンサ14−トラ
ンジスタ2O−GTOサイリスタ11−コンデンサ14
のループで負のゲート電流をコンデンサ14の充電電荷
を放電させることによって行う。
このときトランジスタ26はトランジスタ20と導通期
間がラップするように半導体スイッチ24を第3図のよ
うに時刻t2でオンし、t4でオフさせ、半導体スイッ
チ16は第3図のように時刻t2でオンさせ、時刻t3
でオフさせるようにする。
従ってトランジスタ26と20は時刻12−13間はと
もに導通ずる。
このように負のゲート電流を流してGTOサイリスタ1
1がターンオフし、順電圧阻止特性を回復しはじめると
ゲート端子Gとカソード端子に間の負極性電圧が増加し
てくるから、この電圧を所定値以内とするようにダイオ
ード12と定電圧ダイオード13との直列回路がGTO
サイリスタ11のゲート端子Gとカソード端子に間の電
圧が所定の電圧に達すると、ダイオード12と定電圧ダ
イオード13との接続点aの電位が確立してトランジス
タ20のベースには抵抗器18と15のバイアスによっ
て負のバイアス電圧が印加され、トランジスタ20は非
導通状態となる。
このとき半導体スイッチ24がオン状態にありトランジ
スタ20と26の導通期間が前述のごとくラップしてい
るからコンデンサ14の放電電流は、コンデンサ14−
インピーダンス素子27−トランジスタ26−〇TOサ
イリスタ11−コンデンサ14のループで負のゲート電
流として流れる。
このとき流れる負のゲート電流はインピーダンス素子2
7で制限され長時間流れ続けるが、GTOサイリスタ1
1は公知のごとく定常状態でdv/dt耐量が小さく、
これを向上させるためには定常状態で負のゲート電流を
流すとよい特性が得られるから、ターンオフの余剰エネ
ルギーである前記コンデンサ14の充電電流はGTOサ
イリスタ11のdv/dt耐量の増加のため使用される
その後再度GTOサイリスタ11を導通させるため半導
体スイッチ22をオンする時、トランジスタ26はオフ
するように半導体スイッチ22は操作される。
このように考案ではGTOサイリスタ11のターンオフ
時ゲート端子Gとカソード端子に間電圧が所定値に達し
たことを、ダイオード12一定電圧ダイオード13、抵
抗器18−15−半導体スイッチ16およびトランジス
タ20からなる検出器により検出し、所定電圧に達した
時負のゲート電流を流すトランジスタ20が非導通とな
るので、GTOサイリスタ11の端子G−に間の電圧が
所定値に達してから過大な負のゲート電流は流れない。
さらにトランジスタ20が非導通のとき前記負のゲート
電流はインピーダンス素子2Tで制限したループで転流
して流すので、GTOサイリスタ11の端子G−に間電
圧を所定の負電圧以上に抑制する定電圧ダイオード13
に流れる電流を抑制するとともに前述の負のゲート電流
を流し続けることによってdv/dt耐量が向上する。
従ってこの考案によれはGTOサイリスクのゲート、カ
ソード間電圧を所定値に抑制する保護素子の定格を、大
容量GTOサイリスクにおいて太幅に軽減でき、GTO
サイリスクのターンオフによる余剰エネルギーをdv/
dt耐量向上用に使用できるので、損失が少なく、経済
的で小形なゲート制御回路を提供できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のゲートターンオフサイリスクのゲート制
御回路の一例を示す回路図、第2図はこの考案によるゲ
ートターンオフサイリスクのゲート制御回路の一実施例
を示す回路図、第3図は同実施例の半導体スイッチの動
作を説明するためのタイムチャートである。 11・・・・・・ゲートターンオフサイリスク、12.
19・・・・・・ダイオード、13・・・・・・保護素
子例えば定電圧ダイオード、14・・・・・・コンデン
サ、16.22゜24・・・・・・半導体スイッチ、2
0.26・・・・・・トランジスタ、23・・・・・・
ゲート電源、27・・・・・・インピーダンス素子。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. ゲートターンオフサイリスクのゲート端子およびカソー
    ド端子間に定電圧ダイオード等の保護素子を接続したも
    のにおいて、前記ゲートターンオフ時にゲート端子とカ
    ソード端子間に生ずる負電圧が所定値に達したことを検
    出する検出手段を設け、前記ゲートターンオフサイリス
    クの負のゲート電流を流すループ内に並列的に接続され
    たその閉路時間路インピーダンスが大きな値となる第1
    のスイッチとこれより低いインピーダンス値となる第2
    のスイッチのうち、前記検出手段の検出出力が所定値を
    こえたとき前記第2のスイッチを開路し、前記第1のス
    イッチを閉路させて負のゲート電流を減少させることを
    特徴とするゲートターンオフサイリスタのゲート制御回
    路。
JP15070176U 1976-11-10 1976-11-10 ゲ−トタ−ンオフサイリスタのゲ−ト制御回路 Expired JPS582153Y2 (ja)

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JP15070176U JPS582153Y2 (ja) 1976-11-10 1976-11-10 ゲ−トタ−ンオフサイリスタのゲ−ト制御回路

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JPS5367757U JPS5367757U (ja) 1978-06-07
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JP15070176U Expired JPS582153Y2 (ja) 1976-11-10 1976-11-10 ゲ−トタ−ンオフサイリスタのゲ−ト制御回路

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JPS58175970A (ja) * 1982-04-08 1983-10-15 Fuji Electric Co Ltd スイッチング半導体素子への逆バイアス電流供給装置
JPS62188272A (ja) * 1987-02-03 1987-08-17 Semiconductor Res Found 静電誘導サイリスタを含む半導体装置

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JPS5367757U (ja) 1978-06-07

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