JPS58218659A - 測定装置 - Google Patents
測定装置Info
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- JPS58218659A JPS58218659A JP8835683A JP8835683A JPS58218659A JP S58218659 A JPS58218659 A JP S58218659A JP 8835683 A JP8835683 A JP 8835683A JP 8835683 A JP8835683 A JP 8835683A JP S58218659 A JPS58218659 A JP S58218659A
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- Japan
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- bridge
- differential amplifier
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- bridge circuit
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 24
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 239000002689 soil Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L1/00—Measuring force or stress, in general
- G01L1/20—Measuring force or stress, in general by measuring variations in ohmic resistance of solid materials or of electrically-conductive fluids; by making use of electrokinetic cells, i.e. liquid-containing cells wherein an electrical potential is produced or varied upon the application of stress
- G01L1/22—Measuring force or stress, in general by measuring variations in ohmic resistance of solid materials or of electrically-conductive fluids; by making use of electrokinetic cells, i.e. liquid-containing cells wherein an electrical potential is produced or varied upon the application of stress using resistance strain gauges
- G01L1/2268—Arrangements for correcting or for compensating unwanted effects
- G01L1/2275—Arrangements for correcting or for compensating unwanted effects for non linearity
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
- G01D5/12—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means
- G01D5/14—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage
- G01D5/16—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage by varying resistance
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R17/00—Measuring arrangements involving comparison with a reference value, e.g. bridge
- G01R17/10—AC or DC measuring bridges
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の属する技術分野〕
本発明は、少なくとも一方のブリッジ半部の一つのブリ
ッジ辺ｆ検出すべき測定ｆにより変化する測定抵抗な有
するブリッジ回路と、ブリッジ回路に接続され゛〔いる
定電流発生回路とを含む測定装置に関する。
ッジ辺ｆ検出すべき測定ｆにより変化する測定抵抗な有
するブリッジ回路と、ブリッジ回路に接続され゛〔いる
定電流発生回路とを含む測定装置に関する。
この種の一つの公知の測定装置（Ｔ、 Ｐｏｔｍａ （
チー・ボ１１マ） ’ １）ｅｈｎｕｎｇｓ−ｍｅβ８
１「ｅ目ｅｎ −Ｍｅ／１ｅｃｈｎｉｋ（ストレインゲ
ージ測定技術） ’ Ｐｂｌ １ｉｐｓ Ｔａ５ｃｈｅ
ｎｂｕｃｈｅｒ。
チー・ボ１１マ） ’ １）ｅｈｎｕｎｇｓ−ｍｅβ８
１「ｅ目ｅｎ −Ｍｅ／１ｅｃｈｎｉｋ（ストレインゲ
ージ測定技術） ’ Ｐｂｌ １ｉｐｓ Ｔａ５ｃｈｅ
ｎｂｕｃｈｅｒ。
１９６８年、第７０頁）では、定電流発生回路はプ１ル
ジ回路の電源対角線に接続されている定電流源から成っ
ている。定電流の供給により、検出すべき測定量により
変化する測定抵抗を形成するストレインゲージにかかる
電圧は、半導体ストレインゲージの場合、感度低下にも
かかわらず上昇するようにすることができる。それによ
りストレインゲージな通る電流が一定に保たれるので、
温度に関係するゲージ率を有するストレインゲージを使
用する場合にも測定量への温度の影響が除かれる。
ジ回路の電源対角線に接続されている定電流源から成っ
ている。定電流の供給により、検出すべき測定量により
変化する測定抵抗を形成するストレインゲージにかかる
電圧は、半導体ストレインゲージの場合、感度低下にも
かかわらず上昇するようにすることができる。それによ
りストレインゲージな通る電流が一定に保たれるので、
温度に関係するゲージ率を有するストレインゲージを使
用する場合にも測定量への温度の影響が除かれる。
しかし、この公知の測定装置は他の通常のブリッジ回路
と同様に、検出すべき測定量により変化する測定抵抗の
抵抗値の変化とブリッジ回路の出力対角線における電圧
との間の関係が非直線的であるという欠点なＭする。第
１図によりこの関係を一層詳細に説明する。
と同様に、検出すべき測定量により変化する測定抵抗の
抵抗値の変化とブリッジ回路の出力対角線における電圧
との間の関係が非直線的であるという欠点なＭする。第
１図によりこの関係を一層詳細に説明する。
第１図に示されているブリッジ回路は電源電圧Ｕｓに接
続されており、その一方のブリッジ半部に検出すべざ測
定量により変化する測定抵抗Ｒ十△Ｈとそれに直列にｆ
＆続された抵抗Ｒとを含んでいる。
続されており、その一方のブリッジ半部に検出すべざ測
定量により変化する測定抵抗Ｒ十△Ｈとそれに直列にｆ
＆続された抵抗Ｒとを含んでいる。
他力のブリッジ半部には二つの抵抗Ｒが接続されている
。この場合、出力対角線における測定′電圧△Ｕは式（
１）により表わされる。
。この場合、出力対角線における測定′電圧△Ｕは式（
１）により表わされる。
すなわち、出力対角線における測定電圧は測定抵抗の変
化分△Ｉｔと非直線的関係で結びつけられている。
化分△Ｉｔと非直線的関係で結びつけられている。
本発明の１」的は、比較的わずがな回路費用で測定量を
検出する測定抵抗の変化により直朦的に変化する測定電
圧が得られるブリッジ回路を有する測定装置を提供する
ことにある。
検出する測定抵抗の変化により直朦的に変化する測定電
圧が得られるブリッジ回路を有する測定装置を提供する
ことにある。
この目的は、本発明によれば、冒頭に記載したＳ類の測
定装置において、定’ｔｆＬ発生回路が差動増幅器なさ
んでおり、との差動増ｌｌ！！器がその一方の入力端で
出力対角線の一方の接続点を形成する前記一つのブリッ
ジ辺の一端に、またその出力端 １で電源対角線の
一方の接続点を形成する前記一つのブリッジ辺の他端に
接続さ才じ〔おり、また差動増幅器の他方の入力端が一
方ではゼナダイオードを介して電源対角線の他方の接続
点に、また他方では差動増幅器の動作電圧源に接続され
ていることを特徴とする測定装置により達成される。
定装置において、定’ｔｆＬ発生回路が差動増幅器なさ
んでおり、との差動増ｌｌ！！器がその一方の入力端で
出力対角線の一方の接続点を形成する前記一つのブリッ
ジ辺の一端に、またその出力端 １で電源対角線の
一方の接続点を形成する前記一つのブリッジ辺の他端に
接続さ才じ〔おり、また差動増幅器の他方の入力端が一
方ではゼナダイオードを介して電源対角線の他方の接続
点に、また他方では差動増幅器の動作電圧源に接続され
ていることを特徴とする測定装置により達成される。
本発明による測定装置の主な利点は、ブリッジ回路の出
力対角線に測定量により変化する測定抵抗の変化と直線
的に関係する測定電圧が得られることである。これは、
変化する測定抵抗が差動増幅器の帰還回路内に配置され
ており、従ってゼナダイオードとの共同作用のもとに常
に一定の電流を流されていることによるものである。も
う一つの利点は、直線的関係−を得るためにゼナダイオ
ードを付属した差動増幅器を追加するだけでよいので、
追加回路費用がわずかですむことである。
力対角線に測定量により変化する測定抵抗の変化と直線
的に関係する測定電圧が得られることである。これは、
変化する測定抵抗が差動増幅器の帰還回路内に配置され
ており、従ってゼナダイオードとの共同作用のもとに常
に一定の電流を流されていることによるものである。も
う一つの利点は、直線的関係−を得るためにゼナダイオ
ードを付属した差動増幅器を追加するだけでよいので、
追加回路費用がわずかですむことである。
本発明による測定装置によって可能なかぎり高い測定電
圧を得るため、ブリッジ回路が前記一つのブリッジ辺と
対角線状に向かい合う他方のブリッジ半部のブリッジ辺
にも測定量により前記測定抵抗と同じく変化する測定抵
抗を有することは有利である。すなわち、この場合には
、測定抵抗を（５） ただ一つしかもしていないブリッジ回路の場合にくらべ
て、測定抵抗の変化が同一であれば、ブリッジ回路の出
力対角ＩＩＭＶＣ２倍の測定電圧が得られる。
圧を得るため、ブリッジ回路が前記一つのブリッジ辺と
対角線状に向かい合う他方のブリッジ半部のブリッジ辺
にも測定量により前記測定抵抗と同じく変化する測定抵
抗を有することは有利である。すなわち、この場合には
、測定抵抗を（５） ただ一つしかもしていないブリッジ回路の場合にくらべ
て、測定抵抗の変化が同一であれば、ブリッジ回路の出
力対角ＩＩＭＶＣ２倍の測定電圧が得られる。
このように構成され土１！ｉ：公知の測定装置と同様に
、定電流源から一足の電流が供給されるブリッジ回路で
は、測定電圧の変化と測定抵抗の変化との間にほぼ直線
的な関係が得られるが、半分の大きさの測定電圧しか得
られないので、一層大きな増幅率での増幅を必要としよ
う。
、定電流源から一足の電流が供給されるブリッジ回路で
は、測定電圧の変化と測定抵抗の変化との間にほぼ直線
的な関係が得られるが、半分の大きさの測定電圧しか得
られないので、一層大きな増幅率での増幅を必要としよ
う。
〔発明の実施例〕
本発明を説明するため、第２図に本発明による測定装置
の実施例が示されている。
の実施例が示されている。
第２図に示されている測定装置は、一方のブリッジ半部
Ｉ Ｊｔｆよｄ他方のブリッジ半部２を有する、ブリッ
ジ回路を含んでいる。ブリッジ回路は接続点３および４
を有する電源対角線を有し、そのうち接続点４は接地点
に接続されている。
Ｉ Ｊｔｆよｄ他方のブリッジ半部２を有する、ブリッ
ジ回路を含んでいる。ブリッジ回路は接続点３および４
を有する電源対角線を有し、そのうち接続点４は接地点
に接続されている。
一方のブリッジ半Ｐｒ１Ｓ １の一つのブリッジ辺は測
定量により変化する測定抵抗５により形成されて（６） おり、この測定抵抗はたとえばストレインゲージであっ
てよい。笈化する測定抵抗５と直列に、従ってまた一力
のブリッジ半部１のもう一つのブリッジ辺を形成するよ
うに、一定の抵抗値を有する抵抗Ｏか長続されている。
定量により変化する測定抵抗５により形成されて（６） おり、この測定抵抗はたとえばストレインゲージであっ
てよい。笈化する測定抵抗５と直列に、従ってまた一力
のブリッジ半部１のもう一つのブリッジ辺を形成するよ
うに、一定の抵抗値を有する抵抗Ｏか長続されている。
一方のブリッジ半部１の両ブリッジ辺間の接続点７は、
ブリッジ回路の出力対角線の一方の接続点を形成してい
る。
ブリッジ回路の出力対角線の一方の接続点を形成してい
る。
他方のブリッジ半部２は、一定の抵抗値を有する二つの
抵抗８および９から成っている。両抵抗間の接続点は出
力対角線の他方の接続点１０を形成している。抵抗６，
８および９の抵抗値と測定抵抗５の抵抗値とは、その初
期状態においては等大である。
抵抗８および９から成っている。両抵抗間の接続点は出
力対角線の他方の接続点１０を形成している。抵抗６，
８および９の抵抗値と測定抵抗５の抵抗値とは、その初
期状態においては等大である。
出力対角線の一方の接続点７には、差動増幅器１２が一
方の入力端１１で接続されている。差動増幅器１２の出
力端１３はブリッジ回路の電源対角線の一方の接続点３
に接続されている。差動増幅器１２の他方の入力端１４
は、一方ではゼナダイオード１５を介して電源対角線の
他方の接続点４または接地点に接続されており、他方で
は抵抗１６を介して差動増幅器１２の動作電圧源Ｕｂに
接続されている。
方の入力端１１で接続されている。差動増幅器１２の出
力端１３はブリッジ回路の電源対角線の一方の接続点３
に接続されている。差動増幅器１２の他方の入力端１４
は、一方ではゼナダイオード１５を介して電源対角線の
他方の接続点４または接地点に接続されており、他方で
は抵抗１６を介して差動増幅器１２の動作電圧源Ｕｂに
接続されている。
図示されている実施例では、差動増幅器として演算増幅
器が用いられており、その反転入力端が差動増幅器の一
方の入力端となり、また非反転入力端が他方の入力端１
４となっている。
器が用いられており、その反転入力端が差動増幅器の一
方の入力端となり、また非反転入力端が他方の入力端１
４となっている。
以下′Ｋ１１ｉＥ明されるように、［２図に示されてい
る測定装置では、測定抵抗の変化により直線的に変化す
る測定電圧Δ［Ｊが出力対角線７−１０に生ずる。
る測定装置では、測定抵抗の変化により直線的に変化す
る測定電圧Δ［Ｊが出力対角線７−１０に生ずる。
すなわち、図示されている測定装置では、測定抵抗５が
変化するＫもかかわらず出力対角線の接続点７に一定の
大きさの電圧Ｕ１が発生される。これは、ゼナダイオー
ド１５の作用により差動増幅器１２の入力端１４におけ
る電圧［Ｊｒが一定となり、また差動増幅器１２の作用
により測定抵抗５の変化の影響を受けない一定の電流■
１が測定抵抗５１Ｃ流されるので、電圧Ｕ１が電圧Ｕ「
と等しくなることによるものである。
変化するＫもかかわらず出力対角線の接続点７に一定の
大きさの電圧Ｕ１が発生される。これは、ゼナダイオー
ド１５の作用により差動増幅器１２の入力端１４におけ
る電圧［Ｊｒが一定となり、また差動増幅器１２の作用
により測定抵抗５の変化の影響を受けない一定の電流■
１が測定抵抗５１Ｃ流されるので、電圧Ｕ１が電圧Ｕ「
と等しくなることによるものである。
検出すべき測定１により変化する測定抵抗が抵抗値Ｒ＋
ΔＲを有するとき、ブリッジ回路の電源対角線３−４に
おける電源電圧ＵＦＩは式（２） Ｋより表わされる。
ΔＲを有するとき、ブリッジ回路の電源対角線３−４に
おける電源電圧ＵＦＩは式（２） Ｋより表わされる。
ＵＳ＝Ｉ、ｓ（Ｒ＋ΔＲ）十Ｉｔ Ｒ＝Ｉｓ”（２Ｒ
＋ハＩ’ｔ） （２）他方のブリッジ半部に対して
は次の式（３）が成り立つ。
＋ハＩ’ｔ） （２）他方のブリッジ半部に対して
は次の式（３）が成り立つ。
式（２）のＵＳの値を式（３）に代入すると、式（４）
が得られる。
が得られる。
出力対角線の接続点１０＆ｃおける電圧なＵ２とすれば
、測定電圧ΔＵは次式で求められる。
、測定電圧ΔＵは次式で求められる。
Ｕ２−ＩＪ１＝△Ｕ＝１．φＩ’Ｌ−Ｉ、・Ｒ＝Ｒ（Ｉ
ｔ−Ｉｔ ） （５）式（４）の１２の値を式（５）
に代入すると、となり、従って容易に次の関係式が得ら
れる。
ｔ−Ｉｔ ） （５）式（４）の１２の値を式（５）
に代入すると、となり、従って容易に次の関係式が得ら
れる。
この式（７）は、図示されている測定装置によって、ブ
リッジ回路の出力対角線７−１０における測定電圧ΔＵ
と、検出すべき測定量により変化する測定紙（９） 抗５の抵抗変化ΔＲとの間に直線的関係が得られること
を示している。
リッジ回路の出力対角線７−１０における測定電圧ΔＵ
と、検出すべき測定量により変化する測定紙（９） 抗５の抵抗変化ΔＲとの間に直線的関係が得られること
を示している。
第２図に示されている測定装置において、測定抵抗５と
対角線状に向かい合う抵抗９が同じく測定量により変化
する測定抵抗として構成されている場合には、電圧Ｕ雪
は、 ［Ｊ１＝ｌ、・（Ｒ＋Δル）（８） で表わされ、これに式（２）の０１の値を代入すると、
となる。従って、ブリッジ回路の対角線７−１０におけ
る測定′−圧ΔＵは次式で求められる。
対角線状に向かい合う抵抗９が同じく測定量により変化
する測定抵抗として構成されている場合には、電圧Ｕ雪
は、 ［Ｊ１＝ｌ、・（Ｒ＋Δル）（８） で表わされ、これに式（２）の０１の値を代入すると、
となる。従って、ブリッジ回路の対角線７−１０におけ
る測定′−圧ΔＵは次式で求められる。
１、−ｕ、＝ΔＬＪ＝ Ｉ 、 −（Ｉｔ−１−ΔＩｔ
）−Ｉ 盈・［（＝ Ｉ ｌ・ΔＲ（１０すなわち、こ
の場合にも、 １１定電圧△Ｕと、検出すべき測定量に
より変化する測定抵抗５および９の抵抗変化ΔＩｔとの
間に直線的関係が得られる。
）−Ｉ 盈・［（＝ Ｉ ｌ・ΔＲ（１０すなわち、こ
の場合にも、 １１定電圧△Ｕと、検出すべき測定量に
より変化する測定抵抗５および９の抵抗変化ΔＩｔとの
間に直線的関係が得られる。
しかもこの場合には、測定抵抗をただ一つしか有してい
ないブリッジ回路の場合にくらべ【２倍の高い測定電圧
へ〇が得られる。
ないブリッジ回路の場合にくらべ【２倍の高い測定電圧
へ〇が得られる。
（１０）
最後になお言及すべきこととして、電源対角線に調節さ
れる交流電圧源を接続し、その調節を入力側で整流器を
介してブリッジ回路の出力対角線に接続されている差動
増幅器により行なえば、本発明による測定装置は交流電
圧源を用いる場合にも原理的に適している。
れる交流電圧源を接続し、その調節を入力側で整流器を
介してブリッジ回路の出力対角線に接続されている差動
増幅器により行なえば、本発明による測定装置は交流電
圧源を用いる場合にも原理的に適している。
以上説明のとおり、本発明においては差動増幅器を用い
た定電流発生回路から測定量により変化する測定抵抗例
えばストレンゲージをブリッジ辺として含むブリッジ半
部に一定の電流を流し、かつ該測定抵抗な差動増幅器の
帰還回路内圧配するようにしたため、ブリッジの出力電
圧すなわち測定電圧を測定抵抗の変化に対して直線的に
変化させることができるようＫなり、従来のこの種測定
ブリッジ回路における測定電圧と測定抵抗の変化との間
の非直線性の問題を解決して、測定装置としては理想的
な特性を得ることができる。しかも測定回路構成上も従
来のものに対して差動増幅器とこの差動増幅器の非反転
入力端を基準電圧にクランプするゼナダイオードだけを
追加するだけでよいので、僅かな費用の増加により装置
の測定特性を飛躍的に向上させることができる。
た定電流発生回路から測定量により変化する測定抵抗例
えばストレンゲージをブリッジ辺として含むブリッジ半
部に一定の電流を流し、かつ該測定抵抗な差動増幅器の
帰還回路内圧配するようにしたため、ブリッジの出力電
圧すなわち測定電圧を測定抵抗の変化に対して直線的に
変化させることができるようＫなり、従来のこの種測定
ブリッジ回路における測定電圧と測定抵抗の変化との間
の非直線性の問題を解決して、測定装置としては理想的
な特性を得ることができる。しかも測定回路構成上も従
来のものに対して差動増幅器とこの差動増幅器の非反転
入力端を基準電圧にクランプするゼナダイオードだけを
追加するだけでよいので、僅かな費用の増加により装置
の測定特性を飛躍的に向上させることができる。
第１因は公知のブリッジ回路を示す図、第２図は本発明
による測定装置ηの実施例の回路図である。 １．２・・・ブリッジ半部、３，４・・・電源対角線の
接続点、５，６，８．９・・・ブリッジ辺（抵抗）、７
．１０・・・出力対角線の接続点、１２・・・差動増幅
器、１５・・・ゼナダイオ・−ド、１６・・・抵抗。 α ヱ
による測定装置ηの実施例の回路図である。 １．２・・・ブリッジ半部、３，４・・・電源対角線の
接続点、５，６，８．９・・・ブリッジ辺（抵抗）、７
．１０・・・出力対角線の接続点、１２・・・差動増幅
器、１５・・・ゼナダイオ・−ド、１６・・・抵抗。 α ヱ
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １）少なくとも一方のブリッジ半部の一つのブリッジ辺
に検出すべき測定量により変化する測定抵抗を有するブ
リッジ回路と、ブリッジ回路に接続されている定電流発
生回路とを含む測定装置において、定ｊｌｔ流発生回路
が差動増幅器を含んでおり、この差動増幅器がその一方
の入力端で出力対角線の一方の接続点を形成する前記一
つのブリッジ辺の一端に、またその出力端で電源対角線
の一方の接続点を形成する前記一つの７１１２９辺の他
端に接続されており、また差動増幅器の他方の入力端が
一方ではゼナダイオードを介して電源対角線の他方の接
続点にまた他方では差動増幅器の動作電圧源に接続され
ていることを特徴とする測定装置。 ２、特許請求の範囲謁１項記載の測定装置において、ブ
リッジ回路が前記−づのブリッジ辺と対角線状に向かい
合う他方のブリッジ半部のブリッジ辺にも測定量により
前記沖ｊ定抵抗と同じく変化１゜る測定抵抗を有するこ
とを特徴とする測定装置。 ３）特許請求の範囲１１１１１項または第２項記載の測
定装置において、差動増幅器の一方の入力端が整流器を
介してブリッジ回路の出力対角線の一方の接続漬に、ま
た差動増幅器の出力端が調節可能な交流電圧源を介して
ブリッジ回路の電源対角線の一方の接続点に接続されて
いることを特徴とする測定装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19823219372 DE3219372A1 (de) | 1982-05-19 | 1982-05-19 | Messanordnung mit einer brueckenschaltung |
| DE32193726 | 1982-05-19 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58218659A true JPS58218659A (ja) | 1983-12-19 |
Family
ID=6164315
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8835683A Pending JPS58218659A (ja) | 1982-05-19 | 1983-05-19 | 測定装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58218659A (ja) |
| DE (1) | DE3219372A1 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4735082A (en) * | 1986-07-14 | 1988-04-05 | Hewlett-Packard Company | Pulse modulated thermal conductivity detector |
| CN103487656B (zh) * | 2013-09-30 | 2016-03-02 | 中国科学技术大学 | 一种利用电桥分离感抗和电阻微小变化的解调电路 |
| CN104198791B (zh) * | 2014-09-22 | 2017-05-03 | 杭州戎密科技有限公司 | 双臂电桥 |
-
1982
- 1982-05-19 DE DE19823219372 patent/DE3219372A1/de not_active Withdrawn
-
1983
- 1983-05-19 JP JP8835683A patent/JPS58218659A/ja active Pending
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3219372A1 (de) | 1983-11-24 |
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