JPS5823699B2 - サツゾウカン - Google Patents
サツゾウカンInfo
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- JPS5823699B2 JPS5823699B2 JP50152592A JP15259275A JPS5823699B2 JP S5823699 B2 JPS5823699 B2 JP S5823699B2 JP 50152592 A JP50152592 A JP 50152592A JP 15259275 A JP15259275 A JP 15259275A JP S5823699 B2 JPS5823699 B2 JP S5823699B2
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- pickup tube
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Links
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Landscapes
- Light Receiving Elements (AREA)
- Image-Pickup Tubes, Image-Amplification Tubes, And Storage Tubes (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、撮像管に関し、その光電変換特性を改良した
ものである。
ものである。
従来例の構成とその問題点
従来、酸化鉛、シリコン、CdSe、Se等を主成分と
する非注入性光導室形撮像管ターゲットにおいては、所
定の大きさの信号電流を得ることと、焼付けを避けるた
めに、信号電流が印加電圧に対して飽和する領域で動作
させている。
する非注入性光導室形撮像管ターゲットにおいては、所
定の大きさの信号電流を得ることと、焼付けを避けるた
めに、信号電流が印加電圧に対して飽和する領域で動作
させている。
しかし、この領域では、光電変換特性のγは1に近く、
ブラウン管のγが2.2であるので総合的にγを1にす
るにはカメラの方で電気的にγを0.45に補正する必
要があるので、補正回路が必要となったり、残像が増加
したりするという欠点があった。
ブラウン管のγが2.2であるので総合的にγを1にす
るにはカメラの方で電気的にγを0.45に補正する必
要があるので、補正回路が必要となったり、残像が増加
したりするという欠点があった。
発明の目的
本発明は、このような、従来の欠点を除去し、バイアス
ライトを照射して撮像管ターゲットを所望の条件で使用
することにより、光電変換特性を改善するものである。
ライトを照射して撮像管ターゲットを所望の条件で使用
することにより、光電変換特性を改善するものである。
発明の構成
すなわち、本発明の撮像管は、ZnS、Zn5e。
CdS、CdSe及びそれらの固溶体からなる群の中か
ら選ばれる一材料を第1層とし、前記第1層上に(Z
nl−x Cd x T e) t−y (I n 2
T e 3 )y、を主成分とし、平均の組成比が0
<x<1<、O<y<0.3である材料を第2層とする
撮像管ターゲットを有するとともに、前記撮像管ターゲ
ットに光を照射する光源を有してなり、信号電流が印加
電圧に対して飽和を示す前の領域で動作させるものであ
る。
ら選ばれる一材料を第1層とし、前記第1層上に(Z
nl−x Cd x T e) t−y (I n 2
T e 3 )y、を主成分とし、平均の組成比が0
<x<1<、O<y<0.3である材料を第2層とする
撮像管ターゲットを有するとともに、前記撮像管ターゲ
ットに光を照射する光源を有してなり、信号電流が印加
電圧に対して飽和を示す前の領域で動作させるものであ
る。
実施例の説明
以下本発明の実施例を図面に従って説明する。
第1図において、ガラス基板1の上に、Zn5eを第1
層とし、(Zno、Cdo、3Te)。
層とし、(Zno、Cdo、3Te)。
、95(I n 2 T e 3)。
、05を第2層とした光導玉形撮像管ターゲット3を形
成し、撮像管4とする。
成し、撮像管4とする。
このターゲツト面に一様にバイアスライトを定常的に撮
像管の外部から小さい光源2によって照射する。
像管の外部から小さい光源2によって照射する。
なお、バイアスライトは、撮像管の外部からではなく、
内部から照射するようにしてもよい。
内部から照射するようにしてもよい。
第2図は、非注入性光導型彫撮像管の、印加電圧と信号
電流との関係を示すものである。
電流との関係を示すものである。
従来は、飽和領域ABで動作させるが、本実施例では、
バイアスライトを用いることにより、焼付けの発生しな
い飽和領域以前のOA領領域うち5■〜18Vの領域で
動作させることができるものである。
バイアスライトを用いることにより、焼付けの発生しな
い飽和領域以前のOA領領域うち5■〜18Vの領域で
動作させることができるものである。
なお、B点はソフトブレークダウンが始まる電工で、本
実施例では、25V程度であり、A点は、バイアスライ
トなしの時焼付けの生じない電圧で、本実施例では、1
8V程度である。
実施例では、25V程度であり、A点は、バイアスライ
トなしの時焼付けの生じない電圧で、本実施例では、1
8V程度である。
しかし、定常信号電流が50 nAのバイアスライトを
照射する方法では焼付けの生じない電工は5■に下がる
。
照射する方法では焼付けの生じない電工は5■に下がる
。
従って、飽和領域以前のOA領領域うち5■〜18Vの
領域で使用しても、焼付けが生じない。
領域で使用しても、焼付けが生じない。
第3図は、光電変換特性を示したもので、AB領領域は
、γ=1で、OA領領域はγ=O,45である。
、γ=1で、OA領領域はγ=O,45である。
従ってOA領領域は、信号電流がやや減少するが、カメ
ラの方で電気的にγ−補正する必要がないという利点が
ある。
ラの方で電気的にγ−補正する必要がないという利点が
ある。
第4図は、バイアスライト強度と残像との関係を示した
もので、バイアスライト強度がある値以上になると残像
が軽減されることがわかる。
もので、バイアスライト強度がある値以上になると残像
が軽減されることがわかる。
第5図は、バイアスライトの光子数を一定にして波長を
変化させた時の残像との関係である。
変化させた時の残像との関係である。
これから、この光導型彫撮像管ターゲットの分光感度域
400〜800μmにわたって残像が軽減されているこ
とがわかる。
400〜800μmにわたって残像が軽減されているこ
とがわかる。
なお、バイアスライトの残像軽減の効果は、第2図のO
A領領域けでなく。
A領領域けでなく。
AB領領域も存在する。
このバイアスライトは、光導電膜中のキャリヤの深いト
ラップを埋める役目をしているものと思われる。
ラップを埋める役目をしているものと思われる。
光導電性の残像は、光が切れた時に、この深いトラップ
からキャリヤがゆっくり出てくるために生じる。
からキャリヤがゆっくり出てくるために生じる。
ある程度以上のバイアスライトを定常的に照射している
と、定常的にトラップが大部分、埋められて平衡状態に
達しでいるため、その上に重畳される光過渡応答に対し
ては、空のトラップがほとんどないのと同然になり、過
渡応答が速くなる。
と、定常的にトラップが大部分、埋められて平衡状態に
達しでいるため、その上に重畳される光過渡応答に対し
ては、空のトラップがほとんどないのと同然になり、過
渡応答が速くなる。
従って、バイアスライトは、自由キャリヤを生成し、ト
ラップを埋める光導電膜に吸収される波長の光でなけれ
ばならない。
ラップを埋める光導電膜に吸収される波長の光でなけれ
ばならない。
焼付けは、光導電膜中の深いトラップに埋まっているキ
ャリヤ、空間電荷数に応じて、印加電圧より電界が部分
的に変化するので生じると考えられる。
ャリヤ、空間電荷数に応じて、印加電圧より電界が部分
的に変化するので生じると考えられる。
すなわち、光が強く照射されていた部分には、トラップ
に埋まっているキャリヤ、空間電荷数が多いため、膜中
の電界が弱く、光が弱く照射されていた部分には、この
空間電荷数が少ないため、膜中の電界が強くなる。
に埋まっているキャリヤ、空間電荷数が多いため、膜中
の電界が弱く、光が弱く照射されていた部分には、この
空間電荷数が少ないため、膜中の電界が強くなる。
従って、画部分に同じ強い光が照射されると、電界の強
弱により、信号電流の大きさに差が生じ、いわゆる、黒
白が逆転するネガ焼付けが生じる。
弱により、信号電流の大きさに差が生じ、いわゆる、黒
白が逆転するネガ焼付けが生じる。
バイアスライトは、全面に均一にトラップにキャリヤを
埋めているので、部分的に電界の強さに差が生じるとい
うことが少ないので、焼付けは発生しにくい。
埋めているので、部分的に電界の強さに差が生じるとい
うことが少ないので、焼付けは発生しにくい。
特に印加電圧が低い第2図のOA領領域は、キャリヤの
ドリフト速度が遅いため、トラップに埋まる確率が高い
ので、焼付けは発生しやすい。
ドリフト速度が遅いため、トラップに埋まる確率が高い
ので、焼付けは発生しやすい。
発明の効果
以上述べたように、本発明はZnS、Zn5e。
CdS及びそれらの固溶体からなる群の中から選ばれる
一材料と(Z n、 −x Cctx’r e )1−
y(I n 2 T e 3 ) yを主成分とし、
平均の組成比が0 < x < 1、O<y<o、3で
ある材料との異種接合からなる撮像管ターゲットにおい
てノ9アスライト照射用の光源を用いるので、γを0.
45にでき、したがって従来のようにγ補正を不要にで
きるため、補正回路を備えない簡素なカメラを使用でき
、また残像も少ない撮像管を提供できる。
一材料と(Z n、 −x Cctx’r e )1−
y(I n 2 T e 3 ) yを主成分とし、
平均の組成比が0 < x < 1、O<y<o、3で
ある材料との異種接合からなる撮像管ターゲットにおい
てノ9アスライト照射用の光源を用いるので、γを0.
45にでき、したがって従来のようにγ補正を不要にで
きるため、補正回路を備えない簡素なカメラを使用でき
、また残像も少ない撮像管を提供できる。
第1図は本発明の撮像管の構成を示す図、第2図は信号
電流と印加電圧との関係を示す図、第3図は光電変換特
性を示す図、第4図はバイアスライト強度と残像との関
係を示す図、第5図はバイアスライト波長と残像との関
係を示す図である。 3・・・・・・撮像管ターゲット、4・・・・・・撮像
管。
電流と印加電圧との関係を示す図、第3図は光電変換特
性を示す図、第4図はバイアスライト強度と残像との関
係を示す図、第5図はバイアスライト波長と残像との関
係を示す図である。 3・・・・・・撮像管ターゲット、4・・・・・・撮像
管。
Claims (1)
- I ZnS、Zn5e、CdS、CdSe及びそれら
の固溶体からなる群の中から選ばれる一材料を第1層と
し、前記第1層上に(Zn1−xCdxTe)1−7(
In2Te3 ) を主成分とし、平均の組成比が0
<x<1 、O<y<0.3である材料を第2層とする
撮像管ターゲットを有するとともに、前記撮像管ターゲ
ットに光を照射する光源を有してなり、信号電流が印加
電圧に対して飽和を示す前の領域で動作させることを特
徴とする撮像管。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP50152592A JPS5823699B2 (ja) | 1975-12-19 | 1975-12-19 | サツゾウカン |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP50152592A JPS5823699B2 (ja) | 1975-12-19 | 1975-12-19 | サツゾウカン |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5275215A JPS5275215A (en) | 1977-06-24 |
| JPS5823699B2 true JPS5823699B2 (ja) | 1983-05-17 |
Family
ID=15543799
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP50152592A Expired JPS5823699B2 (ja) | 1975-12-19 | 1975-12-19 | サツゾウカン |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5823699B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5685876A (en) * | 1979-12-14 | 1981-07-13 | Hitachi Ltd | Photoelectric converter |
-
1975
- 1975-12-19 JP JP50152592A patent/JPS5823699B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5275215A (en) | 1977-06-24 |
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