JPS5824744B2 - ホウシヤセンエネルギ− モニタ - Google Patents
ホウシヤセンエネルギ− モニタInfo
- Publication number
- JPS5824744B2 JPS5824744B2 JP50079869A JP7986975A JPS5824744B2 JP S5824744 B2 JPS5824744 B2 JP S5824744B2 JP 50079869 A JP50079869 A JP 50079869A JP 7986975 A JP7986975 A JP 7986975A JP S5824744 B2 JPS5824744 B2 JP S5824744B2
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- energy
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Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、イオン・チェンバー1こより放射線の線量
をモニタすると同時1こ放射線のエネルギー・モニタを
も行うよう1こした放射線エネルギー・モニタ1こ関す
るものである。
をモニタすると同時1こ放射線のエネルギー・モニタを
も行うよう1こした放射線エネルギー・モニタ1こ関す
るものである。
従来例として医療用1こ、用G、)られている電子加速
装置:(Wp =、、’7’ ”、ンーンン奢4’>で
説明する。
装置:(Wp =、、’7’ ”、ンーンン奢4’>で
説明する。
籐11.蓄4医儂禰Q、電イ潰遣鯖置の一例を示スモ9
・で、21は脅5ま−た、歇耐−,!、X線または電子
線であ、る。
・で、21は脅5ま−た、歇耐−,!、X線または電子
線であ、る。
1は加遍賃りよゆ1論潰された電子ビームで、1ターγ
・ゲツ゛トま、たは、入キ1ヤフタリング・フオイ・東
(゛衡突・す番こと(よ、赫−1,放1..を線1を発
生する。
・ゲツ゛トま、たは、入キ1ヤフタリング・フオイ・東
(゛衡突・す番こと(よ、赫−1,放1..を線1を発
生する。
3は電子銃、4は加速管への入射ビームの制御系、5は
加速管、6は前記加速された電子ビーム2をターゲット
またはスキャツタリンク・フォイルまで誘導する偏向電
磁石系であり、単一の電磁石1こよる90°偏向、複雑
な電磁石1こより110°偏向あるいは270@偏向等
の任意の偏向を行うものであるが、低エネルギーの放射
線の場合lこはこの偏向電磁石系がなく、加速管5の中
心軸と発生放射線の線束中心軸が同一軸上1こあること
もある。
加速管、6は前記加速された電子ビーム2をターゲット
またはスキャツタリンク・フォイルまで誘導する偏向電
磁石系であり、単一の電磁石1こよる90°偏向、複雑
な電磁石1こより110°偏向あるいは270@偏向等
の任意の偏向を行うものであるが、低エネルギーの放射
線の場合lこはこの偏向電磁石系がなく、加速管5の中
心軸と発生放射線の線束中心軸が同一軸上1こあること
もある。
7は放射線の発生源であり、X線の場合1こはターゲッ
トおよびフラットネス・フィルタであり、電子線の場合
はスキャツタリング・フォイルである。
トおよびフラットネス・フィルタであり、電子線の場合
はスキャツタリング・フォイルである。
8は前記加速管51こおける加速用のマイクロ波源、9
および10はX線または電子線を測定するための透過形
イオン・チェンバーで、9を一次チェンバー、10を二
次チェンバーと称すること]こする。
および10はX線または電子線を測定するための透過形
イオン・チェンバーで、9を一次チェンバー、10を二
次チェンバーと称すること]こする。
11は前記−次および二次チェンバー9,101こよる
電離電流の増幅回路と線量率および積算線量の表示系で
ある。
電離電流の増幅回路と線量率および積算線量の表示系で
ある。
一次および二次チェンバー9,10はいずれも第2図a
、bのような構造となっている。
、bのような構造となっている。
すなわち、第2図1こおいて、13は放射線1こより電
離されたイオン集電極1こ泳動させるための高圧電極、
14は絶縁物表面1こよる漏洩電流を防止するためのシ
ールド板で電位的1こはアースである。
離されたイオン集電極1こ泳動させるための高圧電極、
14は絶縁物表面1こよる漏洩電流を防止するためのシ
ールド板で電位的1こはアースである。
15は電離電流の集電極、16はアース電極となってお
り、13〜16の各電極は絶縁物1こより保持されてい
る。
り、13〜16の各電極は絶縁物1こより保持されてい
る。
そして、放射線1は方向121こ照射される。
一次および二次チエンバー9,10の集電極15]こ流
れる電流1こより放射線の線量をモニタしている。
れる電流1こより放射線の線量をモニタしている。
このよう)こ、従来の電子加速装置では、一次および二
次チェンバー9.101こおいて線量モニタを行ってい
たが、これ(こよりエネルギー・モニタを行う方式は存
在しなかった。
次チェンバー9.101こおいて線量モニタを行ってい
たが、これ(こよりエネルギー・モニタを行う方式は存
在しなかった。
すなわち、従来は加速電圧、マイクロ波電力、偏向電磁
石電流等のパラメータIこよりエネルギーを推測するよ
う1こし、微少変動はマイクロ波川波数、加速管5の入
射電子ビーム)こより調節し、通常エネルギーの測定は
機器の調整時(こ行われているものであった。
石電流等のパラメータIこよりエネルギーを推測するよ
う1こし、微少変動はマイクロ波川波数、加速管5の入
射電子ビーム)こより調節し、通常エネルギーの測定は
機器の調整時(こ行われているものであった。
しかし、ビームエネルギーまたは放射線エネルギーは放
射線治療Iこおける最も重要なパラメータであり、これ
を常1こ監視できるシステムが要望されていた。
射線治療Iこおける最も重要なパラメータであり、これ
を常1こ監視できるシステムが要望されていた。
この発明は上述の点1こかんがみなされたもので電子ラ
イナックなどの放射線発生装置で発生する放射線の線量
率を測定する場合、測定媒体が有限な厚さと質量を有す
るため、ビルド・アップ効果を示すので、放射線の線束
中心軸上(こおかれた2個の独立なイオン・チェンバー
1こは異なった電離電流が流れ、しかも前記ビルド・ア
ップ効果1こよれば、各々の電離電流はエネルギー1こ
対する特性曲線の傾きが異なる。
イナックなどの放射線発生装置で発生する放射線の線量
率を測定する場合、測定媒体が有限な厚さと質量を有す
るため、ビルド・アップ効果を示すので、放射線の線束
中心軸上(こおかれた2個の独立なイオン・チェンバー
1こは異なった電離電流が流れ、しかも前記ビルド・ア
ップ効果1こよれば、各々の電離電流はエネルギー1こ
対する特性曲線の傾きが異なる。
そこで、前者の比をとってエネルギーを測定するよう)
こしたのがこの発明である。
こしたのがこの発明である。
以下この発明Iこついて詳細1こ説明する。第3図aは
X線の水中深度の深部率曲線を示す。
X線の水中深度の深部率曲線を示す。
各曲線A、B、Cは6MeV、8MeVおよび10Me
Vのエネルギー1こよる曲線を表わしている。
Vのエネルギー1こよる曲線を表わしている。
これらの図は水中1こ放射線が入射した場合ビルド・ア
ップ効果があることを示し、ビルド・アップ効果最大と
なる点より浅い層1こおいても深部率曲線はエネルギー
1こよって異なった値となることを表わしている。
ップ効果があることを示し、ビルド・アップ効果最大と
なる点より浅い層1こおいても深部率曲線はエネルギー
1こよって異なった値となることを表わしている。
通常、透過形イオン・チェンバーは0.1〜0.2mu
厚のA[板1こより構成されるが、A−、lの比重2.
69を考慮すれば、0.2朋厚のA7は水等側深度は0
.538mmに相当することIこなる。
厚のA[板1こより構成されるが、A−、lの比重2.
69を考慮すれば、0.2朋厚のA7は水等側深度は0
.538mmに相当することIこなる。
第2図のような2個の一次および二次チェンバー9,1
0を線量モニタとすると、一次チェンバー9の電離空間
Iこ至るまで、放射線1は2枚のA[板を通過し、二次
チェンバー10の場合Iこは一次チェンバー9の分、お
よび両チェンバーの仕切りを含めて7枚のA[板を通過
すること(こなるl板1枚を0.2朋厚とすれば、一次
チェンバー9では水等側深度1こて1.076mm、二
次チェンバー10では3.766mmの深さの線量を測
定していることIこ相当する。
0を線量モニタとすると、一次チェンバー9の電離空間
Iこ至るまで、放射線1は2枚のA[板を通過し、二次
チェンバー10の場合Iこは一次チェンバー9の分、お
よび両チェンバーの仕切りを含めて7枚のA[板を通過
すること(こなるl板1枚を0.2朋厚とすれば、一次
チェンバー9では水等側深度1こて1.076mm、二
次チェンバー10では3.766mmの深さの線量を測
定していることIこ相当する。
第3、図aおよび第4図a1こおいて、dlはこの水等
側深度の1.076朋、d2は3.766ynmを表わ
している。
側深度の1.076朋、d2は3.766ynmを表わ
している。
ここでdおよびd2の深さ1こおいて、エネルギ−(こ
対して深部率曲線上の点をプロットしたのがX線の場合
第3図b1電子線の場合第4図すとなっている。
対して深部率曲線上の点をプロットしたのがX線の場合
第3図b1電子線の場合第4図すとなっている。
第3図b1こおいて、曲線には第3図aのd、 lこお
ける関係、曲線りはd21こおける関係である。
ける関係、曲線りはd21こおける関係である。
また、第4図すの曲線に′は第4図aのdl、曲線L′
はd2における関係である。
はd2における関係である。
この発明1こおいては、dlおよびd21こおいて深部
R量f:)’エネルギー1こ対して異なった傾きを持つ
こと1こ着目している。
R量f:)’エネルギー1こ対して異なった傾きを持つ
こと1こ着目している。
しかも、第3図a1第4図aの各曲線は測定される電離
電流の絶対値でなく、ビルド・アップ効果最大となる時
の値]こ対する百分率で表わされているため、dlまた
はd2のいずれか一方のみ)こおける線量測定では決し
てエネルギー・モニタIこならないこと1こ注目しなけ
ればならない。
電流の絶対値でなく、ビルド・アップ効果最大となる時
の値]こ対する百分率で表わされているため、dlまた
はd2のいずれか一方のみ)こおける線量測定では決し
てエネルギー・モニタIこならないこと1こ注目しなけ
ればならない。
そこで、この発明では次のよう1こしてこの問題点を克
服している。
服している。
すなわち、dllこおける線量をDl、d2における線
量をD2、ビルド・アップ効果最大の点でDmaxとす
る。
量をD2、ビルド・アップ効果最大の点でDmaxとす
る。
今、線量D1とD2の比としてDRを考えれば、
]こおける深部率曲線上の点)こ他ならない。
線量測定Iこおいて、百分率深部率曲線はあるエネルギ
ーの放射線)こ関しては一義的Iこ決定されるのである
から、この百分率深部基油線上の値をモニタしていれば
エネルギー測定が可能となるのである。
ーの放射線)こ関しては一義的Iこ決定されるのである
から、この百分率深部基油線上の値をモニタしていれば
エネルギー測定が可能となるのである。
dlおよびd21こおける線量の信号を得て、両者の比
をとることは第(1)式から明らかなよう1こ百分率深
部基油線上の点を測定していること(こ等しく、線量D
1.D2が変化してもエネルギーが一定であれば比DR
は常に一定の値となっており、しかもエネルギーが変化
した時は第3図すまたは第4図すから明らかなようIこ
第(1)式Iこおける比DRの値は変化する。
をとることは第(1)式から明らかなよう1こ百分率深
部基油線上の点を測定していること(こ等しく、線量D
1.D2が変化してもエネルギーが一定であれば比DR
は常に一定の値となっており、しかもエネルギーが変化
した時は第3図すまたは第4図すから明らかなようIこ
第(1)式Iこおける比DRの値は変化する。
したがって、比DRの値が放射線のエネルギーを表わす
量としてみなすことができ、エネルギーのモニタが可能
となるのである。
量としてみなすことができ、エネルギーのモニタが可能
となるのである。
この様子を第5図aおよび第5図blこ示す。
第5図aの曲線WはX線、第5図すの曲線Wは電子線の
場合を示している。
場合を示している。
この図ではエネルギーの低い領域では比DRが減少関数
となり、エネルギーのある値より高い領域で比DRが増
加関数となる。
となり、エネルギーのある値より高い領域で比DRが増
加関数となる。
電子ビームを加速して得る放射線のエネルギーは通常3
M e V以上のエネルギーが多く、第5図の比DR
が増加関数となっている領域に相当し、この領域では比
DRとエネルギーとの関係は一義的1こ定められるので
、この発明1こよるエネルギー・モニタができる。
M e V以上のエネルギーが多く、第5図の比DR
が増加関数となっている領域に相当し、この領域では比
DRとエネルギーとの関係は一義的1こ定められるので
、この発明1こよるエネルギー・モニタができる。
第(1)式の比DRを電気回路)こより計算する場合、
線量D1またはD2のいずれかの曲線を第3図すまたは
第4図すのグラフの縦軸にそって平行移動させれば任意
1こ比DRの大きさを定めることができ、比DFLのエ
ネルギーに対する傾きが最も急]こなる関係を求めるこ
とができる。
線量D1またはD2のいずれかの曲線を第3図すまたは
第4図すのグラフの縦軸にそって平行移動させれば任意
1こ比DRの大きさを定めることができ、比DFLのエ
ネルギーに対する傾きが最も急]こなる関係を求めるこ
とができる。
第6図は上記原理(こ基づくこの発明の一実施例を示す
ブロック図である。
ブロック図である。
第6図1こおいて、20は一次チェンバー9の電離電流
の電圧変換および増幅回路、21は二次チェンバー10
の電離電流Iこ関し前記増幅回路20と同じ機能を持つ
増幅回路、22は前記増幅回路20の出力レベルを平行
移動させるためのレベル変換器で、増幅回路21の出力
側!こ接続されてもよい。
の電圧変換および増幅回路、21は二次チェンバー10
の電離電流Iこ関し前記増幅回路20と同じ機能を持つ
増幅回路、22は前記増幅回路20の出力レベルを平行
移動させるためのレベル変換器で、増幅回路21の出力
側!こ接続されてもよい。
23は前記増幅回路21よりレベル変換器22の出力の
比をとるための割算回路および必要であれば増幅回路で
あり、X線または電子線の場合1こよって適宜出力レベ
ルを調整できるものとする。
比をとるための割算回路および必要であれば増幅回路で
あり、X線または電子線の場合1こよって適宜出力レベ
ルを調整できるものとする。
24はエネルギーを表示するメータまたはこれIこ類す
る表示系である。
る表示系である。
この構成lこよれば、一次チェンバー9と二次チェンバ
ー10の電離電流の比が得られるので、その値から放射
線エネルギーを測定することができる。
ー10の電離電流の比が得られるので、その値から放射
線エネルギーを測定することができる。
近時、医療用リニアツクでは2個の透過形イオン・チェ
ンバーを使用する例が増えているが、この発明のような
医療用リニアツクは勿論、医療用ベータトロンの他、そ
れらの非破壊検査機器のうち電子を加速する機能を有す
る放射線発生装置]こ広く利用できる。
ンバーを使用する例が増えているが、この発明のような
医療用リニアツクは勿論、医療用ベータトロンの他、そ
れらの非破壊検査機器のうち電子を加速する機能を有す
る放射線発生装置]こ広く利用できる。
以上詳細Iこ説明したように、この発明は放射線発生装
置に線量測定用1こ設けられた2個の透過形イオン・チ
ェンバーを用い、それらの計測した電離電流の比をとっ
て放射線のエネルギーを測定するよう1こしたので、放
射線のエネルギーが容易1こモニタできるので、異常の
発見1こ役立ち安心して放射線発生装置を利用できる。
置に線量測定用1こ設けられた2個の透過形イオン・チ
ェンバーを用い、それらの計測した電離電流の比をとっ
て放射線のエネルギーを測定するよう1こしたので、放
射線のエネルギーが容易1こモニタできるので、異常の
発見1こ役立ち安心して放射線発生装置を利用できる。
また、従来は放射線を発生しながら随時その放射線エネ
ルギーを測定することができなかったため、稼動中の重
要なパラメータを知ることができず、機械の特性を把握
できなかったが、この発明1こよれば、常1こ放射線の
エネルギーをモニタすることができる。
ルギーを測定することができなかったため、稼動中の重
要なパラメータを知ることができず、機械の特性を把握
できなかったが、この発明1こよれば、常1こ放射線の
エネルギーをモニタすることができる。
したがって、エネルギーの安定化を行う制御方式の確立
が容易である等の画期的な作用効果が得られる。
が容易である等の画期的な作用効果が得られる。
第1図は従来の医療用電子加速装置の一例を示す構成略
図、第2図a、bは第1図中の透過形イオン・チェンバ
ーの詳細を示す断面図および平面図、第3図aはX線の
水中深度の深部率特性図、第3図すはX線のエネルギー
1こ対する百分率深部線量の関係を示す図、第4図a、
bは電子線の場合の第3図a、bと同様な図、第5図a
はX線エネルギーlこ対する2個の透過形イオン・チェ
ンバーの出力の比関係を示す図、第6図はこの発明の一
実施例を示すブロック図である。 図中、9は一次チェンバー、10は二次チェンバー、2
0は電圧変換および増幅回路、21は増幅回路、22は
レベル変換器、23は割算回路、24は表示系である。 なお、図中の同一符号は同一または相当部分を示す。
図、第2図a、bは第1図中の透過形イオン・チェンバ
ーの詳細を示す断面図および平面図、第3図aはX線の
水中深度の深部率特性図、第3図すはX線のエネルギー
1こ対する百分率深部線量の関係を示す図、第4図a、
bは電子線の場合の第3図a、bと同様な図、第5図a
はX線エネルギーlこ対する2個の透過形イオン・チェ
ンバーの出力の比関係を示す図、第6図はこの発明の一
実施例を示すブロック図である。 図中、9は一次チェンバー、10は二次チェンバー、2
0は電圧変換および増幅回路、21は増幅回路、22は
レベル変換器、23は割算回路、24は表示系である。 なお、図中の同一符号は同一または相当部分を示す。
Claims (1)
- 1 電子ビームを加速して放射線を発生するととも1こ
、二重安全方式1こよる2個の透過形イオン・チェンバ
ーを備えた放射線発生装置]こおいて、前記放射線発生
装置の放射線の線束中心軸上1こ設置された前記2個の
独立なイオン・チェノバーの電離電流の比をとり放射線
エネルギーを得る回路を具備せしめたことを特徴とする
放射線エネルギー・モニタ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP50079869A JPS5824744B2 (ja) | 1975-06-26 | 1975-06-26 | ホウシヤセンエネルギ− モニタ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP50079869A JPS5824744B2 (ja) | 1975-06-26 | 1975-06-26 | ホウシヤセンエネルギ− モニタ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS523490A JPS523490A (en) | 1977-01-11 |
| JPS5824744B2 true JPS5824744B2 (ja) | 1983-05-23 |
Family
ID=13702206
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP50079869A Expired JPS5824744B2 (ja) | 1975-06-26 | 1975-06-26 | ホウシヤセンエネルギ− モニタ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5824744B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6051242A (ja) * | 1983-08-29 | 1985-03-22 | 三協アルミニウム工業株式会社 | カ−テンウオ−ル |
| JPS61282576A (ja) * | 1985-06-05 | 1986-12-12 | 株式会社竹中工務店 | ガラス板の取付構造 |
-
1975
- 1975-06-26 JP JP50079869A patent/JPS5824744B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS523490A (en) | 1977-01-11 |
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