JPS5824868B2 - 磁気バブルメモリ - Google Patents
磁気バブルメモリInfo
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- JPS5824868B2 JPS5824868B2 JP54500968A JP50096879A JPS5824868B2 JP S5824868 B2 JPS5824868 B2 JP S5824868B2 JP 54500968 A JP54500968 A JP 54500968A JP 50096879 A JP50096879 A JP 50096879A JP S5824868 B2 JPS5824868 B2 JP S5824868B2
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- G11C19/02—Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers using magnetic elements
- G11C19/08—Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers using magnetic elements using thin films in plane structure
- G11C19/0808—Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers using magnetic elements using thin films in plane structure using magnetic domain propagation
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- G11C19/0883—Means for switching magnetic domains from one path into another path, i.e. transfer switches, swap gates or decoders
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- Thin Magnetic Films (AREA)
- Magnetic Heads (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
先の問題に対する解は、隣接した磁気バブル層中のバブ
ルの移動に、開口をもつ二つの導電体層を用いる磁気バ
ブルメモリで実現される。
ルの移動に、開口をもつ二つの導電体層を用いる磁気バ
ブルメモリで実現される。
層はそれらを分離する絶縁材料層を有し、相互に分離さ
れた位置に配置された開口のパターンをもつ。
れた位置に配置された開口のパターンをもつ。
各導電体層は各層に印加される電流パルスに応答して、
それを横切る電流を流すよう合わされている。
それを横切る電流を流すよう合わされている。
異なるパルスはオフセット開口により規定される連続し
た位置へ移動させる。
た位置へ移動させる。
各瞬時における移動はパルスに応答するから、バブルは
各時点で任意のオーバドライブを受けることもできる。
各時点で任意のオーバドライブを受けることもできる。
さらに、二つの層中の開口の配置誤差は、伝搬周期の1
/4まで許容される。
/4まで許容される。
したがって、1ミクロンの現在可能な線幅では、4ミク
ロン回路が実現できる。
ロン回路が実現できる。
8ミクロン周期では各回6.3mmのチップの片側に、
25万ビツトのバブルチップが実現できる。
25万ビツトのバブルチップが実現できる。
4ミクロン周期の場合、同じ面積に百方ビットのチップ
が実現できる。
が実現できる。
第1図は本発明に従う磁気バブルメモリを表す概略図、
第2,6,7及び8図は第1図のメモリの一部分の概略
上面図、第3及び4図は第1図のメモリの一部分の拡大
上面図、第5及び11図は第1図のメモリの動作のパル
スダイアグラムを表す図、第9,10,14,15,1
6及び17図は第1図に示された型のメモリの一部の別
の上面図、第12及び13図は第1図のメモリの実際の
装置の一部を表す概略図である。 実施例の詳細な説明 第1図及び第2図は磁気バブルが移動可能な材料層11
を含む磁気バブルメモリ10を示す。 層11は典型的な場合、単結晶非磁性ガーネット基板上
にエピタキシャル成長させた磁性ガーネットの単結晶薄
膜から成る。 あるいは、ガラス基板上の無定形材料も、バブルメモリ
用として提案されている。 磁気バブル用の蛇行状の伝搬路が第1図では線13で示
され、第2,3及び4図ではより詳細に示されている。 一例としての試験回路では、14で導入されたバブルは
、15で検出される。 バブルは14において、第1図中で枠16で表された発
生パルス源により、よく理解されているパルスの印加さ
れたバブル発生器によって導入される。 ダイアモンド形領域17により表された拡大検出器は、
バブルが検出器18に移動するにつれ、バブルを拡大す
るように動作する。 検出器は第1図中に枠20で示された検出回路に、信号
を与える。 層11中をバブルがそれに沿って伝搬される伝搬路は、
独得の伝搬構造により規定される。 その構造は導電体材料の第1及び第2の層25及び26
から成る。 層は電気的な絶縁層27により分離されている。 しかし、以下での記述に便利なように、絶縁層27はデ
バイスの一端で省略されており、それによりこの一端に
おいて層25及び26間は直接接触する。 導電体材料の各層は、層中のくぼみから成るかあるいは
層を完全に貫通してもよい穴のパターンを含む。 長方形、長円形、円、正方形等々の形の開口が適当であ
る。 ここでは長円形の開口が示されている。 第3及び4図は各層中の長円形30(破線)及び長円形
31を含む層25及び26の一部を示す。 バブル用の伝搬路は、図示されたように、パターンが分
離されるように配置された二つの層25及び26中の開
ロバターンにより規定されている。 二極性のパルス■1及び■3、■2及び■4が第5図に
示されるように、重なりあうように、それぞれ層25及
び26に印加される。 第5図に示されるように、各電流パルスは具体的に特定
されている。 すなわち、層25に印加される正及び負のパルスはそれ
ぞれ■1.■3と名づけられ、一方層26に印加される
正及び負のパルスはそれぞれ■2.■。 とされている。また、第5図は具体的なパルス列すなわ
ち名前の順に11.■2.■3.■4の列を示している
が、以下で述べる理由により、パルス源70により他の
パルス列も発生できる。 以下で述べるようにして、二つの層25及び26に異な
るパルスを印加すると、たとえば第6図中の二方向性の
矢印で示されるように、各層中の軸に沿ってこれらの層
を流れる電流が発生する。 開口のある導電体層を流れる電流パルスに応答したバブ
ルの移動については、先に述べた米国特許第41434
19号及び第4143420号に十分詳細に述べられて
いる。 一般に、層中に開口又はそれと類似の構造が存在すると
、そうでない場合には一様である層中の電流に乱れが生
じ、局部的な電流の乱れは開口端近くにバブルを引きつ
げる磁界を発生する。 先に述べた二つの米国特許に記載されているように、電
流の流れはバブルの伝搬軸に平行又は直角にすることが
できる。 本発明においては、二つの米国特許で示された単一層の
代りに、二つの開口層が使用されている。 しかし、二つの層25及び26のそれぞれの中の開口は
、二つの層を流れる電流パルスに応答してバブルを移動
させるため、ずらしである。 たとえば、第5図に示された形の重畳パルスの単一周期
に応答して、開ロバターンの各周期(すなわち、オフセ
ット開口の対)中の四つの位置が占有される。 第7図は一周期に対する四つの位置PH、P’2゜P3
.P4を示す。 実線及び破線は説明のためにのみ、相互に端部をずらし
て示しである。 実線は層26中の開口に対応した位置を示し、破線は層
25中の開口位置を示す。 したがって、電流パルス■1 に応答して層25中に
電流が流れると、先に述べた米国特許に述べられたよう
な層を貫く開口により規定された層25中の点P1 に
、′バブル吸引〃位置が発生する。 そのため、バブルは位置P1に移動する。 層26中にパルス■2が発生すると、層26を貫く開口
により規定されたP2へ、バブル吸引位置は移動し、バ
ブルは新しい位置P2へ移動する。 二つの層に残りのパルスを印加するのに応答して、バブ
ルは位置P3及びP4へ連続して移動する。 パルス列を(り返し印加すると、オフセット開口の連続
した周期を経て、バブルは連続して移動する。 先に述べたように、ここで述べる装置においては、はる
かに速い動作が実現される。 その場合、バブルの各移動は単−開口層を用いる従来技
術と異り、電流パルスに応答して起る。 従来技術においてはバブルの移動は、たとえばバブル層
中のイオン注入領域である恒久的におかれた静止位置へ
のバブルの吸引により行われる。 第1図及び第2図に示された直線路とともに回転伝搬路
及び閉ループ伝搬路は、単に層25及び26中の開口の
適切な配置により実現される。 第8図は角を含む閉ループ用の連続した位置の拡大した
図である。 各周期の位置は、やはりPl。P2.P3及びP4と印
されている。 第8図中で、長円30,31,32及び33で示された
開口は、相互に横に置かれ、長円35,36,37及び
38により示された開口は、バブルの伝搬軸に配置され
ているが、この軸に沿って相互にずらしであることに注
意されたい。 残りの開口のそれぞれは付随した開口に対し、横方向に
ずらして配置されている。 バブルは第8図に印された連続した位置により規定され
た一般に長円の伝搬路に従う。 図かられかるように、バブルの移動は時計方向である。 しかし、パルス列を逆にすると、反時計方向の移動にな
る。 隣接した導電体層中の付随した開口に対する開口の位置
は、磁界勾配の連続性と各時点でのバブルの正確な移動
を決定する。 相対的な配置は一対の開口がバブル移動の軸に沿って、
相互にずらしたように、すなわち相互に又は両方が横方
向にずらしたようにすることができる。 第9図は第8図に示された形の閉ループからの転送動作
を可能にする開ロバターンの配置を示す。 (各垂直線すなわち実線及び破線はそれぞれ層26及び
25を貫く長円形開口を表す)通常の伝搬パルス列(す
なわち、第5図に示されるように、パルス■1.■2.
■3.■4のその順での列)は位置40においてバブル
の移動を始め、位置P2゜P3.P445.P、a、P
241.P3.P446゜PI 5 P2 、P3 、
P4を順次経て、位置43で終る。 しかし、もしバブルの1転送出力〃動作を望むなら、す
なわち、位置40でバブルの転送を始め、位置43では
なく位置44へ転送させることを望むなら、異なる駆動
パルス列すなわち■2.■3゜■4,11a、■2.■
1b、■4.■1c、■2.I3゜■4 が用いられる
。 (以下の記述を著しく容易にするため、添字たとえばパ
ルス■1aの場合のゝa〃は、伝搬路が記述されている
バブルに対する電流パルスにより生じる特定のバブル吸
引位置を示すのに、用いられる。 )したがって、位置40から始まるバブルは、位置P2
、P3 、P445 。 Pla、P241 jPlb tP4 42tP1c、
P2+P3.P4の列に進む。 位置41はPla までよりPlbに近く、したがって
パルス列’lb、■4は41からPla 、45へと逆
方向ではなく、位置41からPlb 、42へとバブル
を移動させる。 同様の理由により、パルス列■1c、■2は42がら逆
向きのPlbではなく、P1cヘパプルを移動させる。 したがって、パルス列■1b、■4゜■、。 、■2を通常の列■3.■4.■1.■20代りにする
と、位置43ではなく位置44へのバブルの転送が起る
。 通常の電流パルス列の代りに、′転送パルス“列が印加
されている間、転送用の位置にないメモリ中の他のバブ
ルは、転送パルス列により単に最初そのはじめの位置か
ら離れ、その後そこに戻るだけである。 したがって、バブルの通常の動きは、。通常のパルス列
を再開すると再開される。 第10図はバブルの移動をさらに柔軟にできるように配
置された開口(垂直の線で示された)のパターンを示す
。 具体的にはパターンは90度の回転とともに、X及びy
軸に同時にバブルを移動。 させる。 第5図の正規のパルス列に応答して、通常の位置P1.
P2.P3の列に続き、異なるバブルは第10図中のy
軸に沿って底部から最上部へ、y軸に沿って左から右へ
同時に移動する。 開口50.51.52,53及び54はバブルを90度
回転を経て移動させる位置の列を規定し、P253はP
352よりもP354により近いため、バブルは開口5
3のP2から開口52のP3ではなく、開口54のP3
へ移動する。 ここで用いた形の電流パルス列の発生源及び制御源は周
知のものである。 第1図中の枠70は層に対しそのようなパルスを発生す
る源を表す。 源70は第1図中の枠71により表される制御回路の制
御下で、動作する。 バブルを所望の動作直径に維持するためのバイアス磁界
源は、第1図の枠72で表されている。 伝搬パルス源70は第11図に示された形の電流波形を
出す矩形波電圧駆動から成ってもよい。 電圧波形VTは第12図中の点80において供給される
。 図示されているように、層25及び26は相互に電気的
には平行であるが、容量81及びインダクタンス82と
はそれぞれ直列になっている。 この構成はバブルを伝搬するのに必要な方式で、層25
及び26に本質的に第5図の波形を印加するように、イ
ンダクタンスと容量の間でエネルギーをスイッチするよ
うに動作する。 本発明のこの実施例において、各層25及び26中に本
質的に均一な電流全体の流れを実現することが重要であ
る。 第13図は導電体被膜87を有するファイバ板86を示
す。 被膜87は第13図の底部に示すように接地されている
。 被膜87は外部との電気的接続用に適したその中に規定
された導電体の島88,89,90,9L92.93に
分割されている。 磁気バブルメモリチップ95が層25及び26を上部に
伴い板の上に置かれている。 活性領域ARは200X600個の8ミクロン周期のo
ooooビットメモリを含む。 接地導電体被膜87と二つの導電体層25及び26の間
を接続部96を経て多数の接続がされており、また先に
述べたように、二つの層25及び26が相互に接触して
いるチップ端を接続している。 伝搬パルス源70と各層25及び26間の電気的接続は
、それぞれ島88及び89と接続部100及び101を
経て行われている。 チップ95のこの端部において、二つの層25及び26
は相互に電気的に分離されており、(島103における
)層25への接続は、層26を貫く窓を通してされてい
る。 島91及び92は、拡大されたバブルの伝搬路の伝搬路
の拡大−検出部中における典型的な場合く−マロイ磁気
抵抗検出帯を相互接続している。 外部接続は第1図の検出回路20及び制御回路71にさ
れており、後者は検出器に質問パルスを印加する。 島93は第1図の源16に接続されている。 第1図の位置14におけるバブル発生器及び消滅器への
内部電気接続は、導電体106を通して島93と島10
50間で作られている。 島105は電気的には層25の一部である。 磁気抵抗検出器;拡大−検出器、バブル発生器及び消滅
器は、周知の形のものでよい。 一実施例において、第1図及び第2図に示された形の磁
気バブルメモリは、1.7ミクロンの厚さのYSmCa
Gf)磁性薄膜で形成された。 薄膜は単結晶非磁性ガドリニウムガーネットの基板上に
、エピタキシャル成長させた。 重量が96%のAI、4%のCuから成る導電体層が、
ガーネット層の表面上に形成された。 導電体層25は0.25ミクロンの厚さを有した。 0.15ミクロンの厚さの5i02層が第1の導電体層
上に形成され、第2の導電体層26が酸化膜上に形成さ
れた。 第2の導電体層は0.38ミクロンの厚さと、層25と
同様の組成を有した。 4ミクロン×3ミクロンの長円形の開口がスオトエッチ
ング技術により形成された。 第1層中の開口は、5i02層の形成前に作られた。 伝搬パルス源はパルス間にゼロ電流の分離をせず、シー
ト導電体の1ミクロン幅当り2ミリアンペアの密度で、
電流パルスを供給した。 1メガヘルツの高周波動作が実現された。 バブル伝搬路をまたぎ、次第に増大する溝を用いた拡大
−検出器は、名目1.7ミクロンの直径から30ミクロ
ンの長さの帯状ドメインまで、バブルを拡大した。 たとえば、第1の導電体層下にありそれから絶縁された
薄膜(300人)磁気抵抗検出器は、2ミリボルトの出
力を示した。 第13図に示された全体の構成を用いた。 活性領域(第13図のAR)は100000ピツトを含
んだ。 第14図は1971年6月のS cientif ic
Americanの89ページに示された形の論理デバ
イス用に適したバブル交換器の概略的な上面図を示す。 第14図は一対の導電体層124及び125中の開口に
よって規定されたバブル伝搬チャネル12L122及び
123を示し、それらはバブルのパターンを開口130
及び131に移動させるように動作する。 これらの開口のそれぞれは、3本のすべてのチャネルと
相互作用をさせるのに十分な横方向の長さを有する。 1ないし複数のチャネルに沿って進められるバブルは、
開口130及び131において発生する磁気勾配の影響
で進められる。 開口132及び133゜134及び135は図示された
ような形状にされ、そのためもし単一のバブルのみが特
定の動作周期中3本のチャネルに沿って進む場合には、
そのバブルはそれが進むにつれ、軸136の方におし進
められる。 そのバブルは開口137における磁界により、電流パル
ス■2.■3、及び■4 の間に、位置140まで最終
的に進められる。 一方、特定の周期中二つのチャネル121゜122又は
123のそれぞれにバブルが存在すると、両方のバブル
はバブル間の反撥力により、位置140に到達できない
。 その結果、この例ではバブルは最終的には位置141及
び142に現れる。 第15図、第16図及び第17図は3本すべてのチャネ
ル中のバブルは、いずれかの2本のチ□ャネル中のバブ
ル及びいずれか1本のチャネル中のバブルのそれぞれの
各種機能を表す。 第14図の装置の動作は横方向に延びた開口130及び
131において発生する横方向に延びた磁界勾配の影響
下で、バブルの物理的な拡大を防止するため、比較的高
い磁気バイアスの使用を必要とする。 逆に、より小さな磁気バイアスを用いると、バブルの横
方向の拡大が起り、第14図の装置はそのような例では
拡大−検出器として使用できる。 □ バブルメモリの一部分のみがここで述べた技術に従
い作製する必要があることを理解すべきである。 他の部分はここで用いた方式と両立するように、たとえ
ば単一開口導電体とオフセット磁界で動作するように作
製すればよい。 また、ここで述べた二方向の電流の代りに、導電体層の
平面内で回転する電流ベクトルをそれにそって生ずるよ
うに、層には異なる位置でパルスが印加できる。 本発明の応用について、ここではパーマロイ要素システ
ムの典型的な通常のバブル間隙を用いた動作のみを述べ
たが、ここで述べた伝搬手段は、1977年10月4日
に特許された米国特許第405271’1号に示された
形のバブル格子構造にも応用できる。 たとえば、バブル格子全体はここで述べたような二つの
導電体レベルのそれぞれの中のオフセット環状開口のア
レイを用いて変形できる。 さらに、単一の入力と一対の出力を有する相互作用構造
は、これらのバブル状態にデータ蓄積がコード化されて
いる時必要な検出プロセスの一部として、S=0及びS
−1バブルを分離するのに使用できる。
第2,6,7及び8図は第1図のメモリの一部分の概略
上面図、第3及び4図は第1図のメモリの一部分の拡大
上面図、第5及び11図は第1図のメモリの動作のパル
スダイアグラムを表す図、第9,10,14,15,1
6及び17図は第1図に示された型のメモリの一部の別
の上面図、第12及び13図は第1図のメモリの実際の
装置の一部を表す概略図である。 実施例の詳細な説明 第1図及び第2図は磁気バブルが移動可能な材料層11
を含む磁気バブルメモリ10を示す。 層11は典型的な場合、単結晶非磁性ガーネット基板上
にエピタキシャル成長させた磁性ガーネットの単結晶薄
膜から成る。 あるいは、ガラス基板上の無定形材料も、バブルメモリ
用として提案されている。 磁気バブル用の蛇行状の伝搬路が第1図では線13で示
され、第2,3及び4図ではより詳細に示されている。 一例としての試験回路では、14で導入されたバブルは
、15で検出される。 バブルは14において、第1図中で枠16で表された発
生パルス源により、よく理解されているパルスの印加さ
れたバブル発生器によって導入される。 ダイアモンド形領域17により表された拡大検出器は、
バブルが検出器18に移動するにつれ、バブルを拡大す
るように動作する。 検出器は第1図中に枠20で示された検出回路に、信号
を与える。 層11中をバブルがそれに沿って伝搬される伝搬路は、
独得の伝搬構造により規定される。 その構造は導電体材料の第1及び第2の層25及び26
から成る。 層は電気的な絶縁層27により分離されている。 しかし、以下での記述に便利なように、絶縁層27はデ
バイスの一端で省略されており、それによりこの一端に
おいて層25及び26間は直接接触する。 導電体材料の各層は、層中のくぼみから成るかあるいは
層を完全に貫通してもよい穴のパターンを含む。 長方形、長円形、円、正方形等々の形の開口が適当であ
る。 ここでは長円形の開口が示されている。 第3及び4図は各層中の長円形30(破線)及び長円形
31を含む層25及び26の一部を示す。 バブル用の伝搬路は、図示されたように、パターンが分
離されるように配置された二つの層25及び26中の開
ロバターンにより規定されている。 二極性のパルス■1及び■3、■2及び■4が第5図に
示されるように、重なりあうように、それぞれ層25及
び26に印加される。 第5図に示されるように、各電流パルスは具体的に特定
されている。 すなわち、層25に印加される正及び負のパルスはそれ
ぞれ■1.■3と名づけられ、一方層26に印加される
正及び負のパルスはそれぞれ■2.■。 とされている。また、第5図は具体的なパルス列すなわ
ち名前の順に11.■2.■3.■4の列を示している
が、以下で述べる理由により、パルス源70により他の
パルス列も発生できる。 以下で述べるようにして、二つの層25及び26に異な
るパルスを印加すると、たとえば第6図中の二方向性の
矢印で示されるように、各層中の軸に沿ってこれらの層
を流れる電流が発生する。 開口のある導電体層を流れる電流パルスに応答したバブ
ルの移動については、先に述べた米国特許第41434
19号及び第4143420号に十分詳細に述べられて
いる。 一般に、層中に開口又はそれと類似の構造が存在すると
、そうでない場合には一様である層中の電流に乱れが生
じ、局部的な電流の乱れは開口端近くにバブルを引きつ
げる磁界を発生する。 先に述べた二つの米国特許に記載されているように、電
流の流れはバブルの伝搬軸に平行又は直角にすることが
できる。 本発明においては、二つの米国特許で示された単一層の
代りに、二つの開口層が使用されている。 しかし、二つの層25及び26のそれぞれの中の開口は
、二つの層を流れる電流パルスに応答してバブルを移動
させるため、ずらしである。 たとえば、第5図に示された形の重畳パルスの単一周期
に応答して、開ロバターンの各周期(すなわち、オフセ
ット開口の対)中の四つの位置が占有される。 第7図は一周期に対する四つの位置PH、P’2゜P3
.P4を示す。 実線及び破線は説明のためにのみ、相互に端部をずらし
て示しである。 実線は層26中の開口に対応した位置を示し、破線は層
25中の開口位置を示す。 したがって、電流パルス■1 に応答して層25中に
電流が流れると、先に述べた米国特許に述べられたよう
な層を貫く開口により規定された層25中の点P1 に
、′バブル吸引〃位置が発生する。 そのため、バブルは位置P1に移動する。 層26中にパルス■2が発生すると、層26を貫く開口
により規定されたP2へ、バブル吸引位置は移動し、バ
ブルは新しい位置P2へ移動する。 二つの層に残りのパルスを印加するのに応答して、バブ
ルは位置P3及びP4へ連続して移動する。 パルス列を(り返し印加すると、オフセット開口の連続
した周期を経て、バブルは連続して移動する。 先に述べたように、ここで述べる装置においては、はる
かに速い動作が実現される。 その場合、バブルの各移動は単−開口層を用いる従来技
術と異り、電流パルスに応答して起る。 従来技術においてはバブルの移動は、たとえばバブル層
中のイオン注入領域である恒久的におかれた静止位置へ
のバブルの吸引により行われる。 第1図及び第2図に示された直線路とともに回転伝搬路
及び閉ループ伝搬路は、単に層25及び26中の開口の
適切な配置により実現される。 第8図は角を含む閉ループ用の連続した位置の拡大した
図である。 各周期の位置は、やはりPl。P2.P3及びP4と印
されている。 第8図中で、長円30,31,32及び33で示された
開口は、相互に横に置かれ、長円35,36,37及び
38により示された開口は、バブルの伝搬軸に配置され
ているが、この軸に沿って相互にずらしであることに注
意されたい。 残りの開口のそれぞれは付随した開口に対し、横方向に
ずらして配置されている。 バブルは第8図に印された連続した位置により規定され
た一般に長円の伝搬路に従う。 図かられかるように、バブルの移動は時計方向である。 しかし、パルス列を逆にすると、反時計方向の移動にな
る。 隣接した導電体層中の付随した開口に対する開口の位置
は、磁界勾配の連続性と各時点でのバブルの正確な移動
を決定する。 相対的な配置は一対の開口がバブル移動の軸に沿って、
相互にずらしたように、すなわち相互に又は両方が横方
向にずらしたようにすることができる。 第9図は第8図に示された形の閉ループからの転送動作
を可能にする開ロバターンの配置を示す。 (各垂直線すなわち実線及び破線はそれぞれ層26及び
25を貫く長円形開口を表す)通常の伝搬パルス列(す
なわち、第5図に示されるように、パルス■1.■2.
■3.■4のその順での列)は位置40においてバブル
の移動を始め、位置P2゜P3.P445.P、a、P
241.P3.P446゜PI 5 P2 、P3 、
P4を順次経て、位置43で終る。 しかし、もしバブルの1転送出力〃動作を望むなら、す
なわち、位置40でバブルの転送を始め、位置43では
なく位置44へ転送させることを望むなら、異なる駆動
パルス列すなわち■2.■3゜■4,11a、■2.■
1b、■4.■1c、■2.I3゜■4 が用いられる
。 (以下の記述を著しく容易にするため、添字たとえばパ
ルス■1aの場合のゝa〃は、伝搬路が記述されている
バブルに対する電流パルスにより生じる特定のバブル吸
引位置を示すのに、用いられる。 )したがって、位置40から始まるバブルは、位置P2
、P3 、P445 。 Pla、P241 jPlb tP4 42tP1c、
P2+P3.P4の列に進む。 位置41はPla までよりPlbに近く、したがって
パルス列’lb、■4は41からPla 、45へと逆
方向ではなく、位置41からPlb 、42へとバブル
を移動させる。 同様の理由により、パルス列■1c、■2は42がら逆
向きのPlbではなく、P1cヘパプルを移動させる。 したがって、パルス列■1b、■4゜■、。 、■2を通常の列■3.■4.■1.■20代りにする
と、位置43ではなく位置44へのバブルの転送が起る
。 通常の電流パルス列の代りに、′転送パルス“列が印加
されている間、転送用の位置にないメモリ中の他のバブ
ルは、転送パルス列により単に最初そのはじめの位置か
ら離れ、その後そこに戻るだけである。 したがって、バブルの通常の動きは、。通常のパルス列
を再開すると再開される。 第10図はバブルの移動をさらに柔軟にできるように配
置された開口(垂直の線で示された)のパターンを示す
。 具体的にはパターンは90度の回転とともに、X及びy
軸に同時にバブルを移動。 させる。 第5図の正規のパルス列に応答して、通常の位置P1.
P2.P3の列に続き、異なるバブルは第10図中のy
軸に沿って底部から最上部へ、y軸に沿って左から右へ
同時に移動する。 開口50.51.52,53及び54はバブルを90度
回転を経て移動させる位置の列を規定し、P253はP
352よりもP354により近いため、バブルは開口5
3のP2から開口52のP3ではなく、開口54のP3
へ移動する。 ここで用いた形の電流パルス列の発生源及び制御源は周
知のものである。 第1図中の枠70は層に対しそのようなパルスを発生す
る源を表す。 源70は第1図中の枠71により表される制御回路の制
御下で、動作する。 バブルを所望の動作直径に維持するためのバイアス磁界
源は、第1図の枠72で表されている。 伝搬パルス源70は第11図に示された形の電流波形を
出す矩形波電圧駆動から成ってもよい。 電圧波形VTは第12図中の点80において供給される
。 図示されているように、層25及び26は相互に電気的
には平行であるが、容量81及びインダクタンス82と
はそれぞれ直列になっている。 この構成はバブルを伝搬するのに必要な方式で、層25
及び26に本質的に第5図の波形を印加するように、イ
ンダクタンスと容量の間でエネルギーをスイッチするよ
うに動作する。 本発明のこの実施例において、各層25及び26中に本
質的に均一な電流全体の流れを実現することが重要であ
る。 第13図は導電体被膜87を有するファイバ板86を示
す。 被膜87は第13図の底部に示すように接地されている
。 被膜87は外部との電気的接続用に適したその中に規定
された導電体の島88,89,90,9L92.93に
分割されている。 磁気バブルメモリチップ95が層25及び26を上部に
伴い板の上に置かれている。 活性領域ARは200X600個の8ミクロン周期のo
ooooビットメモリを含む。 接地導電体被膜87と二つの導電体層25及び26の間
を接続部96を経て多数の接続がされており、また先に
述べたように、二つの層25及び26が相互に接触して
いるチップ端を接続している。 伝搬パルス源70と各層25及び26間の電気的接続は
、それぞれ島88及び89と接続部100及び101を
経て行われている。 チップ95のこの端部において、二つの層25及び26
は相互に電気的に分離されており、(島103における
)層25への接続は、層26を貫く窓を通してされてい
る。 島91及び92は、拡大されたバブルの伝搬路の伝搬路
の拡大−検出部中における典型的な場合く−マロイ磁気
抵抗検出帯を相互接続している。 外部接続は第1図の検出回路20及び制御回路71にさ
れており、後者は検出器に質問パルスを印加する。 島93は第1図の源16に接続されている。 第1図の位置14におけるバブル発生器及び消滅器への
内部電気接続は、導電体106を通して島93と島10
50間で作られている。 島105は電気的には層25の一部である。 磁気抵抗検出器;拡大−検出器、バブル発生器及び消滅
器は、周知の形のものでよい。 一実施例において、第1図及び第2図に示された形の磁
気バブルメモリは、1.7ミクロンの厚さのYSmCa
Gf)磁性薄膜で形成された。 薄膜は単結晶非磁性ガドリニウムガーネットの基板上に
、エピタキシャル成長させた。 重量が96%のAI、4%のCuから成る導電体層が、
ガーネット層の表面上に形成された。 導電体層25は0.25ミクロンの厚さを有した。 0.15ミクロンの厚さの5i02層が第1の導電体層
上に形成され、第2の導電体層26が酸化膜上に形成さ
れた。 第2の導電体層は0.38ミクロンの厚さと、層25と
同様の組成を有した。 4ミクロン×3ミクロンの長円形の開口がスオトエッチ
ング技術により形成された。 第1層中の開口は、5i02層の形成前に作られた。 伝搬パルス源はパルス間にゼロ電流の分離をせず、シー
ト導電体の1ミクロン幅当り2ミリアンペアの密度で、
電流パルスを供給した。 1メガヘルツの高周波動作が実現された。 バブル伝搬路をまたぎ、次第に増大する溝を用いた拡大
−検出器は、名目1.7ミクロンの直径から30ミクロ
ンの長さの帯状ドメインまで、バブルを拡大した。 たとえば、第1の導電体層下にありそれから絶縁された
薄膜(300人)磁気抵抗検出器は、2ミリボルトの出
力を示した。 第13図に示された全体の構成を用いた。 活性領域(第13図のAR)は100000ピツトを含
んだ。 第14図は1971年6月のS cientif ic
Americanの89ページに示された形の論理デバ
イス用に適したバブル交換器の概略的な上面図を示す。 第14図は一対の導電体層124及び125中の開口に
よって規定されたバブル伝搬チャネル12L122及び
123を示し、それらはバブルのパターンを開口130
及び131に移動させるように動作する。 これらの開口のそれぞれは、3本のすべてのチャネルと
相互作用をさせるのに十分な横方向の長さを有する。 1ないし複数のチャネルに沿って進められるバブルは、
開口130及び131において発生する磁気勾配の影響
で進められる。 開口132及び133゜134及び135は図示された
ような形状にされ、そのためもし単一のバブルのみが特
定の動作周期中3本のチャネルに沿って進む場合には、
そのバブルはそれが進むにつれ、軸136の方におし進
められる。 そのバブルは開口137における磁界により、電流パル
ス■2.■3、及び■4 の間に、位置140まで最終
的に進められる。 一方、特定の周期中二つのチャネル121゜122又は
123のそれぞれにバブルが存在すると、両方のバブル
はバブル間の反撥力により、位置140に到達できない
。 その結果、この例ではバブルは最終的には位置141及
び142に現れる。 第15図、第16図及び第17図は3本すべてのチャネ
ル中のバブルは、いずれかの2本のチ□ャネル中のバブ
ル及びいずれか1本のチャネル中のバブルのそれぞれの
各種機能を表す。 第14図の装置の動作は横方向に延びた開口130及び
131において発生する横方向に延びた磁界勾配の影響
下で、バブルの物理的な拡大を防止するため、比較的高
い磁気バイアスの使用を必要とする。 逆に、より小さな磁気バイアスを用いると、バブルの横
方向の拡大が起り、第14図の装置はそのような例では
拡大−検出器として使用できる。 □ バブルメモリの一部分のみがここで述べた技術に従
い作製する必要があることを理解すべきである。 他の部分はここで用いた方式と両立するように、たとえ
ば単一開口導電体とオフセット磁界で動作するように作
製すればよい。 また、ここで述べた二方向の電流の代りに、導電体層の
平面内で回転する電流ベクトルをそれにそって生ずるよ
うに、層には異なる位置でパルスが印加できる。 本発明の応用について、ここではパーマロイ要素システ
ムの典型的な通常のバブル間隙を用いた動作のみを述べ
たが、ここで述べた伝搬手段は、1977年10月4日
に特許された米国特許第405271’1号に示された
形のバブル格子構造にも応用できる。 たとえば、バブル格子全体はここで述べたような二つの
導電体レベルのそれぞれの中のオフセット環状開口のア
レイを用いて変形できる。 さらに、単一の入力と一対の出力を有する相互作用構造
は、これらのバブル状態にデータ蓄積がコード化されて
いる時必要な検出プロセスの一部として、S=0及びS
−1バブルを分離するのに使用できる。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 その中を磁気バブルが移動可能な磁性層11と該磁
性層上にありそれを貫く開ロバターンを含む導電体の第
1層25とから成る磁気バブルメモリにおいて、該第1
層25上にあり中間の絶縁層27により全体的に該第1
層から絶縁された導電体の第2層26を含み、該第2層
26は、該第1層を貫(開口のパターンと共働し該第1
層及び第2層を電流が流れるのに応答して該磁性層中で
バブルを移動させるための開口のパターンを含むことを
特徴とする磁気バブルメモリ。 2 請求の範囲第1項に記載された磁気バブルメモリに
おいて、 該第1及び第2層は相互にわずかにずれた同様の開口の
パターンを含むことを特徴とする磁気バブルメモリ。 3 請求の範囲第1項に記載された磁気バブルメモリに
おいて、 該開口は本質的に長円形であることを特徴とする磁気バ
ブルメモリ。 発明の背景 磁気バブルメモリは当業者には周知である。 バブル移動の一様式は、導電体を用いるもので、196
9年8月5日に特許されたA、H6Bobeckらの米
国特許第3460116号に記載されている。 最近、新しい型のバブルメモリが発明されたがその場合
、開口のある導電体層が、それを横切って本質的に全体
として均一な電流が流れるように構成されている。 開口は電流の局部的な乱れを起し、それによりバブル移
動のための磁界勾配のパターンができる。 電流により発生した磁界勾配が停止した時、バブルが移
動していく静止位置から離れた位置に、開口が配置され
る。 したがって、二相動作が一方向性のバブル移動を起す。 この型のバブルメモリはともに1979年3月6日に特
許されたA、 H,Bobeckの米国特許第4143
419号及び第4143420号に記載されている。 この最近の型のメモリには、二つの問題のあることが特
徴である。 一つは導電体層中の開口に対する静止位置の配置である
。 静止位置は典型的な場合、イオン注入により規定され、
それにより生ずる領域は伝搬パターンの1/8周期(−
ゝ周期“は伝搬パターンがくり返しをする距離である。 )の許容度内で配置されなげればならない。 現在産業的に使用可能なフォトリングラフィ技術の場合
、1ミクロンの線幅により、8ミクロンの最小伝搬周期
を可能にする。 もちろん、より小さな周期が望ましい。 これらメモリに付随したもう一つの問題は、バブルの静
止位置への移動が、静止位置からの移動より低速度で行
われることである。 この理由は、バブルを静止位置からバブルを移動するの
に、大きな振幅の駆動パルスでオーバドライブできるこ
とである。 しかし、静止位置への移動が引きかえになる。 たとえば、もしオフセット位置と静止位置間のエネルギ
ー差があまり太きいと、補償のため駆動パルスを増大せ
ねばならない。 これにより、大きなパワが必要になる。 一方、エネルギー差が小さいと、静止位置への比較的遅
いバブルの移動が行われることになる。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US05/914,959 US4162537A (en) | 1978-06-12 | 1978-06-12 | Magnetic bubble memory |
| US000000914959 | 1978-06-12 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS55500489A JPS55500489A (ja) | 1980-08-07 |
| JPS5824868B2 true JPS5824868B2 (ja) | 1983-05-24 |
Family
ID=25435003
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP54500968A Expired JPS5824868B2 (ja) | 1978-06-12 | 1979-06-05 | 磁気バブルメモリ |
Country Status (16)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4162537A (ja) |
| JP (1) | JPS5824868B2 (ja) |
| BE (1) | BE876869A (ja) |
| CA (1) | CA1119721A (ja) |
| DD (1) | DD144325A5 (ja) |
| DE (1) | DE2948918C1 (ja) |
| ES (1) | ES481485A1 (ja) |
| FR (1) | FR2428890A1 (ja) |
| GB (1) | GB2040124B (ja) |
| IE (1) | IE48158B1 (ja) |
| IT (1) | IT1121350B (ja) |
| NL (1) | NL7904568A (ja) |
| SE (1) | SE417653B (ja) |
| SU (1) | SU988200A3 (ja) |
| WO (1) | WO1980000113A1 (ja) |
| YU (1) | YU137079A (ja) |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4314358A (en) * | 1979-12-20 | 1982-02-02 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Segmented, conductor access, magnetic bubble memory |
| JPS56114191A (en) * | 1980-02-15 | 1981-09-08 | Nec Corp | Current-drive magnetic bubble element |
| US4345317A (en) * | 1980-07-25 | 1982-08-17 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Magnetic domain memory with Hall effect detector |
| FR2547098B1 (fr) * | 1983-05-30 | 1985-07-05 | Commissariat Energie Atomique | Dispositif de propagation de bulles magnetiques |
| WO1991006955A1 (fr) * | 1989-11-01 | 1991-05-16 | Spetsialnoe Konstruktorsko-Tekhnologicheskoe Bjuro Donetskogo Fiziko-Tekhnicheskogo Instituta Akademii Nauk Ukrainskoi Ssr | Canal de passage pour domaines magnetiques cylindriques |
| JPH04505519A (ja) * | 1991-06-10 | 1992-09-24 | スペツイアルノエ コンストルクトルスコー テクノロギチエスコエ ブユロ ドネソコゴ フイジーコーテフニチエスコゴ インスティテュタ アカデミイ ナウク ウクラインスコイ エスエスエル | 磁気バブルメモリーのためのデータストレッジ |
| WO1991012613A1 (fr) * | 1991-06-11 | 1991-08-22 | Spetsialnoe Konstruktorsko-Tekhnologicheskoe Bjuro Donetskogo Fiziko-Tekhnicheskogo Instituta Akademii Nauk Ukrainskoi Ssr | Canal de passage de domaines magnetiques cylindriques |
| JPH04505520A (ja) * | 1991-06-13 | 1992-09-24 | スペツィアルノエ コンストルクトルスコ―テフノロギチェスコエ ブユロ ドネツコゴ フィジコ―テフニチェスコゴ インスティテュタ アカデミイ ナウク ウクラインスコイ エスエスエル | 磁気バブル読出装置 |
| JPH04505521A (ja) * | 1991-06-14 | 1992-09-24 | スペツィアルノエ コンストルクトルスコ―テフノロギチェスコエ ブユロ ドネツコゴ フィジコ―テフニチェスコゴ インスティテュタ アカデミイ ナウク ウクラインスコイ エスエスエル | メモリ用記憶装置 |
| US6871023B2 (en) * | 2001-12-03 | 2005-03-22 | The Boeing Company | Spread polarization transmitter and associated system and method of operation |
| IT201700067128A1 (it) * | 2017-06-16 | 2018-12-16 | Sambusseti Antonio | Rivestimento conduttivo |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3925768A (en) * | 1973-12-27 | 1975-12-09 | Ibm | Gapless double-sided propagation structure for bubble domain devices |
| US3988722A (en) * | 1974-12-31 | 1976-10-26 | International Business Machines Corporation | Single sided, high density bubble domain propagation device |
| US4143419A (en) * | 1977-12-06 | 1979-03-06 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Magnetic bubble memory with single level electrically-conducting, drive arrangement |
| US4142249A (en) * | 1977-12-06 | 1979-02-27 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Conductor-access, magnetic bubble memory |
| US4143420A (en) * | 1977-12-06 | 1979-03-06 | Bell Telephone Laboratories Incorporated | Conductor-access, magnetic bubble memory |
-
1978
- 1978-06-12 US US05/914,959 patent/US4162537A/en not_active Expired - Lifetime
-
1979
- 1979-05-30 CA CA000328667A patent/CA1119721A/en not_active Expired
- 1979-06-05 WO PCT/US1979/000386 patent/WO1980000113A1/en not_active Ceased
- 1979-06-05 JP JP54500968A patent/JPS5824868B2/ja not_active Expired
- 1979-06-05 DE DE2948918T patent/DE2948918C1/de not_active Expired
- 1979-06-05 GB GB8004270A patent/GB2040124B/en not_active Expired
- 1979-06-07 FR FR7914528A patent/FR2428890A1/fr active Granted
- 1979-06-08 IT IT23413/79A patent/IT1121350B/it active
- 1979-06-08 BE BE0/195650A patent/BE876869A/xx not_active IP Right Cessation
- 1979-06-08 DD DD79213493A patent/DD144325A5/de unknown
- 1979-06-11 NL NL7904568A patent/NL7904568A/xx not_active Application Discontinuation
- 1979-06-11 YU YU01370/79A patent/YU137079A/xx unknown
- 1979-06-12 ES ES481485A patent/ES481485A1/es not_active Expired
- 1979-08-08 IE IE1131/79A patent/IE48158B1/en unknown
-
1980
- 1980-01-30 SE SE8000735A patent/SE417653B/sv unknown
- 1980-02-11 SU SU802878801A patent/SU988200A3/ru active
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| FR2428890B1 (ja) | 1984-12-21 |
| CA1119721A (en) | 1982-03-09 |
| DE2948918C1 (de) | 1982-04-08 |
| ES481485A1 (es) | 1980-01-16 |
| GB2040124A (en) | 1980-08-20 |
| IE791131L (en) | 1979-12-12 |
| SU988200A3 (ru) | 1983-01-07 |
| BE876869A (fr) | 1979-10-01 |
| US4162537A (en) | 1979-07-24 |
| WO1980000113A1 (en) | 1980-01-24 |
| SE417653B (sv) | 1981-03-30 |
| SE8000735L (sv) | 1980-01-30 |
| IE48158B1 (en) | 1984-10-17 |
| FR2428890A1 (fr) | 1980-01-11 |
| DD144325A5 (de) | 1980-10-08 |
| JPS55500489A (ja) | 1980-08-07 |
| YU137079A (en) | 1982-06-30 |
| IT1121350B (it) | 1986-04-02 |
| NL7904568A (nl) | 1979-12-14 |
| GB2040124B (en) | 1982-07-07 |
| IT7923413A0 (it) | 1979-06-08 |
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