JPS5826155B2 - 接触子のフリ−、ロツク装置 - Google Patents
接触子のフリ−、ロツク装置Info
- Publication number
- JPS5826155B2 JPS5826155B2 JP55157922A JP15792280A JPS5826155B2 JP S5826155 B2 JPS5826155 B2 JP S5826155B2 JP 55157922 A JP55157922 A JP 55157922A JP 15792280 A JP15792280 A JP 15792280A JP S5826155 B2 JPS5826155 B2 JP S5826155B2
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Links
- 241000207961 Sesamum Species 0.000 description 24
- 235000003434 Sesamum indicum Nutrition 0.000 description 24
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 11
- 238000002513 implantation Methods 0.000 description 4
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 3
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 3
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 210000000078 claw Anatomy 0.000 description 1
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000011056 performance test Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Connecting Device With Holders (AREA)
- Coupling Device And Connection With Printed Circuit (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はICソケットとICパッケージの如き、雌接触
子と雄接触子の接触と接触解除に好適に用いられる接触
子のフリー・ロック装置に関する。
子と雄接触子の接触と接触解除に好適に用いられる接触
子のフリー・ロック装置に関する。
接触子のフリー・ロック装置は例えばICの無負荷着脱
装置等として多く採用されているが、これまでのこの種
フリー・ロック装置としては植込接触子をスライド板の
カム孔に貫装させ、該スライド板を屈曲部を有するカム
シャフトの操作により横動又は上下動させる等して、接
触子をそのカム孔内で開閉させる方式が代表例として上
げられるが、このスライド板方式はスライド板の介在に
よって厚みが増加すること、接触子をスライド板のカム
孔内で正確な開閉規制位置に案内する製作精度が要求さ
れること、スライド板のスライドに必要な左右デッドス
ペースが生ずること、接触子の接片が強制的に開閉され
るため弾性劣化や変形を生ずる恐れや、スライド操作が
重い等の欠点がある。
装置等として多く採用されているが、これまでのこの種
フリー・ロック装置としては植込接触子をスライド板の
カム孔に貫装させ、該スライド板を屈曲部を有するカム
シャフトの操作により横動又は上下動させる等して、接
触子をそのカム孔内で開閉させる方式が代表例として上
げられるが、このスライド板方式はスライド板の介在に
よって厚みが増加すること、接触子をスライド板のカム
孔内で正確な開閉規制位置に案内する製作精度が要求さ
れること、スライド板のスライドに必要な左右デッドス
ペースが生ずること、接触子の接片が強制的に開閉され
るため弾性劣化や変形を生ずる恐れや、スライド操作が
重い等の欠点がある。
而して、本発明はこれらスライド板方式を改め、後述の
実施例にて詳述する如く、絶縁基板への植込脚部を支持
点として撓み性を付与された接触子の植込脚部上部を回
動ごまで保持させ、該回動ごまに設けた嫡子の回動操作
により上記接触子を接触解除位置と接触位置とに変位さ
せる構成として、ICリード等の端子に対する該接触子
のフリー・ロック操作を行なうようにしたことを特徴と
する。
実施例にて詳述する如く、絶縁基板への植込脚部を支持
点として撓み性を付与された接触子の植込脚部上部を回
動ごまで保持させ、該回動ごまに設けた嫡子の回動操作
により上記接触子を接触解除位置と接触位置とに変位さ
せる構成として、ICリード等の端子に対する該接触子
のフリー・ロック操作を行なうようにしたことを特徴と
する。
図面は回動ごまによる上記各位置への節度保持機構の最
適実施例を示しており、図において、1は上記基板2へ
の植込脚部3を支持点として撓み性を付与された接触子
、4は該接触子1の植込脚部上部を保持せる上記定支点
回動ごま、5は該回動ごまの側部柱面より突設された上
記回動操作用つまみに夫々相当する。
適実施例を示しており、図において、1は上記基板2へ
の植込脚部3を支持点として撓み性を付与された接触子
、4は該接触子1の植込脚部上部を保持せる上記定支点
回動ごま、5は該回動ごまの側部柱面より突設された上
記回動操作用つまみに夫々相当する。
図示の実施例は上記接触子1を絶縁基板2に列設された
接続孔7に多数植込み、上記回動ごま4を数個の接触子
を単位として、各単位毎に設けた場合を示している。
接続孔7に多数植込み、上記回動ごま4を数個の接触子
を単位として、各単位毎に設けた場合を示している。
第1、第2図はその一単位を摘示している。
絶縁基板2の接続孔7は左右二列配され、各接続孔7に
上記接触子1が縦に仕込まれ、その圧入脚部3を以って
接続孔7の底壁に圧入植込する。
上記接触子1が縦に仕込まれ、その圧入脚部3を以って
接続孔7の底壁に圧入植込する。
接触子1は該植込脚部3下に突設したプリント基板等へ
の接続脚部9を備えると共に、植込脚部3上に起立させ
た可撓脚部10を備え、該可撓脚部10を介して挟接構
造の接触部11が設けられ、これを上記接続孔7の開口
部下に位置させ、該接続孔7に挿入されたI CIJ−
ド等の接続端子との接触を得る構成となっている。
の接続脚部9を備えると共に、植込脚部3上に起立させ
た可撓脚部10を備え、該可撓脚部10を介して挟接構
造の接触部11が設けられ、これを上記接続孔7の開口
部下に位置させ、該接続孔7に挿入されたI CIJ−
ド等の接続端子との接触を得る構成となっている。
図面はICソケットとICパッケージの接続機構が示さ
れ、図中8は上記接続孔7に差し込まれた二種類のIC
パッケージのリードを重畳して示している。
れ、図中8は上記接続孔7に差し込まれた二種類のIC
パッケージのリードを重畳して示している。
第1図、第3図は該I CIJ−ド8と上記接触子1の
接触解除状態(フリー状態)を示し、第2、第4図は同
接触状態(ロック状態)、即ちI CIJ−ド8を接触
部11に差し挟み、電気的接続を果たした状態を示して
いる。
接触解除状態(フリー状態)を示し、第2、第4図は同
接触状態(ロック状態)、即ちI CIJ−ド8を接触
部11に差し挟み、電気的接続を果たした状態を示して
いる。
接触子1は上記可撓脚部10によって可撓性が付与され
、上記各位置への変位が許容される。
、上記各位置への変位が許容される。
前記回動ごま4は既述の通り、接触子1の上記各位置へ
の変位を強制的に行なわせる作用を司どる。
の変位を強制的に行なわせる作用を司どる。
回動ごま4は図示のように数個の接続孔7を単位として
各孔間を横断する如く基板2内に組込まれる。
各孔間を横断する如く基板2内に組込まれる。
各回動ごま4が横断する接続孔7に植込まれた接触子1
はその植込脚部3上部を該回動ごま4に貫装保持させる
。
はその植込脚部3上部を該回動ごま4に貫装保持させる
。
接触子1を回動ごまに保持させるため、その接触部11
の直下、換言すれば可撓脚部10の上部に係入板部13
を延設し、これを回動ごま4の中心部に上下方向に貫設
した接触子貫装孔14に圧入させると共に、係入板部1
3の板面から切起した爪片15を孔内壁に形成した段部
に係合させ上下の位置ずれを規制する。
の直下、換言すれば可撓脚部10の上部に係入板部13
を延設し、これを回動ごま4の中心部に上下方向に貫設
した接触子貫装孔14に圧入させると共に、係入板部1
3の板面から切起した爪片15を孔内壁に形成した段部
に係合させ上下の位置ずれを規制する。
係入板部13には縦方向の切割17を開穿し、上記圧入
に伴なう弾性を床布させると共に、該切割17内に可撓
脚部10を延ばし、自由撓み性を許容する。
に伴なう弾性を床布させると共に、該切割17内に可撓
脚部10を延ばし、自由撓み性を許容する。
該可撓脚部10は好ましくは回動ごまの回動支点P又は
回動支点付近から係入板部13と一体に延設し、回動ご
ま4の回動に伴なう可撓脚部10の上下方向への引張と
縮小、即ち撓ま量を最少限に止める。
回動支点付近から係入板部13と一体に延設し、回動ご
ま4の回動に伴なう可撓脚部10の上下方向への引張と
縮小、即ち撓ま量を最少限に止める。
前記各回動ごま4の嫡子5は接続孔7の列と直交する如
く突設され、接続孔7の列に沿う基板外側面に穿けたつ
まみガイド孔12より外部に突出される。
く突設され、接続孔7の列に沿う基板外側面に穿けたつ
まみガイド孔12より外部に突出される。
つまみガイド孔12は嫡子5の上下定ストロークの回動
を許容し、該嫡子5の上下回動によって上下回動ごま4
を支点Pを中心として時計方向、反時計方向に回動させ
る。
を許容し、該嫡子5の上下回動によって上下回動ごま4
を支点Pを中心として時計方向、反時計方向に回動させ
る。
この回動ごま4の回動により、その回動力向に応じ、こ
れに保持された接触子1を接触位置と接触解除位置とに
変位させる。
れに保持された接触子1を接触位置と接触解除位置とに
変位させる。
即ち、図示の実施例においては嫡子5をつまみガイド孔
12の規制下でその上限まで回動させると、回動ごま4
が同方向に定回動され、この定回動に伴ない接触子1が
同方向に変位され、接続孔7に挿入されたI CIJ−
ド8をその接触部11内に弾接下で挟み込み、接触状態
(ロック状態)となる(第2図、第4図)。
12の規制下でその上限まで回動させると、回動ごま4
が同方向に定回動され、この定回動に伴ない接触子1が
同方向に変位され、接続孔7に挿入されたI CIJ−
ド8をその接触部11内に弾接下で挟み込み、接触状態
(ロック状態)となる(第2図、第4図)。
又嫡子5をガイド孔12の下限まで回動させ回動ごま4
を上記とは逆方向に定回動させることにより、これに保
持された接触子1が上記とは逆方向に変位され、ICリ
ード8から離脱する。
を上記とは逆方向に定回動させることにより、これに保
持された接触子1が上記とは逆方向に変位され、ICリ
ード8から離脱する。
即ち接触解除状態となり、ICリード8をフリー状態と
する。
する。
この結果ICパッケージは無負荷で抜去又は再挿入が可
能となる。
能となる。
好ましくは上記I CIJ−ド8等の接続端子は回動ご
ま4の中心たる回動支点Pを通る垂線の内側(嫡子側を
外側とする)に挿入されるようにし、回動ごま4を上記
接触位置に回動させた場合に、これと共に回動変位する
接触部11の摺接回動力によって下方向(接続孔7の底
部方向)に引込まれるようにする。
ま4の中心たる回動支点Pを通る垂線の内側(嫡子側を
外側とする)に挿入されるようにし、回動ごま4を上記
接触位置に回動させた場合に、これと共に回動変位する
接触部11の摺接回動力によって下方向(接続孔7の底
部方向)に引込まれるようにする。
各回動ごま4は好ましくは図示のように円柱形とし、接
続孔7をえぐるようにして形成した接続孔7の列を貫通
せる軸孔16に滑合させ、該滑合面で回動ごま4を安定
に支え円滑なる回動を保障する。
続孔7をえぐるようにして形成した接続孔7の列を貫通
せる軸孔16に滑合させ、該滑合面で回動ごま4を安定
に支え円滑なる回動を保障する。
而して、本発明は以上説明したように、基板2の側面に
突出させた嫡子5の回動操作による回動ごま4の回動の
みでこれに保持させた接触子1の接触位置と接触解除位
置への変位が容易且つ確実に得られ、接触子1のフリー
・ロック装置が簡単且つ合理的に構成できる。
突出させた嫡子5の回動操作による回動ごま4の回動の
みでこれに保持させた接触子1の接触位置と接触解除位
置への変位が容易且つ確実に得られ、接触子1のフリー
・ロック装置が簡単且つ合理的に構成できる。
従来のスライド板方式と異なり、嫡子5をてことする回
動力式であるから、操作が頗る軽快且つ正確で、不良接
触や、不完全解除を確実に防止できる。
動力式であるから、操作が頗る軽快且つ正確で、不良接
触や、不完全解除を確実に防止できる。
しかもスライド板を介在させる場合に比べ、嵩高となら
ず、回動ごま自身は基板2内で回動するのみで基板の接
続孔の列端方向へ突出することがない。
ず、回動ごま自身は基板2内で回動するのみで基板の接
続孔の列端方向へ突出することがない。
従って例えば絶縁基板2をその接続孔7方向へ複連につ
なぎ、その上に数個のICパッケージを塔載することが
屡々あるが、本発明によれば基板端面を接合させること
が可能で、複連連結が支障なく行なえる。
なぎ、その上に数個のICパッケージを塔載することが
屡々あるが、本発明によれば基板端面を接合させること
が可能で、複連連結が支障なく行なえる。
更に、本発明によれば、既述のように回動ごま4を数個
の接触子1を単位として、単位毎に設けることができ、
単位毎の回動ごま4により接触又は接触解除操作、単位
毎のICパッケージの着脱等が自在にできる。
の接触子1を単位として、単位毎に設けることができ、
単位毎の回動ごま4により接触又は接触解除操作、単位
毎のICパッケージの着脱等が自在にできる。
このように単位毎に回動ごまを設ければ操作はより軽快
なものとなり、ICパッケージの性能試験等でmmこ大
量の着脱を行なわなければならない作業者の疲労を著し
く軽減する。
なものとなり、ICパッケージの性能試験等でmmこ大
量の着脱を行なわなければならない作業者の疲労を著し
く軽減する。
同図の実施例においても基板2の一端に連結はぞ18を
、他端にほぞ穴19を夫々設け、上記複連の基板連結を
可能にした場合を示している。
、他端にほぞ穴19を夫々設け、上記複連の基板連結を
可能にした場合を示している。
図面は本発明の実施例を示し、第1図、第2図は回動ご
まによる接触子のフリー・ロック機構を摘出して示す斜
面図である。 第1図はI CIJ−ドと接触子の接触解除状態、第2
図は同接触状態を示し、第3図、第4図は回動ごまによ
る接触子のフリー・ロック部構を接触子植込用絶縁基板
を断面して示す拡大図であり、第3図はI CIJ−ド
と接触子の接触解除状態、第4図は同接触状態を示し、
第5図は上記フリー・ロック機構を備える接触子植込用
絶縁基板の全体平面図、第6図は同正面図、第7図は同
側面図、第8図は接触子の正面図である。 1・・・・・・接触子、2・・・・・・接触子植込用絶
縁基板、3・・・・・・接触子の植込脚部、4・・・・
・・接触子変位用の回動ごま、5・・・・・・同操作摘
子、7・・・・・・接触子を植込んだ接続端子挿入用接
続L
まによる接触子のフリー・ロック機構を摘出して示す斜
面図である。 第1図はI CIJ−ドと接触子の接触解除状態、第2
図は同接触状態を示し、第3図、第4図は回動ごまによ
る接触子のフリー・ロック部構を接触子植込用絶縁基板
を断面して示す拡大図であり、第3図はI CIJ−ド
と接触子の接触解除状態、第4図は同接触状態を示し、
第5図は上記フリー・ロック機構を備える接触子植込用
絶縁基板の全体平面図、第6図は同正面図、第7図は同
側面図、第8図は接触子の正面図である。 1・・・・・・接触子、2・・・・・・接触子植込用絶
縁基板、3・・・・・・接触子の植込脚部、4・・・・
・・接触子変位用の回動ごま、5・・・・・・同操作摘
子、7・・・・・・接触子を植込んだ接続端子挿入用接
続L
Claims (1)
- 1 植込脚部を支持点として撓み性を付与された接触子
の植込脚部上部を回動ごまで保持させ、該回動ごまに設
けた嫡子の回動操作により上記接触子を接触位置と接触
解除位置に変位させる構成としたことを特徴とする接触
子のフリー・ロック装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP55157922A JPS5826155B2 (ja) | 1980-11-10 | 1980-11-10 | 接触子のフリ−、ロツク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP55157922A JPS5826155B2 (ja) | 1980-11-10 | 1980-11-10 | 接触子のフリ−、ロツク装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5780682A JPS5780682A (en) | 1982-05-20 |
| JPS5826155B2 true JPS5826155B2 (ja) | 1983-06-01 |
Family
ID=15660386
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP55157922A Expired JPS5826155B2 (ja) | 1980-11-10 | 1980-11-10 | 接触子のフリ−、ロツク装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5826155B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4461525A (en) * | 1982-08-17 | 1984-07-24 | Wells Electronics, Inc. | Integrated circuit test socket |
-
1980
- 1980-11-10 JP JP55157922A patent/JPS5826155B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5780682A (en) | 1982-05-20 |
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