JPS582835A - 現像方法 - Google Patents

現像方法

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Publication number
JPS582835A
JPS582835A JP10051781A JP10051781A JPS582835A JP S582835 A JPS582835 A JP S582835A JP 10051781 A JP10051781 A JP 10051781A JP 10051781 A JP10051781 A JP 10051781A JP S582835 A JPS582835 A JP S582835A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
developer
substrate
resist
solvent
organic solvent
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP10051781A
Other languages
English (en)
Inventor
Katsuyuki Arii
有井 勝之
Shinya Kato
真也 加藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP10051781A priority Critical patent/JPS582835A/ja
Publication of JPS582835A publication Critical patent/JPS582835A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/26Processing photosensitive materials; Apparatus therefor
    • G03F7/30Imagewise removal using liquid means
    • G03F7/3021Imagewise removal using liquid means from a wafer supported on a rotating chuck

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
  • Formation Of Insulating Films (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 不発−は現像方法、特に微細・櫂ターンを形成する際に
実施する現像方法に関する。
LIIIO高度集積化にともない黴1@Aターン形成も
高度O技術が必要となって来た。従来、徽JllAメー
ンty#威す4111に実施する現像方法は第1WAに
示1れゐような浸漬法(Up方式)又社第2図に示され
為ようeスフレ−法が番る。すなわち5111図におい
て、ホトレゾストを塗布した後/々ターンに合わせて露
光せしめられた基板(以後禎処理基板と称する)1が容
Wh2内の現像液の有機溶剤液3中に浸漬せしめられて
いる。この浸漬による現像方法では使用回数が多くなる
につれ現像液の濁れが増しレゾスFの残渣、薄皮残9、
有機物の付着等の問題が多い、tた第2図において、被
処理基板IKスゲレーヤー4を用いて現像液3が噴射せ
しめられている。この方式では第1図の1isp方式よ
りは轟然のことながらレジスト残渣、薄皮残多岬の少な
い夷好なレジスト/昔ターンを得ゐことが出来、を九現
倫時間も一1p方式に比べ短縮することができる。しか
しながら現像液の使用量が第1!glIID方法と比べ
、2〜!S倍となりコスト増につながる。
本発明の目的は処理時間の短いしかも現像液の使用量が
少ない現像方法を提供することである。
本発明の他の@的は非常にシャーグなレゾスト形状が得
られ且つファインΔターンの形成が可能なiI儂方法を
提供することである。
不発WOS的は微細Δターンを形成するために基横上に
塗布され九レジストを露光した後に有機溶剤を用いて現
像を行なう現像方法において前配露光工11011に被
処理基板を有機溶剤のガス雰囲気中に載置し、次に前記
有機溶剤を用いてスプレ一方式によ***を行なう現像
方法によって達成される。
本発明は纏り方式を取り入れずに、1部にスプレ一方式
を取)入れえものである。すなわちスプレ一方式O曽処
瑠として被処理基It管現像液である有機溶剤OtX雰
−気中に置いて皺有機溶剤を普mm**上に塗布畜れえ
レゾスト内に適度に浸透(P−ピング)させ次に従来O
J7”レ一方式を行なうものである・ 本II@によれば被処理基板t1i書液のガス雰囲気内
Kl装置してしyスト内に有機溶剤を適度に浸透させる
ことによって(露光部が活性化せしめられ)次に行なう
スプレーによる現像を短時間に完了しうるO″chる。
を九現像処理時間を短時間にすることが出来る丸め、現
像液の使用量を減少させることが出来る。更に又、本発
明によれば有機溶剤のガス雰囲気中に被処理基板を載置
することによ夕上述の如く露光部が活性化せしめられて
次Oスlレーエ鴨でレゾスト剥離が精度よく行なわれシ
ャーf1にレジスト形状を得てファインノ譬ターンの形
成が可能となる。
以下本発明の一実施例である第3WJに基づいて説明す
る。
第**には現像液である有機溶媒0ネf@7オトレゾス
F用のキシレン型現倫液を入れ良書閉容器11に被処理
基4i21が拡大せしめられて被処理基板載置台11に
載置されている。このlI書開閉容器9内峡キシレン盟
有機溶剤31C)fス雰囲気1Gが作られる。被J6理
基板は、2,3■の厚さを有する!ラス基#t5上に1
ooolo厚さ0クロム6を付着させ、その上にネガW
7オトレジスト1を100Q 〜100001塗布し、
露光部8を有するものである。前述の密閉容器9はSO
W〜1001四方の容器が好ましく又約26℃で5〜1
0時間現像液31を入れ九容at加熱すると密閉容器内
での現像液の有機濤剤tス化速度増大する0本発明に係
會レジストとしてはネ、fI!l!フォトレゾストO他
に、II藤レゾスト(電子線レジスト)例えばネ、ys
gtoにMA 、 j載置のP膳a勢も用いられ、★え
現像液としてはそれぞれMIK (メチルエチルケト2
)lびMIIK(メチルイソブチルケトン)等を使用し
てもよい、第sI!lIK示したように被処理基I[を
現像液O有機鋼のガス1!囲気10に約60分間さらし
先後、嬉意園に示し友スlレ一工程を行なう、被処理基
板1はzoo〜Is OOrprmで回転せしめられS
o〜lOO〜/、l、0現像液3′ が従来OMl/s
O#1e秒間付自つけられ現像が完了する。そ0@果し
yス)0残渣薄膜等がなく、しか4 o、 s sΔタ
ーンを解侭可能にすることかで11え。
4  rlAWIO簡単な説明 III■及び嬉!閣は従来のそれぞれdlν方式、スプ
レ一方式を示す概略図であ夛、第**は不発@に係る有
機−剤Otガス雰囲気中拡大され九被処履基let装置
せしめ九概略断面園である。
l−被処理基板、3.3’−・現像液、3#−、キシレ
ンm現健液、4・−スプレ一方式、5・・・wyス基板
、S−Zロム、γ−1−f型7オトレゾスト、8・−露
光部、9−・・密閉容器、1〇−有機溶剤ガス雰囲気。
特許出願人 富士通株式会社 特許出願代理人 弁理士 青 木   朗 弁理士西舘和之 弁理士内田幸男 弁理士 山 口 昭 之

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 微細Δターンを形成するえめに基板上に塗布されえレゾ
    ストを電子ビーム、紫外光、遠紫外光等により露光しえ
    後に有機溶剤を用いて現像を行なう現像方法Kかいて; 前記露光工smoIIK被J6m1基板を有機溶剤のガ
    ス雰■気中に@置し、次に前記有機溶剤を用いてスダA
    m方武により現像を行なうことを特徴とする現像方法。
JP10051781A 1981-06-30 1981-06-30 現像方法 Pending JPS582835A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10051781A JPS582835A (ja) 1981-06-30 1981-06-30 現像方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10051781A JPS582835A (ja) 1981-06-30 1981-06-30 現像方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS582835A true JPS582835A (ja) 1983-01-08

Family

ID=14276139

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10051781A Pending JPS582835A (ja) 1981-06-30 1981-06-30 現像方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS582835A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5505504A (en) * 1992-02-28 1996-04-09 Bentac Co., Ltd. Apparatus for tying one or more articles

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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US5505504A (en) * 1992-02-28 1996-04-09 Bentac Co., Ltd. Apparatus for tying one or more articles

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