JPS583233A - 食刻方法 - Google Patents
食刻方法Info
- Publication number
- JPS583233A JPS583233A JP57043068A JP4306882A JPS583233A JP S583233 A JPS583233 A JP S583233A JP 57043068 A JP57043068 A JP 57043068A JP 4306882 A JP4306882 A JP 4306882A JP S583233 A JPS583233 A JP S583233A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- etching
- mask
- substrate
- molecules
- present
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P50/00—Etching of wafers, substrates or parts of devices
- H10P50/20—Dry etching; Plasma etching; Reactive-ion etching
- H10P50/26—Dry etching; Plasma etching; Reactive-ion etching of conductive or resistive materials
- H10P50/264—Dry etching; Plasma etching; Reactive-ion etching of conductive or resistive materials by chemical means
- H10P50/266—Dry etching; Plasma etching; Reactive-ion etching of conductive or resistive materials by chemical means by vapour etching only
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23F—NON-MECHANICAL REMOVAL OF METALLIC MATERIAL FROM SURFACE; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL; MULTI-STEP PROCESSES FOR SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL INVOLVING AT LEAST ONE PROCESS PROVIDED FOR IN CLASS C23 AND AT LEAST ONE PROCESS COVERED BY SUBCLASS C21D OR C22F OR CLASS C25
- C23F1/00—Etching metallic material by chemical means
- C23F1/10—Etching compositions
- C23F1/12—Gaseous compositions
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P50/00—Etching of wafers, substrates or parts of devices
- H10P50/20—Dry etching; Plasma etching; Reactive-ion etching
- H10P50/24—Dry etching; Plasma etching; Reactive-ion etching of semiconductor materials
- H10P50/242—Dry etching; Plasma etching; Reactive-ion etching of semiconductor materials of Group IV materials
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P50/00—Etching of wafers, substrates or parts of devices
- H10P50/20—Dry etching; Plasma etching; Reactive-ion etching
- H10P50/26—Dry etching; Plasma etching; Reactive-ion etching of conductive or resistive materials
- H10P50/264—Dry etching; Plasma etching; Reactive-ion etching of conductive or resistive materials by chemical means
- H10P50/266—Dry etching; Plasma etching; Reactive-ion etching of conductive or resistive materials by chemical means by vapour etching only
- H10P50/267—Dry etching; Plasma etching; Reactive-ion etching of conductive or resistive materials by chemical means by vapour etching only using plasmas
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P50/00—Etching of wafers, substrates or parts of devices
- H10P50/20—Dry etching; Plasma etching; Reactive-ion etching
- H10P50/26—Dry etching; Plasma etching; Reactive-ion etching of conductive or resistive materials
- H10P50/264—Dry etching; Plasma etching; Reactive-ion etching of conductive or resistive materials by chemical means
- H10P50/266—Dry etching; Plasma etching; Reactive-ion etching of conductive or resistive materials by chemical means by vapour etching only
- H10P50/267—Dry etching; Plasma etching; Reactive-ion etching of conductive or resistive materials by chemical means by vapour etching only using plasmas
- H10P50/268—Dry etching; Plasma etching; Reactive-ion etching of conductive or resistive materials by chemical means by vapour etching only using plasmas of silicon-containing layers
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- General Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Drying Of Semiconductors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は揮発性フッ化物を生ずる基板を選択的に食刻し
且つ方向性を与える食刻方法に係る。このような食刻処
理は、たとえばマイクロ回路を形成する場合に有効であ
る。
且つ方向性を与える食刻方法に係る。このような食刻処
理は、たとえばマイクロ回路を形成する場合に有効であ
る。
米国特許第3679502号は、非常に高い温度におい
てSF、及びキャリア・ガスをシリコンに接触させるこ
とによりこのシリコンを食刻する方法を示している。し
かしながら、この特許は、レーザー照射によってSF、
の分子を選択的に振動励起することを教授していない。
てSF、及びキャリア・ガスをシリコンに接触させるこ
とによりこのシリコンを食刻する方法を示している。し
かしながら、この特許は、レーザー照射によってSF、
の分子を選択的に振動励起することを教授していない。
−′米国特許第586659f3号は、シリコンがレ
ーザーにさらされることにより蒸発しそしてこの時SF
、と反応する方法を示している。しかしながら、この特
許は、レーザー照射によりSF6の分子を選択的に撮動
励起することを教授していない。
ーザーにさらされることにより蒸発しそしてこの時SF
、と反応する方法を示している。しかしながら、この特
許は、レーザー照射によりSF6の分子を選択的に撮動
励起することを教授していない。
1980年出版0雑誌Electronchem−8o
c。
c。
の第127巻、第514頁には、解離処理によってシリ
コン基板を食刻することが論説され、そこでSF、はS
F5+F基に解離されそしてこの基はシリコンと反応す
る。しかしながら、この記事はSF6の分子を振動励起
することを開示していない。
コン基板を食刻することが論説され、そこでSF、はS
F5+F基に解離されそしてこの基はシリコンと反応す
る。しかしながら、この記事はSF6の分子を振動励起
することを開示していない。
1980年6月出りの雑誌Chemical Phy
s。
s。
72(11)の第6603頁には、振動励起されたSF
6の分子全シリコン基板に反応させることが示されてい
る。しかしながら、この記事は本発明の重要な特徴の1
つ、すなわちレーザー光線の回折限界よりも小さい開口
を設けたマスク金剛いることに関して何一つ開示してい
ない。
6の分子全シリコン基板に反応させることが示されてい
る。しかしながら、この記事は本発明の重要な特徴の1
つ、すなわちレーザー光線の回折限界よりも小さい開口
を設けたマスク金剛いることに関して何一つ開示してい
ない。
本発明によれば、揮発性フッ化物を生ずることができる
基板は、開口を含む耐食刻性マスクでこの基板部分を覆
いそしてレーザー光線の照射により振動励起されたSF
6’iこの基板の覆われ々かった部分に接触させること
によって選択的に食刻される。マスクの開口をレーザー
光線の回折限界よりも小さくすることが本発明の重要な
特徴である。開口がレーザー光線の回折限界よりも小さ
いということは、この開口がこの回折限界よりも小さい
最小線幅を有すること全意味する。円形開口の場合には
、最小線幅は直径である。スリット線状の開口である場
合には、最小線幅はスリットの幅を意味する。
基板は、開口を含む耐食刻性マスクでこの基板部分を覆
いそしてレーザー光線の照射により振動励起されたSF
6’iこの基板の覆われ々かった部分に接触させること
によって選択的に食刻される。マスクの開口をレーザー
光線の回折限界よりも小さくすることが本発明の重要な
特徴である。開口がレーザー光線の回折限界よりも小さ
いということは、この開口がこの回折限界よりも小さい
最小線幅を有すること全意味する。円形開口の場合には
、最小線幅は直径である。スリット線状の開口である場
合には、最小線幅はスリットの幅を意味する。
本発明の処理の動作において、振動励起されたSF6の
分子はたとえばS’fF4のような揮発性化合物全形成
するようにシリコンのような基板と反応する。振動励起
されたSF6は、SF、の分子を二酸化炭素のレーザー
で励起することにより容易に発生される。振動励起され
たSF60分子を用いる本発明の処理を公知のSF6の
多光子解離から区別することが基本的事項である。本発
明の処理は、後述するように先行技術の解離処理よりも
多数の利点を有する。
分子はたとえばS’fF4のような揮発性化合物全形成
するようにシリコンのような基板と反応する。振動励起
されたSF6は、SF、の分子を二酸化炭素のレーザー
で励起することにより容易に発生される。振動励起され
たSF60分子を用いる本発明の処理を公知のSF6の
多光子解離から区別することが基本的事項である。本発
明の処理は、後述するように先行技術の解離処理よりも
多数の利点を有する。
本発明の処理を行なうのに適した装置を示す第1口金参
照するに、適当な焦点づけ光学系を用いたCO2のレー
ザーがメカニカル・ポンプ2及びSFaガスの注入系3
全備えた小さい真空室1に関連して用いられることがわ
かる。たとえばシリコン・ウェハ4のような食刻される
基板は透明な照射窓5の下に置かれ、レーザーはこの窓
を通過して照射する。
照するに、適当な焦点づけ光学系を用いたCO2のレー
ザーがメカニカル・ポンプ2及びSFaガスの注入系3
全備えた小さい真空室1に関連して用いられることがわ
かる。たとえばシリコン・ウェハ4のような食刻される
基板は透明な照射窓5の下に置かれ、レーザーはこの窓
を通過して照射する。
第2図を参照するに、実゛際の食刻処理が示される。基
板は耐食刻マスク6で覆われ、このマスクは開ロアを含
みそしてこれらの開口のうちの1つが第2図に示されて
いる。この耐食刻マスクは二酸化シリコンあるいはアル
ミニウムのような材料から作ることができる。SF6の
分子は基板の覆われなかった部分に接触する。レーザー
照射はマスクの開口を介して照射し且つSF60分子を
振動励起させそしてこの時このSFaの分子は揮発性フ
ッ化物を形成するように基板と反応する。かくして、食
刻処理が成し遂げられる。
板は耐食刻マスク6で覆われ、このマスクは開ロアを含
みそしてこれらの開口のうちの1つが第2図に示されて
いる。この耐食刻マスクは二酸化シリコンあるいはアル
ミニウムのような材料から作ることができる。SF6の
分子は基板の覆われなかった部分に接触する。レーザー
照射はマスクの開口を介して照射し且つSF60分子を
振動励起させそしてこの時このSFaの分子は揮発性フ
ッ化物を形成するように基板と反応する。かくして、食
刻処理が成し遂げられる。
本発明の処理の非常に重要な特徴は、振動励起されたS
F6の分子の制限範囲及び制御可能範囲でちり、この撮
動励起されたSFaの分子はしばしばSF6としてあら
れされる。振動励起されたこれらの分子は他のSF、の
分子と衝突した後に化学的に不活性のSF6に戻るよう
に減勢される。
F6の分子の制限範囲及び制御可能範囲でちり、この撮
動励起されたSFaの分子はしばしばSF6としてあら
れされる。振動励起されたこれらの分子は他のSF、の
分子と衝突した後に化学的に不活性のSF6に戻るよう
に減勢される。
これ故に、基板の表面付近に発生される振動励起された
SF6の分子のみが基板と反応するように十分長く生き
延びる。振動励起されたSF60分子の範囲すなわち平
均自由進路はSF、のガス圧力に逆比例する。この制限
範囲且つ制御可能範囲の結果は方向性食刻処理であシ、
そこで食刻部の幅はマスクの開口に振動励起されたSF
8の分子の範囲の2倍を加えた寸法である。(この範囲
は第2図においてλで示される。)振動励起されたSF
60分子の範囲がSF、の760トルにおいて約150
0にであることがわかる。
SF6の分子のみが基板と反応するように十分長く生き
延びる。振動励起されたSF60分子の範囲すなわち平
均自由進路はSF、のガス圧力に逆比例する。この制限
範囲且つ制御可能範囲の結果は方向性食刻処理であシ、
そこで食刻部の幅はマスクの開口に振動励起されたSF
8の分子の範囲の2倍を加えた寸法である。(この範囲
は第2図においてλで示される。)振動励起されたSF
60分子の範囲がSF、の760トルにおいて約150
0にであることがわかる。
更に、本発明の処理が負荷効果を有さすすなわち食刻速
度がウェハの面積に依存しないことが本発明の付加的利
へである。更に、ガスの流れが揮発性フッ化物の食刻物
を除去するのに適当である′かぎ9食刻部度はいかなる
種類の真空装置変数にも依存しない。更に、不活性分子
はポンプ装置へ到る。かくして、有毒なガスをポンプで
くみ出すことに関連した問題が無くなる。
度がウェハの面積に依存しないことが本発明の付加的利
へである。更に、ガスの流れが揮発性フッ化物の食刻物
を除去するのに適当である′かぎ9食刻部度はいかなる
種類の真空装置変数にも依存しない。更に、不活性分子
はポンプ装置へ到る。かくして、有毒なガスをポンプで
くみ出すことに関連した問題が無くなる。
本発明の処理の場合には、1分当り数千λの単位の食刻
速度が得られる。シリコンの食刻速度はレーザー・パル
ス当り約IXでありそして100Hzのレーザー・パル
ス率が容易に利用できる。
速度が得られる。シリコンの食刻速度はレーザー・パル
ス当り約IXでありそして100Hzのレーザー・パル
ス率が容易に利用できる。
ウェハを加熱することは問題でなく、この理由はSF、
の多光子解離に必要なしきい密度以下にレーザーのパワ
ー密度が保たれ、又使用する高圧のSF6がウェハ冷却
を助けるからである。
の多光子解離に必要なしきい密度以下にレーザーのパワ
ー密度が保たれ、又使用する高圧のSF6がウェハ冷却
を助けるからである。
レーザー光線の回折限界よりも小さい開口のマスクを用
いることが本発明の重要な特徴であることが再び強調さ
れる。本発明の以前には、C02のレーザーを用いる時
に、波長が10.6ミクロンである光線の回折限界によ
り最良の食刻解像度が制限されると思われた。本発明の
場合にはこのようなことが無くそして実際にはレーザー
光線の回折限界よりも小さい開口のマスクを用いること
により、アンダーカットの無い高い食刻解像度が得られ
ることがわかった。本発明の良好な1変形において、マ
スクの開口がレーザー光線の回折限界よりも十分に小さ
い寸法である。即ち、マスクの開口は約1ミクロンの寸
法である。
いることが本発明の重要な特徴であることが再び強調さ
れる。本発明の以前には、C02のレーザーを用いる時
に、波長が10.6ミクロンである光線の回折限界によ
り最良の食刻解像度が制限されると思われた。本発明の
場合にはこのようなことが無くそして実際にはレーザー
光線の回折限界よりも小さい開口のマスクを用いること
により、アンダーカットの無い高い食刻解像度が得られ
ることがわかった。本発明の良好な1変形において、マ
スクの開口がレーザー光線の回折限界よりも十分に小さ
い寸法である。即ち、マスクの開口は約1ミクロンの寸
法である。
本発明は先行技術のプラズマ食刻処理以上に幾つかの利
点を有する。本発明の処理はマスクを食刻せず、これ故
にフォトレジスト・マスクが用いられてもよい。本発明
の処理において、方向性は圧力によって簡単に制御でき
る。これに反してプラズマ食刻処理ではこの方向性は中
性化したもの対イオン化したものの制御を含む。更に、
食刻化学反応が非常に局部的に集中づけられすなわち装
置寸法に依存しないから本発明の処理は大規模化に非常
に容易に適合する。
点を有する。本発明の処理はマスクを食刻せず、これ故
にフォトレジスト・マスクが用いられてもよい。本発明
の処理において、方向性は圧力によって簡単に制御でき
る。これに反してプラズマ食刻処理ではこの方向性は中
性化したもの対イオン化したものの制御を含む。更に、
食刻化学反応が非常に局部的に集中づけられすなわち装
置寸法に依存しないから本発明の処理は大規模化に非常
に容易に適合する。
レーザーで誘起される分裂を強調した先行技術とは異な
り、本発明は撮動励起された分子に依存し、この分子は
非常に短い寿命を有しそしてパルス当り10メガワツ)
/>2の低パワー(約1ジユール/cm2に用いること
により得られることが強調される。低パワーのために、
レーザー誘導による損害は起らない。振動励起された分
子の寿命は高解像度音導く。方向性は圧力そして次に寿
命を変化させることにより制御で、きる。20)ルにお
いて、解像度は約10ミクロンである。200トルにお
いて、解像度は約1ミクロンである。大気圧力において
、解像度は約0.3ミクロンである。
り、本発明は撮動励起された分子に依存し、この分子は
非常に短い寿命を有しそしてパルス当り10メガワツ)
/>2の低パワー(約1ジユール/cm2に用いること
により得られることが強調される。低パワーのために、
レーザー誘導による損害は起らない。振動励起された分
子の寿命は高解像度音導く。方向性は圧力そして次に寿
命を変化させることにより制御で、きる。20)ルにお
いて、解像度は約10ミクロンである。200トルにお
いて、解像度は約1ミクロンである。大気圧力において
、解像度は約0.3ミクロンである。
第1図は本発明の処理に用いるのに適した通常の装置を
示す図、第2図は本発明の処理音用いて達成される方向
性食刻処理の概念を示す図である。 6・・・・マスク、7・・・・開口、4・・・・ウェハ
、1・・・・室、5・・・・宮。 出 8人 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ
・コーボシークヨン第1区 第2図
示す図、第2図は本発明の処理音用いて達成される方向
性食刻処理の概念を示す図である。 6・・・・マスク、7・・・・開口、4・・・・ウェハ
、1・・・・室、5・・・・宮。 出 8人 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ
・コーボシークヨン第1区 第2図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 揮発性フッ化物を生ずる基板を食刻し且つ方向性を達成
する食刻方法において、 開口を含む耐食刻マスクで基板部分を選択品に覆うこと
と、 基板の覆われなかった部分にSF、を接触させることと
、上記SF、iレーザー光線の照射にさらすことにより
上記SF6を振動励起することと、上記マスクの上記開
口を上記レーザー光線の回折限界よシも小さくすること
、 を特徴とする食刻方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US277364 | 1981-06-05 | ||
| US06/277,364 US4331504A (en) | 1981-06-25 | 1981-06-25 | Etching process with vibrationally excited SF6 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS583233A true JPS583233A (ja) | 1983-01-10 |
Family
ID=23060539
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57043068A Pending JPS583233A (ja) | 1981-06-05 | 1982-03-19 | 食刻方法 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4331504A (ja) |
| EP (1) | EP0068077B1 (ja) |
| JP (1) | JPS583233A (ja) |
| CA (1) | CA1153674A (ja) |
| DE (1) | DE3262190D1 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59135730A (ja) * | 1983-01-24 | 1984-08-04 | Hitachi Ltd | 表面改質装置 |
| JPS60253230A (ja) * | 1984-05-29 | 1985-12-13 | Mitsubishi Electric Corp | 微細パタ−ン形成方法 |
| JPS61284587A (ja) * | 1985-06-12 | 1986-12-15 | Hitachi Ltd | 表面処理方法 |
Families Citing this family (19)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4490211A (en) * | 1984-01-24 | 1984-12-25 | International Business Machines Corporation | Laser induced chemical etching of metals with excimer lasers |
| US4490210A (en) * | 1984-01-24 | 1984-12-25 | International Business Machines Corporation | Laser induced dry chemical etching of metals |
| KR920004171B1 (ko) * | 1984-07-11 | 1992-05-30 | 가부시기가이샤 히다찌세이사꾸쇼 | 드라이에칭장치 |
| EP0196346B1 (en) * | 1985-04-02 | 1989-07-19 | International Business Machines Corporation | Apparatus for manufacturing surface structures in the nanometer range |
| US4648938A (en) * | 1985-10-11 | 1987-03-10 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | Composition/bandgap selective dry photochemical etching of semiconductor materials |
| US4622095A (en) * | 1985-10-18 | 1986-11-11 | Ibm Corporation | Laser stimulated halogen gas etching of metal substrates |
| US4684436A (en) * | 1986-10-29 | 1987-08-04 | International Business Machines Corp. | Method of simultaneously etching personality and select |
| US5011567A (en) * | 1989-12-06 | 1991-04-30 | Mobil Solar Energy Corporation | Method of fabricating solar cells |
| US5493445A (en) * | 1990-03-29 | 1996-02-20 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Laser textured surface absorber and emitter |
| US5322988A (en) * | 1990-03-29 | 1994-06-21 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Laser texturing |
| US5389196A (en) * | 1992-01-30 | 1995-02-14 | Massachusetts Institute Of Technology | Methods for fabricating three-dimensional micro structures |
| US6033721A (en) * | 1994-10-26 | 2000-03-07 | Revise, Inc. | Image-based three-axis positioner for laser direct write microchemical reaction |
| US5607601A (en) * | 1995-02-02 | 1997-03-04 | The Aerospace Corporation | Method for patterning and etching film layers of semiconductor devices |
| US6165688A (en) * | 1996-05-15 | 2000-12-26 | The United States Of America, As Represented By The Secretary Of Commerce | Method of fabricating of structures by metastable atom impact desorption of a passivating layer |
| US20030155328A1 (en) * | 2002-02-15 | 2003-08-21 | Huth Mark C. | Laser micromachining and methods and systems of same |
| GB2399311B (en) * | 2003-03-04 | 2005-06-15 | Xsil Technology Ltd | Laser machining using an active assist gas |
| US7754999B2 (en) | 2003-05-13 | 2010-07-13 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Laser micromachining and methods of same |
| US6969822B2 (en) * | 2003-05-13 | 2005-11-29 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Laser micromachining systems |
| GB2404280B (en) * | 2003-07-03 | 2006-09-27 | Xsil Technology Ltd | Die bonding |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| BE756807A (fr) * | 1969-09-29 | 1971-03-29 | Motorola Inc | Procede pour la gravure non preferentielle du silicium par un melange gazeux, et melange gazeux pour cette gravure |
| US3866398A (en) * | 1973-12-20 | 1975-02-18 | Texas Instruments Inc | In-situ gas-phase reaction for removal of laser-scribe debris |
| US4183780A (en) * | 1978-08-21 | 1980-01-15 | International Business Machines Corporation | Photon enhanced reactive ion etching |
| US4214946A (en) * | 1979-02-21 | 1980-07-29 | International Business Machines Corporation | Selective reactive ion etching of polysilicon against SiO2 utilizing SF6 -Cl2 -inert gas etchant |
| US4260649A (en) * | 1979-05-07 | 1981-04-07 | The Perkin-Elmer Corporation | Laser induced dissociative chemical gas phase processing of workpieces |
-
1981
- 1981-06-25 US US06/277,364 patent/US4331504A/en not_active Expired - Fee Related
-
1982
- 1982-03-19 JP JP57043068A patent/JPS583233A/ja active Pending
- 1982-03-23 DE DE8282102404T patent/DE3262190D1/de not_active Expired
- 1982-03-23 EP EP82102404A patent/EP0068077B1/en not_active Expired
- 1982-03-23 CA CA000399150A patent/CA1153674A/en not_active Expired
Non-Patent Citations (3)
| Title |
|---|
| J.CHEM.PHYS=1980 * |
| J.CHEM.PHYS=1981 * |
| J.VAC.SCI.TECHNOL=1981 * |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59135730A (ja) * | 1983-01-24 | 1984-08-04 | Hitachi Ltd | 表面改質装置 |
| JPS60253230A (ja) * | 1984-05-29 | 1985-12-13 | Mitsubishi Electric Corp | 微細パタ−ン形成方法 |
| JPS61284587A (ja) * | 1985-06-12 | 1986-12-15 | Hitachi Ltd | 表面処理方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3262190D1 (en) | 1985-03-21 |
| EP0068077B1 (en) | 1985-02-06 |
| EP0068077A1 (en) | 1983-01-05 |
| US4331504A (en) | 1982-05-25 |
| CA1153674A (en) | 1983-09-13 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0068077B1 (en) | Etching process with vibrationally excited sf6 | |
| EP0150358B1 (en) | Laser induced dry chemical etching of metals | |
| EP0149779B1 (en) | Laser induced chemical etching of metals with excimer lasers | |
| EP0259572B1 (en) | High rate laser etching technique | |
| US4734152A (en) | Dry etching patterning of electrical and optical materials | |
| JPS631097B2 (ja) | ||
| CA1173889A (en) | High resolution optical lithography method and apparatus having excimer laser light source and stimulated raman shifting | |
| JPS61154031A (ja) | 基板表面上にサブミクロン構造体を形成する方法 | |
| JPS61278146A (ja) | 光処理方法 | |
| JP2022189923A (ja) | 放電チャンバのための電極 | |
| EP1344110B1 (en) | Mitigation of radiation induced surface contamination | |
| JP2011071335A (ja) | プラズマエッチング方法及び装置 | |
| JPH0478005B2 (ja) | ||
| JPH01217921A (ja) | エツチング法 | |
| US4617086A (en) | Rapid etching method for silicon by SF6 gas | |
| JPS62232927A (ja) | ドライエツチング方法及び装置 | |
| JP2978620B2 (ja) | レジスト膜のアッシング装置 | |
| JP3168593B2 (ja) | 高輝度集束イオンビームを用いた化合物の薄膜パターン生成方法 | |
| JP2763785B2 (ja) | 半導体ウェハーからパターンが描かれた焼成後のフォトレジスト層を除去する方法 | |
| JPH0618187B2 (ja) | 半導体基板の加工方法 | |
| JPS5967634A (ja) | 半導体装置の加工方法 | |
| JPH0513319A (ja) | パターン形成方法 | |
| JPH0555186A (ja) | 表面処理方法 | |
| Harradine et al. | Reactive etching of semiconductor surfaces by laser-generated free radicals | |
| JP2025163684A (ja) | マイクロリソグラフィックフォトマスクの欠陥を粒子ビーム誘起エッチングするための方法および装置 |