JPS583320B2 - 高周波信号記憶装置 - Google Patents
高周波信号記憶装置Info
- Publication number
- JPS583320B2 JPS583320B2 JP49145519A JP14551974A JPS583320B2 JP S583320 B2 JPS583320 B2 JP S583320B2 JP 49145519 A JP49145519 A JP 49145519A JP 14551974 A JP14551974 A JP 14551974A JP S583320 B2 JPS583320 B2 JP S583320B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- piezoelectric plate
- diode
- frequency signal
- high frequency
- electrodes
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C27/00—Electric analogue stores, e.g. for storing instantaneous values
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
- Surface Acoustic Wave Elements And Circuit Networks Thereof (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は高周波信号記憶装置に係り、特に音響波入力
を電気信号として記憶させまた読出すことのできる記憶
装置に関する。
を電気信号として記憶させまた読出すことのできる記憶
装置に関する。
この発明は全く新規な構成の高周波信号記憶装置に係り
、基本的には第1図に示す様な従来構成のユニットに電
気的記憶を行わせるものである。
、基本的には第1図に示す様な従来構成のユニットに電
気的記憶を行わせるものである。
すなわち、同図によれば、誘電体絶縁層4及びN型並び
にN+型の半導体層3が積層されており、この層の両側
に電極2,5が設けられている。
にN+型の半導体層3が積層されており、この層の両側
に電極2,5が設けられている。
また、層4と層3の間にも金属板等の浮遊電極1が設け
られている。
られている。
このため、電極2,1及び絶縁層4によってキャパシタ
が構成され、電極1及び半導体層3の接合によってダイ
オードが構成される。
が構成され、電極1及び半導体層3の接合によってダイ
オードが構成される。
すなわち、第1図の構成はキャパシタとダイオードを直
列接続したものと等価となる。
列接続したものと等価となる。
従って、電極2,5を介し前記ダイオード部分1,3に
関して順方向電圧を印加すれば印加電圧Vに応じた電荷
がキャパシタ部分4に蓄積される。
関して順方向電圧を印加すれば印加電圧Vに応じた電荷
がキャパシタ部分4に蓄積される。
次に、ダイオード部分1,3を逆バイアスすればキャパ
シタ部分4に蓄積された電荷を読出すことができる。
シタ部分4に蓄積された電荷を読出すことができる。
また消去のためには、ダイオードのアバランシュ閾値を
越えるような電圧を印加し、ダイオードの逆電流によっ
て急速にキャパシタを放電すればよい。
越えるような電圧を印加し、ダイオードの逆電流によっ
て急速にキャパシタを放電すればよい。
この種の記憶装置は公知であり、例えば、“THE B
ELL SYSTEM TECHN一ICAL JOU
RNAL“1967年7,8月合併号に記載されている
。
ELL SYSTEM TECHN一ICAL JOU
RNAL“1967年7,8月合併号に記載されている
。
この種の記憶装置によれば、逆バイアス時のダイオード
の高抵抗のために長時間の記憶保持が可能である。
の高抵抗のために長時間の記憶保持が可能である。
記憶保持時間はダイオードの特性の調整によって選択で
きる。
きる。
尚、第1図における半導体層3はN型である場合につい
て示したが、P型である場合にあっても同様であること
は、容易に理解されるであろう。
て示したが、P型である場合にあっても同様であること
は、容易に理解されるであろう。
このようなユニットを利用したこの発明による記憶装置
は第2図以下に示すようであり、100MHz程度の高
周波信号の記憶が可能である。
は第2図以下に示すようであり、100MHz程度の高
周波信号の記憶が可能である。
尚、第1図と同一の符号は同様の対象を示すものとする
。
。
以下、添付図面に従ってこの発明の実施例を説明する。
第2図はこの発明の実施例を示すものであり、第1図と
略同様の構成であるが上下関係が逆になっている。
略同様の構成であるが上下関係が逆になっている。
同図によれば、装置は長方形状であり、電極2に接する
誘電体板40(第1図の層4に対応)はピエゾ素子とな
っている。
誘電体板40(第1図の層4に対応)はピエゾ素子とな
っている。
このピエゾ素子は、例えば光学軸に対して所要の方向に
カットされた石英結晶等を用いることができる。
カットされた石英結晶等を用いることができる。
この誘電体板40の両端にはそれぞれ入力用及び出力用
のトランスジューサ7,8が設けられており、それぞれ
電気信号を音響信号にまた音響信号を電気信号に変換す
る。
のトランスジューサ7,8が設けられており、それぞれ
電気信号を音響信号にまた音響信号を電気信号に変換す
る。
すなわち、トランスジューサ7,8を介して記憶し又は
読出すべき高周波信号が出入する。
読出すべき高周波信号が出入する。
トランスジューサ7,8はそれぞれくし歯形に成形され
、その歯は図示のように数個の歯が交互にかみ合って通
常の種類の配列を示している。
、その歯は図示のように数個の歯が交互にかみ合って通
常の種類の配列を示している。
誘電体板40上のトランスジューサ7,8の間には一方
でキャパシタンスの電極として作用しまた他方でダイオ
ード接合を形成する浮遊電極10が一定の間隔で配列さ
れている。
でキャパシタンスの電極として作用しまた他方でダイオ
ード接合を形成する浮遊電極10が一定の間隔で配列さ
れている。
この際、音響波を減衰させないために、浮遊電極10と
誘電体板40との間には図示のように一定厚(0.2μ
m程度)の空気層を介在させることが望ましい。
誘電体板40との間には図示のように一定厚(0.2μ
m程度)の空気層を介在させることが望ましい。
すなわち電極10は第1図の電極1に対応している。
この浮遊電極10の上には半導体層3及び電極5が順次
形成されている。
形成されている。
また、電極5,2の間に導線9を介して駆動用のパルス
電圧信号■が印加される。
電圧信号■が印加される。
従って、ピエゾ素子40は電極2,10と共にキャパシ
タンス部分を構成し、また電極10と半導体層3の接合
はダイオードを形成する。
タンス部分を構成し、また電極10と半導体層3の接合
はダイオードを形成する。
尚、以上のような構成において、連続する浮遊電極
10を分離する距離は長手方向(矢印方向)に沿って一
定のものであるが、誘電体板40の表面における音響板
の波長分の1のオーダであるように選択する。
10を分離する距離は長手方向(矢印方向)に沿って一
定のものであるが、誘電体板40の表面における音響板
の波長分の1のオーダであるように選択する。
例えば、100MHzの周波数の信号の場合、伝播速度
3km/S,波長約3/100mmの誘電体板を使用す
れば、電極10の相互間の距離は1/100mmとなり
、電極10の部分の幅、すなわち電極の伝播方向に平行
な寸法も同程度とする。
3km/S,波長約3/100mmの誘電体板を使用す
れば、電極10の相互間の距離は1/100mmとなり
、電極10の部分の幅、すなわち電極の伝播方向に平行
な寸法も同程度とする。
このような電極10は公知の各種の方法によって形成す
ることができ、例えば真空蒸着によって形成することが
できる。
ることができ、例えば真空蒸着によって形成することが
できる。
電圧パルスVは、数ボルト程度で1ナノ秒位持続する信
号とする。
号とする。
また、誘電体板40は凹部を有する形状となっている。
この凹部は音響波を運ぶ表面の大部分にわたってピエゾ
電気板40と半導体層3とが接触しないようにするため
のものであり、接触によって音響波を減衰させないよう
にするためのものである。
電気板40と半導体層3とが接触しないようにするため
のものであり、接触によって音響波を減衰させないよう
にするためのものである。
この凹部の深さは音響波の波長に比べて小さい。
次に、この発明の実施例の動作について説明する。
先ず、記憶動作について説明する。
記録すべき情報を担った高信波信号を入力用トランスジ
ューサ7に加えると、トランスジューサ7はこの電気信
号を音響信号に変換し、音響信号は第2図中矢印の方向
に伝播する。
ューサ7に加えると、トランスジューサ7はこの電気信
号を音響信号に変換し、音響信号は第2図中矢印の方向
に伝播する。
この音響波はピエゾ電気板40の中に情報に対応した変
形を形造る。
形を形造る。
音響波がトランスジューサ8の側に到達スるに必要な時
間が経過したとき、ピエゾ電気板40は入力された信号
に対応した変形を受けている。
間が経過したとき、ピエゾ電気板40は入力された信号
に対応した変形を受けている。
従って、この変形に応じた電圧がピエゾ電気板の各表面
間に現われる。
間に現われる。
ここで、導線9を介して入力される高周波信号の周期よ
りも短い周期の電圧パルス■を印加して、各ダイオード
を正バイアスし各キャパシタを充電する。
りも短い周期の電圧パルス■を印加して、各ダイオード
を正バイアスし各キャパシタを充電する。
この場合、充電される電荷量は各キャパシタ部分におい
て異なり、これが記憶量となる。
て異なり、これが記憶量となる。
すなわち、キャパシタ部分への充電は印加電圧■と高周
波信号に相当する電圧(ピエゾ電圧)との和に比例する
電圧にまで急速に充電される。
波信号に相当する電圧(ピエゾ電圧)との和に比例する
電圧にまで急速に充電される。
こうして、パルス電圧■の印加時において、ピエゾ電気
板40の表面には記憶情報に対応したポテンシャルのプ
ロフィルが形成される。
板40の表面には記憶情報に対応したポテンシャルのプ
ロフィルが形成される。
読出し動作は次のようである。
記録時とは逆極性でしかも絶対値が記録時のものより大
きな電圧パルスを印加する。
きな電圧パルスを印加する。
すなわち、第5図に示すようにアバランシェブレークダ
ウンによって逆バイアス電流が流れ始める電圧■“を印
加する。
ウンによって逆バイアス電流が流れ始める電圧■“を印
加する。
この逆バイアス電流に伴って各キャパシタは放電を開始
し、前記ピエゾ電気板40の変形が解放される。
し、前記ピエゾ電気板40の変形が解放される。
この解放に伴って表面波が形成される。
この表面波はトランスジューサ7,8のいずれの方向へ
も伝播するが、仮に出力用トランスジューサ8で読出す
こととすれば、記憶内容に対応した電気信号がトランス
ジューサ8の音響波→電気信号の変換によって得られる
。
も伝播するが、仮に出力用トランスジューサ8で読出す
こととすれば、記憶内容に対応した電気信号がトランス
ジューサ8の音響波→電気信号の変換によって得られる
。
トランスジューサ7で読出した場合には信号が時間的に
反転することとなる。
反転することとなる。
上述した実施例においては、電極10は互いに一定の間
隔をおいて配列されているが、このような配列は一例で
あり限定的なものではない。
隔をおいて配列されているが、このような配列は一例で
あり限定的なものではない。
また、電極10も任意な形としてよく、例えば第6図に
示すように、半導体基板3上に円形の電極を任意な仕方
で分布させるようにしてもよい。
示すように、半導体基板3上に円形の電極を任意な仕方
で分布させるようにしてもよい。
第3図はこの発明の他の実施例を示す斜視図であり、ま
た第4図はその一部の横断面図である。
た第4図はその一部の横断面図である。
これらの図面において第1図又は第2図と同一の符号は
同様の対象を示すものとする。
同様の対象を示すものとする。
この実施例は、第2図の実施例ではピエゾ電気板40の
上に直接ダイオード部分を修成しているのに対して、ダ
イオード部分をピエゾ電気板40から切離し、キャパシ
タンス部分とダイオード部分とをそれぞれ別個に形盛し
たものである。
上に直接ダイオード部分を修成しているのに対して、ダ
イオード部分をピエゾ電気板40から切離し、キャパシ
タンス部分とダイオード部分とをそれぞれ別個に形盛し
たものである。
このため、入力用トランスジューサ7を有するピエゾ電
気板40の一面の片側に沿って長手方向に電極2、誘電
体14、導電性バンド12、電極10、半導体基板3、
及び電極5がそれぞれ積層形成されてりる。
気板40の一面の片側に沿って長手方向に電極2、誘電
体14、導電性バンド12、電極10、半導体基板3、
及び電極5がそれぞれ積層形成されてりる。
導電性バンド12はピエゾ電気板40の表面に形成され
るポテンシャルプロフイルを電極10へ移動させるもの
である。
るポテンシャルプロフイルを電極10へ移動させるもの
である。
このような構造にすれば、キャパシタンス部分の静電容
量を大きくすべく誘電体層の厚さを減少させることがで
き、このため記憶蓄積時間を長くすることができる。
量を大きくすべく誘電体層の厚さを減少させることがで
き、このため記憶蓄積時間を長くすることができる。
すなわち、記録された信号が装置によって記憶保持され
る時間は各ユニットのダイオードと直列に接続されたキ
ャパシタの放電時定数によって決まる。
る時間は各ユニットのダイオードと直列に接続されたキ
ャパシタの放電時定数によって決まる。
この時間は逆方向にバイアスされたダイオードによって
与えられる極めて高い抵抗に依存することは勿論である
が、キャパシタの静電容量にも依存する。
与えられる極めて高い抵抗に依存することは勿論である
が、キャパシタの静電容量にも依存する。
この静電容量を大きくするためには、絶縁体(第2図の
部分40)の厚さを減少させなければならないのである
。
部分40)の厚さを減少させなければならないのである
。
尚、この実施例では、電極2はピエゾ電気板40と接触
して示されているが、この接触は必ずしも必要でない。
して示されているが、この接触は必ずしも必要でない。
接触電極2がピエゾ電気板40から或る距離離れている
ような場合でも同様に作用する。
ような場合でも同様に作用する。
本発明は上記実施例に限定されるものでないことは勿論
である。
である。
第1図は従来の記憶ユニットの電気回路図、第2図は本
発明による装置の一実施例を示す説明図、第3図は本発
明による装置の第二の実施例を示す説明図、第4図は第
3図の一部を拡大した横断面図、第5図は本発明に関連
する電気特性図、第6図は本発明の変形例の説明図であ
る。 1・・・・・・浮遊電極、2・・・・・・電極、3・・
・・・・半導体基板、4・・・・・・電気的絶縁層、5
・・・・・・接触電極、6・・・・・・導線、7,8・
・・・・・トランスジューサ、9・・・・・・導線、1
0・・・・・・電極、12・・・・・・誘電性バンド、
14・・・・・・絶縁層、40・・・・・・ピエゾ電気
板。
発明による装置の一実施例を示す説明図、第3図は本発
明による装置の第二の実施例を示す説明図、第4図は第
3図の一部を拡大した横断面図、第5図は本発明に関連
する電気特性図、第6図は本発明の変形例の説明図であ
る。 1・・・・・・浮遊電極、2・・・・・・電極、3・・
・・・・半導体基板、4・・・・・・電気的絶縁層、5
・・・・・・接触電極、6・・・・・・導線、7,8・
・・・・・トランスジューサ、9・・・・・・導線、1
0・・・・・・電極、12・・・・・・誘電性バンド、
14・・・・・・絶縁層、40・・・・・・ピエゾ電気
板。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 キャパシタンス部分を構成するピエゾ電気板と、こ
のピエゾ電気板の表面に設けた電気音響トランスジュー
サと、このトランスジューサによる音響波の伝播方向に
前記ピエゾ電気板との間に一定の空気層を介してとびと
びに設けた復数の電極と、この電極に接触してダイオー
ドを形成する半導体層とを具え、 記録時には、記録すべき高周波信号を前記トランスジュ
ーサで音響波に変換しこの音響波による前記ピエゾ電気
板の変形によって生ずる電圧を前記ダイオードの順方向
バイアス電圧によって前記キャパシタンス部分にポテン
シャルプロフィルとして蓄積し、 読出時には、前記キャパシタン不部分に蓄積された前記
ポテンシャルプロフィルを前記ダイオードの逆方向バイ
アスによるブレークダウン電流と共に解放するようにし
て成る高周波信号記憶装置。
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FR7345234A FR2254908B1 (ja) | 1973-12-18 | 1973-12-18 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5093549A JPS5093549A (ja) | 1975-07-25 |
| JPS583320B2 true JPS583320B2 (ja) | 1983-01-20 |
Family
ID=9129378
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP49145519A Expired JPS583320B2 (ja) | 1973-12-18 | 1974-12-18 | 高周波信号記憶装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US3953836A (ja) |
| JP (1) | JPS583320B2 (ja) |
| FR (1) | FR2254908B1 (ja) |
| GB (1) | GB1483405A (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4016412A (en) * | 1975-03-05 | 1977-04-05 | Massachusetts Institute Of Technology | Surface wave devices for processing signals |
| US4070652A (en) * | 1975-11-14 | 1978-01-24 | Westinghouse Electric Corporation | Acousto-electric signal convolver, correlator and memory |
| US4101965A (en) * | 1976-05-27 | 1978-07-18 | Massachusetts Institute Of Technology | Surface acoustic wave devices for processing and storing signals |
| FR2430063A2 (fr) * | 1978-06-29 | 1980-01-25 | Thomson Csf | Dispositif acoustique a memoire, pour la correlation notamment, de deux signaux haute frequence, procede de realisation du reseau de diodes utilise dans un tel dispositif et correlateur acoustique a memoire comportant un tel dispositif |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3129412A (en) * | 1962-08-27 | 1964-04-14 | Ibm | Magnetostrictive thin film delay line |
-
1973
- 1973-12-18 FR FR7345234A patent/FR2254908B1/fr not_active Expired
-
1974
- 1974-12-13 US US05/532,597 patent/US3953836A/en not_active Expired - Lifetime
- 1974-12-17 GB GB54558/74A patent/GB1483405A/en not_active Expired
- 1974-12-18 JP JP49145519A patent/JPS583320B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US3953836A (en) | 1976-04-27 |
| FR2254908B1 (ja) | 1976-10-08 |
| FR2254908A1 (ja) | 1975-07-11 |
| GB1483405A (en) | 1977-08-17 |
| JPS5093549A (ja) | 1975-07-25 |
| DE2459671B2 (de) | 1976-07-15 |
| DE2459671A1 (de) | 1975-06-26 |
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