JPS5834062U - 半導体装置検査装置 - Google Patents

半導体装置検査装置

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JPS5834062U
JPS5834062U JP12979681U JP12979681U JPS5834062U JP S5834062 U JPS5834062 U JP S5834062U JP 12979681 U JP12979681 U JP 12979681U JP 12979681 U JP12979681 U JP 12979681U JP S5834062 U JPS5834062 U JP S5834062U
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JP
Japan
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ink
ejection port
semiconductor device
measuring mechanism
defective
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Pending
Application number
JP12979681U
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English (en)
Inventor
石長 尚之
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sanyo Electric Co Ltd
Original Assignee
Sanyo Electric Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は従来の検査装置の要部の断面図、第2図は本考
案装置の構成を示すブロック図、第3図は本考案装置の
主要部の断面図であって、10はテスタ、17はマーカ
ヘッド、20はインク室、21は圧電振動板、を夫々示
している。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 半導体チップの良否を測定する測定機構と、該測定機構
    で不良品であると測定した時に出力されるマーキング信
    号に依ってマークインクを噴出するマーカヘッドを備是
    、該マーカヘッドはマークインクに依って満されたイン
    ク室と、該インク室の一壁面に設けられた圧電振動板と
    、インク室に穿たれたインク噴出口と、から成り、イン
    ク噴出口を半導体チップに近接対向せしめた状態で、上
    記圧電振動板に上記測定機構からの出力信号を印加して
    インク噴出口からマークインクを噴出せしめて不良品チ
    ップにのみ不良品マークを付ける事を特徴とした半導体
    装置検査装置。
JP12979681U 1981-08-31 1981-08-31 半導体装置検査装置 Pending JPS5834062U (ja)

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JPS5834062U true JPS5834062U (ja) 1983-03-05

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5193129A (ja) * 1975-02-13 1976-08-16

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5193129A (ja) * 1975-02-13 1976-08-16

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