JPS5835425A - 液晶偏光計 - Google Patents
液晶偏光計Info
- Publication number
- JPS5835425A JPS5835425A JP13508081A JP13508081A JPS5835425A JP S5835425 A JPS5835425 A JP S5835425A JP 13508081 A JP13508081 A JP 13508081A JP 13508081 A JP13508081 A JP 13508081A JP S5835425 A JPS5835425 A JP S5835425A
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- JP
- Japan
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- liquid crystal
- sample
- electric field
- light
- crystal cell
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/21—Polarisation-affecting properties
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/1313—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells specially adapted for a particular application
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、電界により複履綺量＃変化す為液晶セｋを層
いた液晶偏光計に関す為ものである。
いた液晶偏光計に関す為ものである。
試料の位相遅れ、璽履祈量、旋光度１！どを測定するた
め偏光計がａｍされる。偏光計の測定原理は種々−もれ
ているが、例えば複履贋量ＮＯＲ知の物質又はツァラデ
ー勅曇或いはホッケ身ス効果を有する物質を用いて、試
料とは逆の方向に位相遅れを生じさ昔て補償し、この補
償に用いた物質の位ｍにより、試料が有す為固有の複麿
祈量Ｅｌｌｌｌｌする位相遅れを測定するものがあ墨、
補償に用い為物質としては、水晶を平板に形成したもの
或い鯰−状に形成したものが使用され、・胃一部分が不
可欠であり自動計測を行なうには不向会な場合が多い。
め偏光計がａｍされる。偏光計の測定原理は種々−もれ
ているが、例えば複履贋量ＮＯＲ知の物質又はツァラデ
ー勅曇或いはホッケ身ス効果を有する物質を用いて、試
料とは逆の方向に位相遅れを生じさ昔て補償し、この補
償に用いた物質の位ｍにより、試料が有す為固有の複麿
祈量Ｅｌｌｌｌｌする位相遅れを測定するものがあ墨、
補償に用い為物質としては、水晶を平板に形成したもの
或い鯰−状に形成したものが使用され、・胃一部分が不
可欠であり自動計測を行なうには不向会な場合が多い。
又、自動計測を行ない得ゐファラデー七ル或いはポッケ
ルス竜６！用いると、装置が大祭りて高価になるとか高
電圧を必要とするという欠点がある。
ルス竜６！用いると、装置が大祭りて高価になるとか高
電圧を必要とするという欠点がある。
本発明の目的は、上述の従来例の欠点を除去し、従来か
ら履＃を本の温度依存性が高いために偏光計等には不向
会と婁れていた液晶を使用し、その温度による屈折率を
櫨正しながら、夷精度で自動計測に遣した安価な液晶偏
光計を提供す為ことにあり、その内容は、試料の複ｊＩ
！ｊｌｔ量等を露定するための偏光計に於いて、試料と
同一光路に、−一する電界により複屈折量が変化す為温
度セｙφ仲の液晶セルを挿入し、試料の有すゐ時性を、
電界、Ｓ変を基とする既知の液晶セにの時性と比曖す為
ことにより測定することを時機とするものである。
ら履＃を本の温度依存性が高いために偏光計等には不向
会と婁れていた液晶を使用し、その温度による屈折率を
櫨正しながら、夷精度で自動計測に遣した安価な液晶偏
光計を提供す為ことにあり、その内容は、試料の複ｊＩ
！ｊｌｔ量等を露定するための偏光計に於いて、試料と
同一光路に、−一する電界により複屈折量が変化す為温
度セｙφ仲の液晶セルを挿入し、試料の有すゐ時性を、
電界、Ｓ変を基とする既知の液晶セにの時性と比曖す為
ことにより測定することを時機とするものである。
本発明を図示の実施例に基づいて詳細に議明する。
第１図に於いて、光路に没うて噴火、ランプ１１、レン
ズ系１ｂを有す為光１［ＩＮ、光１１１１１ｉｂらの光
を直線偏光とす為ための偏光子！、試料３、異常光線屈
折率が電界ＩＩ：Ｗ＆じて変化する例えばネオマチック
液晶から威為液晶々＃４、検光子５、目或いは光電子増
僑菅等の光強度や分布を観察することがで念、必要Ｋｍ
じてしｙズ艙像系を含む観察系６が配列されている。液
晶セＪｋ４は第２図に示すように、ＩＩＪＩＩｗｔＩＩ
！ｋを持たない板ガラス等か−も成る透明板１０％１１
のそれぞれの内筒に１透明電極１２．１ｇがコーティン
グさｈでいて、液晶１４を挟設するよう化ｆｘ−）でい
る。叉、液晶１４の屑■には透明電極１２．１墨を平行
ｒ：＊持すみためのスペーサ１５、ｉ４が設けられてあ
り、透明電極１２．１３は液晶１４に印加する電界を変
化させるための交流低圧の駆動電源回路１７に後続され
ている。又、液晶１４の温度を検出するための温度セン
ｆ−１８が液晶１４内又はその近傍に配置され、液晶１
４の温度を表示部１９で読取り得るようになっている。
ズ系１ｂを有す為光１［ＩＮ、光１１１１１ｉｂらの光
を直線偏光とす為ための偏光子！、試料３、異常光線屈
折率が電界ＩＩ：Ｗ＆じて変化する例えばネオマチック
液晶から威為液晶々＃４、検光子５、目或いは光電子増
僑菅等の光強度や分布を観察することがで念、必要Ｋｍ
じてしｙズ艙像系を含む観察系６が配列されている。液
晶セＪｋ４は第２図に示すように、ＩＩＪＩＩｗｔＩＩ
！ｋを持たない板ガラス等か−も成る透明板１０％１１
のそれぞれの内筒に１透明電極１２．１ｇがコーティン
グさｈでいて、液晶１４を挟設するよう化ｆｘ−）でい
る。叉、液晶１４の屑■には透明電極１２．１墨を平行
ｒ：＊持すみためのスペーサ１５、ｉ４が設けられてあ
り、透明電極１２．１３は液晶１４に印加する電界を変
化させるための交流低圧の駆動電源回路１７に後続され
ている。又、液晶１４の温度を検出するための温度セン
ｆ−１８が液晶１４内又はその近傍に配置され、液晶１
４の温度を表示部１９で読取り得るようになっている。
更には偏光子２、試料３、液晶セル４、検光子５は必要
に応じて光路と垂直な菌内で回転可能となっている。
に応じて光路と垂直な菌内で回転可能となっている。
光源１を射出した光は、偏光子２により直線偏光され複
屈折性を有する試料６に入射する。試料３の方位角と入
射光の直線偏光の方位角とは一致して怠らず、第Ｓ図に
示すように角度差４５度を最適角度とするように調整さ
れている。試料器を透過した光は一般に楕円偏光となり
液晶セル４に入射する。液晶セル４の方位角は、試料６
０属折本の高い方向鴎に液晶セル４の屈折率の低い方向
−が一致して配置されている。液晶セ＃４は電極１２．
１５ＦＣ印加される電界により異常光線屈折率が変化す
るので、電界を調節することにより液晶セル４の透過光
は偏光子！とｈｃａ論方−の直線偏光となる。検光子５
は偏光子２と直交方向に置かれているため、観察系６Ｅ
は鬼が入射しない、然し電界の調節が上述の条件に舎わ
ない場合には、１晶竜に４を透過す為光はＩＩＩＩＰ！
偏光となり、偏光子５を透過する観中成分を生ず為ため
に観察系６には光が入射亥ることになる。ζζ″ｅＩｍ
晶１４の電界とｉａｔ：に対す為複屈折量、液晶１４の
厚みは既知である。諌晶セ４４Ｅｍ界をｌＩｍＬ、なけ
れば、一般に譲晶竜＃４からは楕円偏光が射出し観察系
６に光が入射す：＆、観察系番の光量を観察しながら、
液晶セｈ４Ｅｌｌ−す為電昇を冒俸して観察系４ＩＣ光
が入射しないようにし１．同時Ｉｃｌ１１度七ンチ１魯
を表示部１９により液晶１４の温度を検出する。このと
会の電界とＩＬ変の値から液晶セ＃４０位相遅れを知為
ことがで会る。液晶セル４の位相遅れと試！Ｉｓの位相
遅れは絶対値が等しく反転してい為状態てあ為かも、試
ＩＩ４番４Ｄ４１ｋ＠、遥れ或いは複履折、量を知るこ
とがて命る。Ｘ、液晶セル４１、検光子５を回転し、−
転角を読取墨ことｋより試料器の旋光度の測定も可能で
ある。
屈折性を有する試料６に入射する。試料３の方位角と入
射光の直線偏光の方位角とは一致して怠らず、第Ｓ図に
示すように角度差４５度を最適角度とするように調整さ
れている。試料器を透過した光は一般に楕円偏光となり
液晶セル４に入射する。液晶セル４の方位角は、試料６
０属折本の高い方向鴎に液晶セル４の屈折率の低い方向
−が一致して配置されている。液晶セ＃４は電極１２．
１５ＦＣ印加される電界により異常光線屈折率が変化す
るので、電界を調節することにより液晶セル４の透過光
は偏光子！とｈｃａ論方−の直線偏光となる。検光子５
は偏光子２と直交方向に置かれているため、観察系６Ｅ
は鬼が入射しない、然し電界の調節が上述の条件に舎わ
ない場合には、１晶竜に４を透過す為光はＩＩＩＩＰ！
偏光となり、偏光子５を透過する観中成分を生ず為ため
に観察系６には光が入射亥ることになる。ζζ″ｅＩｍ
晶１４の電界とｉａｔ：に対す為複屈折量、液晶１４の
厚みは既知である。諌晶セ４４Ｅｍ界をｌＩｍＬ、なけ
れば、一般に譲晶竜＃４からは楕円偏光が射出し観察系
６に光が入射す：＆、観察系番の光量を観察しながら、
液晶セｈ４Ｅｌｌ−す為電昇を冒俸して観察系４ＩＣ光
が入射しないようにし１．同時Ｉｃｌ１１度七ンチ１魯
を表示部１９により液晶１４の温度を検出する。このと
会の電界とＩＬ変の値から液晶セ＃４０位相遅れを知為
ことがで会る。液晶セル４の位相遅れと試！Ｉｓの位相
遅れは絶対値が等しく反転してい為状態てあ為かも、試
ＩＩ４番４Ｄ４１ｋ＠、遥れ或いは複履折、量を知るこ
とがて命る。Ｘ、液晶セル４１、検光子５を回転し、−
転角を読取墨ことｋより試料器の旋光度の測定も可能で
ある。
第４図は他の実施例を示すものであり、第１図のｉ＆量
の偏光子２と試料６との間に第１のλ７４波兼板１１６
が、液晶セに４と検光子５との間に第２のλ７４波長板
２１がそれぞれ挿入されている。
の偏光子２と試料６との間に第１のλ７４波兼板１１６
が、液晶セに４と検光子５との間に第２のλ７４波長板
２１がそれぞれ挿入されている。
第１のλ７４波長板２Ｉ鯰偏光子２の直線偏光を円偏光
にす為働会をし、第２の１／４ ＩＩ長板２１ａ円偏光
を元の直線偏光に直す働会をす為ものであり、１７４波
長板２０，２１同志は方位角が直交す為ように配置され
ている。第ＳＩＩは更Ｅｌ＆の実施例を示すものてあり
、第１図の俟量の試％器と液晶セに４との−に雑像レン
ズ系２１が挿入され、４Ｈｃ偏光−機能に適した配列と
なっている。
にす為働会をし、第２の１／４ ＩＩ長板２１ａ円偏光
を元の直線偏光に直す働会をす為ものであり、１７４波
長板２０，２１同志は方位角が直交す為ように配置され
ている。第ＳＩＩは更Ｅｌ＆の実施例を示すものてあり
、第１図の俟量の試％器と液晶セに４との−に雑像レン
ズ系２１が挿入され、４Ｈｃ偏光−機能に適した配列と
なっている。
ξれらの実施例は飼れも第１１ｉの場合と同様に、試料
器の位相遅れ、複屈折量、旋光度の測定を可能とするも
のてあ番。 ・ 観察系６、電源１８１１１７、温度センナ１８に一演算
処ｌＫ＠路を襲繞することｋより、測定の自動化以上説
明したように本ｌｌ明に係為液晶偏光計は、電界駆動゛
の液晶セルを取付は番という簡単な構造で、異方性試料
の位相差、複履祈嚢、旋光度の測定かて舎、かつ自動針
−をも可能にす為刹点がある。又、ファラデー効果を刹
層した装置に地駿して、交流低圧の電源回路により１１
！履折量の変化を実現可能なため電界の制御が春島とな
り、更１ｃ＃ツケにス効果を利用した装置に比較しても
高圧直流を用いないため、資金性が高い。
器の位相遅れ、複屈折量、旋光度の測定を可能とするも
のてあ番。 ・ 観察系６、電源１８１１１７、温度センナ１８に一演算
処ｌＫ＠路を襲繞することｋより、測定の自動化以上説
明したように本ｌｌ明に係為液晶偏光計は、電界駆動゛
の液晶セルを取付は番という簡単な構造で、異方性試料
の位相差、複履祈嚢、旋光度の測定かて舎、かつ自動針
−をも可能にす為刹点がある。又、ファラデー効果を刹
層した装置に地駿して、交流低圧の電源回路により１１
！履折量の変化を実現可能なため電界の制御が春島とな
り、更１ｃ＃ツケにス効果を利用した装置に比較しても
高圧直流を用いないため、資金性が高い。
図面は本発明に４１為箪晶偏光計の実施例を示すもので
あり、第１図は第１の実施例の構成■、第２図は液晶セ
ルの新ａｍ、第３ｍｌは偏光状膣の説明園、第４図、展
び１１５図は第！及び第１の実施例の構成ｍ”ｅある。 符号１は光源部、！は偏光子、３は試料、４は液晶セル
、６は検光子、６は観察系噌・、１１は透明板、１２．
１墨は逓−電極、噛４は液晶、１５．１６はスペーチ、
１７は電源回路、１自は温度センナ、２０．２１は１７
４波長板、！！は特許出願人 キャノン株式金
社１４１１ ｓｇｉｉ
あり、第１図は第１の実施例の構成■、第２図は液晶セ
ルの新ａｍ、第３ｍｌは偏光状膣の説明園、第４図、展
び１１５図は第！及び第１の実施例の構成ｍ”ｅある。 符号１は光源部、！は偏光子、３は試料、４は液晶セル
、６は検光子、６は観察系噌・、１１は透明板、１２．
１墨は逓−電極、噛４は液晶、１５．１６はスペーチ、
１７は電源回路、１自は温度センナ、２０．２１は１７
４波長板、！！は特許出願人 キャノン株式金
社１４１１ ｓｇｉｉ
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、試料の複履折量等を一定するための偏光計に於いて
、試料と同一光＊ ｒ−ｓ−加す為電界により複履折量
が資化する温度センナ仲の液晶セ身を挿入し、試料の有
す１善性を、電界、温度を基とす為既知の液晶セにの時
性と比験することにより測定す為ことを畳黴とする液晶
偏光計。 １試料及び液晶セｋを挾ルて２軟のＪ／４ ＩＩ！長板
を光路中に挿入した時評請求の範■第１項記−の液晶偏
光計。 五光路申に複数個の液晶セ身を挿入した時評請求の範囲
第１項記載の液晶偏光計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13508081A JPS5835425A (ja) | 1981-08-28 | 1981-08-28 | 液晶偏光計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13508081A JPS5835425A (ja) | 1981-08-28 | 1981-08-28 | 液晶偏光計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5835425A true JPS5835425A (ja) | 1983-03-02 |
Family
ID=15143363
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13508081A Pending JPS5835425A (ja) | 1981-08-28 | 1981-08-28 | 液晶偏光計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5835425A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2597641A1 (fr) * | 1986-04-22 | 1987-10-23 | Thomson Csf | Dispositif de modulation de la lumiere d'eclairement d'un ecran d'affichage electro-optique |
| EP0737856A3 (en) * | 1995-04-14 | 1999-03-10 | J.A. Woollam Co. Inc. | Polarisation monitoring methods and apparatus |
| EP1494014A1 (en) * | 2003-06-30 | 2005-01-05 | Emhart Glass S.A. | System with a ferro-electric liquid crystal for two-fold optical inspection of containers |
| CN112525493A (zh) * | 2020-11-13 | 2021-03-19 | 华中科技大学 | 一种铁电液晶延迟器光学特性检测方法及装置 |
-
1981
- 1981-08-28 JP JP13508081A patent/JPS5835425A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2597641A1 (fr) * | 1986-04-22 | 1987-10-23 | Thomson Csf | Dispositif de modulation de la lumiere d'eclairement d'un ecran d'affichage electro-optique |
| US4824216A (en) * | 1986-04-22 | 1989-04-25 | Thomson-Csf | Device for the modulation of the illuminating light of an electro-optic display screen |
| EP0737856A3 (en) * | 1995-04-14 | 1999-03-10 | J.A. Woollam Co. Inc. | Polarisation monitoring methods and apparatus |
| EP1494014A1 (en) * | 2003-06-30 | 2005-01-05 | Emhart Glass S.A. | System with a ferro-electric liquid crystal for two-fold optical inspection of containers |
| CN112525493A (zh) * | 2020-11-13 | 2021-03-19 | 华中科技大学 | 一种铁电液晶延迟器光学特性检测方法及装置 |
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