JPS5835973A - 埋込ゲ−ト型ゲ−トタ−ンオフサイリスタ - Google Patents
埋込ゲ−ト型ゲ−トタ−ンオフサイリスタInfo
- Publication number
- JPS5835973A JPS5835973A JP56135142A JP13514281A JPS5835973A JP S5835973 A JPS5835973 A JP S5835973A JP 56135142 A JP56135142 A JP 56135142A JP 13514281 A JP13514281 A JP 13514281A JP S5835973 A JPS5835973 A JP S5835973A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gate
- layer
- buried
- thyristor
- layers
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D62/00—Semiconductor bodies, or regions thereof, of devices having potential barriers
- H10D62/10—Shapes, relative sizes or dispositions of the regions of the semiconductor bodies; Shapes of the semiconductor bodies
- H10D62/17—Semiconductor regions connected to electrodes not carrying current to be rectified, amplified or switched, e.g. channel regions
- H10D62/192—Base regions of thyristors
- H10D62/206—Cathode base regions of thyristors
Landscapes
- Thyristors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は埋込ゲート型ゲートターンオフ(GTO)サイ
リスタ構造に関する。
リスタ構造に関する。
埋込ゲート型GTOサイリスタは、第1図に示す通常の
表面ゲート型に対して、第2図に示すように、P鵞ベー
ス層中にエピタキシャル成長法を利用して埋込形成され
たp、 I!i II M不純物層を分散的に設け、該
pt層をゲート層とする。第1図番こ示す表面ゲート型
GTOサイリスタはオフ特性改善のために、カソードX
が短柵状の幅の狭い構造にしてN2エミツタ層が分割さ
れるのに対して、埋込ゲート型()ToサイリスタはP
2埋込ゲート層上に全面にN1エミツタ層が形成される
。これは、S込ゲート型GTOサイリスタは、2E電流
がゲートスリットSを流れ、P1+埋込ゲート部がサイ
リスタ動作しないことを利用したものである。このため
、埋込ゲ−ト型GTOサイリスタはゲート・カソード間
短絡発生が少なくなってその製造を容易にするなどの利
点もある。
表面ゲート型に対して、第2図に示すように、P鵞ベー
ス層中にエピタキシャル成長法を利用して埋込形成され
たp、 I!i II M不純物層を分散的に設け、該
pt層をゲート層とする。第1図番こ示す表面ゲート型
GTOサイリスタはオフ特性改善のために、カソードX
が短柵状の幅の狭い構造にしてN2エミツタ層が分割さ
れるのに対して、埋込ゲート型()ToサイリスタはP
2埋込ゲート層上に全面にN1エミツタ層が形成される
。これは、S込ゲート型GTOサイリスタは、2E電流
がゲートスリットSを流れ、P1+埋込ゲート部がサイ
リスタ動作しないことを利用したものである。このため
、埋込ゲ−ト型GTOサイリスタはゲート・カソード間
短絡発生が少なくなってその製造を容易にするなどの利
点もある。
しかし、埋込ゲート型GTOサイリスタは、Pt埋込ゲ
ート相当分がせイリスタ動作しないことから。
ート相当分がせイリスタ動作しないことから。
第3図に示すようにオンゲート電流工gtのうちP!城
連込ゲートらサイリスタ動作しない部分のN、エミツタ
層へ流れる電流分工tlはターンオン動作に寄与しない
こと、即ちオンゲート電流工gtが必要以上−こ大きく
なり、生電流工りとの比になるターンオン利得を下げる
ことになる。この工g t /を減少させるために、P
、埋込ゲート面積を減らすことはそのP1+1+層削除
はサイリスタとして動作するためにターンオフ失敗を起
し易くする〇 本発明は、上記事情に鑑みてなされたもので、き出すに
必要な範囲に抑えて等価的に余分のPt層を削除するよ
うカソードN1層を分割又はpi層中央部を形成せずに
それに対向するアノード13層を削除した分割構造にす
ることにより、オンゲート電流を低減しだ埋込ゲート型
GTOサイリスタを提供することを目的とする。
連込ゲートらサイリスタ動作しない部分のN、エミツタ
層へ流れる電流分工tlはターンオン動作に寄与しない
こと、即ちオンゲート電流工gtが必要以上−こ大きく
なり、生電流工りとの比になるターンオン利得を下げる
ことになる。この工g t /を減少させるために、P
、埋込ゲート面積を減らすことはそのP1+1+層削除
はサイリスタとして動作するためにターンオフ失敗を起
し易くする〇 本発明は、上記事情に鑑みてなされたもので、き出すに
必要な範囲に抑えて等価的に余分のPt層を削除するよ
うカソードN1層を分割又はpi層中央部を形成せずに
それに対向するアノード13層を削除した分割構造にす
ることにより、オンゲート電流を低減しだ埋込ゲート型
GTOサイリスタを提供することを目的とする。
第4図は本発明の一笑施例を示す。同図が第3図と異な
る部分は、P−埋込ゲート層はその面積をオフゲート電
流を引き田すに必要な範囲にして無効のオンゲート電流
が流れる中央部(斜線部分)にはPt層を形成せず、こ
の中央部立下にはP、エミツタ層を形成せずにN1ベー
ス層として残してアノード電極ムによってショートする
構造にある。
る部分は、P−埋込ゲート層はその面積をオフゲート電
流を引き田すに必要な範囲にして無効のオンゲート電流
が流れる中央部(斜線部分)にはPt層を形成せず、こ
の中央部立下にはP、エミツタ層を形成せずにN1ベー
ス層として残してアノード電極ムによってショートする
構造にある。
この構造において、P2fi込ゲート層の抵抗はP。
ベース抵抗に比して遥かに小さいためP1+層削除によ
りオンゲート電流の電流密度が増加する。これに加えて
、オンゲート電流の無効分も減少するタメオ′ケート電
流工gtを低減することができる。
りオンゲート電流の電流密度が増加する。これに加えて
、オンゲート電流の無効分も減少するタメオ′ケート電
流工gtを低減することができる。
さらに、?鵞11込ゲート層を埋込形成するには通常エ
ビータキシャル成長を利用するが、12層の面積減少は
オートドーピング減少効果を有してこれによる工gt低
減を一層効果的にする。なお、P−埋込ゲート層の削除
部分直下は211477層が形成されずにトランジス、
夕としてのみ動作し、素子のターンオフに際しても誤っ
たサイリスタ動作を起すことがない。
ビータキシャル成長を利用するが、12層の面積減少は
オートドーピング減少効果を有してこれによる工gt低
減を一層効果的にする。なお、P−埋込ゲート層の削除
部分直下は211477層が形成されずにトランジス、
夕としてのみ動作し、素子のターンオフに際しても誤っ
たサイリスタ動作を起すことがない。
本実施例1こおいては、オンゲート電流工gtの減少率
を第3図のそれに対して約60%を低減できた。
を第3図のそれに対して約60%を低減できた。
第5図は本発明の他の実施例を示す。同図が第3図と異
なる部分は、23層のうちオンゲート電流無効分になる
中央部に対向するN!エミッタ層を形成せずにPt一層
として残し、カンードエミツタのショートとならないよ
うに81酸化膜などの絶縁膜によりカソード1極にとP
l−ベース層を分離した点にある。
なる部分は、23層のうちオンゲート電流無効分になる
中央部に対向するN!エミッタ層を形成せずにPt一層
として残し、カンードエミツタのショートとならないよ
うに81酸化膜などの絶縁膜によりカソード1極にとP
l−ベース層を分離した点にある。
この構造により、オンゲート電流無効分は低減し、ゲー
トスリット周囲付近でのオンゲート電流密度が増加し、
換言すればオンゲート電流工、、ヲ少なくしてターンオ
ンできる。また、N、エミッタの度合を逆バイアスして
素子のターンオフを起させル際に、N1エミッタショー
トによる漏れ電流増大を防止する。
トスリット周囲付近でのオンゲート電流密度が増加し、
換言すればオンゲート電流工、、ヲ少なくしてターンオ
ンできる。また、N、エミッタの度合を逆バイアスして
素子のターンオフを起させル際に、N1エミッタショー
トによる漏れ電流増大を防止する。
本実施例においては、オンゲート電流工gtの減少率を
餉3図のそれに対して約70%を低減できこのように本
発明においては p:埋込ゲートのうちサイリスタ動作
に寄与しない部分からN、エミツタ層へ流れる電流を低
減する構造とするため。
餉3図のそれに対して約70%を低減できこのように本
発明においては p:埋込ゲートのうちサイリスタ動作
に寄与しない部分からN、エミツタ層へ流れる電流を低
減する構造とするため。
オンゲート電流の無効分を低減してターンオン利得を上
げることができる。
げることができる。
第1図は従来の表面ゲート型GTOサイリスタ構造図(
a)と一部斜面図(b)、第2図は従来の種違ゲート型
GTOサイリスタ構造図(L)と一部斜面図(b)、第
3図は従来の埋込ゲートfi GTOサイリスタにおけ
るオンゲート電流を説明するための図、第4図は本発明
の一実施例を示す構造図、第5図は本発明の他の実施例
を示す構造−である。 A・・・アノード電極、K・・カンード電極、G用ゲー
ト電極、P1+・・・埋込ゲート層。 第1図(a) 第2図(a) 第2図(b)
a)と一部斜面図(b)、第2図は従来の種違ゲート型
GTOサイリスタ構造図(L)と一部斜面図(b)、第
3図は従来の埋込ゲートfi GTOサイリスタにおけ
るオンゲート電流を説明するための図、第4図は本発明
の一実施例を示す構造図、第5図は本発明の他の実施例
を示す構造−である。 A・・・アノード電極、K・・カンード電極、G用ゲー
ト電極、P1+・・・埋込ゲート層。 第1図(a) 第2図(a) 第2図(b)
Claims (1)
- !tlisl’t N鵞の4層構造にしてP、ベース層
中に高スタにおいて、上記ゲート層はサイリスタ動作に
寄与しない中央部分からN、エミツタ層に流れる電流を
低減するよう該中央部分基こ対向するカソードM8層を
分割構造に又は該中央部分を形成せずに該中央部分に対
向するアノード11層を削除した分割構造にしたことを
特徴とする埋込ゲート型ゲートターンオフ豐イリスタ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56135142A JPS5835973A (ja) | 1981-08-28 | 1981-08-28 | 埋込ゲ−ト型ゲ−トタ−ンオフサイリスタ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56135142A JPS5835973A (ja) | 1981-08-28 | 1981-08-28 | 埋込ゲ−ト型ゲ−トタ−ンオフサイリスタ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5835973A true JPS5835973A (ja) | 1983-03-02 |
| JPS6364908B2 JPS6364908B2 (ja) | 1988-12-14 |
Family
ID=15144781
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56135142A Granted JPS5835973A (ja) | 1981-08-28 | 1981-08-28 | 埋込ゲ−ト型ゲ−トタ−ンオフサイリスタ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5835973A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60152063A (ja) * | 1984-01-20 | 1985-08-10 | Toyo Electric Mfg Co Ltd | 静電誘導サイリスタ |
| US4651188A (en) * | 1984-05-29 | 1987-03-17 | Kabushiki Kaisha Meidensha | Semiconductor device with specifically oriented control layer |
| US5591991A (en) * | 1993-07-28 | 1997-01-07 | Ngk Insulators, Ltd. | Semiconductor device and method of manufacturing the same |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5552249B2 (ja) * | 2009-03-27 | 2014-07-16 | 新電元工業株式会社 | 3端子サイリスタ |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5117680A (en) * | 1974-08-05 | 1976-02-12 | Hitachi Ltd | Geeto taan ofu sairisuta |
| JPS5428579A (en) * | 1977-08-05 | 1979-03-03 | Hitachi Ltd | Field effect switching element |
| JPS54131886A (en) * | 1978-04-04 | 1979-10-13 | Meidensha Electric Mfg Co Ltd | High-speed switching thyristor |
-
1981
- 1981-08-28 JP JP56135142A patent/JPS5835973A/ja active Granted
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5117680A (en) * | 1974-08-05 | 1976-02-12 | Hitachi Ltd | Geeto taan ofu sairisuta |
| JPS5428579A (en) * | 1977-08-05 | 1979-03-03 | Hitachi Ltd | Field effect switching element |
| JPS54131886A (en) * | 1978-04-04 | 1979-10-13 | Meidensha Electric Mfg Co Ltd | High-speed switching thyristor |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60152063A (ja) * | 1984-01-20 | 1985-08-10 | Toyo Electric Mfg Co Ltd | 静電誘導サイリスタ |
| US4651188A (en) * | 1984-05-29 | 1987-03-17 | Kabushiki Kaisha Meidensha | Semiconductor device with specifically oriented control layer |
| US5591991A (en) * | 1993-07-28 | 1997-01-07 | Ngk Insulators, Ltd. | Semiconductor device and method of manufacturing the same |
| US5739044A (en) * | 1993-07-28 | 1998-04-14 | Ngk Insulators, Ltd. | Method of manufacturing semiconductor device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6364908B2 (ja) | 1988-12-14 |
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