JPS5836723B2 - 軸偏心測定装置 - Google Patents

軸偏心測定装置

Info

Publication number
JPS5836723B2
JPS5836723B2 JP52051328A JP5132877A JPS5836723B2 JP S5836723 B2 JPS5836723 B2 JP S5836723B2 JP 52051328 A JP52051328 A JP 52051328A JP 5132877 A JP5132877 A JP 5132877A JP S5836723 B2 JPS5836723 B2 JP S5836723B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
positive
negative
high value
peak value
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP52051328A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS52135761A (en
Inventor
ウイリアム・ハーバード・サウス
タマス・イマレ・パタンチウスーエイブラハム
レオナルド・チヤールズ・バルセロツチ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Westinghouse Electric Corp
Original Assignee
Westinghouse Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Westinghouse Electric Corp filed Critical Westinghouse Electric Corp
Publication of JPS52135761A publication Critical patent/JPS52135761A/ja
Publication of JPS5836723B2 publication Critical patent/JPS5836723B2/ja
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/10Measuring sum, difference or ratio
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B7/00Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
    • G01B7/30Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
    • G01B7/31Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes for testing the alignment of axes
    • G01B7/312Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes for testing the alignment of axes for measuring eccentricity, i.e. lateral shift between two parallel axes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/04Measuring peak values or amplitude or envelope of AC or of pulses
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/34Testing dynamo-electric machines

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、概略的に言えば軸の偏心を電気的に検出す
るための軸偏心測定装置に関し、さらに明確に言えば、
比較的低速度で回転している軸の偏心を周期的にサンプ
リングし偏心の絶対値を電気的に測定する装置に関する
蒸気タービン軸のような軸が、或る期間中1角度位置に
保たれると、それら自身の重さで曲る傾向があることは
よく知られている。
軸の曲りは、その軸がその後回転する時に偏心又は振動
を軸に生じさせがちである。
これは、軸の実際の回転中心が幾例学的中心にもはや対
応しなくなり、しかもその回転中心が偏心値に等しい或
る量だけ、幾何学的中心からずれていることを意味して
いる。
偏心している軸は、回転時にとりわけ軸受に損傷を生じ
させる。
大きい軸は、起動動作中に、1分間に約1.5回転から
600回転の速度範囲内で回転し、そしてその範囲内で
偏心が測定されることは周知である。
普通、60ヘルツの電力を生じさせるために1 8 0
O RPMか3 6 0 0 RPM,又は50ヘル
ツの電力を生じさせるために1 50ORPM又は30
00RPM7)動作速度で軸は回転する、しかしながら
、上述の動作速度では偏心軸は破壊することになるだろ
う。
1.5RPMないし600RPMの比較的低速度範囲で
偏心の測定を試みることに関連する1つの問題は、この
偏心測定に使用される電子機器に広い速度比を適合させ
ねばならないことである。
この場合速度比は400対1(600対l.5)である
電子機器を使用することに関連する今1つの間瞑は、周
波数スケールの1端の非常に低い周波数、即ち0.02
5ヘルツ(または1.5RPM)で測定を行なうという
ことである。
それ故、広い範囲の周波数または軸回転速度にわたって
確実に動作し、そして又タービン系の回転歯車速度(
1.5RPM)で確実に動作する電子的な偏心測定装置
がもし得られるならば、それは極めて好都合であろう。
このような場合に関連するいくつかの問題には、0.0
25ヘルツの周波数において電子装置の各段間の信号結
合が困難であること、並びに広範囲の動作速度比即ち4
00対1のため、ある容量性素子に対し大量の充電電流
が必要であろうということである。
この発明によれば、軸の偏心を測定するための新しい装
置が提供される。
この装置には、軸の偏心を正弦波的に変化する電気信号
に変換する変換器が含まれる。
これには、又上記変換器の出力側に入力側がそれぞれ接
続されるリセット可能な正ピーク検出器及びリセット可
能な負ピーク検出器が含まれる。
正ピーク検出器及び負ピーク検出器は、リセット後最終
的に、正弦波電圧の正の波高値及び負の波高値をそれぞ
れ示す直流出力信号を供給する。
これらの信号は、一斉にサンプリングされ、そして正弦
波の周期に等しいかそれ以上の期間中保持回路中に蓄積
される。
その僅か後に、ピーク検出器はリセットされ、動作中の
ピーク検出動作部分が再びくり返される。
その間に、蓄積された信号は比較され、その結果正負波
高電圧間の差を示す直流信号が供給される。
これは変換器によって測定される時の軸偏心の量を示す
この発明をよりよく理解するために、添付図面中に示さ
れたこの発明の模範的な好ましい実施例について以下言
及する。
次に図面、特に第1A図及び第2図を参照すれば、軸s
hの偏心を測定するための変換器10が示されている。
軸shの偏心は、軸かそれの真の中心TCでなくて偏心
した中心ECを中心に回転するという事実によって生ず
る。
偏心した中心ECと真の中心TC間の距離をXとする。
軸の偏心は、この場合Xの2倍に等しい。
変換器10は、軸shの振動即ち偏心を電気信号に変換
する近接変換器であればよく、その電気信号は信号調和
前置増幅器12に供給される。
この増幅器については、エフ・テイ・トンプソン( F
−T .Thomps−on )とビー.了一ル.ドウ
(B.R.Dow)の発明で、1971年9月28日登
録の米国特許第3,6 0 9,5 8 0号中に詳述
されている。
信号調和前置増幅器12の出力は第1A図中に示された
信号eX(t)である。
信号ex(t)の数式は次の通りである。
e x(t) = ( e p −p )/2 ●(
1−hinωt )+emin (1)この式において
、ep−pは正弦波信号sinωtの振幅を表わし、e
minは正弦波の負の波高値の零基準軸を越えるレベル
を表わしている。
第1A図に示されている他の値emaxは、正弦波の正
の波高値の零基準軸を越えるレベルとして示されている
以下第2図を詳細に参照すれば、こ\には、上述の信号
調和前置増幅器出力信号ex(t)を入力として受信し
、そしてこの信号に作用して、第1E図に示す偏心アナ
ログ信号eDC及び第1D図に示す瞬時偏心信号eat
)を得るようにした電子回路が示されている。
出力信号ex(t)は、抵抗素子15の1端、演算増幅
器A2の正入力端子、及び演算増幅器A3の正入力端子
に同時に供給される。
抵抗素子R15の他端子は、演算増幅器A4の正入力端
子に接続され、そして他の抵抗素子R24の1端に接続
される。
演算増幅器人4の出力には、図面第1D図に示されてい
る瞬時偏心信号ey(t)が現われる。
それに加え、この信号は抵抗素子R18によって演算増
幅器A4の負入力端子に帰還される。
演算増幅器人2の出力側はダイオードD2のアノードに
接続され、それのカソードは抵抗素子R12の1端に接
続される。
抵抗素子R12の他端は、抵抗素子R11の1端、コン
デンサ素子C1の1端、演算増幅器A2の負入力端子、
及びスイッチ素子SW47)入力端子に、同時に接続さ
れる。
コンデンサ素子C1の他端は系の共通点又は大地に接続
される。
抵抗素子Rllの他端はスイッチ素子SW2の入力即ち
1端子に接続される。
スイッチ素子SW4の他端は演算増幅器A5の正入力端
子及びコンデンサ素子C3の1端に接続され、このコン
デンサC3の他端は系の共通点又は大地に接続される。
スイッチ素子SW2の他端は、又系の共通点又は大地に
接続される。
演算増幅器A2の負入力端子、即ち素子CI ,R11
,R1 2及びSW4の共通接続点は、図面第1B図
に示された信号ep(t)が現われる端子を表わしてい
る。
スイッチ素子SW4は時点NTで閉戒するようプログラ
ムされる。
この時点NTの意味は後で詳述されるであろう。
同様にスイッチ素子SW2は時点NT+△Tで閉成する
ようプログラムされる。
演算増幅器A5の出力はこの増幅器の負入力端子に負帰
還され、そして抵抗素子R26の1端に供給される。
この抵抗素子の他端は、抵抗素子R2Bの1端及び演算
増幅器人7の正入力端子に同時に接続される。
抵抗素子R28の他端は系の共通点又は大地に接続され
る。
演算増幅器λ5の出力は、第1A図及び第1B図に示し
た電圧レベルemaxを伝える。
演算増幅器A3の出力側はダイオードD3のカソードに
接続され、そのアノードは抵抗素子R14の1端に接続
される。
抵抗素子R14の他端は、演算増幅器A3の負入力端子
、コンデンサ素子C2の1端、スイッチ素+SW3の1
端、及びスイッチ素子SW5の1端に、同時に接続され
る。
コンデンサ素子C2の他端は、系の共通点又は大地に接
続され、スイッチ素子SW3の他端は、抵抗素子R10
の1端及び抵抗素子R13の1端に同時に接続される。
抵抗R13の他端は正電源+■Cに接続され、抵抗素子
R10の他端は系の共通点又は大地に接続される。
スイッチ素子SW5及びSW3は、スイッチ素子SW4
及びSW2について前述したように、それぞれプログラ
ム信号MT及びNT+,aTによって制御される。
演算増幅器A3の負端子、即ち素子Rl 4 ,C2
,SW3及びSW5の共通接続点は、第1C図に示され
た信号en(t)が現われる端子を表わしている。
スイッチ素子SW5の他端は、コンデンサ素子C4の1
端及び演算増幅器A6の正入力端子に同時に接続される
コンデンサ素子C4の他端は系の共通点又は大地に接続
される。
演算増幅器A6の出力側は、この増幅器人6の負入力端
子、抵抗素子R20の1端及び抵抗素子R16の1端に
同時に接続される。
抵抗素子R16の他端は、演算増幅器A4の負端子に接
続される。
抵坑素子R20の他端は、演算増幅器A7の負入力端子
、抵抗素子R22の1端、及び抵抗素子21の1端に、
同時に接続される。
抵抗R21の他端は、負電源−VDに接続され、抵抗素
子R22の他端は、演算増幅器A7の出力端子に接続さ
れる。
この出力端子は、図面第1E図に示す信号eDCが現わ
れる端子である。
コンデンサ素子CI,C3及びコンデンサ素子C2,C
4は次式で示す相互関係にある。
C3<:Cl/10 (2) C4<.C 2/1 0 次に第1A〜1E図及び第2図を参照して、この発明の
作用を説明する。
この信号処理電子回路装置では、2種類の電気信号が得
られることがわかる。
1つの信号(第1D図図示)は軸偏心の実時間変化を表
わし、その信号の負波高値は信号振幅に関係なく零電圧
基準にあり、一方それの正波高値は偏心を単位インチ当
りのボルトで示した比例測定値を表わしている。
0.3 8 1mm( 1 5ミル)当り10ボルト又
はそれ以下が、一般に偏心の許され得るアナログ電圧と
考えられる。
他の信号(第1E図図示)は、偏心信号中の交流或分に
よるリブルが1φ以下の、偏心信号振幅に比例する一定
の正電圧レベルである。
この偏心測定装置では、この偏心信号振幅(第1E図図
示)の変化は、低速度で軸の3回転以下、90RPM以
上の速度で1秒以下の適度な時間中に、適正な出力とし
て示されるであろう。
この発明に係る偏心検出回路に使用されるサンプリング
技術は、ある条件によって定められる。
例えば、サンプル間隔Tは偏心信号周期より長くなけれ
ばならない。
この条件は、次のサンプル時との間に偏心信号の少なく
とも1つの正及び負の波高値の検出を保証し、それでe
max及びe Iiinニ対応する一定のレベルが特定
の蓄積コンデンサC1及びC2の両端に印加され、そし
てそれらの値のサンプル値が、時点NT+,<■におい
てリセットされる前に取出される。
この方法によって、偏心アナログ信号のりプルは充分減
少され、多くの場合殆んど完全に除去される。
時間△Tによるコンデンサ素子C1及びC2上の電圧の
サンプリングに続いて、正及び負のピーク検出器に組合
わさった中間コンデンサC1及びC2は、次のサンプル
パルス(即ちリセッティング)との間に生ずる偏心信号
中の減少する振幅変化に適応させるために、正及び負方
向にそれぞれ充電される。
理想的には、サンプリングパルスのタイミングは、軸回
転の低調波(即ち2又は3回転毎に1サンプリング)に
固定されるべきである。
しかしながらこのより簡単な実施例では、2つの固定し
たサンプリング周期が使用され、その1つは1.5RP
Mから約90RPM迄の速度範囲に対し、他の1つは約
9ORPMから6 0 0 RPM迄の速度範囲に対し
使用される。
両方の場合共サンプリング間隔は、特定の範囲中の最も
長い回転周期以上の長さが選ばれる。
即ち、Tは、1.5RPM〜90RPMに対し50秒に
等しいかそれ以上、90RPM〜6 0 0 RPMに
対し1秒に等しいか、それ以上である。
電子回路の動作において、先ず出力信号e気t)の正及
び負の波高値を登録する必要がある。
次に正及び負のレジスタ中に保持された電圧をサンプリ
ングし、それからそのサンプリングした信号を次のサン
プリング時迄保持することが要求される。
その次に、eiinと名付けられた負のサンプリング保
持出力の、emaxと名付けられた正のサンプリング保
持出力からの代数的減算が演算増幅器AIによって行な
われる。
これにより第1E図に示す電圧信号eDCが得られる。
この今述べたステップと同時に、第1D図に示す負の波
高値が大地又は系の共通点レベルにある瞬時偏心信号が
発生される。
それ故演算増幅器A4の出力は次式によって定められる
ey (t)− ( e p−p ’)/2 − (
1+sin、ωt’) (4)コンデンサ素子C1
は最初放電されており、スイッチ素子SW2は開き、そ
して演算増幅器人2の正入力端子における信号は第1人
図に示すe I1inにあると仮定する。
e minはOより大きいから、演算増幅器人2の出力
は正となり、ダイオードD2は順方向にバイヤスされ、
演算増幅器からの充電電流は、ダイオードD2及び抵抗
素子R12をへてコンデンサ素子C1中へ流れ込む。
時定数C1×R12にはe=c(t)の最大変化率より
遥かに低い値が選ば札それで演算増幅器A2の負入力端
子の電圧は、e−からemax へと変化するそれの正
入力端子における電圧を追跡する。
正入力電圧がe max に達すると、正入力端子と負
人力端子間の電圧差は零となる。
それ故演算増幅器A2の出力も又零となる。
コンデンサ素子C1の抵抗素子R12をへて演算増幅器
A2の出力への帰り放電は、ダイオードD2の逆バイヤ
スにより阻止される。
演算増幅器A2の出力は、この増幅器の正入力端子上の
入力信号電圧がコンデンサ素子C1中に蓄積された電圧
より、ますます負となっている間は、零であり続けるで
あろう。
演算増幅器A3を含む負ピーク検出器の動作は、演算増
幅器A2を含む正ピーク検出器の動作と、これについて
説明されたのとすべての極性が逆であるという点を除け
ば実質的に同じである。
それに加え、コンデンサ素子C2は正の基準値に向け、
充電され、信号exCt)により電圧値e minに向
って放電される。
入力信号e==(t)の下り傾斜は、コンデンサ素子C
2の電圧値6 yninに向う放電を生じさせる。
系にとって抵抗R10〜R14は必しも必要でないこと
に注目すべきである。
それらの機能の覗いは主として保護である。
゛正ピーク検出器の出力はe p(t)と符号付けされ
、図面第1B図に示される。
負ピーク検出器の出力はen(t)と符号付けさ札図面
第1C図に示される。
それから、又2個のサンプリング及び保持回路が設けら
れ、その内の1方には正波高値信号のための演算増幅器
A5が含まれ、他方には負波高値信号のための演算増幅
器A6が含まれる。
サンプリングの瞬間、即ち時点NT(N+1)T等では
、スイッチ素子SW4及びSW5が共に短い期間(使用
される最も高い周波数の周期中の僅かな1部分)閉成し
、コンデンサ素子C1及びC2中に蓄積された電荷は、
それぞれスイッチ素子SW4及びSW5をへて、電流と
して流れ、それぞれコンデンサ素子C3及びC4を充電
する。
各場合共、電荷が2つのコンデンサ素子に配分されるこ
とに注目すべきである。
即ちコンデンサ素子C1の電荷は、コンデンサ素子C1
とコンデンサ素子C3との間に配分され、コンデンサ素
子C2の電荷は、コンデンサ素子C2とコンデンサ素子
C4との間に配分される。
それで、もしコンデンサ素子C1及びC2の端子電圧が
、サンプリング時点(NT等)前でそれぞれ■1及び■
2であったなら、サンプリング時点後の電圧VIS及び
V2Sの値は、それぞれ次式で与えられる。
VIS=VIC1/(CI+C3) (5)V2B
=V2C2/(C2+C4) (6)電圧■1及び
■2の大部分を、それぞれ演算増幅器A5及びA6の入
力端子に転送するためには、コンデンサ素子C3及びC
4の容量はコンデンサ素子C1及びC2のそれより遥か
に小さくなければならない。
それで、もしコンデンサ素子C3及びC4がコンデンサ
素子C1及びC2とそれぞれ例えば次式の関係にあるな
らば、一様な偏心レベルがいくつかのサンプリング周期
中で正しくデサンプリングされる。
C3=C1/10 (7) C4=C2/10 (8) このような場合、2サンプリング中、即ち2つのサンプ
リング期間中の発生中に、コンデンサ素子C1及びC2
の端子電圧■1及び■2の約99多が、それぞれ演算増
幅器A5及びA6の入力側に転送される。
それぞれ演算増幅器A5及びA6の出力であり、そして
第1B図及び第1C図で示ような電圧値e max及び
e winとそれぞれ一致した2つのサンプリング及び
保持段の出力は、演算増幅器A7で表わされる代数減算
段へ入力として印加される。
信号emax は、抵抗器R26及びR28の組合わせ
をへて演算増幅器AIの正入力端子に与えられ、一方信
号ewinは、抵抗素子R20及びR22をへて演算増
幅器AIの負入力端子に与えられる。
抵抗素子R28の入力端子でない側は接地され、正入力
端子に対する零電圧基準を提供し、一方演算増幅器A7
の負入力端子は抵抗素子R21によりバイヤス電源−V
Dに接続されることに注目すべきである。
演算増幅器AIの出力は上述の抵抗素子R22に帰還さ
れる。
演算増幅器AIの出力には、図面第1E図に示す偏心ア
ナログ信号eDCが含まれる。
−VD入力を使用するかどうかは随意である。
これの目的は、零線の表示を得るため、即ち偏心が零で
ある時でも僅かな直流電圧を出力するためである。
図面第1D図に示される瞬時偏心信号は、演算増幅器A
4の出力側に現われる。
図面第1人図に示される信号e==(t)は、抵抗素子
R15によって演算増幅器A4の正入力端子に与えられ
る。
演算増幅器A6の出力、即ち第1C図に示す信号剖−は
、抵抗素子R16によって演算増幅器A4の負入力端子
に与えられる。
演算増幅器入4の出力は、抵抗素子R18によって、そ
れの負入力端子に帰還される。
ここに詳述された電子回路及び信号調和装置は、その可
変成分が回転軸の偏心測定値である入力に応答する2つ
の信号を発生させるのに適当である。
この回路は、入力可変成分の正負両波高値間の大きさに
正比例する値である一様なレベルを、入力信号に応答し
て発生させる。
この一様なレベルは、軸回転速度に依存する種々の繰返
し数をもって更新される。
他の信号がこの回路によって発生される。
この信号の波形は、入力信号の可変戒分の実時間に対す
る変化そのものである。
しかしながら、この信号の負の波高値は、入力信号の振
幅又は周波数の如何に関わらず接地電位に維持される。
この発明の実施例に関して、その偏心値測定は、蒸気タ
ービン軸のそれに限られるべきでなく、比較的低回転速
度での偏心値測定なら、どんな軸に対しても使用できる
ということを理解すべきである。
又変換器10及び信号調和前置増幅器12はそれに限ら
れずに、どんな種類の適当な偏心変換器及び信号調和前
置増幅器をも使用することができることをも理解すべき
である、それの只一つの条件は、装置12が、第1A図
と同じ出力信号を発生するよう調節され得ること、即ち
信号が正方向にずらされるべきであるということである
この発明の種々の実施例に関連して示された装置は多く
の利点を有している。
その内の1利点は、コンデンサ素子と抵抗素子をもった
演算増幅器を使用しているので、長時定数の回路部品を
組合わす必要がなくなるという事実にある。
即ち偏心の変化は、それの発生と殆ど同時に、サンプリ
ングパルス時点(NT等)中に登録され、それからその
サンプリング値は、T時間後の次のサンプリングパルス
時点迄保持される。
それで回路検出速度のタイミングはサンプリング繰返し
数によって制御され、従来の通常の場合のように長時定
数の回路部品によって制御されるのではない。
【図面の簡単な説明】
第1A図はこの発明の装置に使用される偏心測定用変換
器出力の時間に対する変化を示す波形図、第1B図はそ
れの正ピーク検出器出力の時間に対する変化を示す波形
図、第1C図は負ピーク検出器出力の時間に対する変化
を示す波形図、第1D図は第1A図の波形からe mi
nを除いた後の波形図、第1E図は偏心量の時間に対す
る変化を表わす直流値eDC の波形図である。 第2図は第1D図、第1E図に示されたような偏心を表
わす出力信号を得るための、この発明の1実施例を一部
ブロックで示した回路図である。 図中、1は変換器、12は信号調和前置増幅器、A2〜
AIは演算増幅器である。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 軸の偏心を正弦的に変化する電気信号に変換し、こ
    の電気信号の相続く正波高値及び負波高値の差が、両波
    高値間の期間中上記軸偏心をその出力側に表わす変換手
    段、 入力側が上記変換手段の出力側に接続された正波高値検
    出手段であって、上記正波高値の発生で始まり上記正波
    高値検出手段のリセットで終る第1の所定期間中、上記
    正波高値を略示す正波高値信号をその出力側に生じさせ
    るもの、 入力側が上記変換手段の出力側に接続された負波高値検
    出手段であって、上記負波高値の発生で始まり上記負波
    高値検出手段のリセットで終る第2の所定期間中、上記
    負波高値を示す負波高値信号をその出力側に生じさせる
    もの、 入力側が上記正波高値検出手段に接続された正波高値信
    号蓄積手段であって、上記正波高値検出手段から上記正
    波高値信号蓄積手段へ上記正波高値信号が転送される時
    の蓄積周期の間、上記正波高値信号を蓄積するもの、 入力側が上記負波高値検出手段に接続された負波高値信
    号蓄積手段であって、上記負波高値検出手段から上記負
    波高値信号蓄積手段へ負波高値信号が転送される時の蓄
    積周期の間上記負波高値信号を蓄積するもの、 上記正波高値検出手段と負波高値検出手段の両方に相互
    接続され、上記正弦的に変化する電気信号の周波数に等
    しいかそれ以下であり且つその周期が上記蓄積周期に等
    しいリセット周波数で、上記正波高値検出手段及び負波
    高値検出手段を略同時にリセットするリセット手段、 上記正波高値検出手段と負波高値検出手段の両方に相互
    接続され、上記リセット周波数に等しい周期で、しかも
    リセット信号の印加より所定時間だけ前の、上記第1及
    び第2の所定期間中の時点において、上記正波高値信号
    及び負波高値信号をそれぞれ上記正波高値信号蓄積手段
    及び負波高値信号蓄積手段に略同時に転送するサンプリ
    ング手段、及び 一方の入力端子が上記正波高値信号蓄積手段の出力側に
    接続され、他方の入力端子が上記負波高値信号蓄積手段
    の出力側に接続され、上記一方の;入力端子の信号値と
    上記他方の入力端子の信号値との差に略等しい出力信号
    を発生し、もって上記蓄積周期の1部分中上記正波高値
    および負波高値間の期間中に関連する上記軸偏心を表わ
    す加算手段、 を備えた軸偏心測定装置。 2 リセット周波数の下限は軸偏心の変化を検出するの
    に必要な時間に関係する特許請求の範囲第1項記載の軸
    偏心測定装置。 3 リセット周波数は正弦的に変化する電気信号の周波
    数範囲にわたって一定である特許請求の範囲第1項記載
    の軸偏心測定装置。
JP52051328A 1976-05-06 1977-05-06 軸偏心測定装置 Expired JPS5836723B2 (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US05/684,059 US4057754A (en) 1976-05-06 1976-05-06 Apparatus to measure the eccentricity of a shaft

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS52135761A JPS52135761A (en) 1977-11-14
JPS5836723B2 true JPS5836723B2 (ja) 1983-08-11

Family

ID=24746542

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP52051328A Expired JPS5836723B2 (ja) 1976-05-06 1977-05-06 軸偏心測定装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US4057754A (ja)
JP (1) JPS5836723B2 (ja)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4494065A (en) * 1982-11-08 1985-01-15 Southwest Research Institute Electric capacity measurement of erratically shorted capacitors
AR240603A1 (es) * 1985-04-30 1990-05-31 Siemens Ag Disposicion de circuito de prueba de lineas de conexion de abonados de disposisiones de enlace telefonico, para determinar tensiones analogicas producidas en dichas lineas de conexion de abonado
US5463393A (en) * 1991-12-05 1995-10-31 Acutronic Ag Method and apparatus for correcting errors in an amplitude encoded signal
US6155113A (en) * 1993-04-23 2000-12-05 Vankel Technology Group Stirring shaft monitoring comparator
DE19506471C2 (de) * 1995-02-24 1999-10-21 Roland Schuehle Verfahren zur elektronischen Bestimmung und Kontrolle der Güte der Ausrichtung aneinandergekuppelter Wellen und Vorrichtung zu dessen Durchführung
JP2005128998A (ja) * 2003-09-30 2005-05-19 Aisin Seiki Co Ltd 回転検出装置
US7742881B2 (en) * 2007-08-02 2010-06-22 General Electric Company System and method for detection of rotor eccentricity baseline shift
CN102135562A (zh) * 2011-02-22 2011-07-27 南京邮电大学 三相交流电检测方法及检测装置

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1250921B (ja) * 1967-09-28
US3593133A (en) * 1967-12-27 1971-07-13 Rca Corp Apparatus for comparing two dimensions
US3665506A (en) * 1970-02-04 1972-05-23 Bendix Corp Electrical apparatus and gaging device using same
US3715659A (en) * 1970-03-25 1973-02-06 Reliance Electric Co Inductive non-contact vibration analyzer which is independent of standoff distance
US3768010A (en) * 1971-01-28 1973-10-23 Finike Italiana Marposs Device for detecting irregularities in the shape of a workpiece during machining

Also Published As

Publication number Publication date
US4057754A (en) 1977-11-08
JPS52135761A (en) 1977-11-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3069346B1 (ja) ラプラス変換インピ―ダンスの測定方法及びその測定装置
US6236215B1 (en) Cell voltage detection circuit, and method of detecting cell voltage
US20090167296A1 (en) Resolver apparatus and angle detection device and method of resolver
US4094073A (en) Angle detector
JPS6168501A (ja) 溶量的測定装置
JP2511633B2 (ja) 充電回路
JPS5836723B2 (ja) 軸偏心測定装置
EP0321963B1 (en) Impedance measuring apparatus
JP3038408B2 (ja) ガスメータ用容量式センサ回路
US5257864A (en) Temperature detector
JP3516956B2 (ja) 温度補正型積分アナログ−ディジタル変換器
US4181949A (en) Method of and apparatus for phase-sensitive detection
US4066959A (en) Electronic volt-square-hour metering method and apparatus
JPS6183967A (ja) 微小電流測定装置
JP2763255B2 (ja) 電流ベクトルによる受動素子値測定装置
JPH0961444A (ja) 防爆型風向・風速計
JPH0259632A (ja) トルク測定装置
JP3015597B2 (ja) オシロスコープの水平軸電子目盛りを校正する方法及び装置
JP2003194634A (ja) 電池温度測定回路
JP3451851B2 (ja) 回転速度検出装置
JPH0355105Y2 (ja)
KR0167027B1 (ko) 회전 토크 발생 장치
JPH06307922A (ja) 捩じり振動計
JPH05172885A (ja) 表面電位測定器
JPS604679B2 (ja) パルスモ−タの回転監視装置