JPS5837573A - 2線式回線中の障害位置を検出する試験装置 - Google Patents

2線式回線中の障害位置を検出する試験装置

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JPS5837573A
JPS5837573A JP57063253A JP6325382A JPS5837573A JP S5837573 A JPS5837573 A JP S5837573A JP 57063253 A JP57063253 A JP 57063253A JP 6325382 A JP6325382 A JP 6325382A JP S5837573 A JPS5837573 A JP S5837573A
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JP
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line
relay
test device
dipole
switching
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JP57063253A
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ウベ−ル・プリジヤン
モ−リス・ルド
ミツシエル・ダニエル
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    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/08Locating faults in cables, transmission lines, or networks
    • G01R31/081Locating faults in cables, transmission lines, or networks according to type of conductors
    • G01R31/085Locating faults in cables, transmission lines, or networks according to type of conductors in power transmission or distribution lines, e.g. overhead
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04MTELEPHONIC COMMUNICATION
    • H04M3/00Automatic or semi-automatic exchanges
    • H04M3/22Arrangements for supervision, monitoring or testing
    • H04M3/26Arrangements for supervision, monitoring or testing with means for applying test signals or for measuring
    • H04M3/28Automatic routine testing ; Fault testing; Installation testing; Test methods, test equipment or test arrangements therefor
    • H04M3/30Automatic routine testing ; Fault testing; Installation testing; Test methods, test equipment or test arrangements therefor for subscriber's lines, for the local loop
    • H04M3/301Circuit arrangements at the subscriber's side of the line

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の背景 (1)発明の分野 本発明は、2線式回線中の障害を検出するための試験装
置に係るものである。この試験装置は2回線中の電流の
検出に基づいているので、短絡、絶縁障害、あるいは低
抵抗分路の遠隔検出を可能にする。
本発明は、一般的に、所定の設置位置で電気的な2線式
回線に清って流れる電流を感知して、その回線中の抵抗
性ループを検出したり、または。
他方の2線式回線がある設置位置の回線の切り換えを制
御したり、あるいは1回線の終端にある2つの負荷のう
ちから1つを選択したりすることを」及うものである。
これ以降特定の態様を参照する時、この2線式回線は、
付帯する電話交換の切り換え設備から電話加入者Mg末
を提供する電話加入者ループであるものとする。
(2)先jJd駐2更盟 電話加入回線における障害検出用の先行の試験装置は、
経費高で初歩的な形態で作動する。この試験装置は、電
話端末終端で残りの回線を切り離し、その付帯する切り
換え設備で利用可能な試験・計測機器を使って、連続系
および/または絶縁遠隔試験計測を実行するために当該
の設置位1t1をループ状につなぐ。
この計測は、検出した障害が切・り換え設備側の回線中
にあるものか、あるいは電話端末側にあるものかについ
て確認し2次の2つの代替案の選択りの決定に資するも
のである。2つの代替案とは。
つまり2重装備した保守チームが回線自体を修繕しなけ
ればならないものか、あるいは、加入者が自分の電話端
末を修繕するために専門家を呼び出すべきかのいずれか
である。ある所与の時間のあと、この試験装置はその元
の位置に復帰する。
電話加入者施設における最近の発展、あるいは。
試験・計測機器における類似の電話端末により。
所定の設置位置を流れる電流の流れがより一層正確に計
測できる。この設置位置は電話端末の入力部あるいは回
線交換中継架の入力部に一致する3、さらに、これは、
電話交換に必要な遠隔制御切り換えを可能とするもので
ある。この適用は、障害を起こした運用中の回線用に予
備の2線式回線を代用する時に特に好都合である。
発明の目的 本発明の主要な目的は、そ、こて、直接的で、廉価な試
験装置を提供し、抵抗性ループまたは非抵抗性ループを
検出するか、あるいは、簡単な切り換え手段を付加して
、2つの回線負荷のうちの1つを選択するか、あるいは
、運用中の回線を予備回線で代用する目的で、2線式回
線中の電流値を感知することを可能とする。
発明の要約 F記の目的に基づいて2回線配線の1方に直列接続で挿
入され9回線中の電流が、所定の電流値よりも小さい時
に抵抗値が低電流領域で一定で9回線中の電流が上記の
所定の電流値よりも大きい時には高電流領域でより高い
抵抗値に急に増大する第1の双極子(ダイポール)を構
成する2線式回線中の障害を構出する試験装置を提供す
るものである。
好適な実施態様では、第1のダイポールは、L記回線の
配線上の第1のダイポールの端子と接点に並列接続され
た抵抗との間に直列接続された作用コイルと閉路中の接
点を持つ継電器を構成する。
この継電器は、望ましくは、試験装置の経費を減少する
既知のたわみ刃型スイッチである。この場合、この試験
装置は第1のダイポールと同一の第2のダイポールを構
成し、第1と第2のダイポールの各々の端子にダイオー
ドを直列接続で挿入している。この2つのダイポールの
極性は互いに反対となっており、設定時にエラー源とな
る試験・計測機器端子で終端となる回線上に定められた
いずれの極性も完全に取り除くものである。
この試験装置は、この試験装置の端子間に並列接続され
ているキャパシタ(コンデンサ)および/または、各ダ
イポール中の継電器の作用コイルと並列接続されている
キャパシタを含んでいる。このようなキャパシタは、こ
の試験装置を交流電流または衝撃電流に対して透過性を
持つようにする。
本発明のもう1つの特徴に基づいて、第2の同種の試験
装置を、2線式回線の他の配線上に、その配線から接地
への抵抗性または非抵抗性ループを検出するために、直
列接続で挿入する。また。
本発明は、2線式回線上の各種の設置位置の障害を検出
するための試験システムを提供する。この試験システム
は1回線沿いの所定の設置位置に挿入され、この試験装
置の継電器中のスイッチの切り換えに対応するその所定
の電流値が、試験・計測機器と切り換え設備端部の回線
入力部から他回線端部の負荷に向かって差動しつつ増加
していく複数の試験装置を構成する。こうして、これら
の試験装置は、2つの試験装置間の障害を非常に正確に
検出し、その結果1回線全長にわたる試験を不要とする
回線配線のうちの一方に直列接続で挿入し、2つの回線
負荷を選択することを意図1した試験装置の特定の使用
に関しては、切り換え装置は1作用コイルが試験装置の
端末と、2本の回線配線にそれぞれ直列に挿入されて双
安定継電器によって制御される2つの切り換え手段との
間に並列接続されている双安定継電器を構成する。各切
り換え手段の定常接点の1つは一方の負荷の1つの端子
に接続され、各切り換え手段の他の定常接点は他の負荷
の1つの端子にそれぞれ接続されている。
回線配線の一方に直列接続で挿入されており。
その回線が負荷をはさんでループした運用中の回線と置
き換えられる予備回線として作用する試験装置の特定使
用の場合には、切り換え装置は双安定継電器からなり、
この継電器の作用コイルは。
この試験装置の端子と、この双安定継電器によって制御
される第1.第2.および第3の手段との間に並列に接
続される。第1の切り換え手段は閉路中の接点に類似で
あり、予備回線の配線端の間に挿入する。第2と第3の
切り換え手段の各々の定常接点の1つは、予備回線の配
線端部の一方に接続し、一方、その他の定常接点は運用
中の配線の端部に接続する。第2と第3の切り換え手段
の可動接点は、できる限り運用中の2線式回線区間を経
由して負荷の端子に接続する。
好適な実施態様の説明 図1に描いたものは1本発明を具現している電流感知試
験装置D1の基本的構造である。装置り、は。
2つの端子10と11を持つダイポール1に類似してい
る。ダイポールの端子間(二は、継電器12の作用コイ
ルと、抵抗14と並列に接続された閉路中の接点13が
接続されている。接点13は。
コイル12を流れる電流が所定値■Tの閾値電流よりも
小さい時に抵抗14を短絡し、継電器を休止状態にする
。接点13は、コイル12を流れる電流がITよりも大
きい時に開放される。
電流■に対するダイポール1の端子における電圧(VI
O−Vn )特性が図2に示されている。この特性は2
つの領域、継電器12の状態の励起または変化に、つま
り、接点13の開放に対応する所定の電流値■Tのいず
れかの側の1つ、に分割することができる。低電流領域
は、I(ITで定義され。
ゼロに近いコイル12の非常に低いインピーダンスに等
しいダイポール1の非常に低い抵抗に対応する。
第2のより高い電流領域は、■≧■Tに対して定義され
、第1の領域に対する抵抗よりも明確に高いダイポール
1の抵抗値に対応し、閉路中の接点13が開放されてい
れば、その抵抗値は抵抗14とコイル12のインピーダ
ンスの和に等価である。
そこで、ダイポール1は、流れる電流■に関して変動す
るバリアプル(可変)型抵抗としてふるまう。
図1で、ダイポール1は、低電流2線式回線の配線の片
方W1上に直列に挿入されており、2本の回線配線W、
 、 W2間の2回線ループ、あるいは、低抵抗性分路
ともみなせる短絡の遠隔検知、あるいは、配線W、と接
地間の短絡の遠隔検知の役割を果たす。ダイポール1は
2線式回線を2つの回線区間り、とL2に分割□゛する
。配線W1がダイポール1の端子10に接続される第1
の回線区間り、端部は。
抵抗測定機器の端子20と21に選択的に接続する。配
線W1がダイポール1の端子11に接続される第2の回
線区間L2端部は、負荷3の端子30と31に接続する
この2線式回線が電話加入者回線である時は。
測定機器は、加入者回線を提供している電話交換の付帯
切り換え設備に選択的に接続された試験・計測手段から
なる。つまり、端子20と21は。
回線内障害検出手順でその障害を短絡として探索してい
る間は、試験・計測手段の端子に接続する。
負荷3は、電話加入者施設、自営自動分岐交換CP、A
、B、X)、  あるいは、ほかの類似の電話端末から
なる。
このような条件下で、I(I、に対する第1の低電流領
域には、たとえば電話呼び出しまたは電話通信の間のよ
うな通常の動作中は、電話回線を流れる電流値が含まれ
ている。この第1の電流領域ではダイポール1の抵抗値
がゼロに近いという事実から、ダイポール1が存在して
も通常の回線運用には結果的に支障をきたさない。
試験・計測手段の端子20と21で測定された抵抗値が
、第1の領域中の電流に対応する電圧v1に対して通常
記録される抵抗値よりもかなり低いということを観測終
了後、閾値電流■Tに対応する閾値電圧vTよりも高い
電圧v2を、短絡の検出を目的として端子20と21に
加圧する。
電圧V2のところで測定された抵抗値がまったく一定不
変のままならば、これは、ダイポールが1計測を妨害し
なかったということ、および、短絡が第1の回線区間L
l中(二存在するということを意味する。しかし、他方
、もし端子20と21でみた測定抵抗値が著しく変化し
ていれば(これは、継電器の励起による接点13の開放
に続いて、継電器12の作用コイルに抵抗14が直列接
続となるためであるが)、第1の回線区間L1がオープ
ン(開放状態)となっていないで、第2の回線区間L2
中に、または、負荷3中に短絡が存在するということを
意味する。
前述の必然的結果として9図3に示すように。
電圧vTよりも高い定電圧v2を端子20と21に加圧
することによって、電流の遅延変動検出に上る短絡の検
出も実行される。もし検出された電流が所定の遅延にと
もなって変動するならば、電流がダイポール1を横切っ
たこと、ダイポールが状態を変化させたこと、および、
短絡が第2の区間L2または負荷3中に存在することの
証明となる。
閾値電流が低く、コイルの抵抗値ができるだけ小さくな
ければならないので、接点13と継電器12の作用コイ
ルによって形成される直列の絹み合わせを、それぞれ閉
路中の接点を持つたわみ刃型継電器(リード・リレイ)
または水銀注入刃型継電器(mercury wet−
blade relay ) 、  あるいは。
その閉路中の部分だけを使い、閉路中の接点を形成する
インバータとすることができる。このような継電器は、
長さがほんの2,3cTLで、直径が2゜31nmノミ
ニアチュアガラス球の形態のものであることが思い起こ
される。このミニアチュア球(バルブ)の端部の電気導
体は、内側に接点13を形成している強磁性体の刃型を
持っている。このバルブは真空となっているか、あるい
は不活性ガスを含んでいるかのいずれでもよい。コイル
12はこのバルブの内面に沿って巻かれている。このバ
ルブが閉路中の接点に対して永久磁石を構成している場
合は、コイル12の極性を定義しなければならない。た
とえば1図1では、正端子(+)が計測器端子20側に
あり、負端子←)は負荷端子30側にある。そこで、電
流は端子20から端子21へ向かう回線中を流れなけれ
ばならない。このインバータはあるケースでは極性を取
り除くことを可能とする。
このバイアス要件を解決するために、もう1つの実施態
様に基づく試験装置D2は、ダイポール1ともう1つの
ダイポール4とで構成され7図4に図示するように、こ
のダイポール4は前者(ダイポール1)と同一で、その
場所に関して極を反対にして並列に接続されるが、ダイ
オード17と47がダイポール1と4のそれぞれの入力
に極を反対シーして付加されている。さらに、第2のダ
イポール4は、端子10と11の間の閉路中の接点43
に接続されている継電器42の作用コイルを構成要素と
する。接点43は抵抗44と並列に接続されている。ダ
イポール1のコイル12とダイポール4のコイル42は
、極性が反対であるので、ある種のたわみ刃型スイッチ
に含まれている永久磁石の磁気極性が反対であることに
よってもたらされる効果がある。
ダイオード17と47は、ダイポール1と4の入力部に
挿入し、電流の方向がそれぞれ互いに他のダイポールに
向かうように電流を流入させる。
ダイポール1と4では、ダイオード17.47のアノー
ドは試験装置入力10.11に接続し、カソードは、閉
路中の接点13.43および抵抗14.44に共通で継
電512,42のコイルには接続されていない共通端子
に接続する。
他の型式の継電器、きわめて標準的な継電器を使っても
よい。たわみ刃型スイッチの使用が、小型で、経費が少
なく、パルス誘導による励起可能性−七の使用について
はこれ以降に説明されているー、および、低エネルギー
消費という点で、特に好適である。回線が電話加入者回
線であれば。
VT ” 10ボルトとb”100mAという条件の変
更が発生する。ダイポール1.4のコイル12.42は
約1オームの抵抗値、概略100に等しい巻数と0.3
mm程度の巻線径である。たわみ刃型スイッチは、長さ
が2Crnで直径がICTLである。ダイポール1.4
の抵抗14.44は100オームである。
電流感知試験装置り、またはD2は2図1中でダイポー
ル1の、または図4中でダイポール1と4の端子10と
11間に並列接続で挿入されているキャパシタ(コンデ
ンサ)15も構成要素とすることができる。キャパシタ
15を付加することによって、この装置は交流または衝
撃電流に対して透過性、つまり、供給電流の方向に独立
となる。
第2のキャパシタ手段を第1のキャパシタ手段15の代
用としてもよいし、あるいは、第1のキャパシタ手段に
付加してもよい。第2のキャパシタ手段は2図1中のダ
イポール1のコイル12と並列接続されたキャパシタ1
6である。第2のキャパシタ手段は2図4に示すように
、ダイポール1のコイル12と並列に接続された第2の
キャパシタと、ダイポール4のコイル42と並列に接続
された第3のキャパシタとによっても形成することがで
きる。キャパシタ16.またはキャパシタ16と46は
、実質上キャパシタ15と同じ役割を果たす。
図5に描いたように、電流感知試験装置は、さらに2図
1に示したDl、または1回線配線A=V、とw2、」
二にそれぞれ直列接続で挿入さh、た図4中のD2のよ
うな2つのが似の基本的試験装置を構成してもよい。試
験装置が11のような2つのバイアスがかけられた基本
的装置で構成されている場合は。
この基本装置は同一電流方向でバイアスされる。
このような設定により、さらに、他の配線1■2と接地
間で短絡を検出することが可能となる。
本発明のほかの特徴に基づいて2図6に示すように、数
個の電流感知試験装置51がら5Nを、端子20.21
と負荷3の間の回線沿いに設けられた複数の所定の設置
位置に回線配線W、とw2の一方または両方に直列接続
で挿入することができる。
図6の試験システムでは、l≦n≦Nである各試験装置
5nは、5nに特有で他の51から5゜−1までと5゜
+1から5Nまでに特有な電圧と電流の組とは異なる所
定の電圧と電流の組(VT、IT)  で特徴付ケラレ
ル。(VT、 IT )tカラ(VT、 IT )N 
マチ(7)組の値は、端子20と21力?ら負荷3に向
かう方向に沿って増大する。このようにして、数種の直
流計測電圧は、2線式回線中にそれぞれ挿入された試験
装置51から5Nまでに特有な閾値電圧(VT)1から
(VT)Nまでの値よりも高く2回線中の短絡を探知す
るために端子2oと21に供給される。
供給される計測電圧が端子20と21側の最初の2つの
試験装置51と52に特有な2つの電圧(VT )sと
(VT)2間にある場合と、被測定回線の抵抗が増大し
た場合には、短絡が第1の試験装置の向う側、つまり、
装置51と負荷3との間にあることを意味する。定電圧
(VT )2がら(VT )Nを被測定抵抗がもう変化
しなくなるような時間まで継続的に供給する。この場合
; (V7)nと(VT)n料量にある最終供給計測、
車圧に対応する試験装置5.は回線に影響を与えず、短
絡が試験装置5゜とその前にある試験装置5n−1との
間で検出される。
図7と8は、好ましくは図4中に例示したD2のような
試験装置の2つの特定使用例を示している。
図7は、遠隔地にある2つの負荷AとBのうちの一方を
選択するために回線端子20と21に投入される正と負
のパルスによって遠隔監視される切り換え装置6を図示
している。切り換え装置6は9回線り、の配線W、上に
直列接続で挿入される試験装置D2と、配線W、上の試
験装置D2の端子10と11間に並列接続される双安定
継電器60の作用コイルとからなる。2つの切り換え手
段61と62は、可動接点が中間的位置をとらない2つ
の定常接点を持ち、切り換え装置6の中に含まれている
。これらの可動接点61mと62mは。
双安定継電器60によって同時に制御される。
切り換え手段61の定常接点61aと明り換え手段62
の定常接点62aは、可能ならば2線式回線LAを経由
して、それぞれ負荷Aの端子に接続する。切り換え手段
61の他の定常接点61bと切り換え手段62の他の定
常接点62bは、可能ならば第2の2線式回線LBを経
由して、それぞれ第2の負荷Bの端子に接続する。切り
換え手段61の可動接点61mは試験装置D2の端子1
1に接続し。
一方、切り換え手段62の可動接点62mは回線配線W
2を経由して遠隔端子21に接続する。
試験装置の端子10,1li−供給され、ITよりも大
きな電流に対応する正電圧が双安定継電器6゜中の切り
換えを制御するために使われる。
回線端子20と21間に正パルスが供給されると、試験
装置D2中の当該のダイポール1の接点13が開放(オ
ーブン)となり、双安定継電器6゜が、切り換え手段6
1と62の可動接点を、定常接点61aと61aとの接
触を離れて9図7に示したように回線LBを経由して回
線L1が負荷Bのところで終端となっている他の定常接
点61bと62bとの第2の接触位置に移るようになる
。正パルスが消えてしまうと、装置D2のダイポール1
は閉路位置に反転し9回線L1から回線LBへの連結は
確立されたままとなる。もとの状態に復旧するには。
端子20と21経由で負パルスを供給する。これは、切
り換え手段61と62の可動接点61mと62mばかり
でなく試験装置D2中の当該のダイポール4の接点43
を開放し1回線L1が回線LAを経由して負荷Aのとこ
ろで終端となっている定常接点61aと62aに接触す
るもどの位置に移動させるのであシ。
衝撃緩和キャパシタ15および/またはキャパシタ16
と46があることによって、一方の負荷AまたはBから
他方の負荷BまたはAへの切り換わり、つまり、可動接
点61m、62mが離れて起こる回線の開放(オープン
)の間、双安定継電器60の後退は発生しない。
図8に図示したよ、うな切り換え装置7は、たとえば、
端子80と81と、予備回線Llの端子2゜と21とを
提供する付帯の切り換え設備、あるいは、試験・計測手
段中に検出される運用中の回線の障害に引き続いて、負
荷3をはさんでループしている第1の、または、運用中
の2線式回線L3.−L2を、第2の、または、予備の
2線式回線り、と切り換えることを意図している。切り
換え装置7は、遠隔点の端子と共通負荷3との間の遠隔
地点にあり、そこでは、2つの回線は切り換え可能であ
る。
図8では2図1と4に示したような試験装置D2が予備
回線L1の配線W、上に直列に接続されているのが見え
る。
切り換え装置7は、その作用コイル70が試験装置D2
の端子10と11の間に並列に接続されている双安定継
電器を構成している。この双安定継電器は3つの切り換
え手段71.72と73を制御する。第1の切り換え手
段71は、装置D2の端子11と予備の回線区間り、の
配線W2との間、つまり2回線区間り、の配線端子間に
挿入されている開放(オーブン)中または閉路中の接点
に類似している。休止時には、切り換え手段71は、短
小の導体連結、またはもし必要ならば他の負荷、を経由
して予備回線り、をループ化(閉口線と)するために閉
じられる。
第2と第3の切り換え手段72と73は、可動接点が中
間位置をとらずに2つの定常接点をそれぞれ有するスイ
ッチである。これらの可動接点72mと73mは、運用
中の回線区間り、を通して負荷3の端子30と31に接
続されている。
切り換え手段72と73の第1の定常接点72aと73
aは、配線W、の端部の端子1°1と、予備回線区間L
1の配線W2の端部にそれぞれ接続する。
切り換え手段72と73のほかの2つの定常接点72b
と73bは、運用中の回線区間L3の配線W3とW4の
端部に接続する。
通常の運用では9図8に示すように、配線W3は接点7
2bと72mを経由して負荷3の1つの端子30に接続
し、配線W4は接点73bと73mを経由して負荷3の
他方の端子31に接続する。
運用原理は図7中の切り換え装置の原理と類似している
。障害が運用中の回線中で、あるいは。
より正確には回線区間L3中で検出される時には。
正パルスを予備回線端子20と21に供給し、双安定継
電器70と3つのスイッチ手段における同時状態変化を
励起する。運用中の回線区間L3は。
定常接点72bと73bに関して可動接点72mと73
mが離脱して開放状態(オープン)となり。
この可動接点72mと73mは、予備回線の区間L1が
回線L2経由で負荷3のところで終端となる他の定常接
点72aと73aに接触する。同時に、スイッチ71が
開放状態(オーブン)となって、予備回線区間の配線W
、とW2間の短小導体連結を中断する。
運用中の回線“区間L3中の障害が取り除かれてしまえ
ば2図8に描いたように、負パルスを予備回線端子20
と21に供給して、スイッチ手段71.72と73の可
動接点をそれらの元の位置に復帰させる。
【図面の簡単な説明】
図1は、ダイポールを含む試験のブロック図であり、2
線式回線中の抵抗性ループを検知することを意図してい
る。 図2は、ダイポールの電圧−電流特性曲線を示している
。 図3は、ダイポール中の状態変化に特有な電圧と電流変
動を示している。 図4は、2つの極性が対向したダイポールを含む本発明
に係る試験装置のブロック図である。 図5は9回線の2本の配線上にそれぞれ直列接続で挿入
された本発明に係る2つの基本的な試験装置を含む試験
装置を示している。 図6は、2線式回線中に挿入された本発明に係る複数の
試験装置を含む試験システムを示している。 図7は、2つの遠隔負荷の1つを2線式回線に選択的に
接続することを意図した本発明に係る切り換え装置のブ
ロック図である。さらに、[1<18は。 負荷をはさんでループしている第1の2線式回線と第2
の2線式回線との切り換えを意図した本発明に係る切り
換え装置のブロック図である。 1;ダイポール、    12;コイル。 13;スイッチ、    14:抵抗。 15、16 :キャパシタ。 特許出願人     ウベール プリジャンモーリス 
ルド ミツシェル ダニエル 特許出願代理人   弁理士 山 本恵−す開面5b−
375’/3(’8) 官1頁の続き (FM!r3  願人  ミツシェル・ダニエルフラン
ス国22300ラニオン・ブ レルブネ・アル・レラ(番地な し)

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 (1)回線の一方に直列接続で挿入され2回路中の電流
    が所定の電流値よりも小さい時にその抵抗値cオーム)
    が小電流領域で一定であって5回路中の電流が上記の所
    定の電流値よりも大きい時により大きい電流領域でより
    冒いオーム値まで急に増大する第1のダイポールを構成
    している2線式回だキャパシタ(コンデンサ)を構成し
    ている」−記特許請求の範囲第1項の試験装置。 (3)上記の第1ダイポールが2作用コイルおよび上記
    の回線配線上の上記の第1ダイポール端子間に直列に接
    続された閉路中の接点を持っている継電器と、上記接点
    に並列に接続された抵抗とを構1戊する」−記特許請求
    の範囲第1項又は第2項の試験装置。 (4)上記の第1ダイポールが上記の継電器のコイルと
    並列に接続されたキャパシタを構成する」−記特許請求
    の範囲第3項の試験装置。 (5)  −を記の継電器にバイアスがかけられている
    上記特許請求の範囲第3項又は第4項の試験装置。 (6)上記接点がインバータの閉路部分からなる上記特
    許請求の範囲第3項又は第4項の試験装置。 (7)上記の継電器にバイアスがかけられていない上記
    特許請求の範囲第6項の試験装置。 (8)上記継電器がたわみ刃型スイッチである上記特許
    請求の範囲第5項又は第7項の試験装置。 (9)上記の第1ダイポールと同一であり、その継電器
    コイルが上記の第1ダイポールの上記の継電器コイルに
    対して極性が反対となっていて、上記の第1と第2ダイ
    ポールの各々が、ダイポールの接点と継電器コイルによ
    って形成される(ダイポールの)直列連結に直列に接続
    されて、他のダイポールのダイオードに対して極性が反
    対となっているダイオードを構成要素とする第2のダイ
    ポールを構成している上記特許請求の範囲第5項又は第
    6項の試験装置。 (10)他の回線配線上の直列接続に挿入されたもう1
    つの類似の試験装置を構成している上記特許請求の範囲
    第1項〜第9項のいずれかに記載した試験装置。 (11)回線に沿った所定の設置位置に挿入され、その
    所定の電流値が相違する上記特許請求の範囲第1項〜第
    10項のいずれかに記載した複数の試験装置を構成して
    いる2線式回線中の障害を検出するための試験システム
    。 (12) 2つの遠隔負荷の1つを2線式回線に選択的
    に接続するための切り換え装置で、この切り換え装置が
    9回線配線の一方の直列接続に挿入された特許請求の範
    囲第1項から第9項のいずれかに記載した試験装置と、
    その作用コイルが上記の試験装置の端子間に並列に接続
    されている双安定継電器と、それから、2つの回線配線
    上の直列接続にそれぞれ挿入されており、上記の双安定
    継電器。 上記の負荷の1つの1端子に接続されている上記の切り
    換え手段の各々の定常接点の1つ、および。 他の負荷の1端子にそれぞれ接続されている上記の切り
    換え手段の各々の他の定常接点によって制御される2つ
    の切り換え手段とを構成している切り換え装置 (13)負荷をはさんでループした第1の2線式回線を
    第2の2線式回線と切り換えるための切り換え装置で、
    この切り換え装置が、上記第2回線の一方の配線上の直
    列接続に挿入された特許請求の範囲第1項から第9項の
    いずれかに記載した試験装置と、その作用コイルが上記
    試験装置の端子間に並列接続されている双安定継電器と
    、上記双安定継電器によって制御され、上記の第2の回
    線の配線端部間に挿入された第1の切り換え手段と、上
    記の双安定継電器によって制御され、上記の第1の回線
    の一方の配線端部と上記の第2の回線の一方の配線とに
    接続されたその定常接点と上記負荷の端子に接続された
    その可動接点とを持つ第2の切り換え手段と、さらに、
    上記双安定継電器によって制御され、上記第1と第2回
    線の他の配線端部にそれぞれ接続されたその定常接点と
    上記の負荷の他端子に接続されたその可動接点とを持つ
    第3の切り換え手段とを構成している切り換え装置。
JP57063253A 1981-04-17 1982-04-17 2線式回線中の障害位置を検出する試験装置 Pending JPS5837573A (ja)

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FR8107783 1981-04-17
FR8107783A FR2504331B1 (fr) 1981-04-17 1981-04-17 Dispositif de detection de courant pour localiser une boucle resistive ou non dans une ligne bifilaire ou pour commuter deux lignes bifilaires

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JP57063253A Pending JPS5837573A (ja) 1981-04-17 1982-04-17 2線式回線中の障害位置を検出する試験装置

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GB (1) GB2099595B (ja)

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GB2099595B (en) 1985-10-30
GB2099595A (en) 1982-12-08
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