JPS5840704B2 - 磁性膜の立方異方性定数の測定方法 - Google Patents
磁性膜の立方異方性定数の測定方法Info
- Publication number
- JPS5840704B2 JPS5840704B2 JP3325476A JP3325476A JPS5840704B2 JP S5840704 B2 JPS5840704 B2 JP S5840704B2 JP 3325476 A JP3325476 A JP 3325476A JP 3325476 A JP3325476 A JP 3325476A JP S5840704 B2 JPS5840704 B2 JP S5840704B2
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- torque
- magnetic film
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は磁性膜の立方異方性定数の測定方法さらに詳し
くはトルク計を用いて磁性膜の立方異方性定数に１
の測定を行なう方法に関するものである。
くはトルク計を用いて磁性膜の立方異方性定数に１
の測定を行なう方法に関するものである。
一般に円筒磁区な利用する磁気装置において前記円筒磁
区を保持しうる非磁性体単結晶の１１１面上にエピタキ
シャル生成させた一軸異方性磁性体単結晶薄膜（以下−
軸性薄膜と称す乙）は立方対称性を有するためにその結
晶構造に起因する立方異方性が存在する。
区を保持しうる非磁性体単結晶の１１１面上にエピタキ
シャル生成させた一軸異方性磁性体単結晶薄膜（以下−
軸性薄膜と称す乙）は立方対称性を有するためにその結
晶構造に起因する立方異方性が存在する。
この立方異方性は磁性体の重要な特性の１つでありその
測定法として従来強磁性共鳴吸収測定、トルク測定およ
び光学的磁気測定が知られている。
測定法として従来強磁性共鳴吸収測定、トルク測定およ
び光学的磁気測定が知られている。
本発明はこれら測定法のうちでトルク測定によって立方
異方性数に１を決定する方法に関するものである。
異方性数に１を決定する方法に関するものである。
従来−軸異方性磁性体単結晶のトルク測定法は特定の方
向に切り出した結晶〔一般には１１０面〕を用いて測定
し得られたトルク曲線は一軸異方性と立方異方性との和
で表わされるためフーリエ分析により決定するものであ
った。
向に切り出した結晶〔一般には１１０面〕を用いて測定
し得られたトルク曲線は一軸異方性と立方異方性との和
で表わされるためフーリエ分析により決定するものであ
った。
しかし円筒磁区装置に使用する一軸性薄膜は１１１面に
成長してい乙ために該薄膜を従来のトルク測定法で測定
した場合より高次の立方異方性に２Ｖｃよるトルク曲線
が得られに１ を求めることはできない。
成長してい乙ために該薄膜を従来のトルク測定法で測定
した場合より高次の立方異方性に２Ｖｃよるトルク曲線
が得られに１ を求めることはできない。
本発明の目的は一軸性薄膜の１１１面を用いて立方異方
性定数に１ を求めることのできる上記磁性膜の立方異
方性定数の測定方法を提供す乙ことにある。
性定数に１ を求めることのできる上記磁性膜の立方異
方性定数の測定方法を提供す乙ことにある。
この目的を達成するために本発明においては単結晶磁性
膜の特定方向に切り出した結晶面内で水平磁界を回転し
てトルクを測定し前記単結晶磁性膜の立方異方性定数を
測定する方法において、前記磁性膜の１１１面に垂直方
向に静磁界を印加し且つ前記１１１面内で水平磁界を回
転してトルクを測定することを特徴とす乙磁性膜の
方性定数の測定方法を提案するもの 以下本発明にかかる測定方法の いて図面によ
り詳細に説明する。
膜の特定方向に切り出した結晶面内で水平磁界を回転し
てトルクを測定し前記単結晶磁性膜の立方異方性定数を
測定する方法において、前記磁性膜の１１１面に垂直方
向に静磁界を印加し且つ前記１１１面内で水平磁界を回
転してトルクを測定することを特徴とす乙磁性膜の
方性定数の測定方法を提案するもの 以下本発明にかかる測定方法の いて図面によ
り詳細に説明する。
強磁性体の結晶磁気異方性エネルギーＥｋは立方晶では
磁化Ｍｓの方向余弦をα１ 、α２．α３とすると、 Ｅｋ＝に、（α１α黍＋αうαミ＋α二αテ）＋Ｋ α
α α ＋ ・・・・・ （１）２ １ ２ ３ で表わせる。
磁化Ｍｓの方向余弦をα１ 、α２．α３とすると、 Ｅｋ＝に、（α１α黍＋αうαミ＋α二αテ）＋Ｋ α
α α ＋ ・・・・・ （１）２ １ ２ ３ で表わせる。
したがって従来行われたように第１図Ａで示すように試
料ｌの１１１面内でマグネツ１２間において磁化を飽和
させて水平磁界Ｈを回転させた場合この試料に働くトル
クは Ｌ２ ＝ （Ｋ２／１８ ） ｓｉｎ ６φ ・・・・
・・・・・ （２）となる。
料ｌの１１１面内でマグネツ１２間において磁化を飽和
させて水平磁界Ｈを回転させた場合この試料に働くトル
クは Ｌ２ ＝ （Ｋ２／１８ ） ｓｉｎ ６φ ・・・・
・・・・・ （２）となる。
ここでφは１１１面内の１１２方向から測った角度であ
り３軸性の異方性の存在を示している。
り３軸性の異方性の存在を示している。
これは高次の立方異方性に２ニよるトルクを表わすもの
であってこの方法では立方異方性定数に１を求めること
ができない。
であってこの方法では立方異方性定数に１を求めること
ができない。
そこで本発明においてはこの試料に第１図Ｂに示すよう
にコイル３を設けてさらに１１１面に垂直な１１１軸方
向に磁界Ｈｖを印加するものであって、この場合につい
て考えてみる。
にコイル３を設けてさらに１１１面に垂直な１１１軸方
向に磁界Ｈｖを印加するものであって、この場合につい
て考えてみる。
この磁界Ｈｖの存在することによりＭｓは１１ｔ［から
θだげ立ち上がるので第２図に示すように記号を定める
と定数に１ によるエネルギーＥ１は第１式より となる。
θだげ立ち上がるので第２図に示すように記号を定める
と定数に１ によるエネルギーＥ１は第１式より となる。
このように本発明にかかる方法はトルク測定にあたり試
料の１１１面に垂直に弱い磁界を加えることにより定数
に、とに２ とを分離すそことを特徴とするものであっ
て以下にその具体的実施例について説明する。
料の１１１面に垂直に弱い磁界を加えることにより定数
に、とに２ とを分離すそことを特徴とするものであっ
て以下にその具体的実施例について説明する。
試料として（ＹＣａＳｍ）３ （ＧｅＦｅ）５０１２を
用いて垂直磁界Ｈｖを変化させて測定を行った結果を第
３図に示す。
用いて垂直磁界Ｈｖを変化させて測定を行った結果を第
３図に示す。
但しここで水平磁界Ｈは５０００ｅである。
第３図においてａはＨｖ ＝ ００ｅすなわち磁界Ｈが
零の場合であって第２図におけ６に２が６回対称を示す
場合に相当する。
零の場合であって第２図におけ６に２が６回対称を示す
場合に相当する。
磁界Ｈｖを増加させてゆくとトルク曲線は変化しＨｖ
＝ ３５０ｅ で第３図のｂに示すごとき曲線となる
。
＝ ３５０ｅ で第３図のｂに示すごとき曲線となる
。
そしてＨＶ ＝ ７００ｅ において第３図のＣに示
すようにに、による３回対称の異方性を示す。
すようにに、による３回対称の異方性を示す。
この結果に１ によるトルク曲線に２を含むトルク曲線
から分離でき、これから定数に、を求めることが可能と
なる。
から分離でき、これから定数に、を求めることが可能と
なる。
このトルク曲線は他の対称性のトルクを含まないのでに
１は曲線の勾配から決定できる。
１は曲線の勾配から決定できる。
すなわちＬｌ −９曲線のφ＝Ｏにおける勾配は
で表わされる。
こＳでθは第２図の系のエネルギＥ ＝Ｋ ｕ ｃｏｓ
２θ＋２πＭｓ” ｓｉｎ”θ−ＨＭ ｓ ｃｏｓθ−
Ｈｖ Ｍｓ ｓｉｎθ（６）の極小条件から決定する（
例えばＪ、Ｗ、Ｆ。
２θ＋２πＭｓ” ｓｉｎ”θ−ＨＭ ｓ ｃｏｓθ−
Ｈｖ Ｍｓ ｓｉｎθ（６）の極小条件から決定する（
例えばＪ、Ｗ、Ｆ。
Ｄｏｒｌｅｉｊｎ ｊ ｗ、 Ｆ、 Ｄｒｕｙｖｅｓｔ
ｅｙｎ ｐ Ｇ。
ｅｙｎ ｐ Ｇ。
Ｂａｒｔｅｌｓ ａｎｄ Ｗ、 Ｔｏｌｋｓｄｏｒｆ
： Ｐｈ１ｌｉｌｐｓＲｅｓ、Ｒｅｐｔｓｙ １
３３ 、１９７３参照）。
： Ｐｈ１ｌｉｌｐｓＲｅｓ、Ｒｅｐｔｓｙ １
３３ 、１９７３参照）。
ここでＫｕは一軸異方性定数である。
したがって定数に１は第３図における曲線Ｃのφ＝Ｏに
おける勾配から決定する。
おける勾配から決定する。
この方法で測定した試料Ｙ２．ＯＣａＯ，９５ｎ１）、
１Ｇｅ ０．９Ｆｅ４．１０１２の定数に１は−１，２
９Ｘ １０３ｅｒｇ／Ｃｒｎ３であってこの測定値の精
度は５〜１０φであった。
１Ｇｅ ０．９Ｆｅ４．１０１２の定数に１は−１，２
９Ｘ １０３ｅｒｇ／Ｃｒｎ３であってこの測定値の精
度は５〜１０φであった。
以上詳細に説明したように本発明にか匁る方法は円筒磁
区装置の実用結晶１１１面に成長したガ−ネット膜の立
方異方性定数に１ を測定できるトルク測定法であって
しかもその解析はに１ と高次の立方異方性に２ と
を分離できるため従来よりも簡単な方法でしかも精度の
よいに１の値を得られるものであってその効果は る犬
であ乙。
区装置の実用結晶１１１面に成長したガ−ネット膜の立
方異方性定数に１ を測定できるトルク測定法であって
しかもその解析はに１ と高次の立方異方性に２ と
を分離できるため従来よりも簡単な方法でしかも精度の
よいに１の値を得られるものであってその効果は る犬
であ乙。
第１図Ａは従来の方法によるトルク計の概略図、第１図
Ｂは本発明にて使用したトルク計の概略図、第２図は試
料の座標系と記号を指定した図、第３図は試料（ＹＣａ
Ｓｍ）３ （ＧｅＦｅ）５０１２ において垂直印
加磁界Ｈｖを変化させたときのトルク曲線の変化図であ
る。 図じおいて１は試料、２は水平磁界用電磁石、３が垂直
磁界印加用コイルであ乙。
Ｂは本発明にて使用したトルク計の概略図、第２図は試
料の座標系と記号を指定した図、第３図は試料（ＹＣａ
Ｓｍ）３ （ＧｅＦｅ）５０１２ において垂直印
加磁界Ｈｖを変化させたときのトルク曲線の変化図であ
る。 図じおいて１は試料、２は水平磁界用電磁石、３が垂直
磁界印加用コイルであ乙。
Claims (1)
- １ 単結晶磁性膜の特定方向に切り出した結晶面内で水
平磁界を回転してトルクを測定し前記単結晶磁性膜の立
方異方性定数を測定する方法において、前記磁性膜の１
１１面に垂直方向に静磁界を印加し前記ｌｌ１面内で前
記水平磁界を回転してトルクを測定することを特徴とす
６ａ？性膜の立方異方性定数の測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3325476A JPS5840704B2 (ja) | 1976-03-26 | 1976-03-26 | 磁性膜の立方異方性定数の測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3325476A JPS5840704B2 (ja) | 1976-03-26 | 1976-03-26 | 磁性膜の立方異方性定数の測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS52117172A JPS52117172A (en) | 1977-10-01 |
| JPS5840704B2 true JPS5840704B2 (ja) | 1983-09-07 |
Family
ID=12381355
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3325476A Expired JPS5840704B2 (ja) | 1976-03-26 | 1976-03-26 | 磁性膜の立方異方性定数の測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5840704B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS634505U (ja) * | 1986-06-26 | 1988-01-13 | ||
| JPH02208611A (ja) * | 1989-02-08 | 1990-08-20 | Sumitomo Electric Ind Ltd | ノンメタリック光ファイバケーブル |
-
1976
- 1976-03-26 JP JP3325476A patent/JPS5840704B2/ja not_active Expired
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS634505U (ja) * | 1986-06-26 | 1988-01-13 | ||
| JPH02208611A (ja) * | 1989-02-08 | 1990-08-20 | Sumitomo Electric Ind Ltd | ノンメタリック光ファイバケーブル |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS52117172A (en) | 1977-10-01 |
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