JPS5842901A - 歪測定方法及びこれに使用するための装置 - Google Patents

歪測定方法及びこれに使用するための装置

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JPS5842901A
JPS5842901A JP14069181A JP14069181A JPS5842901A JP S5842901 A JPS5842901 A JP S5842901A JP 14069181 A JP14069181 A JP 14069181A JP 14069181 A JP14069181 A JP 14069181A JP S5842901 A JPS5842901 A JP S5842901A
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JP
Japan
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strain
oscillation
modulator
circuit
detected
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JP14069181A
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English (en)
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Teru Hayashi
輝 林
Hiromi Ogasawara
宏臣 小笠原
Hiroshi Obara
宏 小原
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Kureha Corp
Original Assignee
Kureha Corp
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B7/00Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
    • G01B7/16Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring the deformation in a solid, e.g. by resistance strain gauge
    • G01B7/22Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring the deformation in a solid, e.g. by resistance strain gauge using change in capacitance

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  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は物体の歪を測定Tる方法及びこれに使用するた
めの測定装置に関Tるものである。
物体の応力変形歪を検出す]るための歪ゲージとしては
従来抵抗線式の歪ゲージが最も普通である。
ところがこのような抵抗線式では、ゲージを通過する電
流を取り出すための電気回路配線が必要なため、例えば
高速で運動する物体の歪を外部より、@定する場合には
不適当であった。なぜならばtこのような測定のために
はゲージ電流の変動を一旦無゛線送信可能な信号に変え
る必要があり、このため装置が複雑化してかつ大型化す
る1ずかりでなく、歪ゲージに比較的大量の電流を流T
ための電源を含む上記の装置はすべて高速運動Tる被測
定物体上に取り付けられなければならないので、これに
より被測定物体の歪が大きく変動して測定誤差となる恐
れがある。またこあような複雑な回路を有Tる装置は、
高速運動によって損傷しやすいという欠点もある。ざら
に、ゲージに流れる電流による発熱もかなり大きく、被
測定物質がプラスチックのような熱絶縁体の場命には、
ゲージの温度上昇による抵抗値の変動のために測定誤差
を生じる恐れもある。
また別の歪測定浩として、振動物体の表面に電極を付し
、これと対向して設けた固定電極との間の空気コンデン
サの容量変化により振動体の変位量を測定して、歪を算
出する方法も知られているが″、この方法も固定電極が
必要なために例えば移動物体の歪測定には使用し得ない
本発明はこのような問題点に鑑みてなされた□ものであ
って、例えば移動する゛物体の極く僅かな歪でも測定可
能なi測定方法及びこれに使用するための装置を提供し
ようとするものである。
こ゛の目的は本発明の第1発明により次のようにして達
成される。即ち本発明においては、表裏1こ電極の取り
付けられた高分子絶縁体膜からなるコンデンサを歪ゲー
ジとして用い、この歪ゲージの厚み変化に基く上輪電極
間の静電容量の変化を検出Tることにより被検出体の歪
を測定Tる。
まず本発明による方法の原理を説明する。
歪ゲージを物体(被検出体)の被測定位置に貼布し:物
体がゲージのX軸方向にのみ歪を生じた゛とTる。この
゛ときゲージは物体表面に貼面すれているためにX軸方
向にはSxの歪が生じ、y軸方向の歪i1 Sy = 
0  となる。またこの薄膜のポアシン比をνとすれば
、薄膜の厚み方向の歪Sgは(1)式で表わされる。
88=−コ÷、 ” ax ・・曲・曲” (1)一方
、この薄膜の静電容量coは次式(2)で示されるO ’  C62g h  ・・・・曲・・・曲(2)但し
、C:誘電率、A:電極対向部の面積、h:膜厚である
。この薄膜が変形して、面積大がΔAだけ変イビし、ま
た膜厚りがΔhだけ変化した場合の静電容量coの変化
ΔCは近似的に次式(3)で示される。
ΔC=−“■・τ−“pΔh =gT(τ−■)・・・・・・−・・=(3)従って(
3)式は次の(4)式のように変形される。
A    F  s。
AC=#T(Sx+1−ν ) = C1「拳”x(1+1−、) ……………(4)こ
の(4)式より、 ΔC/C0=1/(1−ν)・Sx……………(5)こ
の(5)式から上記薄膜コンデンサからなる歪ゲージの
容量変化率ΔC/Coは歪Sxに比例し、才た1/(’
1−ν)が大きいほど、即ちポアタン比νが大きいほど
その感度の′大きいことが分る。
以上の説明はX軸方向の歪についてのみ説明したが、y
軸方向の歪についてもまったく同様であり、才たx−y
方向に同時に歪の生じる場合には、誘電率εの変化が生
じない場合であるが、薄膜を電歪の大きな誘電体で構成
、シ、た場合には歪に比例して誘電率Cも変化する。即
ち最初の誘電率IがΔCの変化を示すとすれば、上記(
3) (4)(51式は夫々(3Y(4)’(5どのよ
うに変形される。
Δε  ΔA  Δh ΔC”i  Co  ((+T    T  )”””
・(3)’1   Δζ ΔC= C(1(8xT−7;+ 、 ) ””” (
4)’皿= −4−sx + −!−’ ・・・・・・
・・・・・・・・・・・・<5fCo   1−ν  
  g 従って電歪常数の大きな誘電体を用いた場合にノ8 はTによる補正が必要なので、一般には電歪のない誘電
体を用いるのが奸才しい。しかし例えば誘電体膜の配向
の方向と歪の方向との関係によってΔ8が大きく変化T
るような電歪物質であれば、このΔCの方向性を利用し
て歪の方向を検知することが可能であり、この目的のた
めに電歪の大きな誘電体を特に選んで使用してもよい。
このように本発明の第1発明によれば、物体の歪が薄膜
コンデンサの容量変化に変換されるので、この容量変化
を測定Tれば、上記物体の歪を容易に測定することがで
きる。
例えば本発明の第2発明によれば、FM変調器の発振回
路における発振定数を規定Tるためのコンデンサの少な
くとも一部として上記薄膜コンデンサからなる歪ゲージ
が用いられる。従ってこのコンデンサ容量の変化に応じ
て発振周波数が変調きれるので、このFM信号を検出T
ることにより物体の歪を知ることができる。このような
FM変調器ならば、微小な水晶発振子とこれを駆動する
ための極めて小型の電池上があればよい。ま・た測定値
は既にFM信号として得られているので、これを増巾し
て無線送信する場合でも、その送信回路は極めて簡単で
よく、従ってゲージ及び送信回路を含めた全体の装置は
極めて小型かつ軽食となる。それゆえこれを高速運動す
る被測定物体に取り付けたとしても、被測定部の歪を変
化させる恐れが極めて少なく、このため微小な歪でも正
確に測定することが可能である。
次に本発明の一実施例による歪測定装置を第1図及び第
2図を参照して説明する。
第1図において、(1)は被測定物体であり、その両面
に歪ゲージ(2+ <2Yが夫々貼布されでいる・各歪
ゲージ(2X2Yは、例えばポリエチレンフィルム(3
X3)’の表面に夫々電極(4)(51及び(4)’(
5どが蒸着されてなる薄膜コンデンサである。<6X6
)’は接着剤であり、またゲージ表頁は、必要に応じて
絶縁性樹脂層(7X7)’を介し、導電体のシールド(
8X8)’で覆われている@各歪ゲージ(2)(2)’
表面の電極(4) (51及び(4)’(5)’は、一
対の発振回路を有TるFM変調器(9)の夫々の発振回
路に接続されている。
このFM変調器(9)の回路構成例を第2図に示T。
aυは2系列の発振部を有する差動FM変調回路であり
、水晶振動子uma’により所定の搬送波を得ている。
これらの水晶振動子a加γにはコンデンサ・(歪ゲージ
) <2に2どが直列(並列でもよい)に夫々接続され
ており、これらのコンデンサ(2に2どが歪を受けて容
量変化を生じると水晶振動子a圀γによる搬送波が夫々
の容量変化に応じてFM変調される。
変調された各信号は差動回路aυで混合され讐これらの
信号のうなり周波数がF−V変換゛回路Iにより電圧に
変換されて表示回路Q!9に供給きれる。
−万、高速運動す−る物体゛(被検出体)に歪ゲージ(
2に2どが夫々取り付けられる場合には、#!2図に破
線で′示T゛ように、差動FM変調゛回路aO・からの
信号を送信回路αeに供給して無線送信させ、これを受
信回路aテにより受信してF−V変換回路Iに供給ずれ
はよい。このように測定装置を歪検出部と表示部とに分
け、これらを互いに無線で接続することも容易である。
また振動検出部の表裏に夫々歪ゲージを貼布Tることの
できないような被検出体の場合には、その片面のみに歪
ゲージ(2)又は(2どを貼布し、これを(以下余白次
頁に続く) □ 差動式FM変調回路Iの一方の発振回路のコンデンサと
して使用するとともに、他方の発振回路には別の固定容
量コンデンサを使用Tればよい。この場合、固定容量コ
ンデンサとして、振動検出部に貼布したと同様の歪ゲー
ジ(2ど又は(2)を使用するξともできる。ざらに、
同一の歪みによって静電容量の変化が異なる一対の歪ゲ
ージを使用し、これらを被測定物体の同一表面上ではり
歪み量が同一と考えられる部分暑こ夫々貼布して、これ
ら一対の歪ゲージを差動式FM変調回路Iの夫々の発振
回路のコンデンサとして使用Tることもできる。
本発明による測定対象は物体の応力変形による歪に限定
されず、例えば歪の繰返し周期を測定することにより、
振動体の振動周期などの測定にも本発明は適用可能であ
る。
本発明に使用可能な歪ゲージの高分子絶縁体としては、
薄膜化したものを振動体に貼布したとき簡単に破損しな
い程度の機械的強度を有するものならば何でもよ(、例
えばポリオレフィン類、ポリスチレン、ポリアクリロニ
トリル、ポリアルキルアクリレ、−ト類、ポリハロゲン
化ビニル類、ポリアミド、ポリエステル、その他多くの
熱可塑性プラスチック類、ポリブタジェンその他のジエ
ン系ゴム類、天然ゴムなどを任意に使用し得る。ただし
゛被検出体の材質が例えばプラスチ7.りやゴムなどの
ように軟質で外部応力により変形しやすい場合には、歪
ゲージに使用する薄膜はこの被検出体よりもざらに軟質
で変形しやすい高分子絶縁体を選択して使用することが
好ましい。
本発明によれば、歪ゲージが薄膜フィルムで構成されて
いるので、どのような複雑な形状の表面にも容易に貼布
することができ、またその太きさも任意に選択すること
ができる。なお上記実施例において歪ゲージコンデンサ
(2112)’のうちの一方を別の可変容量コンデンサ
によって構成し、歪ゲージコンデンサ(2)又は(2)
′の特性に応じてこの可変容量コンデジサの容量を設定
するようにすれば、歪ゲージコンデンサの面積選択の自
由度は一層大きくなる。ざらに歪ゲージは軽量なフィル
ムであり、′ また被測定物体の材質よりヤング率の充
、分率さい高分子材料を選択すれば、被測定物体の運動
をさまたげたり、歪を変化させたりする恐れは極めて少
ない。また歪をFM信号に変換して小型軽量の送信機に
より信号の伝送を行なうこともできるので、静止に近い
状態の物体の歪のみならず、高速運動する物体の歪をも
容易に測定できる。
次に本発明を実験例につき説明する。
」l11 第2図に示すような一対の発振回路(基本周波#!11
8MHz )を有するFM変調器Iとして小笠原プレシ
ジョンに、に、製のテレミクロ18M−01を使用し、
FM変調器aυのコンデンサ(282)’として、とも
に厚ざ27j1、巾2■、長7520mmのポリフッ化
ビーリデンフイルムの両面に夫々電極を設けた素子を用
いた。このポリフッ化ビニリデンフィルム素子の静電容
量は18MHzにおいて75 pFであった。
次に一方の素子α力の両端をクランプにはぎみ、その長
さ方向に所烏の伸び歪を与えて、一対の発振回路の周波
数のズレ(うなり周波数)をF−V変換回路Iによって
電圧に変換して読み取った。
第3図はその結果を示したものであるが、歪と電圧とが
直線関係を示し、この装置が歪計として作動することが
確認された。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例による歪測定装置の概略縦断
面図、第2図は同上のブロック回路図、第3図は同上の
装置における電圧と伸びとの関係を示すグラフである。 なお図面に用いた符号において、 (1)・・・・・・・・・・・・・・・被測定物体(2
X2+’・・・・・・・・・・・・歪ゲージ(9)・・
・・・・・・・・・・・・・FM変調器である。 代理人 土星 勝 l  松材 修 第1図 ? 第2図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、I!裏に電極の取り付けられた高分子絶縁体膜から
    なるコンデンサを歪ゲージとして用い、この歪ゲージの
    厚み変化に基く前配電極間の静電容量の変化を検もする
    ことにより被検出体の歪を測定するようにしたことを特
    徴とTる歪測定方法。 2、歪ゲージを、FM変調器の発振回路における発振定
    数を規定するためのコンデンサの少なくとも一部として
    用い、この歪ゲージの静電容量変化による変調FM周波
    数により前記静電容量変化を検出するようにした仁とを
    特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の歪測定方法。 3、 FM変、調器として、一対の発振回路を有する差
    動式FM変調器を用い、かつ少なくとも一方の発振回路
    における発振定数を規定するためのコンデンサの一部と
    して歪ゲージを用いて、これら一対の発振回路から夫々
    得られるFM信号゛の差動によるうなり周波数によって
    静電容量変化を検出するようにしたことを特徴とする特
    許請求の範囲第2項に記載の歪測定方法。 4、被検出体の表面及び裏面に夫々貼布された一対の歪
    ゲージを夫々の発振回路における発振定数を規定するた
    めのコンデンサとして使用することを特徴とする特許請
    求の範囲第3項に記載の歪測定方法。 5、一方は被検出体表面に貼布され、かつ他方は歪−を
    生じないように保持された一対の歪ゲージを夫々の発振
    回路における発振定数を規定Tるためのコンデンサとし
    て使用することを特徴とする特許請求の範囲第3項に記
    載の歪測定方法。 6、同一の歪による静電容量の変化量が異なる一対の歪
    ゲージを被検出体の同一表面に夫々貼布して用いること
    を特徴とする特許請求の範囲#!1項〜第5項のいずれ
    か1項に記載の歪測定方法。 2 表裏に電極の取り付けられた高分子絶縁体膜からな
    るコンデンサによって構成された歪ゲージが、FM変調
    器の発振回路における発振定数を規定するためのコンデ
    ンサの少なくとも一部として使用されていることを特徴
    とする歪測定装置。□8、FM変調器が、一対の発振回
    路を有する差動式FM変調器であることを特徴とする特
    許請求の範囲第7項に記載の歪測定装置。 9、FM変調器が、送信回路と受信回路とからなる無線
    伝送回路を有していることを特徴とする特許請求の範囲
    第7項又は第8項に記載の歪測定装置。 1[1,FM変調器のFM変調回路が、表示回路に接続
    されたF−V変換回路に接続されていることを特徴とす
    る特許請求の範囲第7項〜第9項のいずれか1項に記載
    の歪測定装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009020006A (ja) * 2007-07-12 2009-01-29 Tokai Rubber Ind Ltd 静電容量型センサ
JP2013029457A (ja) * 2011-07-29 2013-02-07 Murata Mfg Co Ltd 電歪センサ
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