JPS5845523A - 測光回路 - Google Patents
測光回路Info
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- JPS5845523A JPS5845523A JP56144118A JP14411881A JPS5845523A JP S5845523 A JPS5845523 A JP S5845523A JP 56144118 A JP56144118 A JP 56144118A JP 14411881 A JP14411881 A JP 14411881A JP S5845523 A JPS5845523 A JP S5845523A
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- constant current
- transistors
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Links
- 238000005375 photometry Methods 0.000 abstract description 17
- 101150028119 SPD1 gene Proteins 0.000 abstract 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 abstract 1
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 17
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 9
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 9
- 229920006227 ethylene-grafted-maleic anhydride Polymers 0.000 description 8
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 6
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 125000003345 AMP group Chemical group 0.000 description 2
- 241000270722 Crocodylidae Species 0.000 description 2
- HODRFAVLXIFVTR-RKDXNWHRSA-N tevenel Chemical compound NS(=O)(=O)C1=CC=C([C@@H](O)[C@@H](CO)NC(=O)C(Cl)Cl)C=C1 HODRFAVLXIFVTR-RKDXNWHRSA-N 0.000 description 2
- 101710170231 Antimicrobial peptide 2 Proteins 0.000 description 1
- 108010007127 Pulmonary Surfactant-Associated Protein D Proteins 0.000 description 1
- 102100027845 Pulmonary surfactant-associated protein D Human genes 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- LNNWVNGFPYWNQE-GMIGKAJZSA-N desomorphine Chemical compound C1C2=CC=C(O)C3=C2[C@]24CCN(C)[C@H]1[C@@H]2CCC[C@@H]4O3 LNNWVNGFPYWNQE-GMIGKAJZSA-N 0.000 description 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/44—Electric circuits
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Amplifiers (AREA)
- Exposure Control For Cameras (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、測光回路、更に詳しくは、複数の測光用受光
素子から1つの演算増幅器を通じて選択的に測光出力を
とり出すようにした測光回路に関する。
素子から1つの演算増幅器を通じて選択的に測光出力を
とり出すようにした測光回路に関する。
周知のように、異なった受光分布特性を有する複数の受
光素子(例えば、カメラのスポット測光用受光素子と平
均測光用受光素子)、または、異なった測光光学系に配
置された複数の受光素子(例えば、カメラのTTL開放
測光用受光素子とTTLフィルム面反射測光用受光素子
)のうち、いずれか1つの受光素子を選択的に増幅回路
に接続し、この受光素子の測光に基づく測光出力を得た
い場合には、従来は、(1)受光素子を切り換える手段
、または、(2)出力を切り換える手段のいずれか一方
の手段が採られていた。上記(1)の受光素子を切り換
える手段は、第1図に示すように、複数(図においては
2個)の受光素子8PD、 、 8PD、と、1つの増
幅回路ハ伊、とを切換スイッチSW、を介して接続し、
この切換スイッチ歴、の切換操作に応じて、受光素子S
PD、または8PD、から選択的に測光出力をとり出す
ようにしたものである。また、上記(2)の出力を切り
換える手段は、第2図に示すよ5に、各受光素子8PD
+ 、 5PDtに対してそれぞれ増幅回路AMP、
。
光素子(例えば、カメラのスポット測光用受光素子と平
均測光用受光素子)、または、異なった測光光学系に配
置された複数の受光素子(例えば、カメラのTTL開放
測光用受光素子とTTLフィルム面反射測光用受光素子
)のうち、いずれか1つの受光素子を選択的に増幅回路
に接続し、この受光素子の測光に基づく測光出力を得た
い場合には、従来は、(1)受光素子を切り換える手段
、または、(2)出力を切り換える手段のいずれか一方
の手段が採られていた。上記(1)の受光素子を切り換
える手段は、第1図に示すように、複数(図においては
2個)の受光素子8PD、 、 8PD、と、1つの増
幅回路ハ伊、とを切換スイッチSW、を介して接続し、
この切換スイッチ歴、の切換操作に応じて、受光素子S
PD、または8PD、から選択的に測光出力をとり出す
ようにしたものである。また、上記(2)の出力を切り
換える手段は、第2図に示すよ5に、各受光素子8PD
+ 、 5PDtに対してそれぞれ増幅回路AMP、
。
AMP3を接続し、各増幅回路AMP、 、AMP、の
出力端に切換スイッチSW、を接続して、この切換スイ
ッチSW2の切換操作に応じて、いずれが1つの増幅回
路AMP、またはAMP3からの測光出力を選択的に用
いるようにしたものである。
出力端に切換スイッチSW、を接続して、この切換スイ
ッチSW2の切換操作に応じて、いずれが1つの増幅回
路AMP、またはAMP3からの測光出力を選択的に用
いるようにしたものである。
しかし、上記(1)の手段は、非常にインピーダンスの
高い増幅回路AMP 、の入力端がわでスイッチングを
行なうことになるので、切換スイッチsw1そのものに
高い信頼性と接触効率が求められてコストが高くなると
共に、切換スイッチsw、へのノイズの乱入、リーク電
流の影響、接触不良等の困難な種々の問題が発生すると
いう欠点があった。また、上記(2)ノ手段は、各受光
素子SPD、 、 SPD、 K対してそれぞれ増幅回
路AMP2 、 AMPsを必要とするので、測光回路
が大型かつ複雑化すると共に、各増幅回路AMPz 、
AMPsの特性を合わせるのが困難であり、各増幅回
路AMP、、AMPSの特性のバラツキが受光特性のバ
ラツキとして影響してくるという不都合があった。
高い増幅回路AMP 、の入力端がわでスイッチングを
行なうことになるので、切換スイッチsw1そのものに
高い信頼性と接触効率が求められてコストが高くなると
共に、切換スイッチsw、へのノイズの乱入、リーク電
流の影響、接触不良等の困難な種々の問題が発生すると
いう欠点があった。また、上記(2)ノ手段は、各受光
素子SPD、 、 SPD、 K対してそれぞれ増幅回
路AMP2 、 AMPsを必要とするので、測光回路
が大型かつ複雑化すると共に、各増幅回路AMPz 、
AMPsの特性を合わせるのが困難であり、各増幅回
路AMP、、AMPSの特性のバラツキが受光特性のバ
ラツキとして影響してくるという不都合があった。
本発明の目的は、上述の点に鑑み、複数の差動増幅回路
を有する測光用演算増幅器の定電流バイアス回路を、外
部信号で切り換えられるようにし、これに応じてそれぞ
れの受光素子の測光に基づく測光出力を選択的に得るこ
とができるようにした測光回路を提供するにある。
を有する測光用演算増幅器の定電流バイアス回路を、外
部信号で切り換えられるようにし、これに応じてそれぞ
れの受光素子の測光に基づく測光出力を選択的に得るこ
とができるようにした測光回路を提供するにある。
本発明によれば、演算増幅器の定電流バイアス回路を外
部信号で切り換えて測光する受光素子を選択するように
したので、比較的低インピーダンスの点でスイッチング
を行なうことになり、ノイズ、リーク電流、接触不良等
の問題が生ずるおそれが少ない。
部信号で切り換えて測光する受光素子を選択するように
したので、比較的低インピーダンスの点でスイッチング
を行なうことになり、ノイズ、リーク電流、接触不良等
の問題が生ずるおそれが少ない。
また、演算増幅器はモノリシックに製造されるので各差
動増幅回路の特性のマツチングがきわめて容易に、かつ
高精度に行なえる。
動増幅回路の特性のマツチングがきわめて容易に、かつ
高精度に行なえる。
以下、本発明を図示の実施例に基づいて説明する。
第3図は、本発明に係る測光回路を示しており、この測
光回路は、シリコンフォトダイオードでなる2つの測光
用受光素子SPD、 、 5PD2を、モノリシックI
Cチップで形成された演算増幅器0P1(図において、
測光用受光素子SPD、 、 SPD、以外の部分)に
それぞれ接続して構成されている。上記両受光素子SP
D、 、 SPD、は、カソードを演算増幅器OP1の
非反転入力端となる、基準電圧Vnyを印加された第3
のMO8型電界効果トランジスターQ。
光回路は、シリコンフォトダイオードでなる2つの測光
用受光素子SPD、 、 5PD2を、モノリシックI
Cチップで形成された演算増幅器0P1(図において、
測光用受光素子SPD、 、 SPD、以外の部分)に
それぞれ接続して構成されている。上記両受光素子SP
D、 、 SPD、は、カソードを演算増幅器OP1の
非反転入力端となる、基準電圧Vnyを印加された第3
のMO8型電界効果トランジスターQ。
のベースにそれぞれ接続されており、一方の受光素子S
PD、のアノードは、演算増幅器OP、の一方の反転入
力端となる第1のMO8型電界効果トランジスターQ、
のベースに、また、他方の受光素子SPD、のアノード
は、演算増幅器OP、の他方の反転入力端となる第2の
MO8型電界効果トランジスターQ、のベースに、それ
ぞれ接続されている。
PD、のアノードは、演算増幅器OP、の一方の反転入
力端となる第1のMO8型電界効果トランジスターQ、
のベースに、また、他方の受光素子SPD、のアノード
は、演算増幅器OP、の他方の反転入力端となる第2の
MO8型電界効果トランジスターQ、のベースに、それ
ぞれ接続されている。
上記第1ないし第3の電界効果トランジスターQ1〜Q
3は、ソースを抵抗R1〜R8をそれぞれ通じて接地電
位GNDにある動作電圧供給ラインL、に接続されてお
り、また、ドレインを動作電圧VDDを供給する動作電
圧供給ラインドにそれぞれ接続されている。そして、第
1の電界効果トランジスターQ1のソース・は、演算増
幅器oPlの一方の差動増幅回路を形成するトランジス
ターQa 、 Q、の、他方のトランジスターQ7のベ
ースに接続されている。
3は、ソースを抵抗R1〜R8をそれぞれ通じて接地電
位GNDにある動作電圧供給ラインL、に接続されてお
り、また、ドレインを動作電圧VDDを供給する動作電
圧供給ラインドにそれぞれ接続されている。そして、第
1の電界効果トランジスターQ1のソース・は、演算増
幅器oPlの一方の差動増幅回路を形成するトランジス
ターQa 、 Q、の、他方のトランジスターQ7のベ
ースに接続されている。
また、第2の電界効果トランジスターQ2のソースは、
演算増幅器OP、の他方の差動増幅回路を形成するトラ
ンジスターQ、 、 Q、の、他方のトランジスターQ
、のベースに接続されている。さらに、第3の電界効果
トランジスターQ3のソースは、一方の差動増幅回路を
形成するトランジスターQ、 、 Q、の、一方のトラ
ンジスターQ、のベース、および他方の差動増幅回路を
形成するトランジスターQs 、 Q、の、一方のトラ
ンジスターQ8のベースに、それぞれ接続されている。
演算増幅器OP、の他方の差動増幅回路を形成するトラ
ンジスターQ、 、 Q、の、他方のトランジスターQ
、のベースに接続されている。さらに、第3の電界効果
トランジスターQ3のソースは、一方の差動増幅回路を
形成するトランジスターQ、 、 Q、の、一方のトラ
ンジスターQ、のベース、および他方の差動増幅回路を
形成するトランジスターQs 、 Q、の、一方のトラ
ンジスターQ8のベースに、それぞれ接続されている。
上記トランジスターQa 、 Q7は、それぞれNPN
型トランジスターで形成されていて、一方のトランジス
ターQ6のコレクタは、トランジスターQ20と共にカ
レントミラー回路を形成するトランジスター Q、のコ
レクタおよびベースに接続され、他方のトランジスター
Q7のコレクタは、トランジスターQz+と共にカレン
トミラー回路を形成するトランジスターQ、のコレクタ
およびベースに接続されている。そして、両トランジス
ターQe 、 Q、のエミッタは互いに接続されて、ト
ランジスターQuのコレクタに接続されている。また、
トランジスターQ、 、 Q、は、それぞれNPN型ト
ランジスターで形成されていて、一方のトランジスター
Q8のコレクタは、上記トランジスターQ4のコレクタ
およびベースに、他方のトランジスターQ、のコレクタ
は、上記トランジスターqのコレクタおよびベースに、
それぞれ接続されている。そして、両トランジスターQ
、、Q、のエミッタは互いに接続されて、トランジスタ
ーQ+oのコレクタに接続されている。
型トランジスターで形成されていて、一方のトランジス
ターQ6のコレクタは、トランジスターQ20と共にカ
レントミラー回路を形成するトランジスター Q、のコ
レクタおよびベースに接続され、他方のトランジスター
Q7のコレクタは、トランジスターQz+と共にカレン
トミラー回路を形成するトランジスターQ、のコレクタ
およびベースに接続されている。そして、両トランジス
ターQe 、 Q、のエミッタは互いに接続されて、ト
ランジスターQuのコレクタに接続されている。また、
トランジスターQ、 、 Q、は、それぞれNPN型ト
ランジスターで形成されていて、一方のトランジスター
Q8のコレクタは、上記トランジスターQ4のコレクタ
およびベースに、他方のトランジスターQ、のコレクタ
は、上記トランジスターqのコレクタおよびベースに、
それぞれ接続されている。そして、両トランジスターQ
、、Q、のエミッタは互いに接続されて、トランジスタ
ーQ+oのコレクタに接続されている。
上記トランジスターQ+o + Q++は、それぞれN
PN型トランジスターで形成されており、トランジスタ
ーQIOのエミッタは動作電圧供給ラインL、に接続さ
れていて、ベースは同トランジスターQsoと共にカレ
ントミラー回路を形成するトランジスタ”−Q、<のベ
ースおよびコレクタに接続されている。
PN型トランジスターで形成されており、トランジスタ
ーQIOのエミッタは動作電圧供給ラインL、に接続さ
れていて、ベースは同トランジスターQsoと共にカレ
ントミラー回路を形成するトランジスタ”−Q、<のベ
ースおよびコレクタに接続されている。
また、トランジスターQ+oのベースは、NPN型のバ
イアス制御用スイッチングトランジスターQCsのコレ
クタにも接続されている。このスイッチングトランジス
ターQ+sは、エミッタがラインL1に、ベースが抵抗
R4を通じてインバーターIN、の出力端に接続されて
おり、インバータ=IN1の入力端には、演算増幅器O
P、の制御信号入力端(図示せず)を通じて、バイアス
切換制御信号Scが印加されている。一方、トランジス
ターQuは、そのエミッタを動作電圧供給ラインL1に
接続され、ベースを同トランジスターQ11と共にカレ
ントミラー回路を形成するトランジスターQ+oのベー
スおよびコレクタに接続されている。また、トランジス
ターQ++のベースは、NPN型のバイアス制御用スイ
ッチングトランジスターQ、tのコレクタにも接続され
ている。このスイッチングトランジスターQ、2は、エ
ミッタがラインL、に接続されており、ベースには抵抗
R6を通じてバイアス切換制御信号Scが印加されるよ
うになりている。
イアス制御用スイッチングトランジスターQCsのコレ
クタにも接続されている。このスイッチングトランジス
ターQ+sは、エミッタがラインL1に、ベースが抵抗
R4を通じてインバーターIN、の出力端に接続されて
おり、インバータ=IN1の入力端には、演算増幅器O
P、の制御信号入力端(図示せず)を通じて、バイアス
切換制御信号Scが印加されている。一方、トランジス
ターQuは、そのエミッタを動作電圧供給ラインL1に
接続され、ベースを同トランジスターQ11と共にカレ
ントミラー回路を形成するトランジスターQ+oのベー
スおよびコレクタに接続されている。また、トランジス
ターQ++のベースは、NPN型のバイアス制御用スイ
ッチングトランジスターQ、tのコレクタにも接続され
ている。このスイッチングトランジスターQ、2は、エ
ミッタがラインL、に接続されており、ベースには抵抗
R6を通じてバイアス切換制御信号Scが印加されるよ
うになりている。
上記トランジスターQ14およびQlllは、共にNP
N型トランジスターで形成されていて、エミッタをライ
ンL、にそれぞれ接続されると共に、コレクタをトラン
ジスターQ0およびQlllのコレクタにそれぞれ接続
されている。トランジスターQ+s + Q+eは、共
にPNP型トランジス・ターで形成されていて、エミッ
タをラインL、にそれぞれ接続され、ベースな抵抗R6
と共に定電流回路を形成するラテラルPNP型トランジ
スターQl?のベースにそれぞれ接続されている。この
トランジスターQ+7は、そのエミッタをラインL2に
接続され、コレクタを抵抗R0を通じてラインL1に接
続されている。また、トランジスターQ+7のベースお
よびコレクタには、同トランジスターQl?の電流増幅
率hF’Eを補償するためのサブストレートPNP型ト
ランジスターQtaのエミッタおよびべ−スが接続され
ており、トランジスターQsaのコレクタはラインL、
に接続されている。このトランジスターQwsは、トラ
ンジスター QIS + Q+a p Q+y のベー
ス電流をエミッタ電流で供給するように構成されており
、精度の高いカレントミラー回路を実現する役目をして
いる。
N型トランジスターで形成されていて、エミッタをライ
ンL、にそれぞれ接続されると共に、コレクタをトラン
ジスターQ0およびQlllのコレクタにそれぞれ接続
されている。トランジスターQ+s + Q+eは、共
にPNP型トランジス・ターで形成されていて、エミッ
タをラインL、にそれぞれ接続され、ベースな抵抗R6
と共に定電流回路を形成するラテラルPNP型トランジ
スターQl?のベースにそれぞれ接続されている。この
トランジスターQ+7は、そのエミッタをラインL2に
接続され、コレクタを抵抗R0を通じてラインL1に接
続されている。また、トランジスターQ+7のベースお
よびコレクタには、同トランジスターQl?の電流増幅
率hF’Eを補償するためのサブストレートPNP型ト
ランジスターQtaのエミッタおよびべ−スが接続され
ており、トランジスターQsaのコレクタはラインL、
に接続されている。このトランジスターQwsは、トラ
ンジスター QIS + Q+a p Q+y のベー
ス電流をエミッタ電流で供給するように構成されており
、精度の高いカレントミラー回路を実現する役目をして
いる。
他方、上記トランジスターQ、 、 Q、は、共にPN
P型のトランジスターで形成されており、エミッタはラ
インL、にそれぞれ接続されている。また、ベースは、
トランジスターQzoおよびQ21のベースにそれぞれ
接続されている。トランジスターQ2゜、Q□は、PN
P21)ランシスターで形成されていて、エミッタはラ
インL2にそれぞれ接続されており、トランジスターQ
、。のコレクタは、トランジスターQztのコレクタお
よびベースに、トランジスターQztのコレクタは、ト
ランジスターQtsのコレクタおよびトランジスターQ
!4のベースに、それぞれ接続されている。NPN型の
トランジスターQ2□とQzsとは、互いにベースを接
続されてカレントミラー回路を形成しており、両トラン
ジスターQ2.。
P型のトランジスターで形成されており、エミッタはラ
インL、にそれぞれ接続されている。また、ベースは、
トランジスターQzoおよびQ21のベースにそれぞれ
接続されている。トランジスターQ2゜、Q□は、PN
P21)ランシスターで形成されていて、エミッタはラ
インL2にそれぞれ接続されており、トランジスターQ
、。のコレクタは、トランジスターQztのコレクタお
よびベースに、トランジスターQztのコレクタは、ト
ランジスターQtsのコレクタおよびトランジスターQ
!4のベースに、それぞれ接続されている。NPN型の
トランジスターQ2□とQzsとは、互いにベースを接
続されてカレントミラー回路を形成しており、両トラン
ジスターQ2.。
Qtsのエミッタはそれぞれう゛インL、に接続されて
いる。また、NPN型のトランジスターQtaのコレク
タは、抵抗R1を通じてラインL、に接続されていると
共に、発振防止用の位相補償コンデンサーC1を介して
ベースに接続されており、エミッタはラインL1に接続
されている。
いる。また、NPN型のトランジスターQtaのコレク
タは、抵抗R1を通じてラインL、に接続されていると
共に、発振防止用の位相補償コンデンサーC1を介して
ベースに接続されており、エミッタはラインL1に接続
されている。
上記トランジスターQ、4のコレク、りがわは、演算増
幅器OP、の出力端となりてホ゛す、対数圧縮トランジ
スターQ□、Q、6のエミッタがそれぞれ接続されてい
る。対数圧縮トランジスターQt* t Qtaは、N
PN 型トランジスターで形成されていて、互いのベー
スを接続されていると共に、コレクタを上記受光素子S
P、D、 、 5PD2のアノードにそれぞれ接続され
ている。また、両トランジスターQ25 + Q2.6
の互いに接続されたベースは、上記第3の電界効果トラ
ンジスターQ3のベースに接続されていて、基準電圧V
REFの印加を受けている。
幅器OP、の出力端となりてホ゛す、対数圧縮トランジ
スターQ□、Q、6のエミッタがそれぞれ接続されてい
る。対数圧縮トランジスターQt* t Qtaは、N
PN 型トランジスターで形成されていて、互いのベー
スを接続されていると共に、コレクタを上記受光素子S
P、D、 、 5PD2のアノードにそれぞれ接続され
ている。また、両トランジスターQ25 + Q2.6
の互いに接続されたベースは、上記第3の電界効果トラ
ンジスターQ3のベースに接続されていて、基準電圧V
REFの印加を受けている。
以上のように、本発明の測光回路は構成されている。
次に、この測光回路の動作について説明する。
本測光回路は、演算増幅器OP、の制御信号入力端に印
加されるバイアス切換制御信号Scの高低に応じて、測
光状態となる受光素子SPD、 、 5PD2が切り換
えられるので、上記バイアス切換制御信号Scがロウレ
ベル(以下、゛Lルベルと記す。)の場合と、ハイレベ
ル(以下、°I]ルベルと記す。)の場合とに別けて動
作を説明する。
加されるバイアス切換制御信号Scの高低に応じて、測
光状態となる受光素子SPD、 、 5PD2が切り換
えられるので、上記バイアス切換制御信号Scがロウレ
ベル(以下、゛Lルベルと記す。)の場合と、ハイレベ
ル(以下、°I]ルベルと記す。)の場合とに別けて動
作を説明する。
(a) バイアス切換制御信号Scが゛Lルベルの場
合。
合。
この場合には、信号Scを受けてトランジスターQ+2
がオフとなり、また、インバーターIN、からの信号S
cの反転出力を受けてトランジスターQ1sがオンする
。トランジスターQ+3がオンすることにより、トラン
ジスターQI4 + Q+。が零バイアスされてオフと
なり、トランジスターQ、 、 Q、でなる第2の差動
増幅回路が定電流バイアスされなくなって、不作動状態
となる。このため、トランジスターQ。
がオフとなり、また、インバーターIN、からの信号S
cの反転出力を受けてトランジスターQ1sがオンする
。トランジスターQ+3がオンすることにより、トラン
ジスターQI4 + Q+。が零バイアスされてオフと
なり、トランジスターQ、 、 Q、でなる第2の差動
増幅回路が定電流バイアスされなくなって、不作動状態
となる。このため、トランジスターQ。
のベースがソースに接続された電界効果トランジスター
Q2は、次段以降に接続されていない状態となって、こ
のトランジスターQ2のベースにアノードが接続された
他方の受光素子5PD2が、演算増幅器OP tから切
り離されたのと同等の状態となり、受光素子5PD2は
演算増幅器OP、の増幅動作に関与しなくなる。一方、
トランジスターQ12がオフすることにより、トランジ
スターQ、。、Ql、がオンし、トランジスターQ+?
とQ16.およびトランジスターQ1oとQ、t との
間のカレントミラー効果によってトランジスターQ11
には、トランジスターQl?と抵抗R6とでなる定電流
回路に流れる電流Ijと等しい定電流Ijが流れる。よ
って、トランジスターQa +Q、でなる第1の差動増
幅回路が定電流バイアスされて作動状態となり、両トラ
ンジスターQa 、 Q7のベースがそれぞれソースに
接続された電界効果トランジスターQa 、 Q、が次
段以降に接続された状態となって、このトランジスター
Q、 、 Q、のゲート間に接続された受光素子SPD
、・が演算増幅器oP。
Q2は、次段以降に接続されていない状態となって、こ
のトランジスターQ2のベースにアノードが接続された
他方の受光素子5PD2が、演算増幅器OP tから切
り離されたのと同等の状態となり、受光素子5PD2は
演算増幅器OP、の増幅動作に関与しなくなる。一方、
トランジスターQ12がオフすることにより、トランジ
スターQ、。、Ql、がオンし、トランジスターQ+?
とQ16.およびトランジスターQ1oとQ、t との
間のカレントミラー効果によってトランジスターQ11
には、トランジスターQl?と抵抗R6とでなる定電流
回路に流れる電流Ijと等しい定電流Ijが流れる。よ
って、トランジスターQa +Q、でなる第1の差動増
幅回路が定電流バイアスされて作動状態となり、両トラ
ンジスターQa 、 Q7のベースがそれぞれソースに
接続された電界効果トランジスターQa 、 Q、が次
段以降に接続された状態となって、このトランジスター
Q、 、 Q、のゲート間に接続された受光素子SPD
、・が演算増幅器oP。
の増幅動作に関与するようになる。即ち、受光素子8P
D、が測光状態となる。
D、が測光状態となる。
受光素子SPD、が測光状態になると、電界効果トラン
ジスターQ、 、 Q、は、そのゲート電圧に応じたド
レイン電流を流し、抵抗R+ 、 Rsによって作られ
るソース電位が変化して、この電位がトランジスターQ
6.Qyのベースにそれぞれ印加される。よって、トラ
ンジスターQ、、Q、は、それぞれのペース電位に対応
したコレクタ電流T、、T、を発生させる。このコレク
タ電流1. 、 I2の和は、トランジスターQuに流
れる電流がIjとなるので、これと等しくなる。即ち、
Ij = I、+I2なる関係を満足する。なお、トラ
ンジスターQ、 、 Q、の特性が一致しているので、
両トランジスターQa 、 Q70ベース電位が等しい
ときには、I、 = I、 = Ij/2となる。
ジスターQ、 、 Q、は、そのゲート電圧に応じたド
レイン電流を流し、抵抗R+ 、 Rsによって作られ
るソース電位が変化して、この電位がトランジスターQ
6.Qyのベースにそれぞれ印加される。よって、トラ
ンジスターQ、、Q、は、それぞれのペース電位に対応
したコレクタ電流T、、T、を発生させる。このコレク
タ電流1. 、 I2の和は、トランジスターQuに流
れる電流がIjとなるので、これと等しくなる。即ち、
Ij = I、+I2なる関係を満足する。なお、トラ
ンジスターQ、 、 Q、の特性が一致しているので、
両トランジスターQa 、 Q70ベース電位が等しい
ときには、I、 = I、 = Ij/2となる。
上記コレクタ電流11. I、はトランジスター負荷Q
4 +Q、を通じて流れ、トランジスターQ4 e Q
20およびQstQ2 +のカレントミラー効果で、ト
ランジスターQ20 eQ21のコレクタには、それぞ
れ電流T、 、 I2が発生する。トランジスターQ、
。のコレクタ電流■、は、トランジスター負荷Q2!を
通じて流れ、トランジスターQ2□とQ23との間のカ
レントミラー効果により、トランジスターQzsのコレ
クタには電流I。
4 +Q、を通じて流れ、トランジスターQ4 e Q
20およびQstQ2 +のカレントミラー効果で、ト
ランジスターQ20 eQ21のコレクタには、それぞ
れ電流T、 、 I2が発生する。トランジスターQ、
。のコレクタ電流■、は、トランジスター負荷Q2!を
通じて流れ、トランジスターQ2□とQ23との間のカ
レントミラー効果により、トランジスターQzsのコレ
クタには電流I。
が流れることになる。従って、トランジスターQ21の
コレクタ電流I、とトランジスターQtsのコレクタ電
流I、との差電流It Lは、トランジスターQ24
’)ベースに流れ込み、差電流I、 −I、 K応シ
たコレクタ電流を発生する。
コレクタ電流I、とトランジスターQtsのコレクタ電
流I、との差電流It Lは、トランジスターQ24
’)ベースに流れ込み、差電流I、 −I、 K応シ
たコレクタ電流を発生する。
一方、受光素子8PD、に発生する光電流Ip、は、対
数圧縮トランジスターQzsを通じて、演算増幅器OP
、の出力端であるトランジスターQ!4のコレクタがわ
に流れ込む。今、演算増幅器OP、の非反転入力端であ
る第3の電界効果トランジスターQ、のベースには基準
電圧VREFが印加されているので、演算増幅器OP、
は、対数圧縮トランジスターQ25でなる負帰還ループ
を通じて、作動状態である一方の反転入力端としての第
1の電界効果トランジスターQ、のベース電位を、上記
基準電圧VREFとするような出力電圧Vaをトランジ
スターQ24のコレクタがわに発生する。即ち、演算増
幅器OP、は、負帰還ループを通じて非反転入力端を反
転入力端とイマジナルショート状態とするような出力電
圧Vaを発生する。この出力型EEVaが上記差電流1
2−1゜で制御されて平衡状態に落ち着くことは言うま
でもない。
数圧縮トランジスターQzsを通じて、演算増幅器OP
、の出力端であるトランジスターQ!4のコレクタがわ
に流れ込む。今、演算増幅器OP、の非反転入力端であ
る第3の電界効果トランジスターQ、のベースには基準
電圧VREFが印加されているので、演算増幅器OP、
は、対数圧縮トランジスターQ25でなる負帰還ループ
を通じて、作動状態である一方の反転入力端としての第
1の電界効果トランジスターQ、のベース電位を、上記
基準電圧VREFとするような出力電圧Vaをトランジ
スターQ24のコレクタがわに発生する。即ち、演算増
幅器OP、は、負帰還ループを通じて非反転入力端を反
転入力端とイマジナルショート状態とするような出力電
圧Vaを発生する。この出力型EEVaが上記差電流1
2−1゜で制御されて平衡状態に落ち着くことは言うま
でもない。
上記出力電圧Vaは、トランジスターQ250ベース・
エミッタ間のPN接合における順方向電圧VFが、周知
の如く、 IP:■5(eqvF/kT−1)00000.(1)
なる関係式を満足するので、 Va=VREF vF =■REF一旦l。(IP乃、+□’)−(2)となる
。ただし、上記式(1) 、 (2)において、Isは
逆方向飽和電流、qは単位電荷、kはポルツマン定数、
Tは絶対温度を、それぞれ表わしている。
エミッタ間のPN接合における順方向電圧VFが、周知
の如く、 IP:■5(eqvF/kT−1)00000.(1)
なる関係式を満足するので、 Va=VREF vF =■REF一旦l。(IP乃、+□’)−(2)となる
。ただし、上記式(1) 、 (2)において、Isは
逆方向飽和電流、qは単位電荷、kはポルツマン定数、
Tは絶対温度を、それぞれ表わしている。
な特、他方の受光素子8PD2にも、その受光光量に応
じた光電流IP2が発生し、これが対数圧縮トランジス
ターQ26を通じてトランジスターQ24のコレクタが
わに流れ込んでいるが、演算増幅器OP。
じた光電流IP2が発生し、これが対数圧縮トランジス
ターQ26を通じてトランジスターQ24のコレクタが
わに流れ込んでいるが、演算増幅器OP。
は出力インピーダンスがほぼ零に近いので、上記光電流
■、2は、他の外部流入電流と同様に、演算増幅器OP
、の出力電圧Vaになんらの影響も与えない。
■、2は、他の外部流入電流と同様に、演算増幅器OP
、の出力電圧Vaになんらの影響も与えない。
(b) バイアス切換制御信号SCが゛Hルベルの場
合、この場合には、信号SCを受けてトランジスターQ
12がオンとなり、またインバーターIN、からの信号
SCの反転出力を受けてトランジスターQ+sがオフす
る。トランジスターQ+2がオンすることにより、トラ
ンジスターQ1o + Q+ tがオフとなり、トラン
ジスターQ、、Q7でなる第1の差動増幅回路が定電流
バイアスされなくなって、不作動状態となる。
合、この場合には、信号SCを受けてトランジスターQ
12がオンとなり、またインバーターIN、からの信号
SCの反転出力を受けてトランジスターQ+sがオフす
る。トランジスターQ+2がオンすることにより、トラ
ンジスターQ1o + Q+ tがオフとなり、トラン
ジスターQ、、Q7でなる第1の差動増幅回路が定電流
バイアスされなくなって、不作動状態となる。
このため、トランジスターQ7のベースがソースに接続
された電界効果トランジスターQ1は、次段以降に接続
されていない状態となって、このトランジスターQ1の
ベースにアノードが接続された一方の受光素子8PD、
が演算増幅器OP、から切り離さ算増幅器OP、の増幅
動作に関与しなくなる。一方、トランジスターQ+3が
オフすることにより、トランジスターQ14 + Q+
oがオンし、トランジスターQ1フ、Q1.およびトラ
ンジスターQ14 + Q+。との間のカレントミラー
効果によって、トランジスターQ1゜には、定電流Ij
が流れる。従って、トランジスター Q、 、 Q、で
なる第2の差動増幅回路が定電流バイアスされて作動状
態となり、両トランジスターQa+Q9のベースがそれ
ぞれソースに接続された電界効果トランジスターQ3.
Q、が次段以降に接続された状態となって、このトラ
ンジスターQ3. Q2のゲート間に接続された受光素
子5PD2が演算増幅器OP1の増幅動作に関与するこ
とになる。即ち、受光素子5PD2が測光状態となる。
された電界効果トランジスターQ1は、次段以降に接続
されていない状態となって、このトランジスターQ1の
ベースにアノードが接続された一方の受光素子8PD、
が演算増幅器OP、から切り離さ算増幅器OP、の増幅
動作に関与しなくなる。一方、トランジスターQ+3が
オフすることにより、トランジスターQ14 + Q+
oがオンし、トランジスターQ1フ、Q1.およびトラ
ンジスターQ14 + Q+。との間のカレントミラー
効果によって、トランジスターQ1゜には、定電流Ij
が流れる。従って、トランジスター Q、 、 Q、で
なる第2の差動増幅回路が定電流バイアスされて作動状
態となり、両トランジスターQa+Q9のベースがそれ
ぞれソースに接続された電界効果トランジスターQ3.
Q、が次段以降に接続された状態となって、このトラ
ンジスターQ3. Q2のゲート間に接続された受光素
子5PD2が演算増幅器OP1の増幅動作に関与するこ
とになる。即ち、受光素子5PD2が測光状態となる。
このように、バイアス切換制御信号Scが゛H’レベル
となると、定電流バイアスされる差動増幅回路が第1の
差動増幅回路から第2の差動増幅回路に切り換えられ、
測光状態の受光素子が第1の受光素子5PD1から第2
の受光素子5PD2に切り換えられる。従って、以降は
、上記(a)の場合と同様に、演算増幅器OP、が対数
圧縮トランジスターQ26の負帰還ループを通じて、他
方の反転入力端である電界効果トランジスターQ2のベ
ースと非反転入力端である電界効果トランジスターQ3
のベースとをイマジナルショート状態とするような出力
電圧vbを、出力端であるトランジスターQ!4のコレ
クタがわに発生させる。この出力電圧vbは、上記式(
2)と同様にして、 となる。
となると、定電流バイアスされる差動増幅回路が第1の
差動増幅回路から第2の差動増幅回路に切り換えられ、
測光状態の受光素子が第1の受光素子5PD1から第2
の受光素子5PD2に切り換えられる。従って、以降は
、上記(a)の場合と同様に、演算増幅器OP、が対数
圧縮トランジスターQ26の負帰還ループを通じて、他
方の反転入力端である電界効果トランジスターQ2のベ
ースと非反転入力端である電界効果トランジスターQ3
のベースとをイマジナルショート状態とするような出力
電圧vbを、出力端であるトランジスターQ!4のコレ
クタがわに発生させる。この出力電圧vbは、上記式(
2)と同様にして、 となる。
第4図は、本発明の他の実施例を示している。
本実施例の測光回路は、上記第3図に示した実施例の回
路が、対数圧縮トランジスターQ25 * Q26を含
めた形で演算増幅器OP1を1チツプのモノリシックI
cで形成するようにしていたのに対して、通常のように
対数圧縮トランジスターを含まない形で演算増幅器OP
2をIc化した上で、対数圧縮ダイオードD、 、 D
2でなる帰還回路を外付けするようにしたものである。
路が、対数圧縮トランジスターQ25 * Q26を含
めた形で演算増幅器OP1を1チツプのモノリシックI
cで形成するようにしていたのに対して、通常のように
対数圧縮トランジスターを含まない形で演算増幅器OP
2をIc化した上で、対数圧縮ダイオードD、 、 D
2でなる帰還回路を外付けするようにしたものである。
このようにしても、上記第3図に示した実施例の場合と
同様の作用、効果が得られることは言うまでもない。
同様の作用、効果が得られることは言うまでもない。
第5図は、本発明の更に他の実施例を示している。本実
施例の測光回路は、2つの差動増幅回路を内蔵し、これ
に対応する2つの非反転入力端を設けた演算増幅器OP
3と、通常の演算増幅器OP4とを用いたもので、各差
動入力端に受光素子SPD、。
施例の測光回路は、2つの差動増幅回路を内蔵し、これ
に対応する2つの非反転入力端を設けた演算増幅器OP
3と、通常の演算増幅器OP4とを用いたもので、各差
動入力端に受光素子SPD、。
SPD、をそれぞれ接続された上記演算増幅器OP。
をボルテージフォロア接続し、この出力端を、非反転入
力端に基準電圧VREFに印加された上記演算増幅器O
P、の反転入力端に接続し、更に、演算増幅器OP4の
出力端と演算増幅器OP3の各非反転入力端との間に対
数圧縮ダイオードD、 、 D2を接続して帰還回路を
形成するようにしたものである。
力端に基準電圧VREFに印加された上記演算増幅器O
P、の反転入力端に接続し、更に、演算増幅器OP4の
出力端と演算増幅器OP3の各非反転入力端との間に対
数圧縮ダイオードD、 、 D2を接続して帰還回路を
形成するようにしたものである。
このように構成した本実施例の測光回路においても、バ
イアス切換制御信号SCを切り換えることによって、測
光状態となる受光素子SPD’、、5PD2□ が選択的に切り換えられ、前記式(2)および(3)で
示す出力電圧Vaまたはvbが、演算増幅器OP4の出
力端に測光出力として得られることは言うまでもない。
イアス切換制御信号SCを切り換えることによって、測
光状態となる受光素子SPD’、、5PD2□ が選択的に切り換えられ、前記式(2)および(3)で
示す出力電圧Vaまたはvbが、演算増幅器OP4の出
力端に測光出力として得られることは言うまでもない。
なお、上記各実施例においては、差動増幅回路および受
光素子の数をそれぞれ2個としたが、これらが2個以上
であってもよいことは勿論である。
光素子の数をそれぞれ2個としたが、これらが2個以上
であってもよいことは勿論である。
以上述べたように、本発明によれば、演算増幅器に複数
の差動増幅回路を設け、これを外部信号によって選択的
に定電流バイアスするようにしたので、明細書冒頭に述
べた従来の欠点を解消する、使用上甚だ便利な測光回路
を提供することができる。
の差動増幅回路を設け、これを外部信号によって選択的
に定電流バイアスするようにしたので、明細書冒頭に述
べた従来の欠点を解消する、使用上甚だ便利な測光回路
を提供することができる。
第1図および第2図は、従来の測光回路における出力の
切換手段をそれぞれ示す電気回路図、第3図は、本発明
の一実施例を示す測光回路の詳細な電気回路図、 第4図は、本発明の他の実施例を示す測光回路の電気回
路図、 第5図は、本発明の更に他の実施例を示す測光回路の電
気回路図である。
切換手段をそれぞれ示す電気回路図、第3図は、本発明
の一実施例を示す測光回路の詳細な電気回路図、 第4図は、本発明の他の実施例を示す測光回路の電気回
路図、 第5図は、本発明の更に他の実施例を示す測光回路の電
気回路図である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 複数の差動増幅回路と、との差動増幅回路を定電流バイ
アスするための定電流バイアス回路と、この定電流バイ
アス回路を外部信号に応じて上記複数の差動増幅回路に
選択的に接続するバイアス制御用スイッチング回路とを
含んで形成された演算増幅器と、 この演算増幅器の、上記複数の差動増幅回路に対応する
差動入力端にそれぞれ接続された複数の測光用受光素子
と、 を具備することを特徴とする測光回路。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56144118A JPS5845523A (ja) | 1981-09-11 | 1981-09-11 | 測光回路 |
| US06/385,778 US4492858A (en) | 1981-09-11 | 1982-06-07 | Photometric circuit having a plurality of photoelectric transducer elements capable of being selectively enabled for photometry |
| DE3233633A DE3233633C2 (de) | 1981-09-11 | 1982-09-10 | Photometerschaltung |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56144118A JPS5845523A (ja) | 1981-09-11 | 1981-09-11 | 測光回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5845523A true JPS5845523A (ja) | 1983-03-16 |
Family
ID=15354607
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56144118A Pending JPS5845523A (ja) | 1981-09-11 | 1981-09-11 | 測光回路 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4492858A (ja) |
| JP (1) | JPS5845523A (ja) |
| DE (1) | DE3233633C2 (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3542511A1 (de) * | 1985-12-02 | 1987-06-04 | Leitz Ernst Gmbh | Verfahren und schaltungsanordnung zur automatischen bestimmung eines lichtwertes |
| DE3604971A1 (de) * | 1986-02-17 | 1987-08-20 | Messerschmitt Boelkow Blohm | Photosensoreinrichtung mit dunkelstromkompensation |
| FR2699764A1 (fr) * | 1992-12-22 | 1994-06-24 | Thomson Csf Semiconducteurs | Amplificateur opérationnel à plusieurs entrées et applications. |
| JP2830847B2 (ja) * | 1996-06-21 | 1998-12-02 | 日本電気株式会社 | 半導体集積回路 |
| US6208370B1 (en) | 1998-12-22 | 2001-03-27 | Eastman Kodak Company | Method and apparatus for determining the starting position and the power of a scanning light beam to be used in writing on a media |
| US6055057A (en) * | 1998-12-22 | 2000-04-25 | Eastman Kodak Company | Method and apparatus for accurately sensing a light beam as it passes a defined point |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS545315A (en) * | 1977-06-15 | 1979-01-16 | Toshiba Corp | Amplifier selector |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5115736B1 (ja) * | 1971-02-22 | 1976-05-19 | ||
| DE2434974C3 (de) * | 1973-07-23 | 1979-03-29 | Asahi Kogaku Kogyo K.K., Tokio | Anordnung zur Messung mindestens eines Extremwertes der Helligkeitsverteilung eines photographischen Objekts |
| JPS5146937A (en) * | 1974-10-21 | 1976-04-22 | Ricoh Kk | Denkishatsuta niokeru teburekeikoku oyobi shatsutakaikohyojisochi |
| US4032801A (en) * | 1975-10-10 | 1977-06-28 | Honeywell Inc. | Electromagnetic radiation intensity comparator apparatus |
| US4166680A (en) * | 1977-01-27 | 1979-09-04 | Olympus Optical Co., Ltd. | Strobo unit for camera |
| US4096491A (en) * | 1977-03-09 | 1978-06-20 | Agfa-Gevaert Ag | Photographic camera with an automatic exposure-control circuit into which one of two different light-sensitive elements is switched depending upon scene brightness |
-
1981
- 1981-09-11 JP JP56144118A patent/JPS5845523A/ja active Pending
-
1982
- 1982-06-07 US US06/385,778 patent/US4492858A/en not_active Expired - Lifetime
- 1982-09-10 DE DE3233633A patent/DE3233633C2/de not_active Expired
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS545315A (en) * | 1977-06-15 | 1979-01-16 | Toshiba Corp | Amplifier selector |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4492858A (en) | 1985-01-08 |
| DE3233633C2 (de) | 1985-08-08 |
| DE3233633A1 (de) | 1983-03-31 |
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