JPS5845888B2 - 化学反応モニタ−方法及び装置 - Google Patents
化学反応モニタ−方法及び装置Info
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- JPS5845888B2 JPS5845888B2 JP53073321A JP7332178A JPS5845888B2 JP S5845888 B2 JPS5845888 B2 JP S5845888B2 JP 53073321 A JP53073321 A JP 53073321A JP 7332178 A JP7332178 A JP 7332178A JP S5845888 B2 JPS5845888 B2 JP S5845888B2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/251—Colorimeters; Construction thereof
- G01N21/253—Colorimeters; Construction thereof for batch operation, i.e. multisample apparatus
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明はある期間中に生ずる複数個の被検物による電磁
波の吸収を繰返しモニターする装置に関するものである
。
波の吸収を繰返しモニターする装置に関するものである
。
特に、本発明は複数個の試料の各々を複数個の部分標本
にし、これらを種々の試薬と化学的に反応させることが
できるようにする装置に関連する。
にし、これらを種々の試薬と化学的に反応させることが
できるようにする装置に関連する。
各部分標本の電磁波吸収を予定の反応時間中繰返し測定
する。
する。
試料の装填、これら試料の部分標本の作製、試薬の選択
添加、その電磁波吸収の測定を連続動作モード並びに指
定及びバッチ動作モードで行なうことができる。
添加、その電磁波吸収の測定を連続動作モード並びに指
定及びバッチ動作モードで行なうことができる。
ここで、“部分標本”とは試料の1部分を意味する。
後述する装置は酵素分析に有効な反応初速度の測定及び
反応終点測定に好適である。
反応終点測定に好適である。
多くの化学反応はその終了まで数秒から数十分を有し、
その動的反応時間中に数回の測定を行なって反応の進行
を観察することが重要である。
その動的反応時間中に数回の測定を行なって反応の進行
を観察することが重要である。
この測定の1つの方法では分析器により特定波長の電磁
波の吸収を測定する。
波の吸収を測定する。
代表的には、酵素反応測定は検査技師による多大の準備
と操作を必要とするバッチ処理方法及び装置によって行
なわれている。
と操作を必要とするバッチ処理方法及び装置によって行
なわれている。
この方法及び装置はスループットが比較的低く、検査技
師の助けにならない。
師の助けにならない。
本発明の目的は、従来技術における種々の制限を軽減す
ると同時に、測定精度を高めると共に多種多様の試験を
行ない得るようにし、特に種々の動的反応のモニターに
適する装置を提供せんとするにある。
ると同時に、測定精度を高めると共に多種多様の試験を
行ない得るようにし、特に種々の動的反応のモニターに
適する装置を提供せんとするにある。
即ち、複数個の測光検出器を具えるホトメータ装置によ
り、円形が好適な通路に沿って低速度で位置割出し移動
する試料支持部材の列を連続的に走査するようにした連
続モードで作動する装置を提供せんとするにある。
り、円形が好適な通路に沿って低速度で位置割出し移動
する試料支持部材の列を連続的に走査するようにした連
続モードで作動する装置を提供せんとするにある。
ここで“位置割出し移動”なる語は段進のみならず連続
的、即ちなめらかな移動も意味するものとする。
的、即ちなめらかな移動も意味するものとする。
一例では、ホトメータ装置に、それぞれ相対する複数個
の輻射線源及び輻射線検出器を設ける。
の輻射線源及び輻射線検出器を設ける。
輻射線源及び輻射線検出器としては種々のものを使用し
得るが、以下の説明では光源及び光応答検出器であるも
のとして説明する。
得るが、以下の説明では光源及び光応答検出器であるも
のとして説明する。
各光源は関連する光検出器に対し、ホトメータ装置を支
持するロータの回転中宮に一定の向きで整列するように
配置する。
持するロータの回転中宮に一定の向きで整列するように
配置する。
即ちその整列軸線をホトメータロータの半径方向と一致
させると共にこのロータと同軸配列された試料支持部材
用ターンテーブルの半径方向と一致させる。
させると共にこのロータと同軸配列された試料支持部材
用ターンテーブルの半径方向と一致させる。
前記整列軸線はターンテーブルの周縁に環状に配列され
た試料支持部材列と交差するようにし、名光源と関連す
る検出器との間には隙間を設けて、この隙間を試料支持
部材の円外が機械的妨害を受けることなく通過し得るよ
うにする。
た試料支持部材列と交差するようにし、名光源と関連す
る検出器との間には隙間を設けて、この隙間を試料支持
部材の円外が機械的妨害を受けることなく通過し得るよ
うにする。
他の例では、ホトメータ装置のロータの中心に1個の回
転光線を設け、この光源から光ビームをロータの周囲に
間隔をおいて1同軸的に配列した検出器列に向は発射さ
せる。
転光線を設け、この光源から光ビームをロータの周囲に
間隔をおいて1同軸的に配列した検出器列に向は発射さ
せる。
このホトメータ装置の放射状光学素子列に空間領域を設
け、これら素子列が前記単光源の支持軸を中心に回転す
るターンテーブルに支持された試料支持部材列と1司心
配置の環状部を走査するようにする。
け、これら素子列が前記単光源の支持軸を中心に回転す
るターンテーブルに支持された試料支持部材列と1司心
配置の環状部を走査するようにする。
試料支持部材列は名光学素子列の空間領域を通過し、光
源と泡検出器との整列は、光源が全光学素子列に対し固
定されているため決して変化しない。
源と泡検出器との整列は、光源が全光学素子列に対し固
定されているため決して変化しない。
ロータ及び光検出器の回転中者ホトメータは全ての試料
支持部材を走査し、各試料支持部材は複数回走査される
。
支持部材を走査し、各試料支持部材は複数回走査される
。
例えば8個の光検出器がある場合には、各試料支持部材
は8回走査され、8つの吸光度の測定値が得られる。
は8回走査され、8つの吸光度の測定値が得られる。
このことは複数個の光源を用いる例についても同様であ
ること勿論である。
ること勿論である。
試料支持部材用ターンテーブルは部分標本の装填及び除
去を連続的に行ない得るように極めて低い速度で移動さ
せ、例えば1分間に1回転の何分の1程度とする。
去を連続的に行ない得るように極めて低い速度で移動さ
せ、例えば1分間に1回転の何分の1程度とする。
他方、ホトメータロータは比較的高い速度、例えば50
00〜1000回転/分程度で回転させる。
00〜1000回転/分程度で回転させる。
これがため極めて短時間に極めて多量の情報量を収集す
ることができる。
ることができる。
またホトメータ検出器を、例えばこれらゐ光学素子列に
種々のフィルタを用いて種々の波長で作動させる場合に
は、多量の情報を収集できるのみならず多種類の情報を
得ることができる。
種々のフィルタを用いて種々の波長で作動させる場合に
は、多量の情報を収集できるのみならず多種類の情報を
得ることができる。
ロータは連続的に移動させ、ターンテーブルは間欠的に
移動、即ち段進させるのが好適である。
移動、即ち段進させるのが好適である。
この場合には、装置を適当な電子回路でプログラムして
、試料支持部材が移動していない停止期間中に吸光度の
測定を行なうようにする。
、試料支持部材が移動していない停止期間中に吸光度の
測定を行なうようにする。
このようにすることは、ターンテーブルを低速度で連続
的に移動させ、試料支持部材が回転する各ホトメータと
整列する短時間の間にこれら試料支持部材をホトメータ
で走査するようにプログラムする場合より容易である。
的に移動させ、試料支持部材が回転する各ホトメータと
整列する短時間の間にこれら試料支持部材をホトメータ
で走査するようにプログラムする場合より容易である。
しかし、本発明は後者の構成も含むものである。
装置で測定すべき試料を含む材料が発光性、けい光性或
は放射性の輻射線源を構成する場合には光源は必要ない
。
は放射性の輻射線源を構成する場合には光源は必要ない
。
斯る場合には光源を切るか遮蔽すればよい。
試料支持部材内の各被験物又は部分標本を透過した光量
を各ホトメータで走査して検出し、A/D変換器を含む
電気回路で吸光度に比例したデジタル信号に変換する。
を各ホトメータで走査して検出し、A/D変換器を含む
電気回路で吸光度に比例したデジタル信号に変換する。
各光検出器のA/D変換器はその光検出器に隣接させて
ロータに取付けて、移動するロータから装置の固定部へ
の情報の伝送を簡単にすると共にその接続を簡単にする
。
ロータに取付けて、移動するロータから装置の固定部へ
の情報の伝送を簡単にすると共にその接続を簡単にする
。
ホトメータロータからのデジタル値は、その回転部を装
置の固定部と結合する適当な装置によって伝送する。
置の固定部と結合する適当な装置によって伝送する。
一例では発光ダイオードを用い、他の列ではスリップリ
ングを用いる。
ングを用いる。
これらデジタル信号は固定受信機に伝送し、適当な記憶
又は処理装置に供給する。
又は処理装置に供給する。
例えば、これら信号は、先ず最初に、装置全体の動作及
びプログラムを制御する主制御ユニットからのルーチン
情報を受信するコンソールに供給することができる。
びプログラムを制御する主制御ユニットからのルーチン
情報を受信するコンソールに供給することができる。
本発明装置は反応終点情報並びに反応初速塵に関する情
報を発生するように構成する。
報を発生するように構成する。
本発明の重要な利点は、光源と光検出器との位置関係が
常に幾可学的に一定の関係にあるため、口−りの回転中
に両者の位置関係が変化し得ないことである。
常に幾可学的に一定の関係にあるため、口−りの回転中
に両者の位置関係が変化し得ないことである。
また、試料支持部材用ターンテーブルを同軸配置するた
め、回転中発生する僅かな偏心は測定に実質上例の影響
も与えない。
め、回転中発生する僅かな偏心は測定に実質上例の影響
も与えない。
従って、本発明の第1の特徴は、化学的状態をモニター
すべき液体等の試料を保持するようにした数数個の試料
支持部材の全てを横切り通過するようにした輻射エネル
ギービーム路と各別の試料支持部材内に生ずる化学的状
態に関連する各別の電気信号を発生する検出器を具える
ホトメータ装置と、該電気信号に応答してデータを発生
する装置と、前記試料支持部材とホトメータ装置を基準
位置に対し相対的に移動させる手段とを用い、複数個の
試料支持部材内の化学的反応をモニターするに当り、前
記ホトメータ装置を、そのビーム通路が第1繰返しパタ
ーンをたどるように移動させると共に前記試料支持部材
をこれら試料支持部材が第2繰返しパタースをたどるよ
うに移動させ、第1繰返しパターンと第2繰返しパター
ンとの間には両パターンが互に一致する部分があるよう
な特定の幾何学的関係を設定し、前記ホトメータ装置が
前記一致部分を経て移動するとき前記一致部分に位置す
る試料支持部材を走査し、ホトメータ検出器から関連す
るアナログ電気信号を発生させ、ホトメータ装置の前記
一致部分に対する移動速度は試料支持部材の前記一致部
分に対する移動速度より高くして前記一致部分を通る各
試料支持部材がビーム通路により少くとも1回走査され
るようにし、前記アナログ信号をデジタル信号に変換す
ると共に移動する前記検出器からの該デジタル信号を前
記データ発生器に結合するようにした点にある。
すべき液体等の試料を保持するようにした数数個の試料
支持部材の全てを横切り通過するようにした輻射エネル
ギービーム路と各別の試料支持部材内に生ずる化学的状
態に関連する各別の電気信号を発生する検出器を具える
ホトメータ装置と、該電気信号に応答してデータを発生
する装置と、前記試料支持部材とホトメータ装置を基準
位置に対し相対的に移動させる手段とを用い、複数個の
試料支持部材内の化学的反応をモニターするに当り、前
記ホトメータ装置を、そのビーム通路が第1繰返しパタ
ーンをたどるように移動させると共に前記試料支持部材
をこれら試料支持部材が第2繰返しパタースをたどるよ
うに移動させ、第1繰返しパターンと第2繰返しパター
ンとの間には両パターンが互に一致する部分があるよう
な特定の幾何学的関係を設定し、前記ホトメータ装置が
前記一致部分を経て移動するとき前記一致部分に位置す
る試料支持部材を走査し、ホトメータ検出器から関連す
るアナログ電気信号を発生させ、ホトメータ装置の前記
一致部分に対する移動速度は試料支持部材の前記一致部
分に対する移動速度より高くして前記一致部分を通る各
試料支持部材がビーム通路により少くとも1回走査され
るようにし、前記アナログ信号をデジタル信号に変換す
ると共に移動する前記検出器からの該デジタル信号を前
記データ発生器に結合するようにした点にある。
本発明の第2の特徴は、輻射エネルギーを少くともある
でと透過し得る壁から成る複数個の各試料支持部材内に
保持された複数個の液体等の試料に生ずる化学的反応を
モニターする装置において、支持装置と、外支持装置軸
上に回転自在に装着されたロータと、前記支持装置に対
し回転自在にロータと同軸装置されたターンテーブルと
、該ターンテーブルに、前記軸と同軸的に環状に配列さ
れた複数個の輻射エネルギー透過性試料支持部材と、前
記ターンテーブルをその軸を中心に第1回転プログラム
に従って回転させてターンテーブルの回転中試料支持部
材を環状通路に沿い走行させる第1駆動装置と、前記ロ
ータを前記軸を中心に第2回転プログラムに従って、所
定期間中のロータの回転数が同一期間中のターンテーブ
ルの回転数より高くなるように回転させる第2駆動装置
と;前記ロータに装着され、各々少くとも前記環状通路
を貫通して該通路を走行する前記複数個の試料支持部材
のうち任意の試料支持部材内における試料の少くとも1
部を横切る複数個の輻射エネルギービーム通路と、試料
支持部材がこれらビーム通路を横切るとき各ビーム通路
に沿って透過された任意の輻射エネルギーに応答して、
該試料支持部材内に含まれる試料の化学的状態に関連す
る電気信号を発生する装置とを具えるホトメータ装置と
、前記ロータに支持された前記電気信号を処理する装置
と、該処理された信号から有用なデータを発生する装置
と、前記ホトメータ装置からの前記処理された電気信号
の略々全部を該データ発生装置に結合する装置を設けた
点にある。
でと透過し得る壁から成る複数個の各試料支持部材内に
保持された複数個の液体等の試料に生ずる化学的反応を
モニターする装置において、支持装置と、外支持装置軸
上に回転自在に装着されたロータと、前記支持装置に対
し回転自在にロータと同軸装置されたターンテーブルと
、該ターンテーブルに、前記軸と同軸的に環状に配列さ
れた複数個の輻射エネルギー透過性試料支持部材と、前
記ターンテーブルをその軸を中心に第1回転プログラム
に従って回転させてターンテーブルの回転中試料支持部
材を環状通路に沿い走行させる第1駆動装置と、前記ロ
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定期間中のロータの回転数が同一期間中のターンテーブ
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を貫通して該通路を走行する前記複数個の試料支持部材
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支持部材がこれらビーム通路を横切るとき各ビーム通路
に沿って透過された任意の輻射エネルギーに応答して、
該試料支持部材内に含まれる試料の化学的状態に関連す
る電気信号を発生する装置とを具えるホトメータ装置と
、前記ロータに支持された前記電気信号を処理する装置
と、該処理された信号から有用なデータを発生する装置
と、前記ホトメータ装置からの前記処理された電気信号
の略々全部を該データ発生装置に結合する装置を設けた
点にある。
本発明の第3の特徴は、複数個の試料支持部材によりそ
れぞれ保持された複数の液体等の試料に発生する化学反
応をモニターする装置において、支持構造と、該支持構
造上に第1平面に配置して取付けられ、該第1平面に直
角な中心軸線の周りに環状に配列された複数個の試料支
持部材を有する試料支持部材用支持体と、該試料支持部
材用支持体と平行に配置され、前記軸線上に回転自在に
取付けたロータと、該ロータに固定されたホトメータと
を具え、該ホトメータには輻射エネルギー源と、該輻射
エネルギー源と整夕1ルこれから発せられる輻射エネル
ギーのビームを受信する光応答素子とを設け、該輻射エ
ネルギー源と光応答素子は前記ビームがロータの半径方
向となるように配置すると共に、該輻射エネルギー源又
は光応答素子の一方を前記試料支持部材の環状列の内側
に、他方を該環状列の外側に配置し、前記ロータの回転
により前記ビームが円板状の軌跡を描くようにし、前記
試料支持部材の環状列と該ビームの軌跡との鋸直位置関
係により該ビームの円板状軌跡が試料支持部材と成るレ
ベルで交差してこれを走査し、該ビームが試料支持部材
により保持されている試料を横切るようにし、回転駆動
させてロータを前記試料支持部材列に対し1回転以上回
転させる場合にはロータの各回転中に前記ビームが全て
の試料支持部材を順次中くとも1回走査するようにし、
又ロータの回転を前記試料支持部材列に対し1回転以下
とする場合にはその分より少ない回数だけ前記ビームが
全ての試料支持部材を順次走査するようにした駆動装置
を設け、前記光応答素子を前記試料支持部材又所要に応
じこれに保持された試料により生ずる光効果に関連した
アナログ信号が発生するよう前記ビームに応答させ、前
記光効果からデータを発生するためのデータ発生装置を
設け、該装置を前記支持構造に関連させて回転しないよ
うにすると共にデジタル情報に応答させるようにし、前
記ロータに支持され、前記光応答素子に接続して該素所
により発生されたアナログ信号をデジタル情報に変換す
るアナログ−デジタル変換器を設け、前記支持構造によ
り支持された固定部及び前記ロータに固定された回転部
を具える結合装置を設け、該回転部を前記アナログ−デ
ジタル変換器に接続してその出力を受信するようにし、
前記固定部をデータ発生装置に接続した点にある。
れぞれ保持された複数の液体等の試料に発生する化学反
応をモニターする装置において、支持構造と、該支持構
造上に第1平面に配置して取付けられ、該第1平面に直
角な中心軸線の周りに環状に配列された複数個の試料支
持部材を有する試料支持部材用支持体と、該試料支持部
材用支持体と平行に配置され、前記軸線上に回転自在に
取付けたロータと、該ロータに固定されたホトメータと
を具え、該ホトメータには輻射エネルギー源と、該輻射
エネルギー源と整夕1ルこれから発せられる輻射エネル
ギーのビームを受信する光応答素子とを設け、該輻射エ
ネルギー源と光応答素子は前記ビームがロータの半径方
向となるように配置すると共に、該輻射エネルギー源又
は光応答素子の一方を前記試料支持部材の環状列の内側
に、他方を該環状列の外側に配置し、前記ロータの回転
により前記ビームが円板状の軌跡を描くようにし、前記
試料支持部材の環状列と該ビームの軌跡との鋸直位置関
係により該ビームの円板状軌跡が試料支持部材と成るレ
ベルで交差してこれを走査し、該ビームが試料支持部材
により保持されている試料を横切るようにし、回転駆動
させてロータを前記試料支持部材列に対し1回転以上回
転させる場合にはロータの各回転中に前記ビームが全て
の試料支持部材を順次中くとも1回走査するようにし、
又ロータの回転を前記試料支持部材列に対し1回転以下
とする場合にはその分より少ない回数だけ前記ビームが
全ての試料支持部材を順次走査するようにした駆動装置
を設け、前記光応答素子を前記試料支持部材又所要に応
じこれに保持された試料により生ずる光効果に関連した
アナログ信号が発生するよう前記ビームに応答させ、前
記光効果からデータを発生するためのデータ発生装置を
設け、該装置を前記支持構造に関連させて回転しないよ
うにすると共にデジタル情報に応答させるようにし、前
記ロータに支持され、前記光応答素子に接続して該素所
により発生されたアナログ信号をデジタル情報に変換す
るアナログ−デジタル変換器を設け、前記支持構造によ
り支持された固定部及び前記ロータに固定された回転部
を具える結合装置を設け、該回転部を前記アナログ−デ
ジタル変換器に接続してその出力を受信するようにし、
前記固定部をデータ発生装置に接続した点にある。
図面につき本発明を説明する。
第1及び第5図に線図的に示すように本発明装置は制御
コンソール10と化学処理部12とで構成することがで
きる。
コンソール10と化学処理部12とで構成することがで
きる。
試料及び各試料の部分標本について行なうべき種々の化
学試験に関する情報はキーボード14及び/又は適当な
データ入力装置18の受信機16内に供給されたデータ
カードにより供給することができる。
学試験に関する情報はキーボード14及び/又は適当な
データ入力装置18の受信機16内に供給されたデータ
カードにより供給することができる。
入力情報は次いで主制御ユニット20に供給する。
この制御ユニットは種々の機能を有し、そのいくつかの
機能についてしか説明しないが、当業者であればこのユ
ニットの全制御について理解し得るであろう。
機能についてしか説明しないが、当業者であればこのユ
ニットの全制御について理解し得るであろう。
主制御ユニット20の第1の機能は入力情報を読取ユニ
ット22に供給することができることである。
ット22に供給することができることである。
この読取りユニットに可視表示器24及びテープ26の
プリンタを設けることができ、オペレータはこの読取り
ユニットから入力情報が正確に入力されたことを確かめ
ることができる。
プリンタを設けることができ、オペレータはこの読取り
ユニットから入力情報が正確に入力されたことを確かめ
ることができる。
主制御ユニット20は装置が行ない得る各化学試験に属
する命◆のリストを記憶することができる。
する命◆のリストを記憶することができる。
これがため、入力情報が特定の試料を特定セットの試験
と関連させるとき、装置が希釈剤及び試薬を必要とする
ものとすると、オペレータがなすべきことは試料を試料
ディスク30の試料ホルダ28の適当する1個内に配置
する必要があるだけである。
と関連させるとき、装置が希釈剤及び試薬を必要とする
ものとすると、オペレータがなすべきことは試料を試料
ディスク30の試料ホルダ28の適当する1個内に配置
する必要があるだけである。
この際、主制御ユニット20はデータ発生部34の1部
であるターンテーブルに環状に配列された試料支持部材
32内への部分標本の移送を制御することができる。
であるターンテーブルに環状に配列された試料支持部材
32内への部分標本の移送を制御することができる。
この移送は部分標本及び希釈剤移送機構36により行な
うことができ、所要の各化学試験を当該試料に対する各
々識別された試料支持部材32と関連させる。
うことができ、所要の各化学試験を当該試料に対する各
々識別された試料支持部材32と関連させる。
数個の部分標本を分配したら、試料支持部材列を各試料
支持部材及び関連する部分標本につき1ステツプづつ位
置割出し移動させる。
支持部材及び関連する部分標本につき1ステツプづつ位
置割出し移動させる。
ここで、“ステップ”及び“位置割出し移動”なる表現
を使用したが、これは不連続移動に限定されるものでな
く、試料支持部材はゆっくりと連続的に移動させること
もできる。
を使用したが、これは不連続移動に限定されるものでな
く、試料支持部材はゆっくりと連続的に移動させること
もできる。
試薬供給部38は試薬ディスク42内に各別の試薬コン
テナ40を有する。
テナ40を有する。
第1及び第2試薬分配器44及び46は、試料支持部材
32が環状配列の移動路に沿って進むときに特定の試料
支持部材内に適当な試薬を加える。
32が環状配列の移動路に沿って進むときに特定の試料
支持部材内に適当な試薬を加える。
第1試薬分配器44の試料支持部材通路に対する分配点
は第2分配器46の分配点より数ステップ前にして、こ
の間隔に相当する既知の時間隔中に第1試薬が部分標本
と反応し、第2試薬の供給前にその反応が終了し得るよ
うにする。
は第2分配器46の分配点より数ステップ前にして、こ
の間隔に相当する既知の時間隔中に第1試薬が部分標本
と反応し、第2試薬の供給前にその反応が終了し得るよ
うにする。
いくつかの化学試験は一方の分配器のみからの試薬の添
加を必要とするものとすることができる。
加を必要とするものとすることができる。
部分標本及び希釈剤移送機構36並びに試薬分配器44
及び46は、試料ホルダー28又は試薬コンテナ40と
試料支持部材32との間を精密に揺動する形式のものと
することができる。
及び46は、試料ホルダー28又は試薬コンテナ40と
試料支持部材32との間を精密に揺動する形式のものと
することができる。
試料又は試薬を取り出すとき及びこれを分配するときは
これら分配器のプローブを容器28.32及び40内に
下げることができるようにし、こ石ら分配器を揺動させ
るときはこれら分配器を持上げてこれらが円弧通路内を
自由に回転し得るようにする。
これら分配器のプローブを容器28.32及び40内に
下げることができるようにし、こ石ら分配器を揺動させ
るときはこれら分配器を持上げてこれらが円弧通路内を
自由に回転し得るようにする。
試料支持部材32の通路に沿った部分標本を分配する位
置と第1試薬を分配する位置に間隔をあけ、部分標本の
分配時間と第1試料の分配時間に時間隔を与えてこの間
に希釈液及び試料支持部材壁を含めた部分標本の透明度
を測定し得るようにする。
置と第1試薬を分配する位置に間隔をあけ、部分標本の
分配時間と第1試料の分配時間に時間隔を与えてこの間
に希釈液及び試料支持部材壁を含めた部分標本の透明度
を測定し得るようにする。
各試料支持部材32が再び部分標本分配器36の下方に
位置する直前に試料支持部材から試験済部分標本を除去
し試料支持部材が新しい部分標本を受は得るようにする
プローブ機構を有するクリーニングステーション4Bを
設ける。
位置する直前に試料支持部材から試験済部分標本を除去
し試料支持部材が新しい部分標本を受は得るようにする
プローブ機構を有するクリーニングステーション4Bを
設ける。
データ発生部34はロータ56の周囲に放射状に配列さ
れたランプ50のような光源と光電セル、光電子増倍管
等とし得る光検出器52とを具える複数個のホトメータ
を有する。
れたランプ50のような光源と光電セル、光電子増倍管
等とし得る光検出器52とを具える複数個のホトメータ
を有する。
各検出器52は第2及び第3図の例に示すように個々に
固有の光源50を有するものとすることができ、また第
4図の例のようにランプ50のような1個の共通の光源
を有するものとすることができる。
固有の光源50を有するものとすることができ、また第
4図の例のようにランプ50のような1個の共通の光源
を有するものとすることができる。
(両側における同−或は等価の素子には同一の符号を付
して示しである。
して示しである。
)第1の例では、個々のニンプを試料支持部材の環状配
列が通る通路の外側に設けるが、第2の例では1個のラ
ンプ50をロータ56の軸に設ける。
列が通る通路の外側に設けるが、第2の例では1個のラ
ンプ50をロータ56の軸に設ける。
両側ともホトメーク全体をロータ56で支持する。
光路54の長さは最大で略々ロータ56の半径とし、例
えば第2及び第3図の例ではロータ半径の小部分の長さ
にするのが普通である。
えば第2及び第3図の例ではロータ半径の小部分の長さ
にするのが普通である。
これがため、光路は数センチメートルの長さで、その光
学系は極めて簡単になる。
学系は極めて簡単になる。
本発明の利点は主としてロータ56に複数個のホトメー
タを設けた場合に得られるが、1個のホトメータのみを
用いる場合にもいくつかの利点があり、ここで°“ホト
メータ装置”とは上記の2つの概念を含むものとする。
タを設けた場合に得られるが、1個のホトメータのみを
用いる場合にもいくつかの利点があり、ここで°“ホト
メータ装置”とは上記の2つの概念を含むものとする。
単一のホトメータでは8個のホトメータを有するロータ
と比較すると、ターンテーブル内の試料支持部材の数及
びロータの回転速度を同一とした場合、データを集め得
る速度がマルチホトメータ装置の場合より単一ホトメー
タの場合の方が低くなること明らかである。
と比較すると、ターンテーブル内の試料支持部材の数及
びロータの回転速度を同一とした場合、データを集め得
る速度がマルチホトメータ装置の場合より単一ホトメー
タの場合の方が低くなること明らかである。
単一ホトメータ装置はその回転速度を増大することによ
りそのデータ発生速度を増大することがてきる。
りそのデータ発生速度を増大することがてきる。
データ処理装置のデータ処理、記憶等の容量は発生され
るデータの量により決まる。
るデータの量により決まる。
同様に、データ処理装置の複雑度は発生されるデータの
種類に関連する。
種類に関連する。
これらの要素は全てホトメータの数、ロータの速度、測
定に使う波長及び装置で処理し得る化賀反応の選択に関
連する。
定に使う波長及び装置で処理し得る化賀反応の選択に関
連する。
比較のため、第2〜第4図の寸法を示すと、第3図のラ
ンプ50の位置の下側で測ったロータ56の直径は約3
0センチメ−1ルで、第2及び第3図の例ではランプ5
0から光検出器52までの総光路長は約2センチメート
ル以下、第4図の例では約8センチメートル以下である
。
ンプ50の位置の下側で測ったロータ56の直径は約3
0センチメ−1ルで、第2及び第3図の例ではランプ5
0から光検出器52までの総光路長は約2センチメート
ル以下、第4図の例では約8センチメートル以下である
。
ディスク又はターンテーブル14に支持された試料支持
部材32の環状列はロータ56の回転軸でもある軸58
を中心に回転する。
部材32の環状列はロータ56の回転軸でもある軸58
を中心に回転する。
これがため、試料支持部材列とホトメータは同心配置と
なる。
なる。
ロータ56及びターンテーブルγ4の装着装置及び駆動
装置は第2〜第4図について説明するが、動作タイミン
グ及び位置関係は第1図について説明する。
装置は第2〜第4図について説明するが、動作タイミン
グ及び位置関係は第1図について説明する。
上述したように、第2〜第4図のロータ56は約30セ
ンチメートルの直径を有するものとするが、第2〜第4
図にはこれを略々半分に縮めて示しである。
ンチメートルの直径を有するものとするが、第2〜第4
図にはこれを略々半分に縮めて示しである。
第1図は約5分の1の縮尺で示しである。
本発明は上述の寸法例に限定されるものでなく、種々の
形態及び寸法の装置に広く適用し得るものであること勿
論である。
形態及び寸法の装置に広く適用し得るものであること勿
論である。
以上から明らかなように、ターンテーブル74の1回転
中に、任意の所定の試料支持部材32が部分標本を受け
、その部分標本が流体処理、化学反応及び測定を受け、
次いで新しい部分標本を受けるよう準備されて次のサイ
クルが繰返される。
中に、任意の所定の試料支持部材32が部分標本を受け
、その部分標本が流体処理、化学反応及び測定を受け、
次いで新しい部分標本を受けるよう準備されて次のサイ
クルが繰返される。
試料支持部材32の通路は上述したように円形であるが
、本発明の変形例ではこれを変えてもよい。
、本発明の変形例ではこれを変えてもよい。
ターンテーブル74は比較的ゆっくり位置割出し移動さ
せ、その回転速度は約5〜20回転/時間とし、停止時
間を移動時間よりも長くする。
せ、その回転速度は約5〜20回転/時間とし、停止時
間を移動時間よりも長くする。
この速度はホトメータを有するロータ56(通常数百回
転7分の速度で回転する)の回転速度より相当低い。
転7分の速度で回転する)の回転速度より相当低い。
斯くして、各停止期間中に多数の測定が行なわれるよう
にプログラムし、この停止期間中にロータを多数回回転
させ、全てのホトメータによりこの回転数に対応する回
転の沖□を全ての試料支持部材について行なうようにす
ることができる。
にプログラムし、この停止期間中にロータを多数回回転
させ、全てのホトメータによりこの回転数に対応する回
転の沖□を全ての試料支持部材について行なうようにす
ることができる。
1停止期間当りのロータ56の回転数は最低1回とする
必要がある。
必要がある。
このように、試料支持部材の1巡回、即ちターンテーブ
ルγ4の1回転中に任意の特定の試料支持部材の反応を
時間を置いて多数回測定し、データ処理のために記録及
び/又は記憶することができる。
ルγ4の1回転中に任意の特定の試料支持部材の反応を
時間を置いて多数回測定し、データ処理のために記録及
び/又は記憶することができる。
上述の処理モード及び反応終点決定はこの期間中に1個
の試料支持部材の部分標本についてのみならず連続する
複数個の部分標本について容易に行うことができる。
の試料支持部材の部分標本についてのみならず連続する
複数個の部分標本について容易に行うことができる。
120個の試料支持部材32がターンテーブル14に設
けらむ、ターンテーブル14が6秒毎に段進する場合、
ターンテーブル14はデータ発生部34の支持外匣に対
し12分毎に1回転する。
けらむ、ターンテーブル14が6秒毎に段進する場合、
ターンテーブル14はデータ発生部34の支持外匣に対
し12分毎に1回転する。
ロータ56及びその8個のホトメークが軸58を中心に
6秒につき1回転の速度で回転する場合、その回転速度
は10回転/分、即ちターンテーブルγ4の1回転につ
ときロータ56の回転は120回転となる。
6秒につき1回転の速度で回転する場合、その回転速度
は10回転/分、即ちターンテーブルγ4の1回転につ
ときロータ56の回転は120回転となる。
測定を常時行なうものとすると、ターンテーブル14の
試料支持部材列の各試料支持部材32はターンテーブル
がデータ発生部の支持外匣の例えば部分標本が供給され
る点に対し1巡回する間に960回測光走査される。
試料支持部材列の各試料支持部材32はターンテーブル
がデータ発生部の支持外匣の例えば部分標本が供給され
る点に対し1巡回する間に960回測光走査される。
ロータ56の速度を2倍にすれば、各試料支持部材の測
定回数は1920回に増大するが、これは1個の試料支
持部材及びその部分標本についてであるからターンテー
ブルの1回転中に行なわれる測定の総回数はロータ56
が上記低速度の場合に1sooo程度、倍速度の場合に
36000程度となる。
定回数は1920回に増大するが、これは1個の試料支
持部材及びその部分標本についてであるからターンテー
ブルの1回転中に行なわれる測定の総回数はロータ56
が上記低速度の場合に1sooo程度、倍速度の場合に
36000程度となる。
試料支持部材32が通るある位置を用いて試料支持部材
をクリーニングし、他の位置を用いて部分標本を注入し
、これを試薬添加位置に運び、更に他の位置を用いて攪
拌を行なうため、測定又はモニターを行なう円形通路に
沿った試料支持部材位置の総数は試料支持部材の総数よ
りも少くなる。
をクリーニングし、他の位置を用いて部分標本を注入し
、これを試薬添加位置に運び、更に他の位置を用いて攪
拌を行なうため、測定又はモニターを行なう円形通路に
沿った試料支持部材位置の総数は試料支持部材の総数よ
りも少くなる。
これがため、上述の測定総回数は上述の処理のために必
要とされる位置に相当する分だけ少くなる。
要とされる位置に相当する分だけ少くなる。
必要に応じ、モニターは全ての位置で連続的に行ない、
データ処理制御装置に任せて重装でない読取データを捨
てさせることができる。
データ処理制御装置に任せて重装でない読取データを捨
てさせることができる。
クリーニングが行なわれる期間中の読取データは空情報
に同等化することができ、また試薬添加前の未反応状態
の部分標本から若干の情報を得ることもできる。
に同等化することができ、また試薬添加前の未反応状態
の部分標本から若干の情報を得ることもできる。
以下の説明のため、ロータ56は10回転/分で回転す
るものとし、ターンテーブル14は120の試料支持部
材を有し12分につき1回転の速度で6秒毎に段進する
ものとし、且つ種々の処理が行なわれる試料支持部材内
の通路に沿った数個の位置は測光モニターと関連しない
ものとして、各部分標本につき800回の各別の測光が
行なわれるものとする。
るものとし、ターンテーブル14は120の試料支持部
材を有し12分につき1回転の速度で6秒毎に段進する
ものとし、且つ種々の処理が行なわれる試料支持部材内
の通路に沿った数個の位置は測光モニターと関連しない
ものとして、各部分標本につき800回の各別の測光が
行なわれるものとする。
800もの反応測定点(各測定は10分間の間3/4秒
間隔で行なわれる)が必要ないようにすることができ、
且つ所定の化学試験は特定の波長で一層良好にモニター
することができるため、各ホトメータに特定のフィルタ
を設けて各ホトメータにより固有の波長の輻射線を発生
させて測定を行なうようにすることができる。
間隔で行なわれる)が必要ないようにすることができ、
且つ所定の化学試験は特定の波長で一層良好にモニター
することができるため、各ホトメータに特定のフィルタ
を設けて各ホトメータにより固有の波長の輻射線を発生
させて測定を行なうようにすることができる。
各フィルタ60が相違し、特定の試料支持部材内の特定
の部分標本からの最も価値のある情報は8個のホトメー
タの1個のみから得られるものとすると、6秒毎に測定
が行なわれるから10分間のサイクル中に斯る1個のホ
トメータから当該部分標本の反応の100個の測定結果
を得ることができる。
の部分標本からの最も価値のある情報は8個のホトメー
タの1個のみから得られるものとすると、6秒毎に測定
が行なわれるから10分間のサイクル中に斯る1個のホ
トメータから当該部分標本の反応の100個の測定結果
を得ることができる。
反応を6秒毎に多数回モニターする必要がある場合には
2個以上のホトメータ゛を同一波長で動作するように構
成することができる。
2個以上のホトメータ゛を同一波長で動作するように構
成することができる。
図に示すホトメータはロータ56の周囲に等間隔に配列
されているが、これらホトメータはグループ毎に配置1
ルてもよいし、不等間隔に配置1ルてもよい。
されているが、これらホトメータはグループ毎に配置1
ルてもよいし、不等間隔に配置1ルてもよい。
重クロム酸塩滴定の場合は極めて近接して配置したホト
メータ対を用いるのが好適である。
メータ対を用いるのが好適である。
既知のように、試薬を適当に選択すれば数種類の反応を
同一波長でモニターすることができる。
同一波長でモニターすることができる。
従って、本装置を数種類の波長及び適当な試薬を選択し
得るようにすれば、多種類の試薬を本装置により処理す
ることができる。
得るようにすれば、多種類の試薬を本装置により処理す
ることができる。
即ち、全ての試料支持部材が各ホトメータで操作される
ため、種々の波長でモニターする種々のホトメータを用
いることにより部分標本自体並びに試料支持部材内の反
応を1個以上のホトメータにより1種類以上の波長でモ
ニターすることができる。
ため、種々の波長でモニターする種々のホトメータを用
いることにより部分標本自体並びに試料支持部材内の反
応を1個以上のホトメータにより1種類以上の波長でモ
ニターすることができる。
上述の例では種々の波長でのモニター間の時間隔は3/
4となる。
4となる。
これは構成及び条件に応じて変わること勿論である。
各部分標本は全ての波長でモニターする必要はなく、ま
た各試料を部分標本にして本装置により行ない得る全て
の試験に供する必要もない。
た各試料を部分標本にして本装置により行ない得る全て
の試験に供する必要もない。
入力装置18及び主制御ユニット20へのデータにより
各試料について必要な試験のみの実行命令をするように
制御及びプログラムし、必要とされる試料支持部材のみ
を用いて必要とされる試料及び試薬の総量を減少させる
と共に試料支持部材の測光位置を最大にして装置の試料
スループットを最大にすることができる。
各試料について必要な試験のみの実行命令をするように
制御及びプログラムし、必要とされる試料支持部材のみ
を用いて必要とされる試料及び試薬の総量を減少させる
と共に試料支持部材の測光位置を最大にして装置の試料
スループットを最大にすることができる。
本装置は、各試料に対し1組の試験のうちのいくつかの
試験が必要ない場合には各試料に対し固定の1組の試験
を要求しないようにすることができ、また既知のように
、′飛越し”試験を表わす空の試料支持部材はターンテ
ーブル上の試料支持部材列内に位置せしめないようにす
ることができる。
試験が必要ない場合には各試料に対し固定の1組の試験
を要求しないようにすることができ、また既知のように
、′飛越し”試験を表わす空の試料支持部材はターンテ
ーブル上の試料支持部材列内に位置せしめないようにす
ることができる。
主制御ユニットによる斯る処理及びその他の試料処理制
御機能は第5図に示す機能制御母線62により実施され
る。
御機能は第5図に示す機能制御母線62により実施され
る。
ここで、本発明装置は融通性に富み、経済性及びスルー
プットを犠牲にすることなく多くの試験に使用すること
ができることを強調しておく。
プットを犠牲にすることなく多くの試験に使用すること
ができることを強調しておく。
上述したように、各部分標本は全ての波長でモニターす
る必要はない。
る必要はない。
これに加えて、各試料は装置が行ない得る全試験用に部
分標本にする必要はない。
分標本にする必要はない。
試験の選択を行ない。分析容量の損失、部分標本又は試
薬の浪費、不必要な試験の実行及び任意の試料支持部材
の飛び越しが起らないようにすることができる。
薬の浪費、不必要な試験の実行及び任意の試料支持部材
の飛び越しが起らないようにすることができる。
これがため、装置の多能性が装置のスループットに影響
することはない。
することはない。
次に、第2及び第3図についてデータ発生部34の一例
の細部を説明する。
の細部を説明する。
図に示すように、各光源50及びこれと関連する検出器
52を一直線上で比較的接近させ、ロータ56に固定し
て、それらの間に軸5Bから半径方向に延在する固定長
の短かい光路54を構成する。
52を一直線上で比較的接近させ、ロータ56に固定し
て、それらの間に軸5Bから半径方向に延在する固定長
の短かい光路54を構成する。
ロータ56は軸5B上を回転するように配置すると共に
、ロータ56には回転スリーブ64を設け、これを外匣
台部材68及び10に装着されたベアリング66上に軸
承する。
、ロータ56には回転スリーブ64を設け、これを外匣
台部材68及び10に装着されたベアリング66上に軸
承する。
適当な駆動装置γ2をスリーブ64に結合して回転運動
をロータ56及びそのホトメータ(その2個を第3図に
示す)に与えることができる。
をロータ56及びそのホトメータ(その2個を第3図に
示す)に与えることができる。
斯くしてホトメータ素子及びそれらの間の光路54は互
に一定の向きに維持さ和、軸58に対し半径方向に維持
される。
に一定の向きに維持さ和、軸58に対し半径方向に維持
される。
ロータ56をこのように軸承すると、光路54の軸5B
との間隔が精密となり、この間隔はロータ56の回転中
略々一定に維持される。
との間隔が精密となり、この間隔はロータ56の回転中
略々一定に維持される。
ベアリング66は適当な慣例の設計及び構造のものとす
ることができる。
ることができる。
斯るベアリングの基準は精密、円滑塵、信頼度であり、
更にロータ56及びホトメータの重量を考慮に入れて必
要とされるスラスト支持を行ない得るものとする必要が
ある。
更にロータ56及びホトメータの重量を考慮に入れて必
要とされるスラスト支持を行ない得るものとする必要が
ある。
ベアリング66の選択にはロータ56の重量及びその回
転中発生する力を考慮に入れたラジアル支持要件も考慮
に入れる必要がある。
転中発生する力を考慮に入れたラジアル支持要件も考慮
に入れる必要がある。
上述の構成によれば、高品質のベアリング66を賢明に
選択することによりロータ56の回転中ホトメータのト
ラッキングが精密になり、装置の動作中精密且つ同一の
測光を繰返し行なうことができる。
選択することによりロータ56の回転中ホトメータのト
ラッキングが精密になり、装置の動作中精密且つ同一の
測光を繰返し行なうことができる。
回転中の偏心を除去し精密なトラッキングを維持するた
めに種々の手段を講じても回転中若干の偏心が生ずるが
、本発明では斯る偏心は精度に悪影響を与えない。
めに種々の手段を講じても回転中若干の偏心が生ずるが
、本発明では斯る偏心は精度に悪影響を与えない。
円形配列の試料支持部材32は既に説明したようにター
ンテーブルγ4に支持する。
ンテーブルγ4に支持する。
これら試料支持部材は着脱自在にすることができる。
また永久的に取付けられた試料支持部材32を有するタ
ーンテーブルをモーノルド成形等により形成することも
できる。
ーンテーブルをモーノルド成形等により形成することも
できる。
ターンテーブル74はロータ56の軸と1同一の軸58
上に回転自在に支承し、ターンテーブル14をロータ5
6の上方に配置して試料支持部材32の入口に上方から
接近し得るようにする。
上に回転自在に支承し、ターンテーブル14をロータ5
6の上方に配置して試料支持部材32の入口に上方から
接近し得るようにする。
試料支持部材32は略々円板状又は平板状のターンテー
ブルの本体から下方に円形の環状通路内に延在させて、
ターンテーブル14の回転生金ての試料支持部材がこの
通路中を走行するようにする。
ブルの本体から下方に円形の環状通路内に延在させて、
ターンテーブル14の回転生金ての試料支持部材がこの
通路中を走行するようにする。
この環状通路はロータ56に装着されたホトメータの光
路54の全てを横切るようにする。
路54の全てを横切るようにする。
これらホトメータの光路54はロータ56を中心に放射
状に配置され、第2及び第3図の例の極めて短い光路5
4の場合にはフィルタ60とランプ50との間の空間を
もって試料支持部材32の環状通路を形成する。
状に配置され、第2及び第3図の例の極めて短い光路5
4の場合にはフィルタ60とランプ50との間の空間を
もって試料支持部材32の環状通路を形成する。
ホトメータ5(152はロータ56の上面にクランプや
ブラケット等を用いて適当な方法で取り付けることがで
き、またこれ・らホトメータを受は入れられるように精
密にモールド成形で形成し得るロータの厚内円板の内部
に取り付けることもできる。
ブラケット等を用いて適当な方法で取り付けることがで
き、またこれ・らホトメータを受は入れられるように精
密にモールド成形で形成し得るロータの厚内円板の内部
に取り付けることもできる。
斯る場合には、条溝又は凹部をロータ56の上面に環状
に設けて試料支持部材列を受は入れ、試料支持部材が条
溝内を自由に回転し得るようにする。
に設けて試料支持部材列を受は入れ、試料支持部材が条
溝内を自由に回転し得るようにする。
この場合光路は条溝を半径方向に通過し、測定すべき部
分標本を有する試料支持部材を通過するように配置する
ことができる。
分標本を有する試料支持部材を通過するように配置する
ことができる。
試料支持部材はある種の透明材料で造ること明らかであ
り、その壁は通過する光ビームを屈折又は散乱しないよ
うに正しい向きに配置する。
り、その壁は通過する光ビームを屈折又は散乱しないよ
うに正しい向きに配置する。
試料支持部材用のターンテーブルγ4にはカラー16を
有するバブを設け、軸58上に6立てし、カラー76と
スリーブ64との間に配置したベアリング18により回
転自在に支承し、試料支持部材用ターンテーブルをホト
メータ50−52の回転と無関係に回転し得るようにす
る。
有するバブを設け、軸58上に6立てし、カラー76と
スリーブ64との間に配置したベアリング18により回
転自在に支承し、試料支持部材用ターンテーブルをホト
メータ50−52の回転と無関係に回転し得るようにす
る。
ターンテーブルγ4の段進モードの回転は第3図には示
されていないが第4図に示されあいろ慣例の手段で行な
うことができる。
されていないが第4図に示されあいろ慣例の手段で行な
うことができる。
ターンテーブルγ4及びホトメータロータ56は軸58
上に同軸配置されており、ターンテーブル14のカラー
γ6はロータ56のスリーブ64内を回転するため、試
料支持部材の通路及びホトメータの走査区域は同心配置
となり、試料支持部材は各ホトメータの短い光路を高い
位置精度で横切り、従来使用されているような複雑な光
案内構造を用いる必要なしに精密な測光測定を行なうこ
とができる。
上に同軸配置されており、ターンテーブル14のカラー
γ6はロータ56のスリーブ64内を回転するため、試
料支持部材の通路及びホトメータの走査区域は同心配置
となり、試料支持部材は各ホトメータの短い光路を高い
位置精度で横切り、従来使用されているような複雑な光
案内構造を用いる必要なしに精密な測光測定を行なうこ
とができる。
ホトメータロータ56のなめらかな連続回転運動を助長
するために、ロータ56の周縁部が重くなるように設計
してフライホイール効果が得られるようにすることがで
きる。
するために、ロータ56の周縁部が重くなるように設計
してフライホイール効果が得られるようにすることがで
きる。
これに対し、試料支接部材用ターンテーブル14は、そ
の各段進間に停止期間を設ける場合には比較的軽量にす
る必要がある。
の各段進間に停止期間を設ける場合には比較的軽量にす
る必要がある。
第4図は主としてホトメータ50〜52の変形例を示す
。
。
第3図と第4図の斯る変形部及びその他の差異について
は第5図について第3及び第4図に示す例の動作の説明
後に説明する。
は第5図について第3及び第4図に示す例の動作の説明
後に説明する。
第3〜第5図に示すように、光検出器52からの電気出
力をγナログデジタル変換し、データ発生部34からの
データを制御コンソール10(第1図)に伝送する電気
素子に供給する。
力をγナログデジタル変換し、データ発生部34からの
データを制御コンソール10(第1図)に伝送する電気
素子に供給する。
これら電気素子は、80及び82て示すような回路素子
、回路板及びコネクタを介し、ロータ56及びそのスリ
ーブ64に取り付けてこれら電気素子を関連するホトメ
ータと一緒に回転し得るようにし、これにより回路間の
接続点にスリップリング、整流子等を設ける必要がない
ようにしたり、或は複雑な配線を設ける必要がないよう
にするのが好適である。
、回路板及びコネクタを介し、ロータ56及びそのスリ
ーブ64に取り付けてこれら電気素子を関連するホトメ
ータと一緒に回転し得るようにし、これにより回路間の
接続点にスリップリング、整流子等を設ける必要がない
ようにしたり、或は複雑な配線を設ける必要がないよう
にするのが好適である。
連続的に移動する複数個の光検出器52からのアナログ
値の形態の多数の個々の電気測定値の伝送は機械的にも
電気的にも種々の問題を生ずる。
値の形態の多数の個々の電気測定値の伝送は機械的にも
電気的にも種々の問題を生ずる。
多数の部分標本について実行中の種々の化学試験に関す
る多くのホトメータからの精密データのスループットを
大きくする必要性は従来の技術では実際上満足させるこ
とはできない。
る多くのホトメータからの精密データのスループットを
大きくする必要性は従来の技術では実際上満足させるこ
とはできない。
第5図の構成は効率が良く、融通性に富み、しかも簡単
且つ精密なデータ伝送を提供する。
且つ精密なデータ伝送を提供する。
第5図の左上部にはロータ56上に装着されたホトメー
ク組立体の1単位(以下ホトメークモジュールと称す)
を示し、その光源50からの光線は1個の試料支持部材
32の壁を通過し、フィルタ60を通過した後検出器5
2の感光表面に射突する。
ク組立体の1単位(以下ホトメークモジュールと称す)
を示し、その光源50からの光線は1個の試料支持部材
32の壁を通過し、フィルタ60を通過した後検出器5
2の感光表面に射突する。
検出器はシリコンダイオード、光電子増倍管、真空ホト
ダイオード、その他の光応答装置とすることができる。
ダイオード、その他の光応答装置とすることができる。
ホトメータが静止試料支持部材32を通過する走査時間
は数ミリ秒で、この時間は検出器52に入射する光の所
要のアナログ測定を行ない。
は数ミリ秒で、この時間は検出器52に入射する光の所
要のアナログ測定を行ない。
吸光度の最終計算を行なうに充分である。
検出器52は試料支持部材32内の部分標本及び試料支
持部材の壁を透過した光量に応答し、その光量に比例し
た電気信号を発生する。
持部材の壁を透過した光量に応答し、その光量に比例し
た電気信号を発生する。
積分器86を検出器52に接続し、発生された信号を部
分標本の透過率に比例した出力電圧信号に変換する。
分標本の透過率に比例した出力電圧信号に変換する。
対数アナログ−デジタル変換器88を積分器の出力端子
の接続し、その出力導線90に部分標本の吸光度の関数
であるデジタル信号を発生させる。
の接続し、その出力導線90に部分標本の吸光度の関数
であるデジタル信号を発生させる。
図面を簡単とするため、8個のホトメークモジュール8
4内の1個のみを示し、他のモジュールに対してはホト
メータの出力導線90のみを示した。
4内の1個のみを示し、他のモジュールに対してはホト
メータの出力導線90のみを示した。
連続的に移動するホトメーク組立体56の1瞬時位置お
いて8個の検出器52がそれぞれ8個の異なる試料支持
部材32内の試料を通過した光を受信するため、デジタ
ルマルチプレクサ92を全てのホトメークり出力導線9
0に接続する。
いて8個の検出器52がそれぞれ8個の異なる試料支持
部材32内の試料を通過した光を受信するため、デジタ
ルマルチプレクサ92を全てのホトメークり出力導線9
0に接続する。
マルチプレクサ92はデータ側割ユニット94により制
御導線96を経て制御されて、各対数A/D変換器88
からのデータをデータ導線98を経てデータ制御ユニッ
ト94に各別に転送する。
御導線96を経て制御されて、各対数A/D変換器88
からのデータをデータ導線98を経てデータ制御ユニッ
ト94に各別に転送する。
斯るデータは2進ビツトの形で処理することができ、1
つの2進ワードで1つの試料支持部材32からの吸光度
を表わすことができる。
つの2進ワードで1つの試料支持部材32からの吸光度
を表わすことができる。
各吸光度データとその部分標本又は試料支持部材の識別
ラベルとの相関はデータ制御ユニットで行なうことがで
きる。
ラベルとの相関はデータ制御ユニットで行なうことがで
きる。
斯る識別ラベルを付け、これをデータ制御ユニット94
に供給する装置は図示してない。
に供給する装置は図示してない。
データワードをデータ制御ユニット94に転送し終ると
、データ制御ユニットは導線100にリセット命令を発
生し、関連する対数A/D変換器88に供給してこの変
換器が関連するホトメークモジュール84により走査さ
れる次の試料支持部材から次のアナログ信号を受信し得
るようにする。
、データ制御ユニットは導線100にリセット命令を発
生し、関連する対数A/D変換器88に供給してこの変
換器が関連するホトメークモジュール84により走査さ
れる次の試料支持部材から次のアナログ信号を受信し得
るようにする。
名種分器86は、そのA/D変換器がそのデジタルワー
ドをマルチプレクサに供給したときそのA/D変換器に
よりリセットされるようにする。
ドをマルチプレクサに供給したときそのA/D変換器に
よりリセットされるようにする。
102はこののりセット命令のためのリセット導線で、
通常A/D変換器がデータ制御ユニット94によりセッ
トされる前にリセット命令を伝送する。
通常A/D変換器がデータ制御ユニット94によりセッ
トされる前にリセット命令を伝送する。
積分器86において1つの試料支持部材32の通過光線
に隣接の試料支持部材32からの光線が含まれないよう
にするために、積分器86を積分開始命令導線104に
より、ローフ駆動装置T2とのタイミング間係又は光路
54に対する試料支持部材32の位置又は検出器52か
らの出力信号波形の形状のような種々の条件の1つに応
答してトリガし駆動し得るようにする。
に隣接の試料支持部材32からの光線が含まれないよう
にするために、積分器86を積分開始命令導線104に
より、ローフ駆動装置T2とのタイミング間係又は光路
54に対する試料支持部材32の位置又は検出器52か
らの出力信号波形の形状のような種々の条件の1つに応
答してトリガし駆動し得るようにする。
データ制御ユニット94の知識及びそのメモリの容量に
応じて、必要に応じデータの入出力処理方法を変えるこ
とができる。
応じて、必要に応じデータの入出力処理方法を変えるこ
とができる。
例えば、簡単なデータ制御ユニットを用い、デジタルワ
ードをデータ制御ユニットに供給する場合にそのデジタ
ルワードを主制御ユニット20に伝送し、ここで処理し
て読取ユニット22に受信させることができる。
ードをデータ制御ユニットに供給する場合にそのデジタ
ルワードを主制御ユニット20に伝送し、ここで処理し
て読取ユニット22に受信させることができる。
主制御ユニットはデータ及び相関記憶容量並びに前述し
た機能制御、指令及び命令情報を有するものとすること
ができる。
た機能制御、指令及び命令情報を有するものとすること
ができる。
他方、データ制御ユニットが十分な記憶容量を有する場
合は、少くとも、ロータ56の1又はそれ以上の回転中
に得られる960個のようなすべてのデータワードをこ
こに記憶することができる。
合は、少くとも、ロータ56の1又はそれ以上の回転中
に得られる960個のようなすべてのデータワードをこ
こに記憶することができる。
各光検出器52が異なる波長で動作し、特定の試料支持
部材32を当該試料支持部材内での特定の反応の測定に
最適な波長で動作する光検出器52のみでモニターする
必要があるものとする場合にはホトメータロータ56の
1サイクル即ち1回転中にマルナプレサ92により受信
される960個のデータワードの内の120個のデータ
ワード(前述の例の場合)のみが主制御ユニット20で
必要とされる。
部材32を当該試料支持部材内での特定の反応の測定に
最適な波長で動作する光検出器52のみでモニターする
必要があるものとする場合にはホトメータロータ56の
1サイクル即ち1回転中にマルナプレサ92により受信
される960個のデータワードの内の120個のデータ
ワード(前述の例の場合)のみが主制御ユニット20で
必要とされる。
どのデータワードをデータ処理に用いるべきかの決定は
特定の試料を特定の試験と関連させる入力情報により行
なう。
特定の試料を特定の試験と関連させる入力情報により行
なう。
この場合主制御ユニット20は特定の各試料支持部材を
特定の試料及び試験、従って特定のホトメータに指定し
、ロータ56の各回転中に該試料支持部材から得られた
テークワードを識別し、ロータの順次の回転(好適例で
は120回転)の各回転により得られる同一試料支持部
材32からのデータワードを互に関連させる。
特定の試料及び試験、従って特定のホトメータに指定し
、ロータ56の各回転中に該試料支持部材から得られた
テークワードを識別し、ロータの順次の回転(好適例で
は120回転)の各回転により得られる同一試料支持部
材32からのデータワードを互に関連させる。
データ制御ユニット94と主制御ユニット20との間の
所望の通信量、それらのメモリの容量、装置の動作速度
等(これらはコスト、スループット等に関連する)に応
じて、9万6千のデータワードを主制御ユニットに伝送
し必要な1万2千のデーターワードを選択するように設
計することができ、また、両制御ユニット20及び94
間を、データ制御ユニットから主制御ユニットへ1万2
千のテークワードのみを伝送するように連絡することが
できる。
所望の通信量、それらのメモリの容量、装置の動作速度
等(これらはコスト、スループット等に関連する)に応
じて、9万6千のデータワードを主制御ユニットに伝送
し必要な1万2千のデーターワードを選択するように設
計することができ、また、両制御ユニット20及び94
間を、データ制御ユニットから主制御ユニットへ1万2
千のテークワードのみを伝送するように連絡することが
できる。
上記の設計はデータ制御ユニットから主制御ユニットへ
のデータワードの伝送のタイミングに影響される。
のデータワードの伝送のタイミングに影響される。
各試料支持部材の走査間、即ちロータ56が次の8個の
試料支持部材と整列する位置に移動するまでに有限の不
使用時間が存在し、また各回転の終了時、即ち試料支持
部材列が1ステップ段進する時にも有限の不使用時間が
存在し得る。
試料支持部材と整列する位置に移動するまでに有限の不
使用時間が存在し、また各回転の終了時、即ち試料支持
部材列が1ステップ段進する時にも有限の不使用時間が
存在し得る。
本装置は先に述べたように連続モードで動作し得るため
、バッチ動作モードと異なり、前の回転と次の回転を分
断することなく連続させることができる。
、バッチ動作モードと異なり、前の回転と次の回転を分
断することなく連続させることができる。
従って、データも連続モードで伝送し、若干時間後まで
記憶しないで処理ユニットに供給することができる。
記憶しないで処理ユニットに供給することができる。
データ発生部34から制御コンソール10へのデータの
この連続伝送はデータ制御ユニット94によるよりは上
述したようにむしろもっばら主制御ユニット20により
行なうことができる。
この連続伝送はデータ制御ユニット94によるよりは上
述したようにむしろもっばら主制御ユニット20により
行なうことができる。
上述の不使用時間、即ち試料支持部材の走査間の時間又
は回転の終了時の段進時間に関連し本発明は何の制限も
受けてない。
は回転の終了時の段進時間に関連し本発明は何の制限も
受けてない。
試料支持部材走査量の暗電流を測定してホトメータのス
ケールをセットすることは容易に行ない得る。
ケールをセットすることは容易に行ない得る。
読取データは制御ユニットで容易に識別し、所望の如く
処理し、プログラムすることができる。
処理し、プログラムすることができる。
連続動作モードはバッチ動作モードに比し種々の既知の
利点を有するが、バッチ処理の方が好適な場合がある。
利点を有するが、バッチ処理の方が好適な場合がある。
本発明装置はバッチ処理に用いることもできる。
例えば試料支持部材用ターンテーブル74上体を着脱自
在円板として、部分標本及び試薬が充填された試料支持
部材を有する同様の円板と交換し得るようにし、各交換
円板をバッチとすることができる。
在円板として、部分標本及び試薬が充填された試料支持
部材を有する同様の円板と交換し得るようにし、各交換
円板をバッチとすることができる。
バッチが数個の部分標本のみから成る場合、試料支持部
材用円板はセグメントに分け、円板の1セグメント(部
分)を準備した試料支持部材用セグメントと交換し得る
ようにすることができる。
材用円板はセグメントに分け、円板の1セグメント(部
分)を準備した試料支持部材用セグメントと交換し得る
ようにすることができる。
同様に指定又は緊急的に必要とされる試験を装置に“挿
入”することができる。
入”することができる。
斯る構造は74で示すようなターンテーブルと、その上
面上にクランプ又はスナップ止めし得る試料支持部材凹
部付きプラスチック薄板(合成樹脂シートを真空モール
ドして形成することができる)で構成する。
面上にクランプ又はスナップ止めし得る試料支持部材凹
部付きプラスチック薄板(合成樹脂シートを真空モール
ドして形成することができる)で構成する。
本例装置の動作は、交換可能円板を試料の識別が得られ
るように適正に位置させると共に使用済円板を除去し新
しい円板と交換し得るように装置を始動及び停止させる
必要がある地対は上述の場合と相違はない。
るように適正に位置させると共に使用済円板を除去し新
しい円板と交換し得るように装置を始動及び停止させる
必要がある地対は上述の場合と相違はない。
常規動作モードでは斯かる円板又はターンテーブルは回
転させる必要はなく、その試料支持部材はロータ56の
回転中に複数個のホトメータにより走査される。
転させる必要はなく、その試料支持部材はロータ56の
回転中に複数個のホトメータにより走査される。
装置を連続モード及びバッチモードに切り変え得るよう
にする場合は円板又はターンテーブルγ4を段進させる
のが有効である。
にする場合は円板又はターンテーブルγ4を段進させる
のが有効である。
ターンテーブル74上の試料支持部材用円板を交換可能
にすることは、緊急試験が必要とさむ、この試験を日常
の試験と一緒にならないようにする必要がある場合に有
利である。
にすることは、緊急試験が必要とさむ、この試験を日常
の試験と一緒にならないようにする必要がある場合に有
利である。
段進をバッチモードの試料支持部材円板の交換可能性と
組合わせ用い、段進により種々のセットのフィルタを光
路中に挿入することもできる。
組合わせ用い、段進により種々のセットのフィルタを光
路中に挿入することもできる。
バッチモード装置においてロータが複数個のホトメータ
を具える場合、これらホトメータには各光検出器に対し
個々のランプ50を用いることができ、又全ての光検出
器に対し1個の中心光源を用いることができる。
を具える場合、これらホトメータには各光検出器に対し
個々のランプ50を用いることができ、又全ての光検出
器に対し1個の中心光源を用いることができる。
本発明の1つの変形例では試料支持部材を有する固定或
は段進ターンテーブルと、1個のホトメータを有するロ
ータを設け、ロータには更にホトメータからの光ビーム
をこれが試料支持部材を通過する前にさえぎるように垂
直に配置されたフィルタ輪を設ける。
は段進ターンテーブルと、1個のホトメータを有するロ
ータを設け、ロータには更にホトメータからの光ビーム
をこれが試料支持部材を通過する前にさえぎるように垂
直に配置されたフィルタ輪を設ける。
本例ではロータを各試料支持部材の位置で瞬間的に停止
すると共にフィルタ輪を自動的に回転させて種々の波長
で数種の測定を行ないそれりの測定値を適当な1司期装
置により識別し、データ制御装置を介して記憶又は記録
装置の適正なアドレスに供給するよう構成する。
すると共にフィルタ輪を自動的に回転させて種々の波長
で数種の測定を行ないそれりの測定値を適当な1司期装
置により識別し、データ制御装置を介して記憶又は記録
装置の適正なアドレスに供給するよう構成する。
このようにすると、複数ホトメータの効果を1つのホト
メータで達成することができる。
メータで達成することができる。
ロータ56の回転は一方向の移動に限定されない。
ロータ56は一方向に回転させ、次いで反対方向に回転
させて振動させることもできる。
させて振動させることもできる。
次に、第5図を参照して2形式のデータフローと制御に
ついて説明する。
ついて説明する。
第1の形式は制御ユニット20と94との間に2方向通
信を必要とし、第2の形式は一方向通信を必要とする。
信を必要とし、第2の形式は一方向通信を必要とする。
後者の形式は前者の形式より簡単であるが、一層高度の
知識と一層大きな主制御ユニットによる記憶容量を必要
とする。
知識と一層大きな主制御ユニットによる記憶容量を必要
とする。
主制御ユニットとデータ制御ユニットとの間の2方向通
信は、1対の通信論理ユニット106及び108.1対
の送信素子110及び112及び1対の受信素子114
及び116を用いて達成することができる。
信は、1対の通信論理ユニット106及び108.1対
の送信素子110及び112及び1対の受信素子114
及び116を用いて達成することができる。
素子106,110及び114はデータ発生装置34の
回転部内に収納する。
回転部内に収納する。
対応する素子108,112及び116は制御コンソー
ル10内及び/又は装置34の静止部内に配置する。
ル10内及び/又は装置34の静止部内に配置する。
制御母線118及びデータ母線120によりデータ制御
ユニット94を通信論理ユニット106と接続する。
ユニット94を通信論理ユニット106と接続する。
同様に、制御及びデータ母線122及び124により主
制御ユニット20を通信論理ユニット108と接続する
。
制御ユニット20を通信論理ユニット108と接続する
。
母線118及び122土の代表的な2方向制御情報は1
個以上のデータワードをユニット20及び94内のメモ
リの一方又は他方又は双方に書込むべきこと又はこれら
メモリの一方又は他方又は双方から1個以上のデータワ
ードを読取るべきこと及び関連する論理ユニット106
及び108が斯るデータを送信又は受信すべきことを表
わす。
個以上のデータワードをユニット20及び94内のメモ
リの一方又は他方又は双方に書込むべきこと又はこれら
メモリの一方又は他方又は双方から1個以上のデータワ
ードを読取るべきこと及び関連する論理ユニット106
及び108が斯るデータを送信又は受信すべきことを表
わす。
上述の例では反応テーブル内のデータ制御ユニットと制
御コンソール内の主制御ユニットとの間に2方向通信路
が存在するため、制御及びテーク母線118〜124は
第5図に矢印で示すように2方向性である。
御コンソール内の主制御ユニットとの間に2方向通信路
が存在するため、制御及びテーク母線118〜124は
第5図に矢印で示すように2方向性である。
また、通信論理ユニット106及び108も2方向通信
機能を有する。
機能を有する。
2方向データ母線120及び124は各データワードを
ビット並列で直列に搬送するが、受信素子114及び1
16からの入力及び送信素子110及び112への出力
はビット直列とする。
ビット並列で直列に搬送するが、受信素子114及び1
16からの入力及び送信素子110及び112への出力
はビット直列とする。
送信装置及び受信装置の好適例は、第3及び第5図に示
すように、それぞれ発光素子及び光応答素子である。
すように、それぞれ発光素子及び光応答素子である。
第4図の例ではスリップリング装置110〜116を用
いるが、無線型のような他の形態の送信及び受信装置は
上述の好適例に限定されるものではない。
いるが、無線型のような他の形態の送信及び受信装置は
上述の好適例に限定されるものではない。
ホトダイオードによるような光通信は簡単であると共に
直列2進ビソトテータの処理に好適であり、このことは
当業者に周知である。
直列2進ビソトテータの処理に好適であり、このことは
当業者に周知である。
また、素子110〜116を近接配置することができる
ときは光発生及び受信通信は無線通信より妨害を受けに
くい。
ときは光発生及び受信通信は無線通信より妨害を受けに
くい。
第3図に示すように、送信素子110及び受信素子11
4はスリーブ64内に収納し、これと一緒に軸線58と
近接して回転させることができる。
4はスリーブ64内に収納し、これと一緒に軸線58と
近接して回転させることができる。
関連する素子116及び112は静止素子とし・、軸線
58に近接配置すると共に制御コンソール10内の論理
ユニット108に接続する。
58に近接配置すると共に制御コンソール10内の論理
ユニット108に接続する。
このように軸線58に近接配置すると、送信素子110
及び受信素子114が回転することにより2進ビツトデ
ータの送信に誤差が発生することはない。
及び受信素子114が回転することにより2進ビツトデ
ータの送信に誤差が発生することはない。
他方、信号の有無ではなく信号の大きさが試験データ及
び制御命令を表わす場合は、送信素子と受信素子の相対
運動は送信誤差を発生し得る。
び制御命令を表わす場合は、送信素子と受信素子の相対
運動は送信誤差を発生し得る。
主制御ユニット20内の記憶容量を経済的に使用するた
めには所望のデータワードのみをデータ制御ユニット9
4から伝送する必要がある。
めには所望のデータワードのみをデータ制御ユニット9
4から伝送する必要がある。
これを達成するためには、データ入力装置18からの入
力情報により主制御ユニットを駆動してデータが必要と
される部分標本又はそれらの試料支持部材のリストを設
定する。
力情報により主制御ユニットを駆動してデータが必要と
される部分標本又はそれらの試料支持部材のリストを設
定する。
新しい試料が試料ディスク30に加えられたら、関連す
る入力情報を主制御ユニットに供給し、古い試料の試験
終了後にその所望リストを連続的に更新する。
る入力情報を主制御ユニットに供給し、古い試料の試験
終了後にその所望リストを連続的に更新する。
マルチプレクサから各データワードをデータ制御ユニッ
ト94により受信するとき、各データワードを所望のデ
ータリストと照合し、肯定比較されたデータワードのみ
を主制御ユニットに伝送する。
ト94により受信するとき、各データワードを所望のデ
ータリストと照合し、肯定比較されたデータワードのみ
を主制御ユニットに伝送する。
この通信では、データ制御ユニット、その論理ユニット
及びその母線118及び120をもってマルチプレクサ
からデータワードを受信しそのワードを識別し、論理ユ
ニット106及び108がその識別情報を主制御ユニッ
トに伝送するようにする必要がある。
及びその母線118及び120をもってマルチプレクサ
からデータワードを受信しそのワードを識別し、論理ユ
ニット106及び108がその識別情報を主制御ユニッ
トに伝送するようにする必要がある。
1同様に、主制御ユニット、その論理ユニット及び母線
122及び124をもって識別データを受信し、比較応
答を発生し、そのデータワードをデータ制御ユニットに
より捨てさせるか主制御ユニットに伝送して記憶させる
ようにする必要がある。
122及び124をもって識別データを受信し、比較応
答を発生し、そのデータワードをデータ制御ユニットに
より捨てさせるか主制御ユニットに伝送して記憶させる
ようにする必要がある。
データ通信の他の例では、全てのデータワードをデータ
制御ユニット94から主制御ユニット20に伝送し、主
制御ユニット自体によりどのデータワードを最終読取り
のために記憶するかを決定するようにする。
制御ユニット94から主制御ユニット20に伝送し、主
制御ユニット自体によりどのデータワードを最終読取り
のために記憶するかを決定するようにする。
この通信は、データ母線120及び124は主制御ユニ
ットの方向にのみ伝送すればよく、通信論理ユニット1
06は送信ユニットとしてのみ作動し、通信論理ユニッ
ト108は受信ユニットとしてのみ作動すればよく、素
子112及び114の送受信素子対は必要ないため簡単
に構成できる。
ットの方向にのみ伝送すればよく、通信論理ユニット1
06は送信ユニットとしてのみ作動し、通信論理ユニッ
ト108は受信ユニットとしてのみ作動すればよく、素
子112及び114の送受信素子対は必要ないため簡単
に構成できる。
第3図の例と第4図の例の差異について説明する。
第1に、ホトメータ装置に関し、第4図の例の光源50
は軸線5Bに位置し、東3図の例のようにホトメータロ
ータ56の周縁に配置した複数個のランプではなく1個
のタングステンランプから成る。
は軸線5Bに位置し、東3図の例のようにホトメータロ
ータ56の周縁に配置した複数個のランプではなく1個
のタングステンランプから成る。
第4図の光源50はロータ56と一緒に回転するように
ロータ56に連結する。
ロータ56に連結する。
第4図のホトメータロータ56には複数個のレンズ含有
光学管126を取り付けて毛管の一端を光源50に近接
配置し、他端を試料支持部材が通る環状通路に近接配置
すると共に検出器52の特定の1個と整列させる。
光学管126を取り付けて毛管の一端を光源50に近接
配置し、他端を試料支持部材が通る環状通路に近接配置
すると共に検出器52の特定の1個と整列させる。
検出器52も第3図の例と略々同様にロータ56上に取
り付ける。
り付ける。
各検出器に到達する光ビームにより走査される通路又は
パターンは第3図の例と実際上同一になる。
パターンは第3図の例と実際上同一になる。
単光源50を用いる1つの利点は、これにより発生され
る熱の消散が容易であり、従って試料支持部材32の温
度調整が容易となることである。
る熱の消散が容易であり、従って試料支持部材32の温
度調整が容易となることである。
第3図の例では個々のランプを試料支持部材通路を構成
する環状通路に近接配置するため、これらランプの熱が
試料支持部材内の材料に輻射又は伝達される。
する環状通路に近接配置するため、これらランプの熱が
試料支持部材内の材料に輻射又は伝達される。
IIJ2すべき反応の多くは温度変化を許容し得ない。
実際のところ、多くの場合試料支持部材の走査中試料支
持部材を定温に保つ装置を設ける必要があるが、第4図
の装置は熱源がないため斯る定温構成を容易に達威し得
ると共に一層有効なものとすることができる。
持部材を定温に保つ装置を設ける必要があるが、第4図
の装置は熱源がないため斯る定温構成を容易に達威し得
ると共に一層有効なものとすることができる。
第4図に示すような単光源の他の利点は、複数個のラン
プを使用する場合のように複数個の測定光ビームの強度
、色、及び波長が相違することなく同一にすることがで
きることである。
プを使用する場合のように複数個の測定光ビームの強度
、色、及び波長が相違することなく同一にすることがで
きることである。
単光源ランプ50の変化は全ての測定値に等しく及ぼさ
れるため、相対的測定を行なう場合にはその影響は無祝
できる。
れるため、相対的測定を行なう場合にはその影響は無祝
できる。
ランプ50は、試料支持部材を冷却しないようにしたラ
ンプ50の周囲を循環する空気で極めて容易に冷却する
ことができる。
ンプ50の周囲を循環する空気で極めて容易に冷却する
ことができる。
また、単光源50のための電源が簡単且つ経済的になる
。
。
第3及び第4図に示すように、光路54を通るビームは
試料支持部材32を通過し、次いでフィルタ60(光検
出器52内に組込まれていない場合は光検出器に近接配
置されるのが普通)を通過した後、光検出器52に入射
する。
試料支持部材32を通過し、次いでフィルタ60(光検
出器52内に組込まれていない場合は光検出器に近接配
置されるのが普通)を通過した後、光検出器52に入射
する。
第4図の構造では、光ビームを極めて細いエンピッの芯
状に集束して試料支持部材の下部を通過するようにし得
るが、更に、集束管内また外にビームスプリッタを配置
して試料支持部材の異なるレベルを平行に通過する2個
のビームを発生させて試料の異なる層を検査するように
することもできる。
状に集束して試料支持部材の下部を通過するようにし得
るが、更に、集束管内また外にビームスプリッタを配置
して試料支持部材の異なるレベルを平行に通過する2個
のビームを発生させて試料の異なる層を検査するように
することもできる。
斯る構成を第4a図に示す。
第4a図において、第4図と対応する素子は第4図と同
一の符号にダッシュを付して示す。
一の符号にダッシュを付して示す。
ロータ56′は集束管126′を有し、これにより光源
50(第4a図には図示せず)からのビーム54′を管
126′の全面に45°の角度で配置した半銀メッキミ
ラー又はグイクロイックミラー150に向ける。
50(第4a図には図示せず)からのビーム54′を管
126′の全面に45°の角度で配置した半銀メッキミ
ラー又はグイクロイックミラー150に向ける。
ビームの1部はミラー150を通過し、底部ビーム54
′bとなり、残りの部分は900上方に反射され、次い
で45°角のミラー152により反射されて上部ビーム
54′uとなる。
′bとなり、残りの部分は900上方に反射され、次い
で45°角のミラー152により反射されて上部ビーム
54′uとなる。
これらのビームはターンテーブル74′に保持された試
料支持部材32′内の液体154の異なるレベルを通過
する。
料支持部材32′内の液体154の異なるレベルを通過
する。
試料支持部材32′はその配列通路内を移動すると共に
ロータ56に設けられた条溝156内を移動するよう配
置する。
ロータ56に設けられた条溝156内を移動するよう配
置する。
2個の光検出器52′及び52“をそれぞれミラー15
0及び152と整列させてロータ56の適当な空洞内に
取り付け、それらの感応表面がそれぞれビーム54′b
及び54′uを受信するようにする。
0及び152と整列させてロータ56の適当な空洞内に
取り付け、それらの感応表面がそれぞれビーム54′b
及び54′uを受信するようにする。
各検出器にそれぞれフィルタ60′及び60“を設ける
。
。
開口158及び160はそれぞれのビームを光検出器5
2′及び52“にそれぞれ通す。
2′及び52“にそれぞれ通す。
以上から明らかなように、集束管126′から出るビー
ム54′は液体154の下層部を通過する部分と液体1
54の上層部を通過する部分に分割される。
ム54′は液体154の下層部を通過する部分と液体1
54の上層部を通過する部分に分割される。
光検出器52′及び52“は互に独立で、仇それ異なる
信号を発生し、これら信号は適当な接続線を経てデータ
処理装置に伝送して試料支持部材32′内で進行中の反
応に関する追加の情報を発生させることができる。
信号を発生し、これら信号は適当な接続線を経てデータ
処理装置に伝送して試料支持部材32′内で進行中の反
応に関する追加の情報を発生させることができる。
第4図には試料支持部材用ターンテーブル74の駆動装
置を示しである(第3図には図面のスペースの関係で示
していない)。
置を示しである(第3図には図面のスペースの関係で示
していない)。
モータ128はピニオン歯車132によりターンテーブ
ルγ4の周面の対応する歯車134に結合された駆動軸
130を有する。
ルγ4の周面の対応する歯車134に結合された駆動軸
130を有する。
試料支持部材の移動を段進する必要がある場合はモータ
128をステップモータにすることができ、またリンク
機構、クラッチ機構等を設けて連続駆動モータから適当
な段進運動を得ることができる。
128をステップモータにすることができ、またリンク
機構、クラッチ機構等を設けて連続駆動モータから適当
な段進運動を得ることができる。
先に簡単に説明したように、スリップリング機構110
〜116により装置の送受信を行ない、データ発生部3
4及び主制御ユニット20に対するデータ、その他の情
報を送受することができる。
〜116により装置の送受信を行ない、データ発生部3
4及び主制御ユニット20に対するデータ、その他の情
報を送受することができる。
以上から、移動するホトメーク装置を有する本発明装置
が特に連続モードにおいてどのように動作し、データ発
生部34からの吸光度に関する測定値のデジタル値を主
制御ユニット20にどのように位置させるかを理解する
必要がある。
が特に連続モードにおいてどのように動作し、データ発
生部34からの吸光度に関する測定値のデジタル値を主
制御ユニット20にどのように位置させるかを理解する
必要がある。
反応を長期間に亘り繰返しモニターし、反応速度データ
と反応終点データを得ることができる。
と反応終点データを得ることができる。
この生データを主制御ユニットに入れると同時にこの生
データを各試験と関連させ、読取ユニット22に如何な
るデータの減少、変換或は分析の必要なしに供給するこ
とができる。
データを各試験と関連させ、読取ユニット22に如何な
るデータの減少、変換或は分析の必要なしに供給するこ
とができる。
好適な動作モードでは主制御ユニットはデータを各試験
に関連させ、数学的に反応速度及び/又は終点を決定し
、その情報を所望の集信ユニット内で化学的値の読みに
変換し、斯る後にその結果を読取ユニットに供給する能
力を有するものとする。
に関連させ、数学的に反応速度及び/又は終点を決定し
、その情報を所望の集信ユニット内で化学的値の読みに
変換し、斯る後にその結果を読取ユニットに供給する能
力を有するものとする。
以上本発明化学反応モニター装置の構成及び動作の種々
の例について説明したが、他にも種々の変更を加えるこ
とができる。
の例について説明したが、他にも種々の変更を加えるこ
とができる。
例えば、好適例ではホトメータロータを連続的に移動さ
せたが、これを段進させることもできる。
せたが、これを段進させることもできる。
また、ホトメータ装置はその支持体の重量分布を均等に
するためにその支持体の周縁に一定の間隔を置いて配置
したが、特にその移動通路を円形としない場合にはホト
メータ装置を可変間隔で装着することができる。
するためにその支持体の周縁に一定の間隔を置いて配置
したが、特にその移動通路を円形としない場合にはホト
メータ装置を可変間隔で装着することができる。
交換可能な試料支持部材を用いるのが好適である場合も
ある。
ある。
この場合には、クリーニングステーション48は、使用
済試料支持部材を除去し清浄な試料支持部材をターンテ
ーブルγ4内に挿入する装置と置き換える。
済試料支持部材を除去し清浄な試料支持部材をターンテ
ーブルγ4内に挿入する装置と置き換える。
少く共斯る場合には、試料支持部材を開通路に沿って移
動させる必要はない。
動させる必要はない。
試薬は液体とする必要はなく、乾燥した試薬を供給する
こともできる。
こともできる。
試薬が予め添加された試料支持部材を随意に使用できる
ようにし、次いて、これら試料支持部材に部分標本及び
希釈剤を添加するだけでよいようにすることもできる。
ようにし、次いて、これら試料支持部材に部分標本及び
希釈剤を添加するだけでよいようにすることもできる。
第1図は本発明装置の一例の全体を示す斜視図、第2図
はホトメータ装置の一例を示す試料支持部材用ターンテ
ーブル及びホトメータロータの1部の斜視図、第3図は
本発明装置のデータ発生部の一例の部分断面図、第4図
は本発明装置のデータ発生部の他の例の部分断面図、第
4a図は第4図の例の変形例の部分断面図、第5図は本
発明装置のデジタル光吸収データ発生、伝送部の一例の
ブロック回路図である。 10・・・・・・制御コンソール、12・・・・・・化
学処理部、14・・・・・・キーボード、16・・・・
・・データカード受信機、18・・・・・・データ入力
装置、20・・・・・・主制御ユニット、22・・・・
・・読取ユニット、24・・・・・・可視表示装置、2
6・・・・・・テープ、28・・・・・・試料ホルダ、
30・・・・・・試料ディスク、32.32’・・・・
・・試料支持部材、34・・・・・・データ発生部、3
6・・・・・・部分標本及び希釈剤分配機構、38・・
・・・・試薬供給部、40・・・・・・試薬コンテナ、
42・・・・・・試薬ディスク、44゜46・・・・・
・試薬分配器、48・・・・・・クリーニングステーシ
ョン、50・・・・・・光源、52.52’、52“・
・・・・・光検出器、54,54’・・・・・・光路、
56,56’・・・・・・ロータ、58・・・・・・軸
、60−−−−−−フィルタ、62・・・・・・制御母
線、64・・・・・・スリーブ、66・・・・・・ベア
リング、68,70・・・・・・外匣台部材、72・・
・・・・駆動装置、74,74’・・・・・・ターンテ
ーブル、16・・・・・・カラー 18・・・・・・ベ
アリング、80.82・・・・・・回路素子、84・・
・・・・ホトメークモジュール、86・・・・・・積分
器、88・・・・・・対数A/D変換器、92・・・・
・・デジタルマルチプレクサ、94・・・・・・データ
制御ユニット、106,108・・・・・・通信論理回
路、110,116,114,112・・・・・・結合
装置、128〜134・・・・・・駆動装置、150・
・・・・・ビームスプリッタ。
はホトメータ装置の一例を示す試料支持部材用ターンテ
ーブル及びホトメータロータの1部の斜視図、第3図は
本発明装置のデータ発生部の一例の部分断面図、第4図
は本発明装置のデータ発生部の他の例の部分断面図、第
4a図は第4図の例の変形例の部分断面図、第5図は本
発明装置のデジタル光吸収データ発生、伝送部の一例の
ブロック回路図である。 10・・・・・・制御コンソール、12・・・・・・化
学処理部、14・・・・・・キーボード、16・・・・
・・データカード受信機、18・・・・・・データ入力
装置、20・・・・・・主制御ユニット、22・・・・
・・読取ユニット、24・・・・・・可視表示装置、2
6・・・・・・テープ、28・・・・・・試料ホルダ、
30・・・・・・試料ディスク、32.32’・・・・
・・試料支持部材、34・・・・・・データ発生部、3
6・・・・・・部分標本及び希釈剤分配機構、38・・
・・・・試薬供給部、40・・・・・・試薬コンテナ、
42・・・・・・試薬ディスク、44゜46・・・・・
・試薬分配器、48・・・・・・クリーニングステーシ
ョン、50・・・・・・光源、52.52’、52“・
・・・・・光検出器、54,54’・・・・・・光路、
56,56’・・・・・・ロータ、58・・・・・・軸
、60−−−−−−フィルタ、62・・・・・・制御母
線、64・・・・・・スリーブ、66・・・・・・ベア
リング、68,70・・・・・・外匣台部材、72・・
・・・・駆動装置、74,74’・・・・・・ターンテ
ーブル、16・・・・・・カラー 18・・・・・・ベ
アリング、80.82・・・・・・回路素子、84・・
・・・・ホトメークモジュール、86・・・・・・積分
器、88・・・・・・対数A/D変換器、92・・・・
・・デジタルマルチプレクサ、94・・・・・・データ
制御ユニット、106,108・・・・・・通信論理回
路、110,116,114,112・・・・・・結合
装置、128〜134・・・・・・駆動装置、150・
・・・・・ビームスプリッタ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 化学的状態をモニターすべき液体等の試料を保持す
るようにした複数個の試料支持部材の全てを横切り通過
するようにした輻射エネルギービーム路と各別の試料支
持部材内に生ずる化学的状態に関連する各別の電気信号
を発生する検出器を具えるホトメータ装置と、該電気信
号に応答してデータを発生する装置と、前記試料支持部
材及びホトメータ装置を相対的に且つ基準位置に対し移
動させる手段とを用い、複数個の試料支持部材内の化学
的反応をモニターするに当り、前記ホトメータ装置を、
そのビーム通路が第1繰返しパターンをたどるように移
動させると共に前記試料支持部材をこれらが第2繰返し
パターンをたどるように移動させ、第1繰返しパターン
と第2繰返しパターンとの間には両パターンが互いに一
致する部分があるような特定の幾伺学的関係を設定し、
前記ホトメータ装置が前記一致部分を経て移動するとき
前記一致部分に位置する試料支持部材を走査し、ホトメ
ータ検出器から関連するアナログ電気信号を発生させ、
ホトメータ装置の前記一致部分に対する移動速度は試料
支持部材の前記一致部分に対する移動速度より高くして
前記一致部分を通る各試料支持部材がビーム通路により
少なくとも1回走査されるようにし、前記アナログ信号
をデジタル信号に変換すると共に前記移動する検出器か
らの該デジタル信号を前記データ発生装置に結合するよ
うにしたことを特徴とする化学反応モニタ一方法。 2 前記ホトメータ装置を軸を中心に移動させ、前記第
1及び第2移動パターンをホトメータ装置の移動中にお
ける前記ビーム通路の長さ方向に沿った各試料支持部材
の位置が略々1同一となるようにすると共に、ビーム通
路を前記軸の半径方向に向けたことを特徴とする特許請
求の範囲第1項記載の化学反応モニタ一方法。 3 前記ホトメータ装置は連続的に移動させ、複数個の
試料支持部材は段進させることを特徴とする特許請求の
範囲第1項又は第2項記載の化学反応モニタ一方法。 4 前記アナログ電気信号を用いて各試料支持部材内の
中味のビーム透過率に比例したデジタル出力を発生させ
、移動するホトメータ装置からこのデジタル出力を送信
装置により送信し、この送信装置はホトメータ装置と一
緒に移動させ、その送信デジタル出力を固定受信装置に
供給することを特徴とする特許請求の範囲第1項乃至第
3項のいずれかに記載の化学反応モニタ一方法。 5 清浄な試料支持部材を順次に供給し、これら試料支
持部材に複数個の試料及び試薬源から部分標本及び試薬
を順次に供給して複数個の試料支持部材内の化学反応の
モニターを連続動作モードで行ない得るようにしたこと
を特徴とする特許請求の範囲第1項乃至第4項のいずれ
かに記載の化学反応モニタ一方法。 6 試料、部分標本及び試薬の識別及び使用に関する入
力情報を受信し、これらを制御し、相関させ、その結果
を出力するようにしたことを特徴とする特許請求の範囲
第1項乃至第5項のいずれかに記載の化学反応モニタ一
方法。 1 前記輻射エネルギービーム路を2部分に分割し、画
部分を試料支持部材の異なる層に通過するように向け、
両ビーム部分の各々から関連するアナログ信号を発生さ
せるようにしたことを特徴とする特許請求の範囲第1項
乃至第6項のいずれかに記載の化学反応モニタ一方法。 8 複数個の輻射エネルギービーム通路を形成し、各ビ
ーム通路は前記試料支持部材を通過させ、各ビーム通路
から各試料支持部材に対する各別のアナログ信号を発生
するようにしたことを特徴とする特許請求の範囲第1項
乃至第7項のいずれたに記載の化学反応モニタ一方法。 9 前記ビーム通路の少くとも2個から受信した輻射エ
ネルギーの異なる波長に応答したアナログ信号を発生さ
せるようにしたことを特徴とする特許請求の範囲第8項
記載の化学反応モニタ一方法。 10輻射エネルギーを少くともある程度透過し得る壁か
ら成る複数個の各試料支持部材内に保持された複数個の
液体等の試料に生ずる化学的反応をモニターする装置に
おいて、支持装置68.γ0と、該支持装置の軸上に回
転自在に装着されたロータ56と、前記支持装置に対し
回転自在にロータと同軸配置されたターンテーブルγ4
と、該ターンテーブルに、前記軸と1司軸的に環状に配
列された複数個の輻射エネルギー透過性試料支持部材3
2と、前記ターンテーブルをその軸を中心に第1回転プ
ログラムに従って回転させてターンチーフルの回転中試
料支持部材を環状通路に沿い走行させる第1駆動装置1
28,130,132゜134と、前記ロータを前記軸
を中心に第2回転プログラムに従って、所定期間中のロ
ータの回転数が同一期間中のターンテーブルの回転数よ
り高くなるように回転させる第2駆動装置64.72と
:前記ロータに装着され、各々少くとも前記標状通路を
貫通して該通路を走行する前記複数個の試料支持部材の
うち任意の試料支持部材内における試料の少くとも1部
を横切る複数個の輻射エネルギービーム通路54と、試
料支持部材がこれらビーム通路を横切るとき各ビーム通
路に沿って透過された任意の輻射エネルギーに応答して
、該試料支持部材内に含まれる試料の化学的状態に関連
する電気信号を発生する装置52とを具えるホトメータ
装置84と、前記ロータに支持された前記電気信号を処
理する装置88と、該処理された信号から有用なデータ
を発生する装置20と、前記ホトメータ装置からの前記
処理された電気信号の略々全部を該データ発生装置に結
合する装置110〜116とを設けたことを特徴とする
化学反応モニター装置。 11 前記ターンテーブルの回転及び前記ロータの回
転を単方向にすると共に同一方向にしたことを特徴とす
る特許請求の範囲第10項記載の化学反応モニター装置
。 12前記ターンテーブルの回転を単方向にし、前記ロー
タの回転を種々の期間で多方向にしたことを特徴とする
特許請求の範囲第10項記載の化学反応モニター装置。 13前記ビ一ム通路を前記軸に対し放射状に配置して、
前記試料支持部材が通る環状通路を常に横切るようにし
たことを特徴とする特許請求の範囲第10項乃至第12
項のいずれかに記載の化学反応モニター装置。 14前記第1駆動装置により前記ターンテーブルをステ
ップ状に回転させて、各試料支持部材が前記支持装置の
固定点に対し移動する移動期間と停止する停止期間とを
発生させるようにしたことを特徴とする特許請求の範囲
第10項乃至第13項のいずれかに記載の化学反応モニ
ター装置。 15前記停止期間を前記移動期間より相当長くし、その
停止期間中に前記ホトメータ装置の動作を可能にし、前
記移動期間中前記ホトメータの動作を不能にする装置を
設けたことを特徴とする特許請求の範囲第14項記載の
化学反応モニター装置。 16前記ホトメータ装置を輻射エネルギー源50と少く
とも1個の輻射エネルギー検出器52で構威し、前記ビ
ーム通路は前記輻射エネルギー源から前記検出器へ直線
に延在させたことを特徴とする特許請求の範囲第10項
乃至第15項のいずれかに記載の化学反応モニター装置
。 112個の輻射エネルギー検出器52’、52“を設け
ると共に、前記ビーム通路を2部分に分割し、画部分を
それぞれ試料支持部材の異なる層に通るように指向させ
る装置150,152を設けたことを特徴とする特許請
求の範囲第16項記載の化学反応モニター装置。 18前記ホトメータ装置は、輻射エネルギー源と少くと
も2個の互に離間した輻射エネルギー検出器とを2個の
半径方向ビーム通路が発生するように配置して、これら
ビーム通路が間隔を置いて配列された試料支持部材を走
査するように構成し、前記輻射エネルギー検出器はそれ
ぞれ異なる波長の入射輻射エネルギーに応答するように
構成したことを特徴とする特許請求の範囲第10項乃至
第15項のいずれかに記載の化学反応モニター装置。 19前記輻射エネルギー源を前記軸に配置した単一の輻
射エネルギー源としたことを特徴とする特許請求の範囲
第16項又は第18項記載の化学反応モニター装置。 20前記輻射エネルギー源を複数の輻射エネルギー源と
し、各源を各別の検出器と整列させてそれらの間にビー
ム通路を形成したことを特徴とする特許請求の範囲第1
8項記載の化学反応モニター装置。 21 輻射エネルギー検出器の数を2個以上とし、これ
ら検出器と前記単一輻射エネルギー源との間に前記ロー
タの軸に対し間隔を置いて放射状に配列されたビーム通
路を形成したことを特徴とする特許請求の範囲第19項
記載の化学反応モニター装置。 22輻射エネルギー検出器の数を2個以上とし、これら
検出器と前記複数個の輻射エネルギー源との間に前記ロ
ータの輪に対し間隔を置いて放射状に配列されたビーム
通路を形成したことを特徴とする特許請求の範囲第20
項記載の化学反応モニター装置。 23少くとも1個の供給ステーション36と、少くとも
1個の抜き取りステーション48を前記支持装置上に設
け、前記ターンテーブルが前記供給ステーションを通過
する際順次の停止期間中に試料を試料支持部材内に順次
に供給すると共に、前記ターンテーブルが前記抜き取り
ステーションを通過する際順次の停止期間中に前記試料
支持部材から前記試料を順次に抜き取るようにしたこと
を特徴とする特許請求の範囲第10項乃至第22項のい
ずれかに記載の化学反応モニター装置。 24前記ホトメーク装置を前記ロータの周縁に間隔を置
いて配列された複数個のホトメータで構威し、各ホトメ
ータは前記ロータの軸に対し、放射状に配置された輻射
エネルギービーム通路を形成する構造を有し、全てのビ
ーム通路は前記環状通路を貫通し、前記ロータが回転す
る試料支持部材が全てのビーム通路を横切るようにし、
各ホトメータには前記輻射エネルギービームが試料支持
部材を通過したときその輻射エネルギービームに応答し
て電気信号を発生する独立の装置を設け、更に、前記デ
ータ発生装置を全てのビーム通路に関して試料の輻射エ
ネルギー吸収率に関するデータを発生するように構成す
ると共に前記電気信号の全てを前記データ発生装置に結
合するよう前記結合装置を構成したことを特徴とする特
許請求の範囲第10項乃至第23項のいずれかに記載の
化学反応モニター装置。 25前記ターンテーブルを前記ロータの上方に近接して
前記軸に取り付け、前記ターンテーブルを前記第1駆動
装置により前記第2駆動装置による前記ロータの回転と
無関係に回転し得るようにしたことを特徴とする特許請
求の範囲第10項乃至第23項のいずれかに記載の化学
反応モニター装置。 26前記各ホトメータの電気信号を処理する装置にはア
ナログデジタル変換器88を設け、前記データ発生装置
は前記ロータに取り付けられた次の素子、即ち前記変換
器の各々の出力端子に接続された入力端子を有するデジ
タルマルチプレクサ92と、輻射エネルギーの吸収率に
関するデジタルデータをビット直列で発生する装置94
と、データビット送信装置106の直列接続を設けると
共に、該データ発生装置には、更に、前記支持装置に組
織的に堆り付けられた次の素子、即ちデータビット受信
装置1Bと、ビット直列−ビット並列論理通信装置10
8と、主制御ユニット20の直列接続を設けたことを特
徴とする特許請求の範囲第24項記載の化学反応モニタ
ー装置。 21前記第1駆動装置により前記ターンテーブルをステ
ップ状に回転させて、各試料支持部材が前記支持装置の
基準点に対し移動する移動期間と停止する停止期間を設
けたことを特徴とする特許請求の範囲第24項乃至第2
6項のいずれかに記載の化学反応モニター装置。 28少くとも2個のホトメータを異なる波長の入射輻射
エネルギーに応答するように構成したことを特徴とする
特許請求の範囲第24項乃至第2T項のいずれかに記載
の化学反応モニター装置。 29前記デ一タ発生装置には少くとも1個の計算装置を
もうけ、前記結合装置には前記支持装置に支持され、前
記計算装置とホトメータとの間に固定通信リンクを構成
する受信機構112,116と、前記ロータに支持され
、前記計算装置とホトメータとの間に回転する通信リン
クを構成する送信機構110,114とを設けたことを
特徴とする特許請求の範囲第10項乃至第28項のいず
れかに記載の化学反応モニター装置。 30前記電気信号を処理する装置には前記電気信号をア
ナログ信号からデジタル信号に変換する装置を設けたこ
とを特徴とする特許請求の範囲第10項乃至第29項の
いずれかに記載の化学反応モニター装置。 31 複数個の試料支持部材によりそれぞれ保持され
た複数の液体等の試料に発生する化学反応をモニターす
る装置において、支持構造68.γ0と、該支持構造上
に第1平面に配置して取り付けられ、該第1平面に直角
な中心軸線の周りに環状に配列された複数個の試料支持
部材32を有する試料支持部材用支持体γ4と、該試料
支持部材用支持体と平行に配置され、前記軸線上に回転
自在に取り付けたロータ56と、該ロータに固定された
ホトメータ84とを具え、該ホトメータには輻射エネル
ギー源50と、該輻射エネルギー源と整列しこれから発
せられる輻射エネルギーのビームを受信する光応答素子
52とを設け、該輻射エネルギー源と光応答素子は前記
ビームがロータの半径方向となるように配置すると共に
、該輻射エネルギー源又は光応答素子の一方を前記試料
支持部材の環状列の内側に、他方を該環状列の外側に配
置し、前記ロータの回転より前記ビームが円板状の軌跡
を描くようにし、前記試料支持部材の環状列と該ビーム
の軌跡との垂直位置関係により該ビームの円板状軌跡が
試料支持部材と成るレベルで交差してこれを走査し、該
ビームが試料支持部材により保持されている試料を横切
るようにし、前記ロータを回転駆動させて、ロータを前
記試料支持部材列に対し1回転以上回転させる場合には
ロータの各回転中に前記ビームが全ての試料支持部材に
順次中くとも1回走査させるようにし、又ロータの回転
を前記試料支持部材列に対し1回転以下とする場合には
その分より少ない回数だけ前記ビームが全ての試料支持
部材を順次走査するようにした駆動装置64.γ2を設
け、前記光応答素子を、前記試料支持部材又所要に応じ
これに保持された試料により生ずる光効果に関連したア
ナログ信号が発生するよう前記ビームに応答させ、前記
光効果からデータを発生するためのデータ発生装置を設
け、該装置を前記支持構造に関連させて回転しないよう
にすると共にデジタル情報に応答させるようにし、前記
ロータに支持され、前記光応答素子に接続して該素子に
より発生されたアナログ信号をデジタル情報に変換する
アナログデジタル変換器88を設け、前記支持構造によ
り支持された固定部及び前記ロータに固定された回転部
を具える結合装置110〜116を設け、該回転部を前
記アナログデジタル変換器に接続してその出力を受信す
るようにし、前記固定部をデータ発生装置20に接続し
たことを特徴とする化学反応モニター装置。 32前記結合装置は前記軸に設けたスリップリング装置
としたことを特徴とする特許請求の範囲第31項記載の
化学反応モニター装置。 お前記試料支持部材用支持体も前記軸に回転自在に装着
し、該試料支持部材用支持体を前記ロータより低速度で
回転させる駆動装置128、130 。 132.134を設けたことを特徴とする特許請求の範
囲第31項又は第32項記載の化学反応モニター装置。 34複数個のホトメータの各々に前記輻射エネルギー源
と整列した独立の光応答素子を設けて各ホトメータに対
し個々のビーム通路を形成したことを特徴とする特許請
求の範囲第31項乃至第33項のいずれかに記載の化学
反応モニター装置。 35複数個のホトメータの各々に独立の輻射エネルギー
源と整夕1ルた独立の光応答素子を設けて各ホトメータ
に対し個々のビーム通路を形成したことを特徴とする特
許請求の範囲第31項乃至第33項のいずれかに記載の
化学反応モニター装置。 36前記ホトメータの前記光応答素子の少くとも2個は
異なる波長の入射輻射エネルギーに応答するようにした
ことを特徴とする特許請求の範囲第34項又は第35項
記載の化学反応モニター装置。 37各試料支持部材をキュヴエットで構威し、その少く
とも1個の壁を輻射エネルギーが透過可能なものとし、
前記キュヴエットは液状試料を保持し得るようにし、各
輻射エネルギービームを前記壁及び所要に応じ前記キュ
ヴエット内の液状試料の一部に通過させて関連する光感
応素子に向かわせるよう配置した特許請求の範囲第31
項記載の化学反応モニター装置。 38前記第1平面が水平で、前記軸線が沿直である特許
請求の範囲第31項記載の化学反応モニター装置。 39前記各キユヴエツトの前記1個の壁と対向する第2
の壁も輻射エネルギーを透過可能とし、各ビームに関連
する前記光応答素子を、前記各第2の壁から順次放射さ
れる輻射エネルギーが受信され得るよう配置した特許請
求の範囲第31項記載の化学反応モニター装置。 40前記試料支持部材用支持体を前記支持構造上に回転
不能に取付けた特許請求の範囲第31項又は第32項記
載の化学反応モニター装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US80816677A | 1977-06-20 | 1977-06-20 | |
| US05/846,337 US4234538A (en) | 1977-10-28 | 1977-10-28 | Apparatus for monitoring chemical reactions and employing moving photometer means |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS548176A JPS548176A (en) | 1979-01-22 |
| JPS5845888B2 true JPS5845888B2 (ja) | 1983-10-13 |
Family
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Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP53073321A Expired JPS5845888B2 (ja) | 1977-06-20 | 1978-06-19 | 化学反応モニタ−方法及び装置 |
Country Status (15)
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|---|---|
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| NO (1) | NO782137L (ja) |
| SE (1) | SE7807015L (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60135466U (ja) * | 1984-02-21 | 1985-09-09 | 当麻 孟 | 吊り戸 |
| JP2013511049A (ja) * | 2009-11-17 | 2013-03-28 | ダイアシス テクノロジーズ エス・ア・エール・エル | 自動分析装置の構成及び操作モード |
Families Citing this family (21)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| ZA783500B (en) * | 1977-06-20 | 1980-02-27 | Coulter Electronics | Apparatus for monitoring chemical reactions and employing moving photometer means |
| JPS55121134A (en) * | 1979-03-13 | 1980-09-18 | Ootake Seisakusho:Kk | Method and system for automatic measurement for absorbance variable |
| US4276258A (en) * | 1980-01-28 | 1981-06-30 | Coulter Electronics, Inc. | Sample and stat feeding system and sample tray |
| US4276051A (en) * | 1980-01-28 | 1981-06-30 | Coulter Electronics, Inc. | System and program for chemical reaction observation with a moving photometer |
| US4308231A (en) * | 1980-08-11 | 1981-12-29 | Coulter Electronics, Inc. | Optical timing and A/D conversion method and apparatus |
| JPS5772047A (en) * | 1980-10-24 | 1982-05-06 | Olympus Optical Co Ltd | Component analyzing method |
| US4344768A (en) * | 1981-03-27 | 1982-08-17 | Baker Instruments Corp. | Automatic pipettor |
| FI64862C (fi) * | 1982-02-05 | 1984-01-10 | Kone Oy | Foerfarande foer fotometrisk maetning av vaetskor i reaktionskaerl och reaktionskaerl |
| JPS5935869U (ja) * | 1982-08-31 | 1984-03-06 | 日本テクトロン株式会社 | 自動化学分析装置 |
| DE3629784A1 (de) * | 1985-04-09 | 1988-03-24 | Brodhag Geb Lebe Helga | Fotometrischer rotationssensor fuer durchscheinende vorlagen |
| US4626598A (en) * | 1985-06-17 | 1986-12-02 | Amoco Corporation | Purification of terephthalic acid |
| US4936682A (en) * | 1987-08-11 | 1990-06-26 | Associates Of Cape Cod, Inc. | Instrument for independently and kinetically measuring light transpassion through a plurality of samples |
| FR2637377B1 (fr) * | 1988-10-03 | 1992-12-11 | Biosema | Analyseur automatique d'echantillons par colorimetrie notamment pour analyses sanguines |
| JP2802096B2 (ja) * | 1989-05-26 | 1998-09-21 | 株式会社日本触媒 | 炭素繊維の製造方法 |
| JPH03223A (ja) * | 1989-05-26 | 1991-01-07 | Nishikawa Rubber Co Ltd | トランスファー成形金型 |
| ID23862A (id) * | 1998-02-20 | 2000-05-25 | Scil Diagnotics Gmbh | Sistem analisis |
| JP2001091463A (ja) * | 1999-09-22 | 2001-04-06 | Tosoh Corp | 小型励起光源を使用したスキャナー型蛍光検出装置 |
| RU2176384C1 (ru) * | 2000-07-11 | 2001-11-27 | Открытое Акционерное Общество "Научно-Производственное Предприятие "Буревестник" | Планшетный фотометр (варианты) |
| ES3037815T3 (en) | 2013-03-15 | 2025-10-07 | Abbott Lab | Automated diagnostic analyzers having vertically arranged carousels and related methods |
| WO2016000216A1 (zh) * | 2014-07-01 | 2016-01-07 | 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 | 一种全血样本检测方法及血液检测仪 |
| US10545162B2 (en) | 2016-07-21 | 2020-01-28 | Siemens Healthcare Diagnostics Inc. | Alignment system for cuvette segments on clinical chemistry instruments |
Family Cites Families (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3748044A (en) * | 1969-09-02 | 1973-07-24 | Abbott Lab | Digital chemical analysis apparatus |
| GB1332334A (en) * | 1970-12-08 | 1973-10-03 | Secr Defence | Optical telemetry systems |
| CH552208A (de) * | 1971-04-27 | 1974-07-31 | Max Planck Gesellschaft | Vorrichtung zur optischen auswertung mehrerer gleichzeitig anfallender fluessiger proben. |
| FR2174340A5 (ja) * | 1972-02-29 | 1973-10-12 | Roussel Uclaf | |
| GB1501883A (en) * | 1973-05-08 | 1978-02-22 | Nat Res Dev | Devices for use in monitoring chemical reactions |
| GB1491880A (en) * | 1974-10-28 | 1977-11-16 | Secr Social Service Brit | Apparatus for use in investigating specimens |
| US3966322A (en) * | 1973-11-08 | 1976-06-29 | Vickers Limited | Device for use in producing a scanning beam of radiation and apparatus for use in investigating specimens |
| US3901600A (en) * | 1974-02-19 | 1975-08-26 | Micromedic Systems Inc | Apparatus for measuring enzyme concentrations using an optical instrument such as a spectrophotometer |
| GB1505312A (en) * | 1975-08-08 | 1978-03-30 | Secr Social Service Brit | Apparatus for use in investigating specimens |
-
1978
- 1978-06-19 CH CH663978A patent/CH637766A5/fr not_active IP Right Cessation
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- 1978-06-19 IE IE1224/78A patent/IE46998B1/en unknown
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60135466U (ja) * | 1984-02-21 | 1985-09-09 | 当麻 孟 | 吊り戸 |
| JP2013511049A (ja) * | 2009-11-17 | 2013-03-28 | ダイアシス テクノロジーズ エス・ア・エール・エル | 自動分析装置の構成及び操作モード |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| GB2000284A (en) | 1979-01-04 |
| AU3725078A (en) | 1980-01-03 |
| CA1116430A (en) | 1982-01-19 |
| FR2395501A1 (fr) | 1979-01-19 |
| NO782137L (no) | 1978-12-21 |
| GB2083616A (en) | 1982-03-24 |
| IL54943A (en) | 1982-02-28 |
| IE46998B1 (en) | 1983-11-30 |
| JPS548176A (en) | 1979-01-22 |
| AU516204B2 (en) | 1981-05-21 |
| SE7807015L (sv) | 1978-12-21 |
| GB2083616B (en) | 1982-12-15 |
| CH637766A5 (fr) | 1983-08-15 |
| GB2083617B (en) | 1982-12-15 |
| IT7849936A0 (it) | 1978-06-19 |
| GB2000284B (en) | 1982-03-31 |
| FR2395501B1 (ja) | 1984-07-13 |
| IE781224L (en) | 1978-12-20 |
| DK275978A (da) | 1978-12-21 |
| GB2083617A (en) | 1982-03-24 |
| DE2826876A1 (de) | 1979-01-11 |
| DE2826876C2 (ja) | 1987-10-01 |
| NL7806560A (nl) | 1978-12-22 |
| ES470918A1 (es) | 1979-09-16 |
| IT1105417B (it) | 1985-11-04 |
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