JPS5850034B2 - 光起電力装置 - Google Patents
光起電力装置Info
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- JPS5850034B2 JPS5850034B2 JP53035944A JP3594478A JPS5850034B2 JP S5850034 B2 JPS5850034 B2 JP S5850034B2 JP 53035944 A JP53035944 A JP 53035944A JP 3594478 A JP3594478 A JP 3594478A JP S5850034 B2 JPS5850034 B2 JP S5850034B2
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F77/00—Constructional details of devices covered by this subclass
- H10F77/30—Coatings
- H10F77/306—Coatings for devices having potential barriers
- H10F77/311—Coatings for devices having potential barriers for photovoltaic cells
- H10F77/315—Coatings for devices having potential barriers for photovoltaic cells the coatings being antireflective or having enhancing optical properties
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
- Y02E10/547—Monocrystalline silicon PV cells
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- Photovoltaic Devices (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は光起電力装置の無反射条件の改良、特に薄膜
の活性領域を持つ光起電力装置の無反射特性の微細調整
に関する。
の活性領域を持つ光起電力装置の無反射特性の微細調整
に関する。
太陽電池の様な光起電力装置における綜合電力発生効率
は光が太陽電池の活性領域に入射吸収される効率に直接
依存する。
は光が太陽電池の活性領域に入射吸収される効率に直接
依存する。
光起電力装置の活性領域とは光すなわち太陽輻射が吸収
され、それによって電荷担体を発生させる領域のことで
ある。
され、それによって電荷担体を発生させる領域のことで
ある。
太陽電池の電力は活性領域あるいはその内部の半導体接
合によってこれら光により発生した電荷担体を捕集する
ことによって得られる。
合によってこれら光により発生した電荷担体を捕集する
ことによって得られる。
単結晶シリコン太陽電池の場合、電荷釦体の拡散距離は
比較的長くて最大的100μである。
比較的長くて最大的100μである。
従って、半導体接合から約100μ以内で発生した電子
正孔対は太陽電池で発生する電力に寄与することになる
。
正孔対は太陽電池で発生する電力に寄与することになる
。
この場合、光を太陽電池内部まで有効に入射させるため
に、太陽電池表面上に広帯域の反射防止層を具備する必
要がある。
に、太陽電池表面上に広帯域の反射防止層を具備する必
要がある。
この反射防止層は通常表面に形成された誘電体材料の薄
膜から成り、光の反射を抑制して太陽電池中への光の透
過率を向上する。
膜から成り、光の反射を抑制して太陽電池中への光の透
過率を向上する。
一般に、厚さ数μ以下の薄膜活性領域を持つ多くの光起
電力装置の場合、光によって発生した電荷担体の拡散距
離は単結晶シリコンのような良質の結晶材料の厚い活性
領域を持つ光起電力装置の拡散距離に比較して著しく短
かい。
電力装置の場合、光によって発生した電荷担体の拡散距
離は単結晶シリコンのような良質の結晶材料の厚い活性
領域を持つ光起電力装置の拡散距離に比較して著しく短
かい。
この拡散距離が短かいことは、薄膜材料が多結晶あるい
は非晶質のため電荷担体易動度が低いことによる。
は非晶質のため電荷担体易動度が低いことによる。
光起電力装置の薄膜活性領域はシラン中におけるグロー
放電によって作られた非晶質シリコンのような材料で形
成し得るが、一般にシラン中のグロー放電によって制作
した非晶質シリコン中の正孔の拡散距離は単結晶シリコ
ン中における100μに比較して非常に短か(僅かに3
oooAである。
放電によって作られた非晶質シリコンのような材料で形
成し得るが、一般にシラン中のグロー放電によって制作
した非晶質シリコン中の正孔の拡散距離は単結晶シリコ
ン中における100μに比較して非常に短か(僅かに3
oooAである。
しかしながら、上記のような薄膜活性領域を持つ光起電
力装置は、より高品質の結晶で作られた厚い活性領域を
持つ光起電力装置と比較して安価に製作でき、従って経
済的に有利である。
力装置は、より高品質の結晶で作られた厚い活性領域を
持つ光起電力装置と比較して安価に製作でき、従って経
済的に有利である。
エアマス−1(AMl) の太陽スペクトルは、その
エネルギの相当部分を太陽スペクトルの高波長部分と呼
ばれる波長6000Å以上の光子中に含み、この6oo
oA以上の波長の太陽輻射は、シラン中のグロー放電に
よって作られた非晶質シリコンを含む薄膜活性領域材料
の多くにおいて、これらの材料中で発生する電荷担体の
拡散距離以上の光学吸収距離を示す。
エネルギの相当部分を太陽スペクトルの高波長部分と呼
ばれる波長6000Å以上の光子中に含み、この6oo
oA以上の波長の太陽輻射は、シラン中のグロー放電に
よって作られた非晶質シリコンを含む薄膜活性領域材料
の多くにおいて、これらの材料中で発生する電荷担体の
拡散距離以上の光学吸収距離を示す。
このことは薄膜活性領域を持つ太陽電池を厚い活性領域
を持つ太陽電池の場合と同一の設計理論で製作すると、
太陽スペクトルの高波長部分がこの薄膜の活性領域に少
しも吸収されないため太陽電池の効率は零になってしま
う。
を持つ太陽電池の場合と同一の設計理論で製作すると、
太陽スペクトルの高波長部分がこの薄膜の活性領域に少
しも吸収されないため太陽電池の効率は零になってしま
う。
このため、太陽スペクトルの高波長部分の吸収率の高い
薄膜活性領域を持つ光起電力装置を設計することが望ま
しい。
薄膜活性領域を持つ光起電力装置を設計することが望ま
しい。
光起電力装置は活性領域を持つ本体と太陽輻射を捕集す
るための入射面を持つ光透過層を具備するが、この発明
ではこの光透過層の厚さを第1の波長の太陽輻射に対し
て入射面が無反射性を呈するように、また光透過層と活
性領域との綜合厚さを第1の波長より長い第2の波長の
太陽輻射に対して上記入射面が無反射性を呈するように
選ぶ。
るための入射面を持つ光透過層を具備するが、この発明
ではこの光透過層の厚さを第1の波長の太陽輻射に対し
て入射面が無反射性を呈するように、また光透過層と活
性領域との綜合厚さを第1の波長より長い第2の波長の
太陽輻射に対して上記入射面が無反射性を呈するように
選ぶ。
次に添付図面を参照しつつこの発明をさらに詳細に説明
する。
する。
第1図にこの発明の光起電力装置の第1の実施例を10
で示す。
で示す。
この光起電力装置10はショットキ障壁型太陽電池とし
て例示するが、当業者に明らかなように、この発明は太
陽電池でも光検出器でもよく、また、PN接合構造、P
IN接合構造または異種接合構造等の他の半導体接合を
持つものでもよい。
て例示するが、当業者に明らかなように、この発明は太
陽電池でも光検出器でもよく、また、PN接合構造、P
IN接合構造または異種接合構造等の他の半導体接合を
持つものでもよい。
ショットキ障壁型太陽電池10は薄膜活性領域12を含
む本体11を有する。
む本体11を有する。
この薄膜活性領域12の厚さは約0.1〜10μで、活
性領域とは太陽光線を吸収して電荷担体を発生すること
のできる本体110部分を意味し、良好な光吸収特性を
持つ薄膜半導体材料から作られる。
性領域とは太陽光線を吸収して電荷担体を発生すること
のできる本体110部分を意味し、良好な光吸収特性を
持つ薄膜半導体材料から作られる。
この発明の説明の便宜上活性領域12はシラン中のグロ
ー放電で作られた非晶質シリコンから成るものとするが
、この活性領域12は多結晶ガリウム砒素やカドミウム
・テルル等の他の薄膜半導体材料から作ることもできる
。
ー放電で作られた非晶質シリコンから成るものとするが
、この活性領域12は多結晶ガリウム砒素やカドミウム
・テルル等の他の薄膜半導体材料から作ることもできる
。
活性領域12の一方の表面は基板14に接している。
この基板14は入射する太陽輻射を反射すると同時に活
性領域12と良好な電気的接触を作る例えばアルミニウ
ムのような材料から成り、活性領域12に対する電気的
接触として働く。
性領域12と良好な電気的接触を作る例えばアルミニウ
ムのような材料から成り、活性領域12に対する電気的
接触として働く。
基板14とは反対側の活性領域120表面13には金属
薄膜18が被着されている。
薄膜18が被着されている。
この金属薄膜18は表面13上で非晶質シリコンの活性
領域12とショットキ障壁すなわち表面障壁型接合を形
成することのできる連続した金属薄膜である。
領域12とショットキ障壁すなわち表面障壁型接合を形
成することのできる連続した金属薄膜である。
通常ドープしない非晶質シリコンは僅かにN型であるか
ら、金属薄膜18はショットキ障壁を形成するためには
4.5eV以上の高い仕事函数を持つ金属でなげればな
らない。
ら、金属薄膜18はショットキ障壁を形成するためには
4.5eV以上の高い仕事函数を持つ金属でなげればな
らない。
これに適する高い仕事函数を持つ金属として、白金、イ
ンジウム、ロジウム、パラジウムがあげられる。
ンジウム、ロジウム、パラジウムがあげられる。
さらに、金属薄膜18は太陽輻射に対して少なくとも半
透明であるように薄く、かつ比較的低い層抵抗を持つも
のでなげればならない。
透明であるように薄く、かつ比較的低い層抵抗を持つも
のでなげればならない。
この金属薄膜18に必要な光透過特性と低い薄膜抵抗の
値はその金属薄膜が連続薄膜ということと共に薄膜の膜
厚を決定する因子となることは当業者に明らかである。
値はその金属薄膜が連続薄膜ということと共に薄膜の膜
厚を決定する因子となることは当業者に明らかである。
金属薄膜18の活性領域12と反対側の面には太陽輻射
24が基体11に入射することができる入射面22を持
つ光透過層20が配置されている。
24が基体11に入射することができる入射面22を持
つ光透過層20が配置されている。
この光透過層20は2酸化チタン、酸化ジルコニウム、
窒化シリコンのような太陽輻射を実質的に透過させる誘
電体材料から成る。
窒化シリコンのような太陽輻射を実質的に透過させる誘
電体材料から成る。
シラン中のグロー放電によって製作された非晶質シリコ
ンの活性領域12は約3500〜5000大の範囲の太
陽輻射が強く吸収されるような太陽スペクトルに対する
吸収曲線を持つ(以後この領域を高吸収領域と呼ぶ)が
、非晶質シリコンの活性領域12による吸収は5000
Å以上の波長の太陽輻射に対して減少する(以後この領
域を低吸収領域と呼ぶ)。
ンの活性領域12は約3500〜5000大の範囲の太
陽輻射が強く吸収されるような太陽スペクトルに対する
吸収曲線を持つ(以後この領域を高吸収領域と呼ぶ)が
、非晶質シリコンの活性領域12による吸収は5000
Å以上の波長の太陽輻射に対して減少する(以後この領
域を低吸収領域と呼ぶ)。
光透過層2001つの機能は非晶質シリコンの吸収曲線
の高吸収領域の太陽輻射がほとんど反射することなく入
射面22に入射するようにすることである。
の高吸収領域の太陽輻射がほとんど反射することなく入
射面22に入射するようにすることである。
このため光透過層20の厚さは高吸収領域の第1の所定
波長の太陽光線に対し入射面22で反射しない様に選択
しなげればならない。
波長の太陽光線に対し入射面22で反射しない様に選択
しなげればならない。
この第1の所定波長は高吸収領域の太陽輻射が活性預域
12で最大限吸収されて第1の無反射条件が成立するよ
うに選ぶ。
12で最大限吸収されて第1の無反射条件が成立するよ
うに選ぶ。
金属薄膜18の膜厚はこの第1の無反射条件に合致する
とき若干光透過層20の厚さに影響を及ぼす。
とき若干光透過層20の厚さに影響を及ぼす。
この発明の最も有用な点は、光透過層20と活性領域1
2との綜合厚さを低吸収領域の第2の所定波長に合わせ
て装置10の吸収能をこの低吸収領域でも向上させたこ
とにある。
2との綜合厚さを低吸収領域の第2の所定波長に合わせ
て装置10の吸収能をこの低吸収領域でも向上させたこ
とにある。
この第2の所定波長は活性領域12で吸収される低吸収
領域の太陽輻射量を最大にするように選択される。
領域の太陽輻射量を最大にするように選択される。
この吸収能の向上は低吸収領域の太陽輻射に対して入射
面22で第2の無反射条件が成立するためである。
面22で第2の無反射条件が成立するためである。
活性領域12がシラン中のグロー放電による非晶質シリ
コンで作られる場合、光透過層20が約5oooAの波
長(第1の所定波長)の太陽輻射に対し無反射性を呈す
るような厚さを持ち、活性領域12と光透過層20とが
約6500穴の波長(第2の所定波長)の太陽輻射に対
し無反射性を呈するような綜合厚さを持つことが望まし
い。
コンで作られる場合、光透過層20が約5oooAの波
長(第1の所定波長)の太陽輻射に対し無反射性を呈す
るような厚さを持ち、活性領域12と光透過層20とが
約6500穴の波長(第2の所定波長)の太陽輻射に対
し無反射性を呈するような綜合厚さを持つことが望まし
い。
この場合、第2の所定波長は第1の所定波長よりも長い
。
。
当業者に周知のごとく、無反射層または無反射条件の設
計においである特定の輻射波長を選ぶと、その無反射条
件は入射面における反射がその波長で最低になるように
働ら(。
計においである特定の輻射波長を選ぶと、その無反射条
件は入射面における反射がその波長で最低になるように
働ら(。
この選択波長近傍(僅かに長波長側もしくは短波長側)
の太陽輻射に対しても入射面は比較的低い反射率を持つ
が、輻射波長が選択波長からづれるに従がってその入射
面の反射率は高くなる。
の太陽輻射に対しても入射面は比較的低い反射率を持つ
が、輻射波長が選択波長からづれるに従がってその入射
面の反射率は高くなる。
第2図には第1および第2の所定波長5000Aおよび
6500穴に対する入射面22の反射率が4250〜6
750大の波長範囲の太陽輻射に対して比較的低いこと
が示されている。
6500穴に対する入射面22の反射率が4250〜6
750大の波長範囲の太陽輻射に対して比較的低いこと
が示されている。
太陽電池10の動作時には、活性領域12を最初に通過
する間に吸収されない第2の所定波長近傍の太陽輻射が
反射基板14によって反射されて活性領域12に戻され
、次に活性領域12を通過する間に吸収される。
する間に吸収されない第2の所定波長近傍の太陽輻射が
反射基板14によって反射されて活性領域12に戻され
、次に活性領域12を通過する間に吸収される。
しかし、第2の所定波長近傍の太陽輻射が活性領域12
の2回目の通過で吸収されなくても、入射面22は第2
の所定波長近傍の太陽輻射を反射しないため、この太陽
輻射は入射面22から装置10を出ていくことができな
い。
の2回目の通過で吸収されなくても、入射面22は第2
の所定波長近傍の太陽輻射を反射しないため、この太陽
輻射は入射面22から装置10を出ていくことができな
い。
このため活性領域12によって僅かしか吸収されないこ
の太陽輻射は光透過層20と活性領域12との内部でほ
とんど捕捉され、それによって活性領域12中での吸収
される確率が高くなる。
の太陽輻射は光透過層20と活性領域12との内部でほ
とんど捕捉され、それによって活性領域12中での吸収
される確率が高くなる。
この太陽輻射の捕捉は、吸収されやすい第1の所定波長
の輻射に対しては普通これが活性領域12の最初の通過
で吸収されてしまうために起らない。
の輻射に対しては普通これが活性領域12の最初の通過
で吸収されてしまうために起らない。
第3図に従来型のシラン中のグロー放電によって製作し
た非晶質シリコンの活性領域を持つ太陽電池とこの発明
の太陽電池の太陽輻射吸収効率の比較を示す。
た非晶質シリコンの活性領域を持つ太陽電池とこの発明
の太陽電池の太陽輻射吸収効率の比較を示す。
図中の曲線Aは従来型の非晶質シリコンの太陽電池の吸
収効率を、曲線Bはこの発明の太陽電池10の吸収効率
を示す。
収効率を、曲線Bはこの発明の太陽電池10の吸収効率
を示す。
ここで比較のため選んだ従来型の太陽電池にシラン中の
グロー放電によって製作した厚さ約10μの活性領域を
持つもので、この活性領域はアルミニウムのような材料
の基板に隣接して形成されている。
グロー放電によって製作した厚さ約10μの活性領域を
持つもので、この活性領域はアルミニウムのような材料
の基板に隣接して形成されている。
この活性領域の背面接触部と反対側の表面には白金の薄
膜が被着されてショットキ障壁を形成している。
膜が被着されてショットキ障壁を形成している。
この白金薄膜の厚さは約75久である。
活性領域と反対側の白金薄膜面には厚さ約340人の酸
化チタン(T i02 )の反射防止層が形成され、波
長的5oooAの太陽輻射に対して無反射状態を呈する
ようになっている。
化チタン(T i02 )の反射防止層が形成され、波
長的5oooAの太陽輻射に対して無反射状態を呈する
ようになっている。
この発明の太陽電池10の光透過層20と金属薄膜18
とは上記従来型の太陽電池と同一材料、同一厚さのもの
で、やはり5oooAの太陽輻射に対し無反射状態を呈
する。
とは上記従来型の太陽電池と同一材料、同一厚さのもの
で、やはり5oooAの太陽輻射に対し無反射状態を呈
する。
しかし活性領域1また厚さ約3250久でアルミニウム
の反射基板14上にあり、この活性領域12の厚さは光
透過層20との綜合厚さが約6500Aの太陽輻射に対
する第2の無反射状態を呈するように選ばれているため
、第3図においてこの発明の太陽電池10を示す曲線B
の下に斜線で示されるように、明らかに太陽光子束の吸
収の増加が見られる。
の反射基板14上にあり、この活性領域12の厚さは光
透過層20との綜合厚さが約6500Aの太陽輻射に対
する第2の無反射状態を呈するように選ばれているため
、第3図においてこの発明の太陽電池10を示す曲線B
の下に斜線で示されるように、明らかに太陽光子束の吸
収の増加が見られる。
従来型の非晶質シリコンの太陽電池の光子変換効率は約
28%であるのに対し、この発明の太陽電池10の変換
効率は約33%となり、従来型の太陽電池の初期効率に
比べ18%も増加している。
28%であるのに対し、この発明の太陽電池10の変換
効率は約33%となり、従来型の太陽電池の初期効率に
比べ18%も増加している。
太陽電池10を製造するときは、例えばアルミニウムの
基板14を通常のグロー放電装置中に置き、実質的にシ
ランの雰囲気中でグロー放電を行なって基板14上に非
晶質シリコンの活性領域12を被着した後、その活性領
域12を含む基板14を通常の蒸着装置に入れて活性領
域12上に金属薄膜18を蒸着し、さらにその金属薄膜
18上に光透過層20を被着形成する。
基板14を通常のグロー放電装置中に置き、実質的にシ
ランの雰囲気中でグロー放電を行なって基板14上に非
晶質シリコンの活性領域12を被着した後、その活性領
域12を含む基板14を通常の蒸着装置に入れて活性領
域12上に金属薄膜18を蒸着し、さらにその金属薄膜
18上に光透過層20を被着形成する。
第4図にこの発明の光起電力装置の第2の実施例を11
0で示す。
0で示す。
第1の実施例で説明したのと同様に、第2の実施例もシ
ョットキ障壁型太陽電池であるとする。
ョットキ障壁型太陽電池であるとする。
太陽電池110の本体111は光吸収特性の良い薄膜半
導体材料の活性領域112を持つ。
導体材料の活性領域112を持つ。
この場合も説明の便宜上、活性領域112はシラン中の
グロー放電によって形成される非晶質シリコンから戒る
ものとするが、第1の実施例と異なり、この活性領域1
12はシラン中のグロー放電によって形成されたドープ
されていない非晶質シリコンの第1層113と、この第
1層113に隣接して、シランとドーピングガスとの混
合気体中のグロー放電によって形成されたドープされた
非晶質シリコンの第2層115から成る。
グロー放電によって形成される非晶質シリコンから戒る
ものとするが、第1の実施例と異なり、この活性領域1
12はシラン中のグロー放電によって形成されたドープ
されていない非晶質シリコンの第1層113と、この第
1層113に隣接して、シランとドーピングガスとの混
合気体中のグロー放電によって形成されたドープされた
非晶質シリコンの第2層115から成る。
第2層115は高濃度にドープして、たとエバ0.1原
子%の燐を含むことが望ましい。
子%の燐を含むことが望ましい。
第1層113を原さ約3ooo久とすれば第2層115
は通常約200人の厚さとなる。
は通常約200人の厚さとなる。
活性領域112、評言すればその第1層113は基板1
14の表面上にあり、この基板114も第1の実施例の
基板14と同様に太陽輻射を反射する材料で作られるが
、この場合は同時に活性領域112とショットキ障壁す
なわち表面障壁型接合を形成することのできる材料でも
ある。
14の表面上にあり、この基板114も第1の実施例の
基板14と同様に太陽輻射を反射する材料で作られるが
、この場合は同時に活性領域112とショットキ障壁す
なわち表面障壁型接合を形成することのできる材料でも
ある。
基板114に適する材料としてロジウム、イリジウム、
白金等の金属があげられる。
白金等の金属があげられる。
第2層115の基板114と反対側の面にはこの第2層
115に対し良好な電気的接触すなわちオーム接触を作
ることのできる金材料からなる金属層117がある。
115に対し良好な電気的接触すなわちオーム接触を作
ることのできる金材料からなる金属層117がある。
白金がこの材料の1例である。金属層117もまた太陽
輻射に対して実質的に透明で、通常約50A程度の比較
的薄い厚さのものである。
輻射に対して実質的に透明で、通常約50A程度の比較
的薄い厚さのものである。
金属層1170表面には入射面122を持つ太陽輻射透
過層120が形成されている。
過層120が形成されている。
第1の実施例の透過層20と同様に、この透過層120
も太陽輻射に対して実質的に透明であると同時に金属層
117と良好な電気的接触を作ることのできるものであ
る。
も太陽輻射に対して実質的に透明であると同時に金属層
117と良好な電気的接触を作ることのできるものであ
る。
光透過層1200条件を満たすことのできる材料として
、例えば酸化インジウム錫がある。
、例えば酸化インジウム錫がある。
金属層1170目的は光透過層120と活性領域112
との間で電気的接触を形成し、整流性の接合を作らない
ようにすることである。
との間で電気的接触を形成し、整流性の接合を作らない
ようにすることである。
さらに、金属層117に隣接して第2層115のような
高濃度ドープ層があるため金属層117と活性領域11
2間で良好な電気的接触が形成される。
高濃度ドープ層があるため金属層117と活性領域11
2間で良好な電気的接触が形成される。
ドープされていない非晶質シリコンの第1層113は僅
かにN型であるから、第2層115としては同一の導電
型で高濃度にドープしたものでなげればならない。
かにN型であるから、第2層115としては同一の導電
型で高濃度にドープしたものでなげればならない。
例えば第2層115は燐のようなN型不純物でドープす
ることができる。
ることができる。
この発明の第1の実施例と同様に、太陽電池110の光
透過層120は第1の所定波長に対し入射面122で第
1の無反射条件を満たす様な厚さを持ち、さらに光透過
層120と活性領域112との綜合厚さは第2の所定波
長に対し入射面122で第2の無反射条件を満たすよう
に選定されている。
透過層120は第1の所定波長に対し入射面122で第
1の無反射条件を満たす様な厚さを持ち、さらに光透過
層120と活性領域112との綜合厚さは第2の所定波
長に対し入射面122で第2の無反射条件を満たすよう
に選定されている。
第1の実施例の場合と同様、金属層117の厚さは第1
の無反射条件を満足させる光透過層120の厚さに若干
影響を及ぼす。
の無反射条件を満足させる光透過層120の厚さに若干
影響を及ぼす。
第2の実施例では光透過層120と活性領域112との
間に電気的整流作用防止用の金属層117を設けたが、
この整流作用はドープした第2層115単独でも、すな
わち金属層117なしでも防止し得ることは容易に考え
られる。
間に電気的整流作用防止用の金属層117を設けたが、
この整流作用はドープした第2層115単独でも、すな
わち金属層117なしでも防止し得ることは容易に考え
られる。
この発明の第1および第2の実施例は本体内におけるシ
ョットキ障壁の位置が異なるが、その動作は本質的に同
じである。
ョットキ障壁の位置が異なるが、その動作は本質的に同
じである。
シラン中のグロー放電によって形成した非晶質シリコン
の活性領域112と白金の基板114を用いる場合、金
属層117の膜厚を約50A、酸化インジウム錫の光透
過層120の厚さを約525久とすると、第1の無反射
条件は約5000人の波長で成立する。
の活性領域112と白金の基板114を用いる場合、金
属層117の膜厚を約50A、酸化インジウム錫の光透
過層120の厚さを約525久とすると、第1の無反射
条件は約5000人の波長で成立する。
さらに、活性領域112の厚さは約320OAで、活性
領域112と光透過層120との綜合厚さが約6500
穴の波長の太陽輻射に対し入射面122で第2の無反射
条件を形成するようになっている。
領域112と光透過層120との綜合厚さが約6500
穴の波長の太陽輻射に対し入射面122で第2の無反射
条件を形成するようになっている。
太陽電池110を製造するときは、まず白金の基板11
4を通常のグロー放電装置に入れ、実質的なシラン雰囲
気中でグロー放電を行なって第1層113を被着した後
、ホスフィンのようなドーピングガスをグロー放電雰囲
気中に導入して第2層115を被着し、次にこの活性領
域112を持つ基板114を通常の蒸着装置に入れて金
属層117と光透過層120とを蒸着する。
4を通常のグロー放電装置に入れ、実質的なシラン雰囲
気中でグロー放電を行なって第1層113を被着した後
、ホスフィンのようなドーピングガスをグロー放電雰囲
気中に導入して第2層115を被着し、次にこの活性領
域112を持つ基板114を通常の蒸着装置に入れて金
属層117と光透過層120とを蒸着する。
この発明の第1の実施例において活性領域12に電気的
接触を形成する手段は基板14および金属薄膜18であ
るが、第2の実施例において活性領域112に電気的接
触を形成する手段は基板114と金属層117に直列に
入った光透過層120である。
接触を形成する手段は基板14および金属薄膜18であ
るが、第2の実施例において活性領域112に電気的接
触を形成する手段は基板114と金属層117に直列に
入った光透過層120である。
この発明の第1および第2の実施例において活性領域と
接触する基板表面を粗面化するか傾げることによって吸
収されない太陽輻射を捕捉する入射面の能力を向上し得
ることはこの発明により容易に予想することができる。
接触する基板表面を粗面化するか傾げることによって吸
収されない太陽輻射を捕捉する入射面の能力を向上し得
ることはこの発明により容易に予想することができる。
この発明の光起電力装置は優れた太陽光子変換効率を持
つ装置を具現する無反射条件の設計基準を提供するもの
に外ならない。
つ装置を具現する無反射条件の設計基準を提供するもの
に外ならない。
第1図はこの発明の光起電力装置の第1の実施例を示す
断面図である。 第2図は第1の所定波長が約5000人、第2の所定波
長が約6500大のこの発明の光起電力装置の太陽輻射
波長対反射率の図表である。 第3図は従来法による太陽電池とこの発明の光起電力装
置との太陽輻射吸収効率の比較を示す図表である。 第4図はこの発明の光起電力装置の第2の実施例を示す
断面図である。 10.110・・・・・・太陽電池、11,111・・
・・・・本体、12,112・・・・・・活性領域、1
4,114・・・・・・基板、18,117・・・・・
・金属薄膜、20゜120・・・・・・光透過層、22
,122・・・・・・光入射面、113・・・・・・活
性領域の第1層、115・・・・・・活性領域の第2層
。
断面図である。 第2図は第1の所定波長が約5000人、第2の所定波
長が約6500大のこの発明の光起電力装置の太陽輻射
波長対反射率の図表である。 第3図は従来法による太陽電池とこの発明の光起電力装
置との太陽輻射吸収効率の比較を示す図表である。 第4図はこの発明の光起電力装置の第2の実施例を示す
断面図である。 10.110・・・・・・太陽電池、11,111・・
・・・・本体、12,112・・・・・・活性領域、1
4,114・・・・・・基板、18,117・・・・・
・金属薄膜、20゜120・・・・・・光透過層、22
,122・・・・・・光入射面、113・・・・・・活
性領域の第1層、115・・・・・・活性領域の第2層
。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 太陽輻射が入射することのできる入射面を持ち、そ
の入射面が太陽輻射スペクトルの第1の所定波長の入射
太陽輻射に対し実質的に無反射性を呈するような厚さを
持つ太陽輻射透過層と、この透過層との綜合厚さが、上
記入射面が太陽輻射スペクトル中で上記第1の所定波長
よりも長い第2の所定波長の入射太陽輻射に対し実質的
に無反射性を呈するような活性領域とを含む本体を持つ
光起電力装置。 2 太陽輻射が入射することのできる入射面を持ち、そ
の入射面が太陽輻射スペクトルの第1の所定波長の入射
太陽輻射に対し実質的に無反射性を呈するような厚さを
持つ太陽幅対透過層と、この透過層との綜合厚さが、上
記入射面が太陽輻射スペクトル中で上記第1の所定波長
よりも長い第2の所定波長の入射太陽輻射に対し実質的
に無反射性を呈するような活性領域と、上記透過層と活
性領域との間にあって両者に隣接する金属層とを有し、
この金属層は上記活性領域と表面障壁型接合を形成する
ことができる材料から成る光起電力装置。 3 上記活性領域が同一の導電型の第1層と第2層とを
含み、上記第1層より第2層の方が高い不純物濃度を持
つ特許請求の範囲第1項記載の光起電力装置。
Applications Claiming Priority (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US78219077A | 1977-03-28 | 1977-03-28 | |
| US000000782190 | 1977-03-28 | ||
| US000000848250 | 1977-11-03 | ||
| US05/848,250 US4126150A (en) | 1977-03-28 | 1977-11-03 | Photovoltaic device having increased absorption efficiency |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS53120394A JPS53120394A (en) | 1978-10-20 |
| JPS5850034B2 true JPS5850034B2 (ja) | 1983-11-08 |
Family
ID=27119964
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP53035944A Expired JPS5850034B2 (ja) | 1977-03-28 | 1978-03-27 | 光起電力装置 |
Country Status (9)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5850034B2 (ja) |
| AU (1) | AU517084B2 (ja) |
| DE (1) | DE2812547A1 (ja) |
| EG (1) | EG13199A (ja) |
| ES (1) | ES468085A1 (ja) |
| FR (1) | FR2386143A1 (ja) |
| GB (1) | GB1597037A (ja) |
| HK (1) | HK77286A (ja) |
| IT (1) | IT1092849B (ja) |
Families Citing this family (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4163677A (en) * | 1978-04-28 | 1979-08-07 | Rca Corporation | Schottky barrier amorphous silicon solar cell with thin doped region adjacent metal Schottky barrier |
| JPS56152276A (en) * | 1980-04-25 | 1981-11-25 | Teijin Ltd | Solar cell made of amorphous silicon thin film |
| DE3023165A1 (de) * | 1980-06-20 | 1982-01-07 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Solarzelle aus amorphem silizium |
| DE3048381C2 (de) * | 1980-12-22 | 1985-09-05 | Messerschmitt-Bölkow-Blohm GmbH, 8000 München | Dünnschicht-Solarzelle |
| IL67926A (en) * | 1982-03-18 | 1986-04-29 | Energy Conversion Devices Inc | Photo-voltaic device with radiation reflector means |
| DE3234096A1 (de) * | 1982-09-14 | 1984-03-15 | Messerschmitt-Bölkow-Blohm GmbH, 8000 München | Bauelemente und arrays aus silizium zur detektion von infrarotem licht |
| JPS5976481A (ja) * | 1982-10-25 | 1984-05-01 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 光電変換半導体装置 |
| US4497974A (en) * | 1982-11-22 | 1985-02-05 | Exxon Research & Engineering Co. | Realization of a thin film solar cell with a detached reflector |
| AU576594B2 (en) * | 1984-06-15 | 1988-09-01 | Kanegafuchi Kagaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Heat-resistant thin film photoelectric converter |
| JPH0537484Y2 (ja) * | 1987-11-30 | 1993-09-22 | ||
| JPH01175269A (ja) * | 1987-12-29 | 1989-07-11 | Nippon Mining Co Ltd | 太陽電池 |
| JP2717583B2 (ja) * | 1988-11-04 | 1998-02-18 | キヤノン株式会社 | 積層型光起電力素子 |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3176679A (en) * | 1963-10-09 | 1965-04-06 | Engelhard Ind Inc | Solar energy collector |
| US3533850A (en) * | 1965-10-13 | 1970-10-13 | Westinghouse Electric Corp | Antireflective coatings for solar cells |
| DE2405587A1 (de) * | 1973-02-13 | 1974-08-15 | Communications Satellite Corp | Sonnenzelle und verfahren zu ihrer herstellung |
| US3973994A (en) * | 1974-03-11 | 1976-08-10 | Rca Corporation | Solar cell with grooved surface |
| US3988167A (en) * | 1975-03-07 | 1976-10-26 | Rca Corporation | Solar cell device having improved efficiency |
| AU503228B2 (en) * | 1975-07-28 | 1979-08-30 | Rca Corp. | Semiconductor device |
-
1978
- 1978-02-28 EG EG117/78A patent/EG13199A/xx active
- 1978-02-28 IT IT20753/78A patent/IT1092849B/it active
- 1978-03-21 ES ES468085A patent/ES468085A1/es not_active Expired
- 1978-03-22 DE DE19782812547 patent/DE2812547A1/de active Granted
- 1978-03-23 GB GB11626/78A patent/GB1597037A/en not_active Expired
- 1978-03-23 AU AU34443/78A patent/AU517084B2/en not_active Expired
- 1978-03-27 JP JP53035944A patent/JPS5850034B2/ja not_active Expired
- 1978-03-28 FR FR7808858A patent/FR2386143A1/fr active Granted
-
1986
- 1986-10-16 HK HK772/86A patent/HK77286A/xx unknown
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| FR2386143A1 (fr) | 1978-10-27 |
| AU3444378A (en) | 1979-09-27 |
| EG13199A (en) | 1981-06-30 |
| IT1092849B (it) | 1985-07-12 |
| FR2386143B1 (ja) | 1983-05-27 |
| DE2812547C2 (ja) | 1990-07-19 |
| JPS53120394A (en) | 1978-10-20 |
| ES468085A1 (es) | 1978-12-16 |
| DE2812547A1 (de) | 1978-10-05 |
| AU517084B2 (en) | 1981-07-09 |
| HK77286A (en) | 1986-10-24 |
| IT7820753A0 (it) | 1978-02-28 |
| GB1597037A (en) | 1981-09-03 |
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