JPS5850176A - 溶接用倣い検出装置の異常検出装置 - Google Patents
溶接用倣い検出装置の異常検出装置Info
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- JPS5850176A JPS5850176A JP14803981A JP14803981A JPS5850176A JP S5850176 A JPS5850176 A JP S5850176A JP 14803981 A JP14803981 A JP 14803981A JP 14803981 A JP14803981 A JP 14803981A JP S5850176 A JPS5850176 A JP S5850176A
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 76
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 claims description 18
- 238000013459 approach Methods 0.000 claims description 5
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 abstract description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000013021 overheating Methods 0.000 description 5
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 3
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
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- B23K9/12—Automatic feeding or moving of electrodes or work for spot or seam welding or cutting
- B23K9/127—Means for tracking lines during arc welding or cutting
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- B23K9/1276—Using non-contact, electric or magnetic means, e.g. inductive means
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は溶接用倣い検出装置の異常検出装置に関し、溶
接用倣い検出装置の誤動作や機能喪失という異常を検出
し得るよう企図したものである。
接用倣い検出装置の誤動作や機能喪失という異常を検出
し得るよう企図したものである。
第１図は一般的な溶接用倣い検出装置の概略を示すブロ
ック構成図である。同図に示すようＫ１１ｌｌ用倣い検
出装置はセンサ１と発振回路２と検波出力部３とからな
る。このうち噸ンサｌは、溶接機に備えられて金属性の
被検体４に接近−離反ネるとともに検出コイル５を有し
ている。そしてこの検出コイル５には発振回路２から高
周波電流が流れ込んでいる。このとき被検体４への接近
・離反に起因して前記発振回路２の負荷となっている検
出コイル５のインダクタンスが変化する結果、餉配高局
波電流の電流値特性や周波数特性が変化する。このため
高周波電流の特性に対応した出力を送出する検波出力部
３の検出出力ＥＯは、前記センサ１の被検体４への接近
・離反に従い変化することとなる。したがって検出出力
Ｅｏの出力値により溶接機に備えられたセンサｌと被検
体４との距離りが算出され、この算出値に基づき溶接機
の位置が制御されて適正な溶接が行なわれる。
ック構成図である。同図に示すようＫ１１ｌｌ用倣い検
出装置はセンサ１と発振回路２と検波出力部３とからな
る。このうち噸ンサｌは、溶接機に備えられて金属性の
被検体４に接近−離反ネるとともに検出コイル５を有し
ている。そしてこの検出コイル５には発振回路２から高
周波電流が流れ込んでいる。このとき被検体４への接近
・離反に起因して前記発振回路２の負荷となっている検
出コイル５のインダクタンスが変化する結果、餉配高局
波電流の電流値特性や周波数特性が変化する。このため
高周波電流の特性に対応した出力を送出する検波出力部
３の検出出力ＥＯは、前記センサ１の被検体４への接近
・離反に従い変化することとなる。したがって検出出力
Ｅｏの出力値により溶接機に備えられたセンサｌと被検
体４との距離りが算出され、この算出値に基づき溶接機
の位置が制御されて適正な溶接が行なわれる。
ところでこの種の溶接用倣い検出装置では、溶接の熱に
起因する検出コイル５の過熱により誤動作したり、検出
コイル５の断線により所期の機能を喪失してしまう欠点
があった。
起因する検出コイル５の過熱により誤動作したり、検出
コイル５の断線により所期の機能を喪失してしまう欠点
があった。
本発明は、上記現状に＠み、検出コイルの過熱や断−に
よる溶接倣い検出装置の異常を検出する異常検出装置を
提供することを目的とする。
よる溶接倣い検出装置の異常を検出する異常検出装置を
提供することを目的とする。
かかる目的を達成する本発明の構成は、溶接機に備えら
れて金属性の被検体に接近・離反するセンナの検出コイ
ルに発振回路から高周波電流を流すとともに、前記被検
体への接近・離反に起因する前記検出コイルのインダク
タンスの変化により発生する前記高周波電流の電流値の
変化着しくけ周波数の変化を検出して前記被検体と溶接
機との距離に対応した検出出力を送出する溶接用倣い検
出装置において、前記検出コイルＫｌｉ小な直流電流を
流すとともに、前記直流゛電流による検出コイル°にお
ける電圧降下に基づく電圧を検出する検出回路とこめ電
圧があらかじめ設定された所定の電圧値よりも大きい場
合に異常と判定する判定回路とを備えたことを特徴とす
る。
れて金属性の被検体に接近・離反するセンナの検出コイ
ルに発振回路から高周波電流を流すとともに、前記被検
体への接近・離反に起因する前記検出コイルのインダク
タンスの変化により発生する前記高周波電流の電流値の
変化着しくけ周波数の変化を検出して前記被検体と溶接
機との距離に対応した検出出力を送出する溶接用倣い検
出装置において、前記検出コイルＫｌｉ小な直流電流を
流すとともに、前記直流゛電流による検出コイル°にお
ける電圧降下に基づく電圧を検出する検出回路とこめ電
圧があらかじめ設定された所定の電圧値よりも大きい場
合に異常と判定する判定回路とを備えたことを特徴とす
る。
以下本発明の実施例を図面に基づき詳細に説明する。な
お従来技術と同一部分には同一番号を付−し重複する説
明は省略する。
お従来技術と同一部分には同一番号を付−し重複する説
明は省略する。
第２図及び第３図は夫々本発明の実施例を示すブロック
構成図及び回路図である０両図に示すように１本実施例
では発振回路２とセンサ１との間に検出ｉ路６が介装さ
れており、発振回路２で発生した高周波電流は前記検出
回路６を介してセン＋１の検出コイル５に流れるようＫ
なっている。そして通常時には、前述したと同様に、セ
ンサｌが被検体４に接近・離反するに伴い高周波電流の
特性が変化する結果、検出出力Ｅ・の値はセンサ１と被
検体４との距離に対応した値となり適正な＃＊が行なわ
れる。なお検出回路６と発振回路２とは結合用トランス
７を介し、また発振回路２と検波出力部３とはトランジ
スタＴＲＩ 郷により構成された増幅回路を介して結合
されている。前記検出コーイル５には、検出回路６の抵
抗Ｒを介して做小な直流電流が流れるとともに検出回路
６の直流分遮断用のコンデンサＣが直列に接続されてい
る。このためコンデンサＣの両端には、前記直流電流に
よる検出コイル５における電圧降下に対応した電圧畠が
生起される。そしてこの電圧轡の電圧値は、通常時には
所定の電圧値となって、いるが、検出コイル５が過熱さ
れるとこれの抵抗が大きくなるため所定の電圧値より大
きな電圧値となり、吏に検出コイル５が断線するとこれ
の抵抗が無限大となるため更に大きな電圧値となる。ま
た比較回路８には、非反転入力端子が接地された比較器
９が備えられており、この比較器９の反転入力端子には
前記コンデンサＣの正側が抵抗Ｒ１を介して接続される
とともに抵抗Ｒ２及び閾値決定回路１０の可変抵抗Ｖｌ
（を介して負の電源が接続されている。そして比較回路
・８の抵抗Ｒ１と抵抗上との抵抗値は等しくなっている
。このため比較器９の出力電圧Ｃは、電圧＆の絶対値が
闇値電圧すの絶対値よりも小さいときはハイレベルＨと
なり、電圧−の絶対値が閾値電圧すの絶対値よりも大き
いと鎗はロウレベルＬとなる。
構成図及び回路図である０両図に示すように１本実施例
では発振回路２とセンサ１との間に検出ｉ路６が介装さ
れており、発振回路２で発生した高周波電流は前記検出
回路６を介してセン＋１の検出コイル５に流れるようＫ
なっている。そして通常時には、前述したと同様に、セ
ンサｌが被検体４に接近・離反するに伴い高周波電流の
特性が変化する結果、検出出力Ｅ・の値はセンサ１と被
検体４との距離に対応した値となり適正な＃＊が行なわ
れる。なお検出回路６と発振回路２とは結合用トランス
７を介し、また発振回路２と検波出力部３とはトランジ
スタＴＲＩ 郷により構成された増幅回路を介して結合
されている。前記検出コーイル５には、検出回路６の抵
抗Ｒを介して做小な直流電流が流れるとともに検出回路
６の直流分遮断用のコンデンサＣが直列に接続されてい
る。このためコンデンサＣの両端には、前記直流電流に
よる検出コイル５における電圧降下に対応した電圧畠が
生起される。そしてこの電圧轡の電圧値は、通常時には
所定の電圧値となって、いるが、検出コイル５が過熱さ
れるとこれの抵抗が大きくなるため所定の電圧値より大
きな電圧値となり、吏に検出コイル５が断線するとこれ
の抵抗が無限大となるため更に大きな電圧値となる。ま
た比較回路８には、非反転入力端子が接地された比較器
９が備えられており、この比較器９の反転入力端子には
前記コンデンサＣの正側が抵抗Ｒ１を介して接続される
とともに抵抗Ｒ２及び閾値決定回路１０の可変抵抗Ｖｌ
（を介して負の電源が接続されている。そして比較回路
・８の抵抗Ｒ１と抵抗上との抵抗値は等しくなっている
。このため比較器９の出力電圧Ｃは、電圧＆の絶対値が
闇値電圧すの絶対値よりも小さいときはハイレベルＨと
なり、電圧−の絶対値が閾値電圧すの絶対値よりも大き
いと鎗はロウレベルＬとなる。
そこで可変抵抗ＶＲにより闇値電圧ａの絶対値と、検出
コイル５が過熱したときにおける電圧１の絶対値と郷し
くなるよ５Ｋしておけば、イ）通常時には電圧ａの絶対
値が明値電圧すの絶対値よりも小さいため出力電圧Ｃは
ハイレベルＨとなる。このため比較回路８のトランジス
タＴＲ２がＯＦＦ状態となりこれの出力り、がハイレベ
ルＨとなる。したがってベースが前記トランジスタＴＲ
２Ｋ接続された発振回路２のトランジスタＴＲＩのＯＮ
状態が保持されて発振状態が続行される結果、溶接用倣
い検出装置としての所期の動作が行なわれる。また出力
Ｄ・がハイレベルＨとなっているため、カソード側が比
較器９の出力端子Ｋｍ続された表示回路１１の発光ダイ
オードＬＥＤは点灯しない。
コイル５が過熱したときにおける電圧１の絶対値と郷し
くなるよ５Ｋしておけば、イ）通常時には電圧ａの絶対
値が明値電圧すの絶対値よりも小さいため出力電圧Ｃは
ハイレベルＨとなる。このため比較回路８のトランジス
タＴＲ２がＯＦＦ状態となりこれの出力り、がハイレベ
ルＨとなる。したがってベースが前記トランジスタＴＲ
２Ｋ接続された発振回路２のトランジスタＴＲＩのＯＮ
状態が保持されて発振状態が続行される結果、溶接用倣
い検出装置としての所期の動作が行なわれる。また出力
Ｄ・がハイレベルＨとなっているため、カソード側が比
較器９の出力端子Ｋｍ続された表示回路１１の発光ダイ
オードＬＥＤは点灯しない。
口）−力検出コイル５が過熱されると電、圧１の絶対値
が閾値電圧すの絶対値よりも大きくなるため出力電圧Ｃ
はロウレベルＬとなる。このためトランジスタＴＲ２が
ＯＮ状態となりこれの出力ＤｏがロウレベルＬどなる。
が閾値電圧すの絶対値よりも大きくなるため出力電圧Ｃ
はロウレベルＬとなる。このためトランジスタＴＲ２が
ＯＮ状態となりこれの出力ＤｏがロウレベルＬどなる。
したがってトランジスタＴＲ３が０ドＦ状態となり発振
回路８の発振が停止せしめられる。こめ結果検出出力Ｅ
ｏは零となる。また出力電圧ＣがロウレベルＬＫなるた
め発光ダイオードＬＥＤが点灯し、検出コイル５が過熱
していることがわかる。なお出力ＤｏがロウレベルＬに
なるか検出出力Ｅ・が零になったことを条件として、Ｗ
接接の溶接作業を緊急停止させるか溶接機を所定の径路
を通して待避させるよ５Ｋしておけば、溶接機の制御不
良による災害や器瞼損壊を未然に防止し得る。
回路８の発振が停止せしめられる。こめ結果検出出力Ｅ
ｏは零となる。また出力電圧ＣがロウレベルＬＫなるた
め発光ダイオードＬＥＤが点灯し、検出コイル５が過熱
していることがわかる。なお出力ＤｏがロウレベルＬに
なるか検出出力Ｅ・が零になったことを条件として、Ｗ
接接の溶接作業を緊急停止させるか溶接機を所定の径路
を通して待避させるよ５Ｋしておけば、溶接機の制御不
良による災害や器瞼損壊を未然に防止し得る。
なお可変抵抗ＶＲにより 値電圧すの絶対値を、検出コ
イル５が断線したときにおける電圧暑の絶対値と等しく
なるようにしておけば、検出コイル５が断線すると、上
述したのと同様の動作により、検出出力Ｅ・が零になる
とともに発光ダイオードＬＥＤが点灯し検出コイル５の
断線による異常に対処し得る異常検出装置となる。この
ように本実施例では、比較回路８及び閾値決定回路１０
により、検出コイル５の過熱や断線という異常を判定す
る判定回路が構成されている。゛第２図は本発明の第２
の実施例を示す回路図である。同図に示すように比較回
路８には２つの比較器９＋１，９ｂが備えられている。
イル５が断線したときにおける電圧暑の絶対値と等しく
なるようにしておけば、検出コイル５が断線すると、上
述したのと同様の動作により、検出出力Ｅ・が零になる
とともに発光ダイオードＬＥＤが点灯し検出コイル５の
断線による異常に対処し得る異常検出装置となる。この
ように本実施例では、比較回路８及び閾値決定回路１０
により、検出コイル５の過熱や断線という異常を判定す
る判定回路が構成されている。゛第２図は本発明の第２
の実施例を示す回路図である。同図に示すように比較回
路８には２つの比較器９＋１，９ｂが備えられている。
また値設定回路１０には、前記比較器９ｍの反転入力端
子に接続された可変抵抗ＶＲＩ及び前記比較器９ｂの反
転入力端子に接続された可変抵抗ＶＲ２が備えられてい
る。更に表示回路１１には、カソード側が前記比較器Ｓ
ａ＜接続された発光ダイオニドＬＥＤＩ及びカソード側
が前記比較器９ｂＥｌｌ続された発光ダイオードＬＥＤ
２が備えられている。なお他の部分の構成及び動作は第
３図に示す実施例と同一である。また闇値電圧ｂ１の絶
対値は可変抵抗ＶＲＩにより検出コイル５が断線したと
きにおける電圧ａの絶対値と等しくなっており、闇値電
圧ｂ２の絶対燐は可変、抵抗■１（２によ−り検出コイ
ル５が過熱したときＫおける電圧１の絶対値と等しくな
っている。
子に接続された可変抵抗ＶＲＩ及び前記比較器９ｂの反
転入力端子に接続された可変抵抗ＶＲ２が備えられてい
る。更に表示回路１１には、カソード側が前記比較器Ｓ
ａ＜接続された発光ダイオニドＬＥＤＩ及びカソード側
が前記比較器９ｂＥｌｌ続された発光ダイオードＬＥＤ
２が備えられている。なお他の部分の構成及び動作は第
３図に示す実施例と同一である。また闇値電圧ｂ１の絶
対値は可変抵抗ＶＲＩにより検出コイル５が断線したと
きにおける電圧ａの絶対値と等しくなっており、闇値電
圧ｂ２の絶対燐は可変、抵抗■１（２によ−り検出コイ
ル５が過熱したときＫおける電圧１の絶対値と等しくな
っている。
次に本実施例の動作を説明する。
イ） まず通常時には電圧ａの絶対値が闇値電圧ｂｌ
、 ｂ２の絶対値よりも小さいため、比較器９ｍ、９ｂ
の出力電圧ｃｌ 、 ｃ２は共にハイレベルＨとなる。
、 ｂ２の絶対値よりも小さいため、比較器９ｍ、９ｂ
の出力電圧ｃｌ 、 ｃ２は共にハイレベルＨとなる。
したがってトランジスタＴＲ２がＯＦＦ状態となり、第
３図に示した実施例と同様に、発振状態が続行されて溶
接用倣い検出装置としての゛所期の動作が行なわれる。
３図に示した実施例と同様に、発振状態が続行されて溶
接用倣い検出装置としての゛所期の動作が行なわれる。
口） また検出コイル５が過熱されると電圧蟲の絶対値
がｒ−値電圧ｂ２の絶対値よりも大きくなるため、比較
器９ｂの出力Ｃ２はロウレベルＬとなる。このためトラ
ンジスタＴＩ（２がＯＮ状１１１になり、第３図に示す
実施例と同様に、発振回路８の発振が停止せしめられる
とともに１発光ダイオードＬＥＤ２が点灯する。
がｒ−値電圧ｂ２の絶対値よりも大きくなるため、比較
器９ｂの出力Ｃ２はロウレベルＬとなる。このためトラ
ンジスタＴＩ（２がＯＮ状１１１になり、第３図に示す
実施例と同様に、発振回路８の発振が停止せしめられる
とともに１発光ダイオードＬＥＤ２が点灯する。
Ａ）更に検出コイル５が過熱されると電圧ａの絶対値が
闇値電圧ｂｌ 、 ｂ２の絶対値よりも大きくなるため
、比較器９ａ、９ｂの出力ｃｌ 、 ｃ２が共にロウレ
ベルＬとなる。よってＦランラスタＴＲ２がＯＮ状態に
なり発振回路８の発揚が停止せしめられるとともに、発
光ダイオードＬＥＤＩ 、 ＬＥＤ２が共に発光する。
闇値電圧ｂｌ 、 ｂ２の絶対値よりも大きくなるため
、比較器９ａ、９ｂの出力ｃｌ 、 ｃ２が共にロウレ
ベルＬとなる。よってＦランラスタＴＲ２がＯＮ状態に
なり発振回路８の発揚が停止せしめられるとともに、発
光ダイオードＬＥＤＩ 、 ＬＥＤ２が共に発光する。
こ、のよ５に本実施例では、検出コイル５が過熱されて
いるときＫは発光ダイオードＬＥＤ２が、また断線して
いるときには発光ダイオードＬＥＤＩ 。
いるときＫは発光ダイオードＬＥＤ２が、また断線して
いるときには発光ダイオードＬＥＤＩ 。
ＬＥＤ２が共に点灯するため、過熱による異常と断ＩＩ
Ｋよる異常という二種類の異常を一つの回路にて検出し
得る。なお過熱による異常が検出された際には一旦溶接
作業を中断して検出コイル５を冷却させ、しかる俵再び
溶接作業を開始するようにすればよい。
Ｋよる異常という二種類の異常を一つの回路にて検出し
得る。なお過熱による異常が検出された際には一旦溶接
作業を中断して検出コイル５を冷却させ、しかる俵再び
溶接作業を開始するようにすればよい。
以上実施例とともに具体的ＫＮ明したように本発明によ
れば、検出コイルに微小な直流電流を流すとともに、こ
の直流電ｆＩＬＫよる検出コイルにおける電圧降下を検
出する検出回路と検出された電圧降下があらかじめ設定
された所定の電圧値よりも大きい場合に異常と判定する
判定回路とを備えたため、簡単な回路構成にて溶接用倣
い検出装置の異常を検出することができ、好適な＃Ｉ後
作業を保証することができる。なお本発明は近接スイッ
チや変位計などの異常検出装置として応用することもで
きる。
れば、検出コイルに微小な直流電流を流すとともに、こ
の直流電ｆＩＬＫよる検出コイルにおける電圧降下を検
出する検出回路と検出された電圧降下があらかじめ設定
された所定の電圧値よりも大きい場合に異常と判定する
判定回路とを備えたため、簡単な回路構成にて溶接用倣
い検出装置の異常を検出することができ、好適な＃Ｉ後
作業を保証することができる。なお本発明は近接スイッ
チや変位計などの異常検出装置として応用することもで
きる。
第１図は一般的な溶接用倣い検出装置の概略を示すブロ
ック構成図、第２図及び第３図は夫々本発明の第１の実
施例を示すブロック構成図及び回路図、第４図は本発明
の第２の実施例を示す回路図である。 図 面 中、 １蚤１竜ンサ、 ２は発振回路、 ４は被検体、 ５は検出コイル、 ８は比較回路、 ｌＯは閾値設定回路、 Ｒｅは検猷出力である。 特許出願人 三菱重工業株式会社 復代理人 弁理士光石士部 （他１名）
ック構成図、第２図及び第３図は夫々本発明の第１の実
施例を示すブロック構成図及び回路図、第４図は本発明
の第２の実施例を示す回路図である。 図 面 中、 １蚤１竜ンサ、 ２は発振回路、 ４は被検体、 ５は検出コイル、 ８は比較回路、 ｌＯは閾値設定回路、 Ｒｅは検猷出力である。 特許出願人 三菱重工業株式会社 復代理人 弁理士光石士部 （他１名）
Claims (1)
- 溶接機に備えられて金属性の被検体に接近・離反するセ
ンサの検出コイルに発振回路から高周波電流を流すとと
もに、前記被検体への接近・離反に起因する前記検出コ
イルのインダクタンスの変化により発生する前記高周波
電流の電流値の変化若しくは周波数の変化を検出して前
記被検体と溶接機との距離に対応した検出出力を送出す
る溶接用倣い検出装置において、前記検出コイルに微小
な直流電流を流すとともｋ、この直流電流による検出コ
イルにおける電圧降下に基づく電圧を検出する検出回路
とこの電圧があらかじめ設定された所定の電圧値よりも
大きい場合に異常と判定する判定回路とを備えたことを
特徴とする溶接用倣い検出装置の異常検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14803981A JPS5842787B2 (ja) | 1981-09-19 | 1981-09-19 | 溶接用倣い検出装置の異常検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14803981A JPS5842787B2 (ja) | 1981-09-19 | 1981-09-19 | 溶接用倣い検出装置の異常検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5850176A true JPS5850176A (ja) | 1983-03-24 |
| JPS5842787B2 JPS5842787B2 (ja) | 1983-09-21 |
Family
ID=15443750
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14803981A Expired JPS5842787B2 (ja) | 1981-09-19 | 1981-09-19 | 溶接用倣い検出装置の異常検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5842787B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0161691U (ja) * | 1987-10-14 | 1989-04-19 |
-
1981
- 1981-09-19 JP JP14803981A patent/JPS5842787B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5842787B2 (ja) | 1983-09-21 |
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