JPS58501875A - 切欠き頚部検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 切欠き頚部検査装置 発明の背景 この発明は電子式容器検査機、特にびん検査機に関する。

発明の詳細な説明 ビーム状又はパルス状のエネルギを第１のエネルギ・ガイドによって容器の舌片 の一部分に当る様に差し向ける。舌片から反射されて第２のエネルギ・ガイドを 通ったエネルギ士を、第２のガイドの端に配置した感知装置によって測定する。

感知装置は、この；感知装置が受取った反射エネルギ孟に比例する大きさを持つ 出力信号を発生する。適当な電気回路が感知装置の出力の大きさを予め選ばれた 大きさと比鮫する。感知装置の出力の方が太きければ、それが容器の舌片のその 部分の第１の状態を表わす第１の信号を発生し、感知装置の出力の万が小さけれ ば、それが舌片のその部分の第２の状態を表わす第２の信号を発生する。この碌 な複数個の反射ビーム及び感知装置及び電気回路を舌片の周囲に用いて、舌片の 略全体の状態を決定することが出来る。この他の信号の条件づけを利用した別の 笑施例も説明する。

図面の説明 第１図は周知の容器検査及び分類造の平面図である。

第２図は第１図の線２−２で切った項析面図である。

第３図は第２図の線３−３で切った典型的な光路の側面図である。

第４図は第３図の勝４−４で切った断面図で、ガイド部材の１つの面を示す。

第５図はガイド部材の・詳細図で、ガイドの通路を鎖線で示す。

第６図は第５図の線６−６で切ったガイド部材の中心を通る横断面図である。

第７図は線７−７で切ったガイド部材の横断面図である。

第８図り第７図の紛８−８で切って部分的に切欠いた図で、多重エネルギ・ビー ムのカバー範囲のパターンを示す。

第９図及び第１０図はエネルギを発生し、容器の舌片から反射されたエネルギを 測定して解釈する為に使われる電子回路の回路図である。

発明の詳細な説明 第１図及び第２図はこの発明を容易に用いることの出来る周知の電子式びん検査 機を示す。供給コンベヤ２４が検査機にびんを供給し、基部２０に支持された中 心軸３０に支持される上側スターホイール２６及び下側スターホイール２８で構 成された回転スターホイール集成体により、このびんが拾い上げられる。個々の びん３１の頚部が捕捉部材３２（第３図参照）によって捕捉され、びん３１を横 から支持する。びんは更に案内部３４．３６によって拘束されている。供給コン ベヤ２４とスターホイール２６．２８との間の移行部の近くに１対の遊動スター ホイール３８も設けられていて、この領域でびんを更に案内する。びんが検査部 又は検査位置４０の下を通過する。この時、びんが検査ヘッド４１によって検査 され、検査に合格すれば、送出し案内部４２へ進んで、再びコンベヤ２４にのせ られるか、或いはびんが倹食に合格しなければ、それより前に廃棄びん蓄積テー ブル４４へ送出される（希望によっては、取出しコンベヤを用いてもよい）。周 知の検査機のこういう面に、一般的に米国特許第３，９７５．２７０号にｊ己成 されてｌハる通りである。

次に第２図及び第３図について具体的に説明すると、可視光を用いてびんを検査 して、その中の不透明な妥物を検出する検査装置のいろいろな止部がこれらの図 面に示されている。第２図は、第１図の切断線２〜２で示す様に、検査位置４０ 並びに主たるスターホイールの回転軸勝を通る部分的な横断面図である。第３図 も第２図の切ｗＴ線３−３で示す様に、第２図の断面と垂直な、検査位置を通る 図である。白熱光源４６が恢査位置４０の真下に配置されていて、比較的拡散し た光を検罹位ｉに於てぴん３１の底に同って投射する。

びんの底を通過して、その頚部から出た光がレンズ５０によって、モータ５６の 軸５４に皮付さｎていて高速で回転する回転走査ヘンド５２の面に集束される。

モータ５６は検査ヘッド４１の後壁６０にブラケット６１及びねじ（図に示して ない）によって結合されている。

この様な走査装置を利用して、びん３１を検査する時の動作の詳細は、米国特許 第４，２２１，９６１号に記載されている。動作の詳細はこＸでは説明しないが 、びん検査装置並びに走査器について上に述べたのは、検査装置がどの様なもの であるかを例示すると共に、この様なびん検査機にこの発明を追加するのがごく 容易であることを例示する為である。

この発明のハードウェアは、びん３１の真上にあって検査部４０に配置された円 板形ガイド部材１００を含む。ガイド部材１００は中心に配置された孔１０２を 持ち、これは検査部４０と垂直方向にギ合していて、源４６から出て走査へクド ５２へ向う光と干渉しない様になっている。ガイド部材１００の物理的な評紬は 第４図乃全第８図に示されている。この発明の電子（ロ）路が第９図及び第１０ 図の回路図に示されている。

ガイド部材１００は全体的に円板形部材であって、（第３図で見て）下側から見 た図が第４図に示されている。ガイド部材１００は全体的に環状の一番下側の面 １０４を持っている。星形の面１０６が面１０４に対して引込んでいて、星形の 傾斜壁１０８によって面１０４に結合されている。面１０６の中心にある円錐形 突起１１０が円錐９１１２によって南成され、平坦な環状面１１４が円錐形突起 １１０の舌片を形成している。面１１４が面１０４と大体同じ平面内にある。

ガイド部材１００の両側に１’：ｌ：傾斜部材１２０がある。

各々の傾斜部材１２０は、平坦な部分１２４がら段１２６によって引込んだ傾ｆ ＋部分１２２を持ち、ガイド部材１００から一番遠い方の傾斜部材１２０の端の 引込みが一番犬きい。傾斜部分１２２がガイド部材１００の近くで平坦な部分１ ２４と出合い、平坦な部分１２４は面１０４よりも若干高い。円錐形突起１１０ 及び傾斜部分１２２は同じ目的の為、即ち、位置ざめの悪いびんが凹部に入り込 んで、ガイド部材１００の円周又は傾斜壁１０８の様な急設な垂直の障碍に出合 い、この面に引っ掛かり又は割込んで、その結果びんが貫ｌれる惧れが生ずるの を防止する為に設けられている。ガイド部材１００及び傾斜部材１２０ｆｌポリ カーボネイトの様な適当なプラスチック材料で作ることが好ましいが、他の適当 な材料も容易に使うことが出来る。

下側１０４から見た時、ガイド部材１０１１；ｔ、その中に設けられたガイド通 路１３０の様な多くのエネルギ・ガイド手段があることが殆んど判らない。ガイ ド通路１３０は、何れもガイド部材１００に設けた単なる孔である点で、全て物 理的に同一である。各々の孔は２つの端、即ち半径方向内側の開放端１３２と半 径方向外側の開放端１３４を有する。然し、半分の孔、即ち孔１３６がエネルギ 源１３８からのエネルギを、検査するびん３１の舌片の面に案内する。残り半分 の孔、即ち孔１４０は、反射エネルギをエネルギ感知装置１４２に向けて案内す る。孔１３０（これはガイド手段又はガイド通路とも呼ぶ）は半径方間の向きで はなく、孔の縦軸勝に沿って差し向けられたエネルギ・ビームが、容器３１の環 状舌片の大体中心で、容器３１の舌片に当る様に位置ぎめされている。孔の配置 は第５図乃至第８図に一番よく示されている。

エネルギ源１３８は光放出ダイオードであることが好ましい。これらのダイオー ドが赤外需を発生するが、後で説明すＳ適当な電子回路によってパルス駆動して 、パルス状の光を発生することが出来る。可視光源、紫外線源、音波僚等の泳な この池の種類のエネルギ源１３８も使うことが出来る。何れの種類でも、それ自 身の独特な特性があるが、理論面には所期の目的に便うことか出来る。勿論、感 知１ｉＸｔ１４２の性格は、エネルギ源の種類に対応していなければならない。

然し、光放出ダイオードは、簡単で低廉であり、短い高エネルギの、制御し易い 「閃光」を発生する様に比鮫的高いエネルギ・レベルでパルス駆動することが出 来、硝子に対して所望の反射特性を狩つ波長帯の元を放出し、周囲元状態からの 雑音に対して高い信号対：４音比が得られる様に感知し易い点で、好ましい。

第６図に示す様なガイド部材１００の直径を通る断面から、ガイド部材１００を 現存の電子式びん検査機に容易に固定し得ることが判る。ガイド部材１００が、 ４本のねじ１５０（その内の２つだけを示しである）により、検査部４０に対し て同軸になる様に現存の機械に固定される。エネルギ源１３８及びエネルギ感知 装置１４２との接続をする為の全ての電気配線は、孔１３０の半径方向外側の端 １３４の周縁に沿って配置された全体的に環状の容積１５２内に配置されている 。

配線は束ねて、板１８の孔に上向きに通す。第２の環状空所１５６がガイド部材 １００の周縁の近くに配置されていて、０リング１５８を受入れる。この０リン グは、ねじ１５０を十分に締付けた時、板１８及びガイド部材１００の間に密封 状態を保つ。

ガイド部材１００の作用は、第７図及び第８図に一番よく示されている。第７図 は孔１３６の半径方向外側の端に装着された１個のエネルギ源１３８と、孔１４ ０の半径方向外側の端に装着された対応するエネルギ感知装置１４２とを示して いる。これらの孔１３６゜１４０は何れもびん３１の舌片の平面に対して同じ角 度変位（約１０°乃至３０°又はそれ以上の範囲を使うことが出来るが、好まし い実施例では２０°）の所に位置ぎめされている。びん３１が検査部４０の真下 に位置ぎめされた時、電子回路（後で説明する）がエネルギ源１３８を付勢する （パルス駆動する）。エネルギが孔１３６に案内され、びんの舌片によって遜ら れる。

舌片が良好な状態にあれば、エネルギが反射さ詐、孔１４０によって案内され、 エネルギ・惑知装＠１４２によって検出される。びんの舌片が欠けているか又は 破損している場合、エネルギ（例えば光）が散乱し１．感知装置１４２によって 検出するのに必要な角度で反射される分があるとしても、ごく僅かである。感知 装置１４２の出力信号が検出したエネルギ量に応答するから、感知装置１４２の 出力を舌片の状態（即ち、良好であるか欠けているか）の表示として使うことが 出来る。ガイド部材１００の周囲に沿って、多数のエネルギ源１３８、エネルギ 感知装置１４２及び孔１３６゜１４０を配置して、第８図に示す様に、びんの舌 片の略全体の状態を決定することが出来る。好寸しい実施例では、源並びに感知 装置が設けられる孔の端は遊間な栓１４１で覆われていて、異物が孔に溜って、 装置の性能に影看しない様にするう 第８図の形式では、８個のエネルギ源１３８及び８個のエネルギ感知装置１４２ を使って、びん３１の舌片の略全体を包括的に試験する８個の若干型なった信円 形試、験領域１６０を作る。何れかの感知装置１４２が予め選ばれた閾値レベル より低い出力信号を発生すれば、電子回路かびん検査部の廃棄機構を作動して、 そのびんが廃棄ボトルに対する蓄積テーブル４４へ通ずる通路をたどる様にする 。

エネルギ源１３８を作動し、エネルギ感知装置１４２に対する閾値レベルを設定 し、各々の１惑知装置の出力がこの閾値より高いかどうかを判定し、高くなけれ ば、廃棄機構を作動する電子回路が、第９図及び第１０図に示されている。

舌片検査順序（並びにびん検査順序）は、スターホイール２６に設けられたトリ ガ・ピン１９８が、光源２００から出た光ビームを遮って、トリガ・フォトトラ ンジスタ２０２に対して光る時に開始される。トリガ拳ビン１９８は、びん３１ が検査部４０に対した時、光ビームを遮る様に位置ぎめされている。ビームが遮 られると、フォトトランジスタ２０２は導電を停止し、これによって電圧比取器 ２０６の報２０４の出力信号が低の論理状態から高の論理状態に変化する（この 代りに、スターホイールに設けた軸符号化器を使ってもよい）。線２０４の信号 が７４１２１型ワンシヨツト２０８に対する入力信号になる。これは電流パルス 式ワンショットである。ａ２０４の信号が高状態に変化すると、ワンショット２ ０８がトリガされる。ワンショット２０８が出力端子ＱＫ電流パルスを発生し、 これが紗２１０の信号Ｐとなって現われる。信号Ｐ（第１０図参照）が、電圧増 幅器として構成されたＶＭＯ８電界効果トランジスタ（ＦＥＴ）２１２のゲート を駆動する。ＶＭＯ３ＦＥＴ　２１２ｆ７）出力が、オフ／オ／・スイッチとし て作用する別のＶＭＯ３ＦＥＴ　２１６のゲート２１４を駆動−する。ＶＭＯ３ Ｆ’ＥＴ　２１６がオン状態にある時、エネルギ源１３８に電流が流れる。第１ ０図では、これが８個の光放出ダイオード２２０で４反てれている。ダイオード ２２０に流れる電流の持続時間はワンショット２０８によって決定される。第９ 図の様に構成した場合、この持続時間な約２０マイクロ秒でちる。この狩続時間 は、ＬＥＤ２２０の応答時間並びに第１０図の対のダーリントン形フォトトラン ジスタ２２２で構成されたエネルギ、感知装置１４２の応答時間を包含する様に 選ばれる。パルス時間を比較お短く抑えることによｐ、ＬＥＤのデ二一テイ・サ イクルが非常に低くなり、こうしてＬＥＤの定常状態の舵力に較べて、比較的高 いエネルギ・パルスを便うことが出来る。こ九と併せて、夫々の孔に於ける源及 び１盛知瑛宜の位置によって得られる方向特性により、信号の艮好なレベルが保 証されると共に、背景照明の影）がなくなることが保証される。

ワンショット２０８のＮａパルス出力の後派で、別のワンショット２３０（第９ 図参照）が約１マイクロ秒の間トリガされる。この１マイクロ秒のパルスは「観 察期間」窓と呼び、ワンショット２３０のＱ出力から線２３２に出る。

この発明の好ましい実施例では、容器の舌片が放念的には８個の領域に分割さｔ ている。この為、８個のエネルギ源１３８及び８個のエネルギ感知装置１４２を 使わなければならない。８個の光放出ダイオード２２０を使う場合、８対のダー リントン形フォトトランジスタも使う。各対のダーリントン形フォトトランジス タ２２２の出力が、線２３４を介して夫々の比較器２３５の一方の入力端子に印 加される。比較器２３６の他方の入力端子には閾値電圧が印加される。比較器２ ３６Ｕ、ダーリントン形トランジスタの出力が闇値より高い場合、第１の論理レ ベルにあり、ダーリントン形トランジスタの出力が閾値より低い場合、第２の論 理レベルを持つ出力信号を勝２４０に発生する。対のダーリントン形トランジス タ２２２及びそれに関連した比較器２３６は、電子回路の１つのチャンネルと呼 ぶことが出来る。各チャンネルの出力信号Ｓ工乃至Ｓ８（囲ち、夫々の比較器２ ３６の出力）は、ダーリントン形トランジスタの出力が予め選は几り曲１直レベ ルよジ高いか低いかに応じて、第１の状態又は第２の状態になる。８個のチャン ネルの各々にある回路は同一でちる。

８個のチャンネル全部に対する閾値電圧■、が１個の演算増幅器２４０によって 発生される。可変抵抗２４２が、−１５ボルト源のどの部分が、演算増幅器２４ ００Å力端子に印加されるかを決定し、こうして閾値電圧■アを設定する。閾値 電圧■Ｔは経験的に選ばれ、電子回路の各チャンネル（１乃主８）に線２４４を 介して供給される。

各チャンネルの出力信号、即ち信号Ｓ１乃１８８かアンド・ゲート２４６でアン ド作用にかけられる。アント°・ゲート２４６の出力が、アンド・ゲート２４８ により、「観察期間」信号とアンド作用にかけられる。信号Ｓ１乃至Ｓ８の内の １つ又は更に多くがアンド・ゲート２４６の入力に存在せず（真ではなく）（そ のチャンネルの感知装置１４２が受取ったエネルギが、検査している舌片の区域 の「良好状態」を示す場合より少ないことを示す）時、アンド・ゲート２４６は 真の論理信号を出力して、この旨を表示する。（廃棄状態を表わす）アンド・ゲ ート２４６からの真の信号が、１２３２の１マイクロ秒のパルスによって表わさ れる「観察期間」の間に存在すれば、アンドウゲート２４８は虚偽の論理信号を 出力し、これがアンド拳ゲート２５０及び演算増幅器２５２を通って、線２５４ に信号を発生し、廃棄機構（周知である）を作動して、廃棄するびんを貯蔵区域 ４４に送る。全ての感知装置１４２が設定された閾値■丁より高い出力信号を発 生すれば、アンド・ゲート２４６の出力は虚偽の論理状態であって、廃棄信号は 発生されない。検査されるびんに、他の試験によって廃棄されなければ、びん詰 め作業（又はその他の作業）が行なわれる部位に至る通路をたどることが出来る 。

第９図及び第１０図の電子回路は、検査ヘッド４１内に容易に且つ有利に位置ざ めされ、線２６０とガイド部材１００の叉え１５４を介して、エネルギ諒１３８ 及びエネルギ感知装置１４２と連絡する。

上に説明した容器舌片検ｉ装置は、容器の舌片の欠陥、特に炭酸飲料に１更われ る硝子びんの密封面を検査並びに／又は検出する為に従米使われている方法に絞 へて、多数の利点がある。特に、従来の成る方法は、コンベヤの上を通過する時 にびんを目で検査するものであった。然し、この方法に、労力を必要とする点で 費用がか＼ることを別としても、びんが検査係を通常通過する速度の為に、検査 に不正確さが生じる為、理想的とは云えない。その点で、びん詰工場では、その 検査に厳格な要求がある為、継続的な期間にわたり、びんの頚部を検査する為に 個人に頼らないことが普通である。更に、頚部が欠けた又１″ｊ割れたびんは、 びん詰め機の所で検出されることがあるが、一般的に、特にびん詰手順のこの様 な後の段階で検出された時、悪影響がある。炭酸飲料をびん詰めする時は、その 間にあるゴムのガスケットが良好なびんに密封される様に、最初に充填ヘッドを びんの頭にしっかりと当てがい、その後びんを加圧し、次に炭酸飲料を充填する 。びんの舌片がひどく欠けていると、充填ヘッドとびんの間の封じが不適切でア リ、この為びんは正しく加圧されず、この場合、充填ヘッドはその充填に進むこ とが出来ない。勿論、かけらがくっついたＩ＼で何処へ行くか、或いは密封ガス ケットに突きささり、同じヘンドによって充填する次のびんまでそれにくっつい たまＸになっているか、或いｌ″１：場合によっては充填作業の間、次のびんの 中に落下するかも知れないという問題が常にある。小さなかけらの場合、びんの 充填は行なわｎるのが普通であるが、キャップが密封されず、その為、消費者の 手に届く前に、飲料の気が抜ける（そして場合によっては硝子のかけらがその中 にある）。最後に、ひどくひソ割れしたびんは、充填ヘッドの圧力によって破砕 することがらシ、この場合、殆んど何時でも、充填機械を停めて、充填ガスケッ トを注意深く掃除し、ガスケントに埋込まれたま＼になっているかも知れない硝 子の破片を除くことになる。この為、この発明は、充′４機械に至る前に不良の びんを除き、こうして充填ヘッドを掃除する為に充填機械の運妃を停止する回数 が少なくなり、キャップはめ作業で正しく密封されないびんの数を減らし、そし て場合によっては、硝子のかけら等が誤って各々のソフト・ドリンクと共（てび んの中に入るという慣れを少なくする点で、非常に有利である。

この発明では、色並びに生地の異なる容器、並びに勿論、硝子以外の材料で作ら れた容器も、その材料の反射特性に従って閾値電圧を適当に調節することによっ て、検査することが出来る。その点、この発明の基本的な感知装置は必ずしもこ ＼で説明した好ましい電子回路を使う場合に制限されず、この他の旧号処理及び 条件づけ装置も希望に応じて容易に使うことが出来る。具体的な１例を挙げれば 、この発明は、こ＼で説明する様な１個の状態ではなく、２つの状態に応答する 電子回路と組合せて使った。特に、こ＼で説明している好ましい実施例では、び んの密封面が欠けていないという判定が、８個のチャンネルのどの信号も予め設 定された基準電圧より低くならないことによって下される。他の形の電子回路で は、２番目の条件、即ち、チャ／ネルの信号の内の最大のものと最小のものが、 成る第２の基＄１だけ違ってはならないという条件も課す。この第２の条件は、 以前の再利用形のびんの密封面の成る艶消しが出来る様にするのに適切な条件と して本来考えられたものである。艶消しが一様であ九ば、７０ステイングが表示 される傾同がるり、艶消しが一様でなければ、他の点では幾らかフロスティング が行なわれた密封面にかけらが存在することが示唆される。然し、こ＼で説明す る好ましい実施例の１回の検査条件が適切な試験になること、並びにびんの舌片 がその周縁全体にわたって略一様であるという２番目の条件を含めることは、そ の動作特性を高めることなく、装置を複雑にするものであることが判った。然し 、受理並びに廃棄の異なる並びに／又は追加の条件を取入れることも容易に出来 るし、電子回路金それに応じて変えることも、この発明の範囲内で出来ることを 承知さ扛たい。

受理並びに廃棄の異なる並びに／又は追加の条件の１例として、感知装置の出力 信号を平均化して、びんの頭部の全体的な反射特性を表わす平均信号を発生する ことが出来る。新しいびんはこの平均値が比較的高いが、古いびんは上面に幾分 ７０ステイングが生じ、平均値が低くなる。勿論、この他の原因も平均′直ｖＣ −影響するので、新しいびんに対しても、相異なる平均値を検査することが出来 る。一般的に、この方法を使うと、平均値に第１の限界をおき、特に、廃棄の原 因となＳ様なびんの頭部の成る条件は、平均値が低いことによって特徹づけられ るので、平均値に下限を設ける。

こういう条件として、非常に大きなかけらとか、或いは密封面の大部分又は全部 が抜ける様なびんの頭部の破損がある。平均信号と１惑知装スの一番小さい信号 との間の差にも２番目の制限を加え、１つの感知装置の信号をかなり下げるが、 その平均に基づいて廃棄する程平均値を引下げない様な局部的なかけらが、小さ い信号と平均信号の間の許容し雅い差によって感知される様にする。最後に、成 る種のかけらは滑らかな光沢面を残し、これは向きが適当である場合、同じびん の頭部の欠けていない区域よりも、反射が大きく、従って感知信号が一層大きく なることがちる。この種のきすを感知する為、３番目の制限を加える。この、１ １］限は、感知装置の一番犬きい信号が予定−以上平均値を越えてはならないと いうものである。この実施例」では、他の実施例でもそうであるが、この検査の 限界は手動で調節自在にすることが好ましい。これは、新しいびんでも、良好な びんは、びんの成形の品質に応じて、その頭部に成る変動を待つことがあり、こ の変動を廃棄の根拠としてはならないからである。手加の調産によシ、検査する 成る範囲のびんに対して、検査機能を最適にすることが出来る。

好ましい実施例では、光源及び光感釦装置を入ｎた孔は、検査されるびんの頭部 の平面に対して約２０°傾斜している。この角度にすると、光源によってカバー され且つ光感釦装置が観測する８つの区域１６０（第８図参照）が若干型なり合 って、容器の舌片全体をカバーする。更に、この角度はこれより大きくしても小 さくしてもよいが、この角度が１０乃至３００の範囲内にとソまることが一般的 には好ましい。これは特に浅い角度、例えば１０°未満の角度にすると、装置が びんの高さくこれは大抵の種類のびんで慎重に制御するパラメータではない）に 影響され易くなるし、角度が急すぎると、即ち、３０°を越えると、びんの舌片 のごく小さい一部分しか照明されず、この為、密封面全体をカバーする為に不必 要に多数の光源及び感知装置を必要とするからである。更に、角度を大きくする と、検出用に反射される元の割合も急速に減少する。更に、びんの頭部の照明の 向きについて云うと、こ＼で詳しく説明した実施例でに、びんの頭部を比較的円 周方向に照明する。然し、光源及び元感知装置は直径方向の線に沿って配置して 、びんの頭部の照明並びに観察が円周方向ではなく基本的に半径方向になる様に してもよいので、これはこの発明の制約ではない。勿論、この間の任意の角度も 適している。

こ＼で説明した好ましい実施り１でに、切欠き頚部検査装置が従来の空びん検査 装置と同軸に配置され、びんの底を検査するのと同時に、頚部の検査が行なわれ る様にした。この為２種類の検査がびんの同じ瑛査位誼で行なわれるだけでなく 、空びん検査装置自体をトリガするのに使われるのと同じトリガ・ビン及び（感 知装置の組合せによって、切欠き頚部検査装置をトリガすることが出来る。勿論 、これはこの発明の制約となるものではない。それと云うのも、切欠き頚部検査 装置は、それ自身のトリガ装置を設けて、空びん検査装置とは同軸以外の形で配 置することが出来るからである。その点に関して云えば、切欠きＳ部検査装置は 単独の装置として使うことが出来る。この場合、切欠き頚部検査装置は、他の如 何なる検査機能又は装置とも別個で離れた装置でトリガされ頚部が検査される。

この発明の好ましい実施例を第１図カキ第１０図Ｖこついて説明したが、当業者 であれば、この発明の範囲内で、構造、材料及びその他の特性のいろいろな変更 を加えることが出来ることは云うまでもない。図面並びに説明は、例として挙げ たのてらって、この発明の範囲を制約するものではない。こ＼で説明した以外の 回路を考案して、同じ機能を遂行することは容易であり、現在利用し得るエネル ギ源韮びに将来利用し得る様になるかも知れないエネルギ源も、この発明で使う のに適しており或いは適する様にすることが出来る。

この発明は使う特定のエネルギの種類又はエネルギの通路を定める為に使われる ガイド部材の形によって制約されるものではない。この発明の範囲は請求の範囲 の記載のみによって限定されることを承知されたい。

浄書（内容に変更なし） オ　４＠ ｓｒｍ 倉　６　Ｒ 才　８　図 載 手続補正書（力却 昭和５８年８　月２８目 ２′５？、明の名称 切欠きラフ部＠査装置 ３、補正をする者 事件どの関係　特　許　出願人 名　称　インダストリアル　オートメイション　コーホしイシ」ン５、補正命合 の日刊　昭和５８年７月２８１１６、補正の対象 １、特許法第１８４条の５　第１項の規定によるＭ「…・ハ物語出願人代表者の 欄 ２、夕）国語国際出願願書の適正な翻訳文■な及び■欄国際調査報告

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １）容器の舌片の状態を検出する装置に於て、前記舌片の面にエネルギを差し向 けるエネルギ伝達手段と、前記舌片の面から反射されたエネルギを検出すると共 に、それに応答し千電気信号を発生す６感知手段と、前記電気信号に応答して舌 片の状態を判定すると共に、この状態を表わす出力信号を発生する出力手段とを 肩する装置。 ２）　請求の範囲１）に記載した装置に於て、判定して発生する手段が、前記電 気信号が予め選ばれた太きさより大きな太ささである場合、第１の信号を発生し 、前記電気信号が予め選ばれた太きさより小さい大きさである場合、第２の信号 を発生する比絞手段で構成される装置。 ３）請求の範囲１）に記載した装置に於て、前記エネルギ伝達手段が少なくとも １つのパルス形光諒であり、前記感知装置がフォトセル及び増幅器で構成される 装置。 ４）請求の範囲１）に記載した装置に於て、前記エネルギが舌片の平面に対して 約１０°乃主３０°の角度で伝達される装置。 ５）請求の範囲４）に記載した装置に於て、＠記角匪が約２０°でらる１Ｌ ６）請求の範囲１）に記載した装置に於て、前記出力＋＝段が、前記電気信号が 予め選ばれた太ささより大きな大きさである場合、第１の信号を発生し、前記電 気信号が予め選ばれた大きさより小さい大きさである場合、第２の信号を発生す る比べ手段を含んでいる装！。 ７）請求の範囲１）に記載した装置に於て、前記感知手段が、前記舌片の面から 夫々の感知装置に反射されたエネルギ量に応答して電気信号を夫々発生する複数 個の感知装置を含んで２！ｌ１５　前記出力手段が入射する光のレベルが一番低 い、Ｖ知装置の出力に応答して、前記容器の舌片の状態を衣わす出力信号を発生 する装置０８）請求の範囲７）に記載した装置に於て、前記出力手段が入射する 光のレベルが最低である感知装置の出力の差にも応答して、前記容器の舌片の状 態を衣わす出力信号を発生する装置。 ９）請求の範囲７）に記載した装置に於て、前記出力手段が前記感知装置の出力 の平均値に応答して、前記容器の舌片の状態を表わす出力信号を発生する装置。 １０）請求の範囲９〕に記載した装置に於て、前記出力手段が感知装置の出力の 平均値と入射する元のレベルが最低である感知装置の出力の間の差にも応答して 、前記容器の舌片の状態を表わす出力信号を発生する装置。 １１）請求の範囲１０）に記載した装置に於て、前記出力手段が前記感知装置の 出力の平均値と入射す；１尤のレベルが最高である感知装置の出力の間の差にも 応答して、前記容器の舌片の状態を表わす出方信号を発生する装置。 １２）Ｎ求の範囲１）に記載した装置に於て、前記伝達手段が、少なくとも１つ のパルス形工坏ルギ源がらのエネルギを案内して、前記容器の舌片の周りに分布 して、その周縁に差し向けられる複数個のエネルギ・ビームを形成するガイド手 段で構成される装置。 １３）請求の範囲１２）に記載した装置に於て、前記ガイド手段が前記少なくと も１つのパルス形エネルギ源からのエネルギを前記容器の舌片の面の略全体を包 括的に遮ぎる様に差し向ける装置。 １４）Ｎ求の範囲１）に記載した装置に於て、前記伝達手段が複数個のパルス形 エネルギ源を含み、その各々が前記容器の舌片の一部分にエネルギを差し向ける 装置。 １５）請求の範囲１４）に記載した装置に於て、前記複数個のパルス形エネルギ 源が前記容器の舌片の前記面の略全体に包括的に当る様にエネルギを差し向ける 装置。 １６）容器の舌片の状態を判定する方法に於て、成る量のエネルギを容器の舌片 に差し向け、該舌片によって反射されたエネルギを感知し、反射されたエネルギ の特性に基づいて前記舌片の状態を判定する工程から取る方法。 １７）請求の範囲４０）に記載した方法に於て、前記エネルギが元エネルギであ る方法。 １８）請求の範囲４０）に記載した方法に於て、前記エネルギが舌片の平面に対 して約１０°乃至３０°の角度で差し向けられる方法。 浄書（内容に奪回なし）