JPS58501924A - パツケ−ジ・エラ−訂正装置 - Google Patents

パツケ−ジ・エラ−訂正装置

Info

Publication number
JPS58501924A
JPS58501924A JP82500654A JP50065482A JPS58501924A JP S58501924 A JPS58501924 A JP S58501924A JP 82500654 A JP82500654 A JP 82500654A JP 50065482 A JP50065482 A JP 50065482A JP S58501924 A JPS58501924 A JP S58501924A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
bit
package
error
errors
bits
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP82500654A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS6132708B2 (ja
Inventor
チエン・チン−ロング
Original Assignee
インタ−ナショナル ビジネス マシ−ンズ コ−ポレ−ション
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by インタ−ナショナル ビジネス マシ−ンズ コ−ポレ−ション filed Critical インタ−ナショナル ビジネス マシ−ンズ コ−ポレ−ション
Publication of JPS58501924A publication Critical patent/JPS58501924A/ja
Publication of JPS6132708B2 publication Critical patent/JPS6132708B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
    • G06F11/08—Error detection or correction by redundancy in data representation, e.g. by using checking codes
    • G06F11/10—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's
    • G06F11/1008—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's in individual solid state devices
    • G06F11/1012—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's in individual solid state devices using codes or arrangements adapted for a specific type of error
    • G06F11/1028—Adjacent errors, e.g. error in n-bit (n>1) wide storage units, i.e. package error

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Detection And Correction Of Errors (AREA)
  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
  • For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 パッケージ・エラー訂正装置 本発明はメモリ・アレイにおけるパッケージ・エラーヲ訂正するエラー訂正コー ド(EECC)に関する。具体的には、本発明は単一モノリシック・メーモリ・ チップの全てのエラーを訂正し、かつ2個のモノリシック・チップの各々が単一 ワードからの2ビツトを含むとき、メモリにおけるそのような2個のチップの全 てのエラーを検出するエラー訂正コードに関する。
、エラー訂正の観点からすれば、半導体メモリ・システムは1個のチップにつき 1ビツトの割合で構成されることが望ましい。このような構成のメモリでは、7 2ビツトのコードワードを記憶するのに72個のチップを必要とし、ワードの各 ビットは異ったチップ上におかれる。チップごとに1個のビットを使用するメモ リ構成の利点は、チップが全面的にエラーを示すとき、単一エラー訂正/二重エ ラー検出(SEC/DED)のエラー訂正コードを使用できることである。
チップごとに1個のビットを使用する構成の不利点は、それがチップごとに複数 ビットを使用する構成よりも多くの電力を消費することである。何故ならば、E CCコードワードを形成するのに多くのチップが必要であり、各チップはメモリ がアクセス場れるときパワーアップされねばならないから(2) である。従って、チップ当り複数ビットを使用するように構成されたメモリにお いてビット・エラー及びパッケージ・エラーの尽力によって生じた嗅−エラーを 訂正し二重エラーを検出するFECCコードが非常に望まれる。
ハラyr −シ・エラーを検出するための単一エラー訂正/二重エラー検出コー ドは、米国特許第4077028号に開示されている。この特許に開示されたコ ードの問題点は、それがパソ、ty−−シ・エラーを訂正しないことである。
Bossenの米国特許第3634821号に説明忌れるよう7b接続コードは 、追加のチェック記号を付加することによって、単一マルチビット・パッケージ のエラーを訂正し2個のマルチビット・パッケージのエラーを検出するように適 合化させることができる。b隣接コードを用いる場合の問題点は、検出及び訂正 を行う場合に、多数のチェック・ビットが必要ときれることである。そのような 隣接コードを使用すれば、1バイトのエラーを訂正し2バイトのエラーを検出す るために、6個のECCチェック・ビット・バイトが必要である。そのコードに よって訂正可能なバイト数nは、n−2b+2に等しい。かくて、2ピツ1ト・ バイトの場合、n二重である。6個のバイトの中の6個はECCチェック・ビッ ト・バイトであるから、5バイトのみがデータ・ビット・バイト全ての単一パン ケージ・エラーを訂正し、全ての二重パッケージ・エラーを検出する他の方法は 、リード・ソロモン(Reed−8olomom )コードを使用することであ る。このような手法は、1980年10月1日から5日まで開催てれた第10回 エラ一対策コンピュータ・シンポジウム会議録の第41頁から第46頁に、「メ モリ・システムのための単一バイト・エラー訂正−二重バイト・エラー検出コー ド」と煩してKaned及びFujiwaraKよって説明てれている(Pro ceedings of the 10th Fault TolerantC omputing Symposium:Single Byte Error Correcting−Double E3yte Error Detect ingCodes for Memory Systems)。その記事によれ ば現存するリード・ソロモン・パッケージ・エラー訂正コードは、チェック・ビ ットを効率的に使用する長いコード長パッケージ・エラー訂正コードを発生する ため拡張でれるっこの一般化てれたコードは概してチェック・ビットを効率的に 使用できるが、モジュラ−化芒れたものは、それほど効率的でない。
従って、パッケージ・エラーが1つ又はそれ以上のエラー・ビットである場合に 、単一パッケージ・エラーを訂正し二重パッケージ・エラーを検出するために必 要な訂正ビットの数を効率的に使用する新しいモジュラ−化てれたコードが望本 発明によれば、データ・ワードをコード・ワードへエン(4) コードする符号化手段が設けられ、任意のパッケージニ存在する全ての単一ビッ ト・エラー・シンドロームの排他的OR結合は、各パッケージごとに独特の合成 シンドロームを生じる。このコードは単一エラー検出二重エラー訂正コードであ って、m個のビットをカバーするように拡張てれている。ここでmはパッケージ 中のビットの数に等しい。
本発明の目的は、単−及び二重ビット・エラーを訂正し、同時に単一パッケージ ・エラーを訂正するとともに二重パッケージ・エラーを検出する新しいコードの 使用システムを実現することである。
本発明の他の目的は、先行技術で必要とされるよりも少ないチェック・ビットを 使用して、単一パッケージ・エラーを訂正し二重パンケージ・エラーを検出する システムを実現することである。
本発明の他の目的は、全ての単一パッケージ・エラーヲ訂正し、全ての二重パッ ケージ・エラーを検出するモジュラ−化されたコードの使用システムを実現する ことである。
図面の簡単な説明 第1図は本発明を使用するメモリの略図を示し、第2図は第1図に示きれたメモ リのECC:r−ンコーダの略図を示し、第3図は第1図に示されたメモリのE ECCデコーダの略図を第1図において、24ビット・コードワードはメモリの 12個のモノリンツク・チップ10の上に記憶てれる。各チップ」二では2個の ビットが使用きれる。後に明らかになる理由によって、8個のビットはチェック ・ビットであり、16個のビットはデータビットである。各チップ10の」二に あるデータ・ビットが単一の記号を表わすとすれば、コードワードは12個の記 号より構成てれる。本発明によれは、各記号は単一ビットであると仮定きれ、S EC/DEDエラー訂正コードは、この仮定に基いて発生でれる。
3個の同様な物体をR個のポケ−)・に置く順列を考える。
K−R・(R−1)・(R−2)/6個のデータ記号とすれは、■(72通りの 可能な順列が存在する。そのよう々順列の各々について、次の規l111Jに従 いR成分列ベクトル■を形成する。
■は空のボケートに対応する位置にAを含み、物体を含むポケットに対応する泣 @にBを含む。例えばR=4、K=8のきき、次のような4個の列ベクトルが存 在する。
従って、A及びBを含むに72個のR成分ベクトルを形成することができるっベ クトルのあるもの(d、1世のベクトルの循環ソフトであるっこわらのベクトル をいくつかの等価の集合に群別し、谷集(6) 合中のベクトルが集合代表の循環シフトであるようにすることができる。■1を 等価集合の代表であるとする。Vlの6個のBへ順次にB、C,Dを代入するこ とによって、ベクトルv2が形成される。ここで、v17含む等価集合にあるベ クトルの数だけv2を循環シフトすることによって、ベクトル集合を発生する。
この手順によって、K/2個のベクトルを発生することができる。A及びBの成 分のみを有するベクトル集合と、A、B、C,Dの成分を有するベクトルの誘導 された集合とを結合することによって、K個の列ベクトルが得られる。形成され たマトリクスをPと呼べば、R=4のとき次のようになる。
ここで、Pの中のA、B、C,Dへ次のマトリクスを代入する。
(7) 特表昭58−501924 (3)マトリクスPは8×16の2進マト リクスとなる。2進マトリクヌPをオーダ2Rの単位行列で連結すると、次の表 に示されるパリティ・チェック・マ]・リクスHが得られる。構成されたコード はCF (4)の上で4の最小距離を有し、従って、1つの記号が2ビツトで構 成てれる場合に、上記コードは単一記号エラーを訂正し、かつ二重記号エラーを 検出することができることを証明することができる。
次の表は、第1図に示されるメモリに関してECCのパリティ・マトリクスHと マツチング・マトリクスMとを示す。
(9) 爆 パリティ・マトリクス■]において、各列はコード・ワードの1ビツトを弄わす 。それぞね02列の間にある垂直線は、パッケージ又はチップの境界を弄わす。
即ち、24ビツト・コード・ワードにあるそれぞれの2ビツトは、第1図に示さ れるような異なったチップ上にある。マトリクスMの8行の各々における2進の 1は、16個のデータ・ビットと共に記憶てれる8個のチェック・ビットの1つ を発生するため、どのビットがエンコーダによって相互に排他的OR結合てれる かを示す。例えば、マトリクスの最上位の行から、最初のチェック・ビットを発 生するため、ワード中のデータ・ビット1、ろ、9.11.12.13.16は 相互に排他的OR結合される。
マツチング・マトリクスMは、デコーディング中に発生されたシンドロームを示 す。もしエラーが存在しない場合、シンドロームは、マトリクスの第1列に示し たように、8個の口のヌトIJングである。もし訂正可能又は訂正不可能なエラ ーがあれば、シンドロームの1つ又はそれ以上は1である。
マツチング・マトリクスMにおいて1を含む各列は、ビット位置の1つにおける 単一エラーのシンドローム・パターンテあるか、又は単一パッケージ・エラーの シンドローム・パターンである。例えば、マツチング・マトリクスMの最初の2 つの垂直線の間にある3列の最初の列は、単一エラーがワードの最初のビット中 に生じた時のシンドロームを示し、第2(10) の列は、ワードの第2ビツト中に位置する単一エラーのシンドロームを示し、最 初の2つの列のシンドロームの排他的ORである第6の列は、ワード中の最初の 2つのビットを含むパッケージのエラーに対するシンドローム・パターンテある 。
第2図に示されるように、第1図のメモリに記憶されたパリティ・ビットを発生 するため、訂正機能のある排他的ORエンコーディング・トリー12が使用され る。エンコーディング・トリーは、前記のパリティ・マトリクスHに従って構成 されている。例えば、チップ9の最初のビットニラるデータは、チップ1.2. 5.6.7の最初のビットにあるデータと、チップ6.8の第2ビツトにあるデ ータとを排他的OR結合したものである。もし2路排他的ORゲートが使用され れば、各チェック・ビットは、6個の排他的ORゲートと、論理遅延の6レベル とを使用して発生される。
第3図において、シンドローム発生器14の8ビツト出力(d、第11図のチッ プ10から読出された24個のデータ・ビットとチェック・ビットを排他的OR 結会したものである。
シンドローム・デコーダ16は、米国特許出願第103636号に示されるもの と同じである。デコーダ16は67ワードの連想記憶装置であり、単一ビット又 はパッケージ・エラーに対するシンドローム・ビット・パターン、及びエラーの ないワードのシンドローム・ビット・パターンの各々が、異ったワード・ロケー 7ョンに記憶てれている。
(11) 特表昭58−501924(4)谷シンドロームと共に、エラー・ビ ットの位置を示すビット番号が2進シーケンヌで記憶てれている。シンドローム ・デコーダ16のテーブルが質問でれて一致状態を生じると、記憶てれたシンド ローム及びエラーのビット位置を示す6ビツトの2進数が、連想記憶装置がら読 出てれる。
シンドローム発生器14がオール・ゼロのシンドローム、換言すれば、アクセス されたワード中にエラーがないことを示すシンドロームを発生したものと仮定す る。連想記憶装置中のシンドロームと共に記憶てれたオール・ゼロのシンドロー ムは、エラーがないことを示す6個の追加的なゼロのストリングである。この6 個のゼロのストリングはデコーダ18へ送られる。デコーダ18はゲート制御回 路2oヘノ−エラー信号(NE)を送る。ゲート制御回路2oは、出力レジスタ 22に記憶されたエラーのないデータ・ワードを転送するためのゲート信号を、 ゲート21のために発生する。ここで、シンドローム発生器は、単一ビット・エ ラーがビット・ロケー7ョンlで生じたことを示すシンドロームs1を発生する ものと仮定する。単一ビット・エラーを示す全てのシンドロームは、シンドロー ム・デコーダ16に記憶てれているから、シンドロームSiの質問は、6ビツト の2進表現になったビットiのロケーションが、シンドローム・デコーダがう読 出される。7エラー・ビットのロケーションを示す6ビツト2進数はデコーダ1 8へ送られる。デコーダ18は、それをピッ(12) ト・(ンハータ24 (7)24(固のロケーションの1つヘデコードする。ビ ット・インバータ24は、出力レジスタ22に記憶てれたワードのビットlを反 転するために設けられる。ピッ)iが反転された後、ゲート制御回路2oは、訂 正てれたワードをプロセッサへ送るための信号を、ゲート21のために発生する 。もしシンドローム発生器14がパッケージ・エラー・シンドロームSpiを発 生すると、連想記憶装置への質問は、パッケージpiのロケーションを、6ビツ ト2進表現で発生する。このエラー・ビットのロケーションを示す6ビツト2進 数はシンドローム・デコーダ16から読出すれ デコーダ18へ送られる。デコ ーダ18は、パッケージ・エフ −を構成するビット1及び1+1を反転するた め、上記2進数をビット・インバータ24にある24個のロケーションの2つヘ デコードする。ビット・インバータ24は2つのエラー・ビットを反転し1、正 しいデータ・ワードがプロセッサへ送られる。
ここで、シンドローム発生器14が、シンドローム・デコーダ16に記憶された 36個あシンドロームのいずれ七も一致しないシンドロームSuを発生したもの と仮定する。その場合、シンドローム・デコーダ16は、デコーダ18へ6ビノ トの不一致信号を与える。デコーダ18は訂正不能エラー信号Uビをゲート制御 回路2oへ送る。回路2oは、UE倍信号受取ると、適切なプロセッサへUE状 態が存在するとと(13) を知らせる。
これまで説明した実施例は1つの例に過さない。実施例に対しては適当な変更が なてれてよい。例えば、R及びKの異った値に関して、他のコードを発生すると 々ができる。次の表は、可能なコードのパラメータを示す。
2Rj固のチェック・ビットに対しては、コードは2に個のデータ・ヒント捷で を有することができる。ここでに=R・(R−1) 、 (R−2)/3である 。データ・ビットの数が2によりも少ないアプリヶ−ノヨンでは、コードは常に 短くすることができる。これは正確な数のデータ・ビットを発生するため、Pに ある列ベクトルを必要な数たけ削除することによって斤される。例えば、62個 のデータ・ビット及び104固のチェック・ビットを有するコードを構成するた めKlj、40個の可能な列のうち8個の2進列が、元のパリティ・チェック・ マトリクスから削除逼れる。
FIG、I FIG、2

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 N個のパッケージを含み、各パッケージから取られたM個のビットがメモリ・デ ータ・ワードのビットを構成するメモリに関して単一ビット・エラー訂正二重工 ろ一検出コードを使用するエラー訂正装置において(M、Nは共に2以上の整数 )、N個のパッケージをカバーするように拡張されたNビット単一エラー訂正二 重エラー検出コードに従ってメモリ・データ・ワードをコード・ワードへエンコ ードシ、パッケージにおけるM個の全ての単一ビット・エラー・シンドロームを 排他的OR結合して各パッケージについて独特の合成シンドロームを生じるよう にするエンコーダと、単一ビット・エラー及び単一パッケージ・エラーのロケー ションを決定し、全ての二重ビット・エラー及び二重パッケージ・エラーを検出 するため、それぞれの単一ビット・エラー・シンドロームを全ての可能な単一ビ ット・エラー・シンドローム及び全ての可能な合成シンドロームと比較する手段 を含むデコーダとを具備するパッケージ・エラー訂正装置。 (1)
JP82500654A 1981-12-30 1981-12-30 パツケ−ジ・エラ−訂正装置 Granted JPS58501924A (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/US1981/001767 WO1983002345A1 (en) 1981-12-30 1981-12-30 Two bit per symbol sec/ded code

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS58501924A true JPS58501924A (ja) 1983-11-10
JPS6132708B2 JPS6132708B2 (ja) 1986-07-29

Family

ID=22161589

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP82500654A Granted JPS58501924A (ja) 1981-12-30 1981-12-30 パツケ−ジ・エラ−訂正装置

Country Status (4)

Country Link
EP (1) EP0097159B1 (ja)
JP (1) JPS58501924A (ja)
DE (1) DE3177013D1 (ja)
WO (1) WO1983002345A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02278354A (ja) * 1989-04-20 1990-11-14 Nec Corp 記憶装置

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3882223T2 (de) * 1988-04-29 1994-01-27 Ibm Ausgebreitete Fehlerkorrekturvorrichtung mit Einzel-Paket-Fehlerkorrektur und Doppel-Paket-Fehlerdetektionscoden.

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3634821A (en) * 1970-04-13 1972-01-11 Ibm Error correcting system
US3755779A (en) * 1971-12-14 1973-08-28 Ibm Error correction system for single-error correction, related-double-error correction and unrelated-double-error detection
USRE28923E (en) * 1971-12-27 1976-08-03 International Business Machines Corporation Error correction for two bytes in each code word in a multi-code word system
US3825893A (en) * 1973-05-29 1974-07-23 Ibm Modular distributed error detection and correction apparatus and method
US4077028A (en) * 1976-06-14 1978-02-28 Ncr Corporation Error checking and correcting device

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02278354A (ja) * 1989-04-20 1990-11-14 Nec Corp 記憶装置

Also Published As

Publication number Publication date
WO1983002345A1 (en) 1983-07-07
DE3177013D1 (en) 1989-04-20
EP0097159A1 (en) 1984-01-04
EP0097159B1 (en) 1989-03-15
JPS6132708B2 (ja) 1986-07-29
EP0097159A4 (en) 1985-07-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4464753A (en) Two bit symbol SEC/DED code
US4589112A (en) System for multiple error detection with single and double bit error correction
Hsiao et al. Orthogonal Latin square codes
US5418796A (en) Synergistic multiple bit error correction for memory of array chips
US5856987A (en) Encoder and decoder for an SEC-DED-S4ED rotational code
US4862463A (en) Error correcting code for 8-bit-per-chip memory with reduced redundancy
US6473880B1 (en) System and method for protecting data and correcting bit errors due to component failures
US6453440B1 (en) System and method for detecting double-bit errors and for correcting errors due to component failures
US3755779A (en) Error correction system for single-error correction, related-double-error correction and unrelated-double-error detection
JPS5960654A (ja) エラ−訂正システム
US5537427A (en) Modular multiple error correcting code system
US5251219A (en) Error detection and correction circuit
EP0147336B1 (en) Error correcting and detecting system
GB1458610A (en) Digital data handling systems
US6539513B1 (en) Dual functioning symbol error correction code
JPH05158722A (ja) 誤り検出・訂正方式
US5459740A (en) Method and apparatus for implementing a triple error detection and double error correction code
EP0300139B1 (en) Error correcting code for b-bit-per-chip memory with reduced redundancy
US7093183B2 (en) Symbol level error correction codes which protect against memory chip and bus line failures
US3622984A (en) Error correcting system and method
JP2732862B2 (ja) データ伝送試験装置
Lala A single error correcting and double error detecting coding scheme for computer memory systems
US6519734B1 (en) Single bit error correction, double burst error detection technique
US7475326B2 (en) Error detection and correction method and system for memory devices
EP0097159B1 (en) Two bit per symbol sec/ded code